JPS63296867A - 薄膜の塗布装置および塗布方法 - Google Patents

薄膜の塗布装置および塗布方法

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Publication number
JPS63296867A
JPS63296867A JP13501587A JP13501587A JPS63296867A JP S63296867 A JPS63296867 A JP S63296867A JP 13501587 A JP13501587 A JP 13501587A JP 13501587 A JP13501587 A JP 13501587A JP S63296867 A JPS63296867 A JP S63296867A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
solvent
valve
thin film
cover
Prior art date
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Pending
Application number
JP13501587A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideaki Shimoda
秀明 下田
Atsushi Ueno
上野 厚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPS63296867A publication Critical patent/JPS63296867A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は薄膜の塗布装置および塗布方法に関し、特に段
差を有する基板上に平坦に薄膜を形成する技術に関する
ものである。
従来の技術 半導体装置の製造工程において今日では基板の平坦化の
ためにエッチバックと呼ばれるプロセスが一般によく用
いられておシ、エッチバックのために有機膜等を段差基
板に平坦に塗布することが必要に力っている。
従来の薄膜を塗布する装置の一例を第2図に示す。
基板1を設置するチャック部2と基板1を回転させるた
めのモータ3と、基板1と数mmの間隔で対向し平行に
設置された対向板4とより形成されてお9、実際に薄膜
を塗布する場合には、チャック部2に基板1を設置した
のち基板1上にフォト3ヘージ レジスト液等を滴下jJ’c+17)ち、対向板4を所
定の間隔、に、なるよ、うに設置し、モータ1により1
芦板1−□j) をモータ3により回転させることにより薄膜を形成する
。  ″″  ・ このように対向板4を設けることにより基板1゜が回転
して薄膜が形成される際に溶媒の揮発がお”さえられ、
段差を有する基板においても薄膜を平坦に塗布すること
が容易となる。・ 発明が解決しようとする問題点 しかし上記の装置では平坦度を向上させるだめには基板
1と対向板4の間隔を非常にせ捷<シ、さらにその距離
を高精度に制御する必要があり、′基板1が大きぐなち
てくると非常に制御が困□難であった。 ゛     
     ・ 壕だ上記の装置では溶媒の揮発を対晶板4と基板1との
間隔で制御するため、任意の対向板4と基板1の間の溶
媒の濃度を制御することも困難である。
本発明はかかる点に鑑みてなされるもので、薄膜を任意
の溶媒濃度雰囲気中で形成することにより大きい基板に
おいても薄膜を平坦に塗布することが可能な塗布装置お
よび塗布方法を提供することを目的としている。
問題点を解決するための手段 5  本発明は上記問題点を解決大るため、塗布雰囲気
を一旦排気し真空にしたのち、溶媒を導入し一定の濃度
雰囲気にしたのち液を滴下し、基板を回転させることに
より薄膜を平坦に塗布するものである。
作  用 本発明の方法により基板の大きさに左右されることなく
任意の溶媒雰囲気で薄膜を段差基板に平坦に塗布するこ
とができる。
実施例 ゛ 第1図に本発明の塗布i置の一実施例を示す。。
半導体基板1を設置するチャック部2と基板1゛を回転
させる丸めのモータ3と、基板1をおおうごとく形成さ
れたカバー5と、カバー5内を真空に排気するための真
空ポンプ6と、排気を制御する第1のバルブ7と、カバ
ー5内に溶媒を導入する51、−; だめの第1の導入口8と導入を制御する第2のバルブ9
と、基板1上に塗布液を滴下するための第2の導入口1
0と塗布液の導入を制御する第3のバルブ11とより構
成されている。
実際に薄膜を形成する場合には、チャック部2に基板1
を設置したのち、真空ポンプ6によりカバー5内を一定
の真空度寸で排気する。次に第1のバルブを閉じたのち
第2のバルブ9を開は第1の導入口8よりレジスト塗布
液の溶媒をカバー5内に一定の圧力になるまで導入し第
2のバルブ9を閉じる。
その後筒3のバルブ11を開けて第2の導入口10より
レジスト塗布液を導入したのち第3のバルブ11を閉じ
モータ3により基板1を回転させて薄膜を形成する。
以上のべたような装置および方法でレジスト薄膜を形成
することにより任意の溶媒雰囲気濃度を自由に選択する
ことが可能であり、基板の大きさに関係なくレジスト薄
膜の平坦塗布を容易かつ安定に行なうことができる。
6ヘー/゛ 実施例では1回塗布する場合についてのみのべたが、必
要に応じて複数回くり返してもよいし、塗布液も1種類
に限定するものではない。また、本発明はレジストのみ
でなく、塗布により形成される薄膜形成に広く適用する
ことが可能となる。
また本装置では塗布液の導入口および溶媒の導入口がそ
れぞれ1個の場合についてのべているが、これはそれぞ
れが複数個であってもよいことは言うまでもなく、必要
に応じては複数の溶媒を同時に導入しても良い。また溶
媒の濃度は真空計等を接続しておいて任意に調整しても
よい。
発明の効果 以上のべたように本発明の装置および方法を用いること
により任意の溶媒雰囲気中で薄膜を形成できるため、基
板の大きさにも影響されず段差基板上にも平坦に薄膜を
塗布することが可能でありその工業的価値は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の塗布装置の一実施例の断面図、第2図
は従来の塗布装置の断面図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・チャック部、3・
・・・・・モータ、6・・・・・・カバー、6・・・・
・・真空ポンプ、7・・・・・・第1のバルブ、8・・
・・・・第1の導入口、9・・・・・・第2のバルブ、
10・・・・・・第2の導入口、11・・・・・・第3
のバルブ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名(−
一一基椋 計″−カッ)− 第2図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板を設置するチャック部と、前記基板を回転さ
    せるごとく設置され駆動部と、少なくとも前記基板をお
    おうごとく設置されたカバー部と、前記カバー部内を排
    気するための真空ポンプと、排気を制御するための第1
    のバルブと、前記カバー部内に溶媒を導入するための第
    1の導入口と、溶媒の導入を制御するための第2のバル
    ブと、前記基板の主面上に塗布液を滴下するための第2
    の導入口と、塗布液の導入を制御するための第3のバル
    ブよりなる塗布装置。
  2. (2)チャック部に基板を設置した後、真空ポンプによ
    りカバー部内を一定の真空度まで排気する工程と、排気
    制御用の第1のバルブを閉じた後、前記カバー部内に第
    1の導入口より溶媒を所定の濃度まで導入する工程と、
    前記基板上に第2の導入口より所定の量だけ滴下する工
    程と、前記基板を駆動部により所定の回転数で回転させ
    る工程よりなる薄膜の塗布方法。
JP13501587A 1987-05-29 1987-05-29 薄膜の塗布装置および塗布方法 Pending JPS63296867A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002097492A1 (fr) * 2001-05-30 2002-12-05 Hitachi Chemical Co.,Ltd. Element optique, procede de fabrication d'elements optiques, et dispositif et procede de revetement
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