JPH0460238B2 - - Google Patents
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- JPH0460238B2 JPH0460238B2 JP14161684A JP14161684A JPH0460238B2 JP H0460238 B2 JPH0460238 B2 JP H0460238B2 JP 14161684 A JP14161684 A JP 14161684A JP 14161684 A JP14161684 A JP 14161684A JP H0460238 B2 JPH0460238 B2 JP H0460238B2
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Landscapes
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Processing Of Solid Wastes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は核分裂生成ガス中の放射性ガスをイオ
ン化して金属基体中に注入する放射性ガスの固定
化処理装置に関する。
ン化して金属基体中に注入する放射性ガスの固定
化処理装置に関する。
核燃料再処理工場等の原子力施設は、有害な量
の放射能が環境に放出された場合、その影響が広
範囲かつ長期間にわたる可能性があるため、安全
性の確保を他の一般産業に比べて格段に厳しくす
ることが義務づけられている。
の放射能が環境に放出された場合、その影響が広
範囲かつ長期間にわたる可能性があるため、安全
性の確保を他の一般産業に比べて格段に厳しくす
ることが義務づけられている。
再処理工場では使用済燃料から、ウランとプル
トニムを回収するが、同時に随伴する核分裂生成
物等を含む放射性廃棄物を適切に処理しなければ
ならない。放射性廃棄物のうち、気体廃棄物はク
リプトン85(以下Kr−85と記す)のみであるが、
これは半減期が10.7と長寿命であるために、今後
の原子力発電量の増加を見込むと、将来には地球
規模の汚染につながる恐れがある。そこで回収技
術とともに重要な課題は回収したKr−85を如何
にして安全に貯蔵あるいは処分するかである。従
来から放射性廃棄ガスはボンベなどの耐圧製圧力
容器に封入して永久保存する方法が考えられてい
る。
トニムを回収するが、同時に随伴する核分裂生成
物等を含む放射性廃棄物を適切に処理しなければ
ならない。放射性廃棄物のうち、気体廃棄物はク
リプトン85(以下Kr−85と記す)のみであるが、
これは半減期が10.7と長寿命であるために、今後
の原子力発電量の増加を見込むと、将来には地球
規模の汚染につながる恐れがある。そこで回収技
術とともに重要な課題は回収したKr−85を如何
にして安全に貯蔵あるいは処分するかである。従
来から放射性廃棄ガスはボンベなどの耐圧製圧力
容器に封入して永久保存する方法が考えられてい
る。
しかしながら、圧力容器に封入する方法は長期
間にわたる安全貯蔵の点で問題があある。例えば
圧力容器は定期的な耐圧試験が法令で義務づけら
れており、その都度貯蔵ガスの移し替えなど煩雑
で危険な作業が要求される欠点がある。
間にわたる安全貯蔵の点で問題があある。例えば
圧力容器は定期的な耐圧試験が法令で義務づけら
れており、その都度貯蔵ガスの移し替えなど煩雑
で危険な作業が要求される欠点がある。
一方、気体廃棄物Kr−85の処理は前記ボンベ
等の圧力容器への貯蔵法の他に、ゼオライトに吸
着させる方法、イオン化注入固定法等が提案され
ている。しかしながら、ボンベ貯蔵法およびゼオ
ライトに吸着させる方法は実用化するには幾多の
改善すべき問題がある。
等の圧力容器への貯蔵法の他に、ゼオライトに吸
着させる方法、イオン化注入固定法等が提案され
ている。しかしながら、ボンベ貯蔵法およびゼオ
ライトに吸着させる方法は実用化するには幾多の
改善すべき問題がある。
イオン注入法は、常温、低圧で処理操作ができ
るだけでなく、長期間の安全性でも他の方法に比
べて優れた方法とされている。
るだけでなく、長期間の安全性でも他の方法に比
べて優れた方法とされている。
第4図は従来の放射性ガスをイオン化注入する
注入装置の概要を示す断面図、第5図および第6
図は第4図に示した装置の横断面図である。以
下、第4図から第6図を参照しながら、従来の放
射性ガスの固定化処理装置を説明する。
注入装置の概要を示す断面図、第5図および第6
図は第4図に示した装置の横断面図である。以
下、第4図から第6図を参照しながら、従来の放
射性ガスの固定化処理装置を説明する。
円筒状容器1内に設けられたイオン化室2には
冷却管3およびリード線4が取つけられた円筒型
電極5がその中央部に配置されている。前記冷却
管3およびリード線4はたとえばハーメチツクシ
ールなどの絶縁体6によつて上蓋7と絶縁封じさ
れている。また、前記容器1の上蓋7には絶縁体
19を介して例えば−50Vのの負電圧が印加され
るアノード電極18が取りけつてあり、さらに下
蓋20には絶縁体21を介してフイラメント17
が取りつけられている。また前記容器1の下蓋2
0にはKr−85ガスを導入するためのパイプ9が
8を介して接続されているとともに、前記容器1
内を排気するためのパイプ11がバルブ10を介
して接続されている。さらに前記容器1の外周面
には容器1を冷却するための冷却パイプ12が巻
回されている。なお図中符号14はイオン注入さ
れたKr−85イオン層と電極のスパツタリングイ
オンによるコーテイング層からなる累積層であ
る。第5図および第6図中、符号15はKr−85
イオン、16は電極5から飛び出すスパツタリン
グイオンをそれぞれ示している。
冷却管3およびリード線4が取つけられた円筒型
電極5がその中央部に配置されている。前記冷却
管3およびリード線4はたとえばハーメチツクシ
ールなどの絶縁体6によつて上蓋7と絶縁封じさ
れている。また、前記容器1の上蓋7には絶縁体
19を介して例えば−50Vのの負電圧が印加され
るアノード電極18が取りけつてあり、さらに下
蓋20には絶縁体21を介してフイラメント17
が取りつけられている。また前記容器1の下蓋2
0にはKr−85ガスを導入するためのパイプ9が
8を介して接続されているとともに、前記容器1
内を排気するためのパイプ11がバルブ10を介
して接続されている。さらに前記容器1の外周面
には容器1を冷却するための冷却パイプ12が巻
回されている。なお図中符号14はイオン注入さ
れたKr−85イオン層と電極のスパツタリングイ
オンによるコーテイング層からなる累積層であ
る。第5図および第6図中、符号15はKr−85
イオン、16は電極5から飛び出すスパツタリン
グイオンをそれぞれ示している。
次に上記装置においてKr−85ガスをイオン注
入固定化処理する方法を説明する。即ち、第4図
において容器1内は排気用パイプ1に接続される
図示してない排気装置例えば、イオンポンプ、軸
流分子ポンプ、油拡散ポンプなどで所望の真空度
例えば、5×10-7Torr程度に排気された後、パ
ルプ10を閉じて容器1内を一定圧力に減圧した
後、バルブ8を開いてパイプ9に接続された図示
してないボンベ等からKr−85ガスを供給し、容
器1内に一定圧力例えば3〜4mmTorrのKr−85
ガスが封入されたらバルブ8を閉じる。また冷却
パイプ3および12に水などの冷却媒体を流して
電極5および容器1を冷却する。図示してない電
源によつてフイラメント17を点火し、図示して
ない直流電源によつてアノード18に数100ボル
ト、例えば200〜300ボルトの負電圧を印加して該
アノード18と前記フイラメント17間にKr−
85ガス放電を発生させる。さらにスパツタリング
を発生しやすい金属例えばニツケル電極5に図示
していない直流電源によつて数kV例えば2〜
3kVの負電圧を印加する。すると、イオン化室2
のKr−85イオンが第5図および第6図に示すよ
うなプロセスで電極5の表面のスパツタリングに
よつて円筒状容器1の内面にコーテイングされな
がら同時にKr−85イオンもイオン化注入されて、
ニツケルイオンとKr−85イオンの累積層14が
形成される。
入固定化処理する方法を説明する。即ち、第4図
において容器1内は排気用パイプ1に接続される
図示してない排気装置例えば、イオンポンプ、軸
流分子ポンプ、油拡散ポンプなどで所望の真空度
例えば、5×10-7Torr程度に排気された後、パ
ルプ10を閉じて容器1内を一定圧力に減圧した
後、バルブ8を開いてパイプ9に接続された図示
してないボンベ等からKr−85ガスを供給し、容
器1内に一定圧力例えば3〜4mmTorrのKr−85
ガスが封入されたらバルブ8を閉じる。また冷却
パイプ3および12に水などの冷却媒体を流して
電極5および容器1を冷却する。図示してない電
源によつてフイラメント17を点火し、図示して
ない直流電源によつてアノード18に数100ボル
ト、例えば200〜300ボルトの負電圧を印加して該
アノード18と前記フイラメント17間にKr−
85ガス放電を発生させる。さらにスパツタリング
を発生しやすい金属例えばニツケル電極5に図示
していない直流電源によつて数kV例えば2〜
3kVの負電圧を印加する。すると、イオン化室2
のKr−85イオンが第5図および第6図に示すよ
うなプロセスで電極5の表面のスパツタリングに
よつて円筒状容器1の内面にコーテイングされな
がら同時にKr−85イオンもイオン化注入されて、
ニツケルイオンとKr−85イオンの累積層14が
形成される。
このようにしてフイラメント17を点火し、ア
ノード18と容器1の間には200〜300ボルトの負
電圧を連続的に印加することによつてKr−85ガ
スイオンによる放電を持続させる。そして、ニツ
ケル電極5には2〜3kVの負電圧円を連続的に印
加することによつて容器1の内面にニツケルイオ
ン層とKr−85イオン層を累積しした累積層が形
成されて、Kr−85イオンのイオン注入固定化処
理が行われる。
ノード18と容器1の間には200〜300ボルトの負
電圧を連続的に印加することによつてKr−85ガ
スイオンによる放電を持続させる。そして、ニツ
ケル電極5には2〜3kVの負電圧円を連続的に印
加することによつて容器1の内面にニツケルイオ
ン層とKr−85イオン層を累積しした累積層が形
成されて、Kr−85イオンのイオン注入固定化処
理が行われる。
しかし、このような従来の放射性ガスのイオン
注入固定化処理装置は処理すべき放射性ガスの量
の多い、少ないにかかわらず、イオン化固定処理
装置を稼動し、固定化処理が終わると装置を停止
することになる。イオン化固定処理装置はオンラ
イン化した場合、稼動、停止を頻繁にくりかえす
ことは装置のメンテンス、電力消費、省力化から
も好ましいことではなく、どちらかといえば連続
的に装置を稼動させることが経済的にも望ましい
ことである。
注入固定化処理装置は処理すべき放射性ガスの量
の多い、少ないにかかわらず、イオン化固定処理
装置を稼動し、固定化処理が終わると装置を停止
することになる。イオン化固定処理装置はオンラ
イン化した場合、稼動、停止を頻繁にくりかえす
ことは装置のメンテンス、電力消費、省力化から
も好ましいことではなく、どちらかといえば連続
的に装置を稼動させることが経済的にも望ましい
ことである。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、核燃料再処理の際に生じる放射性ガス
例えばKr−85の処理量に対応してイオン化固定
処理装置のイオン化処理量、即ち処理能力を調整
出来るようにした放射性ガスの固定化処理装置を
提供することにある。
の目的は、核燃料再処理の際に生じる放射性ガス
例えばKr−85の処理量に対応してイオン化固定
処理装置のイオン化処理量、即ち処理能力を調整
出来るようにした放射性ガスの固定化処理装置を
提供することにある。
本発明に係る放射性ガスの固定化処理装置は放
射性被処理ガスが導入される筒状容器内に筒状電
極が配置され、前記容器内の上下両端板にはフイ
ラメントおよびアノードが対向して取りつけられ
ている。そして、アノードは200〜300Vの負電圧
が印加されて、該アノードと前フイラメント間で
放射性ガスのガス放電が発生してイオン化されか
つ前記筒状態電極には2〜3kVの負の高電圧が印
加される。電圧を印加される。電圧を印加すると
該電極の表面が放射性被処理ガスイオンでスパツ
タリングされて前記容器内面にコーテイングされ
るとともに、放射性ガスイオン注入をも同時に行
なうことで前記電極のスパツタリングイオンによ
るコーテイングと放射性ガスイオンの累積層が形
成される。なお、上記容器内には電気的に絶縁さ
れた複数個に分割されたイオン化室が形成され、
かつ各々のイオン化室には選択的または同時にイ
オン化注入部材が設けられている。
射性被処理ガスが導入される筒状容器内に筒状電
極が配置され、前記容器内の上下両端板にはフイ
ラメントおよびアノードが対向して取りつけられ
ている。そして、アノードは200〜300Vの負電圧
が印加されて、該アノードと前フイラメント間で
放射性ガスのガス放電が発生してイオン化されか
つ前記筒状態電極には2〜3kVの負の高電圧が印
加される。電圧を印加される。電圧を印加すると
該電極の表面が放射性被処理ガスイオンでスパツ
タリングされて前記容器内面にコーテイングされ
るとともに、放射性ガスイオン注入をも同時に行
なうことで前記電極のスパツタリングイオンによ
るコーテイングと放射性ガスイオンの累積層が形
成される。なお、上記容器内には電気的に絶縁さ
れた複数個に分割されたイオン化室が形成され、
かつ各々のイオン化室には選択的または同時にイ
オン化注入部材が設けられている。
以下、第1図から第3図を参照しながら、本発
明に係る放射性ガスの固定化処理装置を詳細に説
明する。
明に係る放射性ガスの固定化処理装置を詳細に説
明する。
即ち、第1図は本発明の放射性ガスの固定化処
理装置の第1の実施例を示す断面図で、第4図と
同一部分は同一符号で示し重複する部分の説明を
省略する。円筒状容器1の中央部に配置された電
極22,23,24は軸方向に沿つて3等分に分
割され、、分割部に絶縁体25が介在されている。
これらの電極22,23,24をそれぞれ電気的
に絶縁して第1のイオン化室26、第2のイオン
化室27および第3のイオン化室28を形成させ
る。また前記電極22,23,24に対応した前
記容器1の側面に3個の絶縁体たとえばハーメチ
ツクシール29を設け、この絶縁体29を介して
それぞれ独立にリード線30,31,32を接続
し、これらリード線30,31,32にスイツチ
33,34,35接続する。これらのスイツチ3
3,34,35を介して直流高圧電源36の一端
(−電極)にリード線30,31,32を共通し
て接続する。該電源36の他(+電極)は絶縁体
37を介してアノード18に接続されている。こ
のアノード18には一端(+電極)を前記容器1
に接続した直流電源38の他端(−電極)が接続
されている。なお、、第1図のその他の部分は第
4図と同様な構成である。
理装置の第1の実施例を示す断面図で、第4図と
同一部分は同一符号で示し重複する部分の説明を
省略する。円筒状容器1の中央部に配置された電
極22,23,24は軸方向に沿つて3等分に分
割され、、分割部に絶縁体25が介在されている。
これらの電極22,23,24をそれぞれ電気的
に絶縁して第1のイオン化室26、第2のイオン
化室27および第3のイオン化室28を形成させ
る。また前記電極22,23,24に対応した前
記容器1の側面に3個の絶縁体たとえばハーメチ
ツクシール29を設け、この絶縁体29を介して
それぞれ独立にリード線30,31,32を接続
し、これらリード線30,31,32にスイツチ
33,34,35接続する。これらのスイツチ3
3,34,35を介して直流高圧電源36の一端
(−電極)にリード線30,31,32を共通し
て接続する。該電源36の他(+電極)は絶縁体
37を介してアノード18に接続されている。こ
のアノード18には一端(+電極)を前記容器1
に接続した直流電源38の他端(−電極)が接続
されている。なお、、第1図のその他の部分は第
4図と同様な構成である。
次に第1の実施例における装置によつて実際に
放射性被処理ガスとしてKr−85ガスをイオン注
入固定化処理する方法について詳細に説明する。
なお、電極22,23,24の材料にはニツケル
を使用する。Kr−85ガス量が比較的少ない場合
はニツケル電極22に相当する部分の第1のイオ
ン化室26でKr−85ガスのイオン化注入固定化
処理することとし、スイツチ33を閉じて(スイ
ツチ34,35は開放状態)アノード18には例
えば200〜300ボルトの負電圧を、ニツケル電極2
2には2〜3kVの負電圧をそれぞれ連続して印加
する。そして、第4図から第6図で説明したよう
なプロセスでニツケルイオンと、Kr−85イオン
の累積層を形成しながらKr−85のイオン注入固
定化処理を行う。また、多量のKr−85ガスを処
理する場合にはスイツチ34,35を閉にするこ
とにより、第2のイオン化室27,第3のイオン
化室28でも同等の方法でイオン注入固定化処理
を行うことができる。
放射性被処理ガスとしてKr−85ガスをイオン注
入固定化処理する方法について詳細に説明する。
なお、電極22,23,24の材料にはニツケル
を使用する。Kr−85ガス量が比較的少ない場合
はニツケル電極22に相当する部分の第1のイオ
ン化室26でKr−85ガスのイオン化注入固定化
処理することとし、スイツチ33を閉じて(スイ
ツチ34,35は開放状態)アノード18には例
えば200〜300ボルトの負電圧を、ニツケル電極2
2には2〜3kVの負電圧をそれぞれ連続して印加
する。そして、第4図から第6図で説明したよう
なプロセスでニツケルイオンと、Kr−85イオン
の累積層を形成しながらKr−85のイオン注入固
定化処理を行う。また、多量のKr−85ガスを処
理する場合にはスイツチ34,35を閉にするこ
とにより、第2のイオン化室27,第3のイオン
化室28でも同等の方法でイオン注入固定化処理
を行うことができる。
このようにして、処理されるKr−85ガス量の
多少、即ち処理量の変動に対応して処理能力を調
整することにより処理装置の平均化をはかつた連
続的な運転を行うことが出来る。
多少、即ち処理量の変動に対応して処理能力を調
整することにより処理装置の平均化をはかつた連
続的な運転を行うことが出来る。
第2図は本発明の放射性ガスの固定化処理装置
の第2の実施例を示す断面図である。第2図中第
1図と同一部分は同一符号で示し重複する部分の
説明を省略する。この実施例が第1図の実施例で
異なる点は円筒状電極5を共通し、円筒状容器1
を3分割し、その分割面に絶縁体39を介在して
電気的に絶縁し、第1のイオン化室26、第2の
イオン化室27、第3のイオン化室28を形成す
る。また容器1の底面に絶縁体40を設け、この
絶縁体40を貫通して電極5は直流高圧電源36
の一端(負電極)に接続されている。そしてこの
電源36の他端(正電極)は直流電源38の一端
(負電極)と共通にアノード18に接続され、3
8の他端(正電極)はスイツチ41,42,43
を介してソード線44,45,46がそれぞれ第
1、第2、第3のイオン化室26,27,28の
容器1の側壁に接続されている。その他の構成は
第1図と同様である。このような構成の装置にお
いて、スイツチ41を閉にし、スイツチ42,4
3は開放状態にしておき、第1図の実施例で説明
した場合と同等の方法により第1のイオン化室2
6でKr−85のイオン注入固定化処理を行うこと
ができる。また、処分量が多い場合にはスイツチ
42,43を閉にすることにより第2、第3のイ
オン化室27,28でもイオン注入固定化処理を
行うことができる。
の第2の実施例を示す断面図である。第2図中第
1図と同一部分は同一符号で示し重複する部分の
説明を省略する。この実施例が第1図の実施例で
異なる点は円筒状電極5を共通し、円筒状容器1
を3分割し、その分割面に絶縁体39を介在して
電気的に絶縁し、第1のイオン化室26、第2の
イオン化室27、第3のイオン化室28を形成す
る。また容器1の底面に絶縁体40を設け、この
絶縁体40を貫通して電極5は直流高圧電源36
の一端(負電極)に接続されている。そしてこの
電源36の他端(正電極)は直流電源38の一端
(負電極)と共通にアノード18に接続され、3
8の他端(正電極)はスイツチ41,42,43
を介してソード線44,45,46がそれぞれ第
1、第2、第3のイオン化室26,27,28の
容器1の側壁に接続されている。その他の構成は
第1図と同様である。このような構成の装置にお
いて、スイツチ41を閉にし、スイツチ42,4
3は開放状態にしておき、第1図の実施例で説明
した場合と同等の方法により第1のイオン化室2
6でKr−85のイオン注入固定化処理を行うこと
ができる。また、処分量が多い場合にはスイツチ
42,43を閉にすることにより第2、第3のイ
オン化室27,28でもイオン注入固定化処理を
行うことができる。
第3図は、本発明の第3の実施例を示したもの
である。この第3の実施例は前述した第1および
第2図の装置における容器および電極をそれぞれ
分割して示した以外は同様である。この装置にお
いては第1図および第2図の装置と同じように
Kr−85のイオン注入固定化処理が実現できる。
である。この第3の実施例は前述した第1および
第2図の装置における容器および電極をそれぞれ
分割して示した以外は同様である。この装置にお
いては第1図および第2図の装置と同じように
Kr−85のイオン注入固定化処理が実現できる。
以上各々の実施例では円筒状電極材としてニツ
ケルを使用した例について説明したが、これに限
ることなくニツケルとランタンの合金ランタン
銅、銅合金、金、銀、アルミ、アルミ合金などス
パツタリングを起しやすい金属ならばすべて本発
明に適用される。またイオン化処理されるガスと
してKr−85について説明したが、本発明は他の
ガスについても適用でき、イオン化室は複数個の
イオン化室を有する放射性ガスの固定化処理装置
にすべて適用できる。冷却媒体としては水に限定
されない。さらにニツケル電極と容器間には2〜
3kVの負電圧を印加し、容器とアノード間には
200〜300Vの負電圧を印加した例で説明したが、
これは中心電極の大きさ、円筒状容器の大きさ、
容器内の圧力によつて適正条件が変化することは
当然であり、上記数値に限定されない。また容器
内に導入されるガスの圧力は上記値に限定されな
い。
ケルを使用した例について説明したが、これに限
ることなくニツケルとランタンの合金ランタン
銅、銅合金、金、銀、アルミ、アルミ合金などス
パツタリングを起しやすい金属ならばすべて本発
明に適用される。またイオン化処理されるガスと
してKr−85について説明したが、本発明は他の
ガスについても適用でき、イオン化室は複数個の
イオン化室を有する放射性ガスの固定化処理装置
にすべて適用できる。冷却媒体としては水に限定
されない。さらにニツケル電極と容器間には2〜
3kVの負電圧を印加し、容器とアノード間には
200〜300Vの負電圧を印加した例で説明したが、
これは中心電極の大きさ、円筒状容器の大きさ、
容器内の圧力によつて適正条件が変化することは
当然であり、上記数値に限定されない。また容器
内に導入されるガスの圧力は上記値に限定されな
い。
以上説明したように本発明の放射性ガスの固定
化処理装置によれば燃料再処理工場で回収された
放射性ガス例えばKr−85ガスの量によつてイオ
ン注入固定化処理能力を調整することが可能とな
るので、オンライン化されたイオン注入固定化処
理装置を連続的に運転できるようになる。従つ
て、装置の稼動および停止を頻繁にくりかえす必
要がなく、かつ装置のメンテナンスが容易であ
り、電力消費が少なく、省力化できるなど実用的
に大なる効果を奏する。
化処理装置によれば燃料再処理工場で回収された
放射性ガス例えばKr−85ガスの量によつてイオ
ン注入固定化処理能力を調整することが可能とな
るので、オンライン化されたイオン注入固定化処
理装置を連続的に運転できるようになる。従つ
て、装置の稼動および停止を頻繁にくりかえす必
要がなく、かつ装置のメンテナンスが容易であ
り、電力消費が少なく、省力化できるなど実用的
に大なる効果を奏する。
第1図から第3図は本発明に係る放射性ガスの
固定化装置の第1から第3の実施例をそれぞれ示
す縦断面図、第4図は従来の放射性ガスの固定化
を概要的に示す断面図、第5図および第6図は第
4図に示した装置の横断面図である。 1……円筒状容器、3……冷却管、6,25,
29,37……絶縁体、7……上端板、8,10
……バルブ、9,11……パイプ、12……冷却
パイプ、14……イオン層、17……フイラメン
ト、18……アノード、20……下端板、22,
23,24……ニツケル電極、26,27,28
……イオン化室、30,31,32……リード
線、33,34,35……スイツチ、36……直
流高圧電源、38……直流電源。
固定化装置の第1から第3の実施例をそれぞれ示
す縦断面図、第4図は従来の放射性ガスの固定化
を概要的に示す断面図、第5図および第6図は第
4図に示した装置の横断面図である。 1……円筒状容器、3……冷却管、6,25,
29,37……絶縁体、7……上端板、8,10
……バルブ、9,11……パイプ、12……冷却
パイプ、14……イオン層、17……フイラメン
ト、18……アノード、20……下端板、22,
23,24……ニツケル電極、26,27,28
……イオン化室、30,31,32……リード
線、33,34,35……スイツチ、36……直
流高圧電源、38……直流電源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 放射性被処理ガスが導入される筒状容器と、
この容器にに配置された電極と、前記容器肉に対
向し絶縁体を介して設けられたフイラメントおよ
びアノードと、前記電極に負電圧を印加する直流
高圧電源と、前記容器内に電気的に絶縁されて複
数に分割された複数のイオン化室とからなること
を特徴とする放射性ガスの固定化処理装置。 2 前記電極は中空筒状体で絶縁体を介して複数
に分割されており、かつ冷却管が設けられている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の放
射性ガスの固定化処理装置。 3 前記アノードには前詰記電源によつて200〜
300Vの負電圧が印加されて該該アノードとフイ
ラメント間で放射性被処理ガスのガス放電が発生
してイオン化され、かつ電極には2〜3kVの負の
高電圧が印加されて該電極表面が前記被処理ガス
イオンでスパツタリングされることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の放射性ガスの固定化
処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14161684A JPS6120897A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | 放射性ガスの固定化処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14161684A JPS6120897A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | 放射性ガスの固定化処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6120897A JPS6120897A (ja) | 1986-01-29 |
JPH0460238B2 true JPH0460238B2 (ja) | 1992-09-25 |
Family
ID=15296175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14161684A Granted JPS6120897A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | 放射性ガスの固定化処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6120897A (ja) |
-
1984
- 1984-07-09 JP JP14161684A patent/JPS6120897A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6120897A (ja) | 1986-01-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |