JPS6329622A - X線断層撮影装置 - Google Patents
X線断層撮影装置Info
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- JPS6329622A JPS6329622A JP62150132A JP15013287A JPS6329622A JP S6329622 A JPS6329622 A JP S6329622A JP 62150132 A JP62150132 A JP 62150132A JP 15013287 A JP15013287 A JP 15013287A JP S6329622 A JPS6329622 A JP S6329622A
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、X線断層撮影装置に関するもので例えば被検
体のまわりの多方向からX線を被検体に照射し、被検体
を透過したX線の強度を測定し、この測定値を計算機で
処理して被検体の断層面のX線吸収係数分布を得るコン
ピユーテッド・トモグラフィスキャナ(以下CTスキャ
ナと言う)の改良に関する。
体のまわりの多方向からX線を被検体に照射し、被検体
を透過したX線の強度を測定し、この測定値を計算機で
処理して被検体の断層面のX線吸収係数分布を得るコン
ピユーテッド・トモグラフィスキャナ(以下CTスキャ
ナと言う)の改良に関する。
(従来の技術)
従来のX線断層撮影装置は、被検体の撮影領域を十分に
覆いきれる程の拡がりを有する扇状のX線を放出するX
線管と、被検体を挾んでX線管と対置されていて前記X
線管から放出されたX線を検知するに必要な多数の検出
素子から成る検出器と、この検出器で得られたX線の強
度を電気信号に変換し、被検体の断層面のX線吸収係数
分布を得るように前記電気信号を処理するデータ処理装
置と、前記X線管と検出器とをあるステップ角度毎に回
転させてこのステップ角度毎にX線管からX線を放出し
前記検出器でそのX線を検出するといった操作を1回転
以上の角度範囲に渉って行なうように前記X線管と検出
器とを被検体のまわりに機械的に回転させる回転機構部
とから成っていた。あるいは、被検体のまわりにリング
状に配置された多数の検出素子から成る検出器を固定し
、扇状のX線を放出するX線管のみを被検体のまわりに
1回転以上機械的に回転させて、被検体の断層面のX線
吸収係数分布を求めるに必要なデータを得る方法のX線
断層撮影装置もあった。
覆いきれる程の拡がりを有する扇状のX線を放出するX
線管と、被検体を挾んでX線管と対置されていて前記X
線管から放出されたX線を検知するに必要な多数の検出
素子から成る検出器と、この検出器で得られたX線の強
度を電気信号に変換し、被検体の断層面のX線吸収係数
分布を得るように前記電気信号を処理するデータ処理装
置と、前記X線管と検出器とをあるステップ角度毎に回
転させてこのステップ角度毎にX線管からX線を放出し
前記検出器でそのX線を検出するといった操作を1回転
以上の角度範囲に渉って行なうように前記X線管と検出
器とを被検体のまわりに機械的に回転させる回転機構部
とから成っていた。あるいは、被検体のまわりにリング
状に配置された多数の検出素子から成る検出器を固定し
、扇状のX線を放出するX線管のみを被検体のまわりに
1回転以上機械的に回転させて、被検体の断層面のX線
吸収係数分布を求めるに必要なデータを得る方法のX線
断層撮影装置もあった。
ところで、従来のX線断層撮影装置では、X線管と検出
器との回転あるいはX線管のみの回転いずれにしても機
械的に回転させる速度には、速度の制御の点からも、例
えば1分間に30回回転度といった限界があった。即ち
、1回転するのに約2秒程度の時間が必要であり、言い
かえれば、被検体の断層面の撮影を行なうに必要なX線
の走査時間が約2秒程度必要であった。従って、この時
間の間に例えば人体のような被検体の場合であれば、呼
吸、心臓の拍動等によって被検体が動き、得られた被検
体の断層像の画像が不鮮明になる欠点があった。
器との回転あるいはX線管のみの回転いずれにしても機
械的に回転させる速度には、速度の制御の点からも、例
えば1分間に30回回転度といった限界があった。即ち
、1回転するのに約2秒程度の時間が必要であり、言い
かえれば、被検体の断層面の撮影を行なうに必要なX線
の走査時間が約2秒程度必要であった。従って、この時
間の間に例えば人体のような被検体の場合であれば、呼
吸、心臓の拍動等によって被検体が動き、得られた被検
体の断層像の画像が不鮮明になる欠点があった。
更に、被検体の多種類の一連の断層面を撮影する場合に
おいて、従来のX線断層撮影装置では、被検体の所望の
断層面がX線の照射位置にくるように被検体を機械的に
移動させていたため、位置合わせ等に時間がかかる欠点
かあった。また、再度の位置合わせにも、位置の再現性
が困難なt;め測定が不正確になる欠点があった。
おいて、従来のX線断層撮影装置では、被検体の所望の
断層面がX線の照射位置にくるように被検体を機械的に
移動させていたため、位置合わせ等に時間がかかる欠点
かあった。また、再度の位置合わせにも、位置の再現性
が困難なt;め測定が不正確になる欠点があった。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は従来のX線断層撮影装置がもつ前記の欠点を除
去し電磁気的にX線を走査せしめ、X線の発生位置、エ
ネルギー、及び強度等を自動制御して、高速度で正確な
被検体の断層像が得られるX線断層撮影装置を提供する
ことを目的としている。
去し電磁気的にX線を走査せしめ、X線の発生位置、エ
ネルギー、及び強度等を自動制御して、高速度で正確な
被検体の断層像が得られるX線断層撮影装置を提供する
ことを目的としている。
以下、本発明を一実施例に基づいて詳しく説明する。尚
、実施例の図面において共通部分には同一番号を付した
。
、実施例の図面において共通部分には同一番号を付した
。
第1図は、本発明のX線断層撮影装置の概略図である。
後述する電子銃から放出された電子ビームか、リング状
に形成された1枚の金属板から成るターゲット1に衝突
することによりその衝突点、即ちX線発生点2よりX線
が放出する。このX線発生点2から放出したX線ビーム
3は被検体の撮影領域4を十分覆いきれる程の拡がり角
、例えば約30度の拡がり角を有するように、後述する
リング状に置かれたコリメータによって整形される。
に形成された1枚の金属板から成るターゲット1に衝突
することによりその衝突点、即ちX線発生点2よりX線
が放出する。このX線発生点2から放出したX線ビーム
3は被検体の撮影領域4を十分覆いきれる程の拡がり角
、例えば約30度の拡がり角を有するように、後述する
リング状に置かれたコリメータによって整形される。
撮影領域4を透過したX線ビームは、リング状に並置さ
れた多数の検出素子から成る検出器5によって検知され
る。この検出器5で検知されたX線ビームの強度は電気
信号に変換され、この電気信号はデータ処理装置例えば
データ収集部6、データ処理装置7に送られ、被検体の
断層像を得るの°に利用される。データ処理装置7は、
前記X線発生点2がターゲット1上で円軌道8を描くよ
うに、X線発生制御装置9を通して、X線発生点2の軌
道運動を電磁気的に制御する。このX線発生点2は、前
記円軌道8上に所定のステップ角度毎、例えば1°毎の
位置にくるように制御されている。
れた多数の検出素子から成る検出器5によって検知され
る。この検出器5で検知されたX線ビームの強度は電気
信号に変換され、この電気信号はデータ処理装置例えば
データ収集部6、データ処理装置7に送られ、被検体の
断層像を得るの°に利用される。データ処理装置7は、
前記X線発生点2がターゲット1上で円軌道8を描くよ
うに、X線発生制御装置9を通して、X線発生点2の軌
道運動を電磁気的に制御する。このX線発生点2は、前
記円軌道8上に所定のステップ角度毎、例えば1°毎の
位置にくるように制御されている。
また、前記ステップ角度毎の位置で被検体を照射したX
線は、検出器5によって検知され、その強度を示す電気
信号はデータ処理装置に送られる。
線は、検出器5によって検知され、その強度を示す電気
信号はデータ処理装置に送られる。
データ処理装置では、被検体のまわりのあらゆる方向か
ら照射されたX線の強度の測定値をもとにして周知のコ
ンボリューション法等の画像再構成法を用いて被検体の
断層面のX線吸収係数を計算しその結果を表示装置10
に表示する。
ら照射されたX線の強度の測定値をもとにして周知のコ
ンボリューション法等の画像再構成法を用いて被検体の
断層面のX線吸収係数を計算しその結果を表示装置10
に表示する。
以上X線発生点2の軌道運動を電磁気的に制御するため
、扇状のX線ビーム3を被検体のまわりに回転する走査
時間は数m5ecと極めて短かく、得られる被検体の断
層像は、被検体の動きによる画質の低下が軽減され、画
質の良い断層像となる。
、扇状のX線ビーム3を被検体のまわりに回転する走査
時間は数m5ecと極めて短かく、得られる被検体の断
層像は、被検体の動きによる画質の低下が軽減され、画
質の良い断層像となる。
また、X線発生点2の位置も正確にかつ迅速に制御され
るため、被検体の断層面の位置合わせも正確に、かつ迅
速に行なえる。
るため、被検体の断層面の位置合わせも正確に、かつ迅
速に行なえる。
第2図以下は、本発明の実施例の具体的な構成図である
。第2図は、本発明のX線断層撮影装置の断面図であり
、第3図は、第2図の切断線■−■で本発明の装置を切
断した断面図である。
。第2図は、本発明のX線断層撮影装置の断面図であり
、第3図は、第2図の切断線■−■で本発明の装置を切
断した断面図である。
第2図において、電子銃21は一端に開孔22を有し、
この一端において電子銃21は真空容器23の一端と接
続されている。この真空容器23は、この真空容器の器
壁に設けられた排気孔24に接続されたL型排気管25
を通して、真空ポンプ26によって約1O−7Torr
程度の真空度に保たれている。真空容器23の細くくび
れだ部分の位置に、電子銃21に近い側から集束装置、
即ち集束コイル27と偏向装置、即ちビーム偏向ヨーク
28とが設けられている。電子銃21の開孔22から引
き出された電子ビーム29は前記集束コイル27によっ
て細く絞られた後前記ビーム偏向ヨーク28によって所
定の角度だけ偏向され、かつ同一立体角を保ちながらコ
ーン状に回転される。この電子ビーム29は真空容器2
3内にリング状に設けられた補助偏向装置、即ち静電偏
向電極30によって再び偏向され真空容器23の他端付
近にリング状に並置されたターゲット1の所定の点即ち
X線発生点2に衝突しX線ビーム3を放出せしめる。
この一端において電子銃21は真空容器23の一端と接
続されている。この真空容器23は、この真空容器の器
壁に設けられた排気孔24に接続されたL型排気管25
を通して、真空ポンプ26によって約1O−7Torr
程度の真空度に保たれている。真空容器23の細くくび
れだ部分の位置に、電子銃21に近い側から集束装置、
即ち集束コイル27と偏向装置、即ちビーム偏向ヨーク
28とが設けられている。電子銃21の開孔22から引
き出された電子ビーム29は前記集束コイル27によっ
て細く絞られた後前記ビーム偏向ヨーク28によって所
定の角度だけ偏向され、かつ同一立体角を保ちながらコ
ーン状に回転される。この電子ビーム29は真空容器2
3内にリング状に設けられた補助偏向装置、即ち静電偏
向電極30によって再び偏向され真空容器23の他端付
近にリング状に並置されたターゲット1の所定の点即ち
X線発生点2に衝突しX線ビーム3を放出せしめる。
このターゲット1には金属パイプ31が溶接されており
、電子ビームの衝突によってターゲット1から放出され
る熱を吸収するために金属パイプ31に油又は水を流す
冷却機構(図示せず)が設けられている。
、電子ビームの衝突によってターゲット1から放出され
る熱を吸収するために金属パイプ31に油又は水を流す
冷却機構(図示せず)が設けられている。
真空容器23は、一端が開孔になった円筒状の空洞32
を有しこの空洞32に被検体が挿入される。空洞32の
開孔端近くに検出器5がリング状に設置され、前記ター
ゲット1から放出されたX線ビーム3を検知する。第2
図及び第3図にも示すように、リング状に設置された検
出器5は、多数の検出素子33から成っている。検出器
5を内側と外側とから挾む位置に、かつ検出器5と同心
円状の位置に、コリメータ34.35がリング状に設置
されている。X線発生点2から放出されたX線ビーム3
は集束コイル27、ビーム偏向ヨーク28及び静電偏向
電極30を電磁気的に制御することにより、ターゲット
1上の円軌道8に沿って走査せしめられる。このX線ビ
ーム3はコリメータ35によってビーム巾が薄く、かつ
拡がり角が例えば約30’の扇状のビームの整形され、
被検体の撮影領域4を照射する。このX線ビーム3は、
被検体の組織に依存するX線吸収係数の分布に応じて減
衰し、リング状に設置されたもう一方のコリメータ34
で再び整形され、リング状に並置された複数個の特定検
出素子33″からなる検出器5の一部に入射する。この
入射したX線ビームの強度は、検出器5にてその強度を
示す電気信号に変換され、前記データ処理装置で被検体
の断層像を得るように処理される。
を有しこの空洞32に被検体が挿入される。空洞32の
開孔端近くに検出器5がリング状に設置され、前記ター
ゲット1から放出されたX線ビーム3を検知する。第2
図及び第3図にも示すように、リング状に設置された検
出器5は、多数の検出素子33から成っている。検出器
5を内側と外側とから挾む位置に、かつ検出器5と同心
円状の位置に、コリメータ34.35がリング状に設置
されている。X線発生点2から放出されたX線ビーム3
は集束コイル27、ビーム偏向ヨーク28及び静電偏向
電極30を電磁気的に制御することにより、ターゲット
1上の円軌道8に沿って走査せしめられる。このX線ビ
ーム3はコリメータ35によってビーム巾が薄く、かつ
拡がり角が例えば約30’の扇状のビームの整形され、
被検体の撮影領域4を照射する。このX線ビーム3は、
被検体の組織に依存するX線吸収係数の分布に応じて減
衰し、リング状に設置されたもう一方のコリメータ34
で再び整形され、リング状に並置された複数個の特定検
出素子33″からなる検出器5の一部に入射する。この
入射したX線ビームの強度は、検出器5にてその強度を
示す電気信号に変換され、前記データ処理装置で被検体
の断層像を得るように処理される。
なお、検出器もリング状以外に例えば180゜の角度範
囲に配置されたアーク状に配置してもよい。
囲に配置されたアーク状に配置してもよい。
このように、X線ビーム3の走査が前記集束装置や偏向
装置等によって電磁気的に行なえるので、高速かつ正確
な走査が可能である。また、集束コイル27等によって
電子ビームを細く絞ることが可能で、X線発生点2の大
きさを小さく出来るので鮮明な画像が得られる。
装置等によって電磁気的に行なえるので、高速かつ正確
な走査が可能である。また、集束コイル27等によって
電子ビームを細く絞ることが可能で、X線発生点2の大
きさを小さく出来るので鮮明な画像が得られる。
第4図には、電子銃21の断面図が示されている。
コイル状の形状のフィラメント41に、図示されていな
いフィラメント加熱電源を接続し通電すると、このフィ
ラメント41を覆うカソード42の電子放出面43が加
熱され、この電子放出面から電子が放出する。前記電子
放出面43の前面近くに、網目状のグリッド44が、円
筒状のグリッド支持台45に支持され、かつ、絶縁物4
6によってカソード42とは電気的に絶縁されている。
いフィラメント加熱電源を接続し通電すると、このフィ
ラメント41を覆うカソード42の電子放出面43が加
熱され、この電子放出面から電子が放出する。前記電子
放出面43の前面近くに、網目状のグリッド44が、円
筒状のグリッド支持台45に支持され、かつ、絶縁物4
6によってカソード42とは電気的に絶縁されている。
さらに、このグリッド44の前面には、漏斗状のウェネ
ルト電極47が設けられている。このウェネルト電極4
7は、前記グリッド支持台45とは絶縁物48を挾んで
同心円筒状に設けられているウェネルト支持台49に、
支持されている。
ルト電極47が設けられている。このウェネルト電極4
7は、前記グリッド支持台45とは絶縁物48を挾んで
同心円筒状に設けられているウェネルト支持台49に、
支持されている。
このウェネルト支持台49は、絶縁物50を介して固定
部材51に固定されている。固定部材51は、図示され
ていない電子銃21の外壁に接続され、他方絶縁物52
を介してアノード53を支持している。尚、図示されて
いないがフィラメントをはじめウェネルト電極47やア
ノード53等は、それぞれ各電源から電圧が印加される
ようになっている。前記電子放出面43から放出された
電子はウェネルト電極47によって集束され、かつカソ
ード42とアノード53との間の印加された直流電圧ま
たはパルス状の電圧によってアノード53に設けられた
小間孔54から電子ビーム29となって引き出される。
部材51に固定されている。固定部材51は、図示され
ていない電子銃21の外壁に接続され、他方絶縁物52
を介してアノード53を支持している。尚、図示されて
いないがフィラメントをはじめウェネルト電極47やア
ノード53等は、それぞれ各電源から電圧が印加される
ようになっている。前記電子放出面43から放出された
電子はウェネルト電極47によって集束され、かつカソ
ード42とアノード53との間の印加された直流電圧ま
たはパルス状の電圧によってアノード53に設けられた
小間孔54から電子ビーム29となって引き出される。
この電子ビーム29のビーム強度は、前記グリッド44
によって制御され、また、ビームのエネルギーは、前記
カソード42とアノード53との間に印加される電圧の
値を変えることによって変えられる。
によって制御され、また、ビームのエネルギーは、前記
カソード42とアノード53との間に印加される電圧の
値を変えることによって変えられる。
従って、前記電子ビーム29がターゲット1に衝突する
ことにより発生するX線ビームのビーム強度及びエネル
ギーも制御できる。本発明のX線断層撮影装置では、X
線ビームを短時間に多数回、被検体のまわりを回転でき
るので、前記電子銃を用いることによって、さらにX線
エネルギーやビーム強度等のパラメータを変えて短時間
に多くの種類のデータを得ることができ、これらのデー
タを利用して被検体の断層面のより正確なX線吸収係数
が得られる。例えば、実際のX線ビームは一定のエルネ
ギ−を有しておらずあるエネルギー巾をもって分布して
いるため前記X線吸収係数は誤差を含んだ値になるとい
った欠点も、本発明によって軽減でき、画像かより鮮明
になる。
ことにより発生するX線ビームのビーム強度及びエネル
ギーも制御できる。本発明のX線断層撮影装置では、X
線ビームを短時間に多数回、被検体のまわりを回転でき
るので、前記電子銃を用いることによって、さらにX線
エネルギーやビーム強度等のパラメータを変えて短時間
に多くの種類のデータを得ることができ、これらのデー
タを利用して被検体の断層面のより正確なX線吸収係数
が得られる。例えば、実際のX線ビームは一定のエルネ
ギ−を有しておらずあるエネルギー巾をもって分布して
いるため前記X線吸収係数は誤差を含んだ値になるとい
った欠点も、本発明によって軽減でき、画像かより鮮明
になる。
第5図は、第2図の本発明の装置断面図における検出器
部分の拡大図である。
部分の拡大図である。
電子ビーム29は、ターゲット1の冷却用の金属パイプ
31を設けたターゲット1に衝突する。
31を設けたターゲット1に衝突する。
その衝突点即ちX線発生点2からはX線ビーム3が放出
される。このX線ビーム3は2組の検出器5a、5bか
らなる検出器5で検知される。この検出器5a、5bは
、この検出器5a、5bに入射するX線ビーム3a、3
bが互いに対称のビーム形状になるように、X線発生点
2の位置を制御するか、または検出器5をX線ビーム3
を横切る方向に移動させるかによって位置づけられる。
される。このX線ビーム3は2組の検出器5a、5bか
らなる検出器5で検知される。この検出器5a、5bは
、この検出器5a、5bに入射するX線ビーム3a、3
bが互いに対称のビーム形状になるように、X線発生点
2の位置を制御するか、または検出器5をX線ビーム3
を横切る方向に移動させるかによって位置づけられる。
検出器5a、5bの中間には、くさび状のX線遮蔽部材
55が設けられている。従って、被検体への不必要なX
線被曝は除去される効果がある。さらに2組の検出器5
a、5bによってそれぞれ同時にX線ビーム3a、3b
を検知するため、被検体の異なる断層面の画像が同時に
2枚得ることが出来る。
55が設けられている。従って、被検体への不必要なX
線被曝は除去される効果がある。さらに2組の検出器5
a、5bによってそれぞれ同時にX線ビーム3a、3b
を検知するため、被検体の異なる断層面の画像が同時に
2枚得ることが出来る。
尚、検出器5a、5bに入射するX線ビーム3a、3b
が互いに対称かどうか、即ちX線発生点2の位置決定は
、X線発生点2に遠い位置にある検出器56以外にX線
発生点2に近い位置にある検出器57を利用することも
出来る。
が互いに対称かどうか、即ちX線発生点2の位置決定は
、X線発生点2に遠い位置にある検出器56以外にX線
発生点2に近い位置にある検出器57を利用することも
出来る。
第6図は、第5図の変形例を示す図である。
検出器61a、61b、61c、61d、61e、61
fは、等間隔に並置されている。これらの検出器61に
入射するX線ビーム3がそれぞれ対称、または同一のビ
ーム形状になるように、電子ビーム29のターゲット1
への衝突点2a、2b、2c、2d、2eの位置は電磁
気的に制御される。
fは、等間隔に並置されている。これらの検出器61に
入射するX線ビーム3がそれぞれ対称、または同一のビ
ーム形状になるように、電子ビーム29のターゲット1
への衝突点2a、2b、2c、2d、2eの位置は電磁
気的に制御される。
従って、検出器5を多数配列し、それぞれの検出器に入
射するX線ビーム3を電磁気的に制御するため、被検体
の異なる断層面の画像が短時間に多数枚得ることができ
る。
射するX線ビーム3を電磁気的に制御するため、被検体
の異なる断層面の画像が短時間に多数枚得ることができ
る。
以上本発明によって、X線発生点の走査を電磁気的に制
御するためX線ビームの走査時間が極めて短かく、被検
体の動きによる画質の低下が軽減されて鮮明な被検体の
断層像が得られる。かつ、X線を発生せしめる電子ビー
ムを細かく絞ることによってX線発生点の大きさを小さ
くできるため鮮明な被検体の断層像が得られる。また、
X線発生点の位置も正確かつ迅速に行なえるため、被検
体の断層面の位置合わせも正確かつ迅速に行なえる。
御するためX線ビームの走査時間が極めて短かく、被検
体の動きによる画質の低下が軽減されて鮮明な被検体の
断層像が得られる。かつ、X線を発生せしめる電子ビー
ムを細かく絞ることによってX線発生点の大きさを小さ
くできるため鮮明な被検体の断層像が得られる。また、
X線発生点の位置も正確かつ迅速に行なえるため、被検
体の断層面の位置合わせも正確かつ迅速に行なえる。
さらに、X線エネルギーやX線ビーム強度等のパラメー
タを変えて、短時間に同一断層面に関して多くの種類の
データが得られるので、これらのデータを利用して被検
体の断層面のより正確なX線吸収係数か得られる。その
上、多数の検出素子から成る検出器を複数個配列し、か
つX線ビームを電磁気的に走査するため被検体の異なる
断層面の画像が短時間に多数枚得られる。
タを変えて、短時間に同一断層面に関して多くの種類の
データが得られるので、これらのデータを利用して被検
体の断層面のより正確なX線吸収係数か得られる。その
上、多数の検出素子から成る検出器を複数個配列し、か
つX線ビームを電磁気的に走査するため被検体の異なる
断層面の画像が短時間に多数枚得られる。
さらに、ターゲット等が単一の真空容器内に設けられ、
かつこのターゲットからX線を発生せしめる電子銃も真
空容器の一端に接続するだけでよいため、装置の構造も
簡単になり、また、機械的なX線ビームの回転駆動装置
は不要なため、装置を小形にすることができる。
かつこのターゲットからX線を発生せしめる電子銃も真
空容器の一端に接続するだけでよいため、装置の構造も
簡単になり、また、機械的なX線ビームの回転駆動装置
は不要なため、装置を小形にすることができる。
尚、本発明は本明細書に記載された実施例に限定される
ことなく、特許請求の範囲に含まれた変形例も含むこと
は勿論であり、例えば電子銃ではカソードは傍熱形以外
に直熱形でもよく、また複数個のカソードを使用した電
子銃でもよい。ターゲットも、1枚の金属板以外に多数
の金属板をリング状に並置してもよい。
ことなく、特許請求の範囲に含まれた変形例も含むこと
は勿論であり、例えば電子銃ではカソードは傍熱形以外
に直熱形でもよく、また複数個のカソードを使用した電
子銃でもよい。ターゲットも、1枚の金属板以外に多数
の金属板をリング状に並置してもよい。
また、集束装置としては静電電極を用いて集束させても
よく、検出器もリング状以外に例えば180°の角度範
囲に配置されたアーク状に配置してもよい。さらに、被
検体の設定を容易にするため電子銃をX線ビームの回転
中心軸から偏心させて取付けた構造にしてもよく、また
、容器を傾斜させ被検体の異なる断層面の画像が得られ
る構造にしてもよい。
よく、検出器もリング状以外に例えば180°の角度範
囲に配置されたアーク状に配置してもよい。さらに、被
検体の設定を容易にするため電子銃をX線ビームの回転
中心軸から偏心させて取付けた構造にしてもよく、また
、容器を傾斜させ被検体の異なる断層面の画像が得られ
る構造にしてもよい。
[発明の効果]
以上本発明によって、X線発生点の走査を電磁気的に制
御するためX線ビームの走査時間が極めて短かく、被検
体の動きによる画質の低下が軽減されて鮮明な被検体の
断層像が得られる。
御するためX線ビームの走査時間が極めて短かく、被検
体の動きによる画質の低下が軽減されて鮮明な被検体の
断層像が得られる。
第1図は本発明の装置の概略図であり、第2図、第3図
は本発明の具体的な構成を示す装置の全体図である。第
4図は本発明の装置に使用される電子銃の断面図、第5
図は検出器部分の拡大図、第6図は第5図に示す検出器
の一変形例図である。
は本発明の具体的な構成を示す装置の全体図である。第
4図は本発明の装置に使用される電子銃の断面図、第5
図は検出器部分の拡大図、第6図は第5図に示す検出器
の一変形例図である。
Claims (4)
- (1)電子ビームを発生させる電子銃と、この電子銃か
らの電子ビームの方向を変更させる電子ビーム制御装置
と、金属を有し、この金属が360°以下の角度範囲に
あるアーク状に配置され、前記制御装置によって変更さ
れた電子ビームをこの金属に衝突させることによりX線
を前記アーク状のほぼ中心に向けて曝射させるターゲッ
トと、このターゲットの前記X線の衝突点の近くに配置
され、衝突点の温度よりも低い流動体を流す冷却機構と
を有したことを特徴とするX線断層撮影装置。 - (2)前記流動体は液体である特許請求の範囲第1項記
載のX線断層撮影装置。 - (3)前記流動体は油である特許請求の範囲第1項記載
のX線断層撮影装置。 - (4)前記ターゲットは板状であり、且つ前記流動体は
前記X線の衝突する面の反対面に接するように設けられ
た特許請求の範囲第1項記載のX線断層撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62150132A JPS6329622A (ja) | 1987-06-18 | 1987-06-18 | X線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62150132A JPS6329622A (ja) | 1987-06-18 | 1987-06-18 | X線断層撮影装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63288925A Division JPH01280443A (ja) | 1988-11-17 | 1988-11-17 | X線断層撮影装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6329622A true JPS6329622A (ja) | 1988-02-08 |
JPH0234160B2 JPH0234160B2 (ja) | 1990-08-01 |
Family
ID=15490182
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62150132A Granted JPS6329622A (ja) | 1987-06-18 | 1987-06-18 | X線断層撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6329622A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006255089A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Toshiba Corp | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP2011060756A (ja) * | 2009-09-04 | 2011-03-24 | General Electric Co <Ge> | X線を発生させるためのシステム及び方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5275896A (en) * | 1975-12-19 | 1977-06-25 | Morita Pump Kk | Means for mixing water and chemical for chemical extinguishing system |
JPS5310991A (en) * | 1976-07-19 | 1978-01-31 | Toshiba Corp | X-ray tube |
JPS53117397A (en) * | 1977-03-23 | 1978-10-13 | High Voltage Engineering Corp | Circular scan xxray generator for calculating formula axial cross direction sectional camera |
-
1987
- 1987-06-18 JP JP62150132A patent/JPS6329622A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5275896A (en) * | 1975-12-19 | 1977-06-25 | Morita Pump Kk | Means for mixing water and chemical for chemical extinguishing system |
JPS5310991A (en) * | 1976-07-19 | 1978-01-31 | Toshiba Corp | X-ray tube |
JPS53117397A (en) * | 1977-03-23 | 1978-10-13 | High Voltage Engineering Corp | Circular scan xxray generator for calculating formula axial cross direction sectional camera |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006255089A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Toshiba Corp | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP2011060756A (ja) * | 2009-09-04 | 2011-03-24 | General Electric Co <Ge> | X線を発生させるためのシステム及び方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0234160B2 (ja) | 1990-08-01 |
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