JPS63292551A - 電解放射型ガスイオン源 - Google Patents
電解放射型ガスイオン源Info
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- JPS63292551A JPS63292551A JP12773187A JP12773187A JPS63292551A JP S63292551 A JPS63292551 A JP S63292551A JP 12773187 A JP12773187 A JP 12773187A JP 12773187 A JP12773187 A JP 12773187A JP S63292551 A JPS63292551 A JP S63292551A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/06—Sources
- H01J2237/08—Ion sources
- H01J2237/0802—Field ionization sources
- H01J2237/0807—Gas field ion sources [GFIS]
Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は電解放射型ガスイオン源に関するものであり
、ガスを導入し、引出電極と針状エミッタ間に所定の電
圧をかけて該ガスをイオン化し、イオンビームを取出す
電解放射型ガスイオン源に関するものである。
、ガスを導入し、引出電極と針状エミッタ間に所定の電
圧をかけて該ガスをイオン化し、イオンビームを取出す
電解放射型ガスイオン源に関するものである。
[従来の技術]
電解放射型ガスイオン源は、ガスをイオン化しイオンビ
ームを与えるものCあり、イオン注入装置、イオンビー
ムエツチング装置、イオンマイクロイナライザ等に利用
されている。
ームを与えるものCあり、イオン注入装置、イオンビー
ムエツチング装置、イオンマイクロイナライザ等に利用
されている。
第2図は第1の従来例である電解放射型ガスイオン源の
断面模式図である。
断面模式図である。
図中、1は絶縁基台である。絶縁基台1は、たとえば、
熱伝導の良いサファイヤ単結晶より形成される。絶縁基
台1の中央に透孔が穿たれ、針状エミッタ2が該透孔に
挿通されて固定されている。
熱伝導の良いサファイヤ単結晶より形成される。絶縁基
台1の中央に透孔が穿たれ、針状エミッタ2が該透孔に
挿通されて固定されている。
そして、該絶縁基台1の上面より別状エミッタ2を突出
させている。別状エミッタ2は、タングステンまたはイ
リジウムの先端を1000〜2000人程度に電解研磨
して、別状としたものである。
させている。別状エミッタ2は、タングステンまたはイ
リジウムの先端を1000〜2000人程度に電解研磨
して、別状としたものである。
引出電極3は、モリブデン等のスパッタされにくい導電
性金属を用いて、カップ状に形成したものである1、該
引出電極3は絶縁基台1の外周に気密な状態で固定され
ている。
性金属を用いて、カップ状に形成したものである1、該
引出電極3は絶縁基台1の外周に気密な状態で固定され
ている。
引出電極3の中央であって、針状エミッタ2と対向する
位置にQ、5mm程度のアパーチャ4が穿たれている。
位置にQ、5mm程度のアパーチャ4が穿たれている。
さらに絶縁基台1にはガス導入孔4が穿たれており、ガ
ス導入管8が挿通されている。
ス導入管8が挿通されている。
ガス導入管8は、冷却層6内を通り抜けている。
該ガス導入管8は、その中を通るガスを十分に冷却でき
るように、パラジウム等の多孔質金属から形成されてい
る。ガスを冷却する理由については後述する。
るように、パラジウム等の多孔質金属から形成されてい
る。ガスを冷却する理由については後述する。
絶縁基台1の下面に冷却層6が配されており、冷却層6
内には液体窒素または液体ヘリウム6aが入れられてい
る。冷却層G内の液体窒素または液体ヘリウム6aによ
り、別状エミッタ2の下端、絶縁基台1およびガス導入
管8が冷却される。これらを冷却することにより、導入
ガスが冷却され、該ガスの分子運動が抑制され、エミッ
タ2の近くにガスが集まるようになる。
内には液体窒素または液体ヘリウム6aが入れられてい
る。冷却層G内の液体窒素または液体ヘリウム6aによ
り、別状エミッタ2の下端、絶縁基台1およびガス導入
管8が冷却される。これらを冷却することにより、導入
ガスが冷却され、該ガスの分子運動が抑制され、エミッ
タ2の近くにガスが集まるようになる。
引出電極3ど針状エミッタ2間には、10kev程度の
高電圧が引出電源7によって与えられている。引出電極
3にはマイナスの電位がかけられている。
高電圧が引出電源7によって与えられている。引出電極
3にはマイナスの電位がかけられている。
次に動作について説明する。
ガス導入管8を用いて、ガスを、矢印9より。
引出電極3であるカップ3内に導入する。次いで、引出
電源7により、引出電極3とエミッタ2間に所定の高電
圧をかける。すると、ガスは別状エミッタ2近傍の強電
界によって分極し、針状エミッタ2に引ぎつ(プられる
。そして、該分極したガスはイオン化されて、アパーチ
ト4を通って外部にイオンビーム10として放出される
。
電源7により、引出電極3とエミッタ2間に所定の高電
圧をかける。すると、ガスは別状エミッタ2近傍の強電
界によって分極し、針状エミッタ2に引ぎつ(プられる
。そして、該分極したガスはイオン化されて、アパーチ
ト4を通って外部にイオンビーム10として放出される
。
第3図は、第2の従来例である、電解放射型ガスイオン
源の断面模式図である。
源の断面模式図である。
この第2の従来例が第1の従来例と異なる点は、ガス導
入管8を引出電極3のカップ内にまで延ばし、その先端
をノズル状8aにして、針状エミッタ2の先端部近傍に
ガス噴出口が現われるように折り曲げた点である。第1
の従来例では針状エミツタ2先端部へのガス集中が少な
いが、第2の従来例のような構成にすると、ガスが針状
エミツタ2先端部に集中してくるという利点がある。な
お、第2図と同一のものについては同一の符号を付しそ
の説明を省略する。
入管8を引出電極3のカップ内にまで延ばし、その先端
をノズル状8aにして、針状エミッタ2の先端部近傍に
ガス噴出口が現われるように折り曲げた点である。第1
の従来例では針状エミツタ2先端部へのガス集中が少な
いが、第2の従来例のような構成にすると、ガスが針状
エミツタ2先端部に集中してくるという利点がある。な
お、第2図と同一のものについては同一の符号を付しそ
の説明を省略する。
[発明が解決しようとする問題点]
従来の電解放射型ガスイオン源は以上のように構成され
ている。しかしながら、第2図に示す第1の従来例であ
る電解放射型ガスイオン源によれば、カップ状の引出電
極3内でガス圧を一定に保ってはいるものの、別状エミ
ッタ2先端部へのガス集中が少ないため、引出イオンビ
ーム10があまりとれないという問題点があった。また
、第3図に示す第2の従来例である電解放射型ガスイオ
ン源によれば、上記第1の従来例の問題点を解決するた
めに、ガス導入管8を引出電極3内にまで延ばし、その
先端をノズル状8aにして別状エミッタ2の先端部近傍
にガス噴出口が現われるように折り曲げている。この構
造によれば、確かに第1の従来例の構造に起因する前記
問題点は解決されるが、エミッタ2とノズル8aの先端
位置を正確に決定することが難しく、装置製作上の問題
点を生じた。また、エミッタ2近傍の電界がノズル8a
により乱される、という問題点も生じた。
ている。しかしながら、第2図に示す第1の従来例であ
る電解放射型ガスイオン源によれば、カップ状の引出電
極3内でガス圧を一定に保ってはいるものの、別状エミ
ッタ2先端部へのガス集中が少ないため、引出イオンビ
ーム10があまりとれないという問題点があった。また
、第3図に示す第2の従来例である電解放射型ガスイオ
ン源によれば、上記第1の従来例の問題点を解決するた
めに、ガス導入管8を引出電極3内にまで延ばし、その
先端をノズル状8aにして別状エミッタ2の先端部近傍
にガス噴出口が現われるように折り曲げている。この構
造によれば、確かに第1の従来例の構造に起因する前記
問題点は解決されるが、エミッタ2とノズル8aの先端
位置を正確に決定することが難しく、装置製作上の問題
点を生じた。また、エミッタ2近傍の電界がノズル8a
により乱される、という問題点も生じた。
本発明は上2のような問題点を解決するためになされた
ものであり、装置製作上の問題がなく、かつ高密度・大
電流のイオンビームを与える電界放射型ガスイオン源を
提供することを目的とする。
ものであり、装置製作上の問題がなく、かつ高密度・大
電流のイオンビームを与える電界放射型ガスイオン源を
提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
この発明は、ガスを導入し、引出電極と針状エミッタ間
に所定の電圧をかけて該ガスをイオン化し、イオンビー
ムを取出す電界放射型ガスイオン源にかかるものである
。そして、その内部にイオン化すべきガスを導入するパ
イプ、前記パイプの一端開口部内に密接して嵌め入れら
れた多孔質体、前記多孔質体と対面して設けられた引出
電極、および、その本体が前記多孔質体中に埋め込まれ
、その先端部が露出して前記引出電極と対向している別
状エミッタを備えている。
に所定の電圧をかけて該ガスをイオン化し、イオンビー
ムを取出す電界放射型ガスイオン源にかかるものである
。そして、その内部にイオン化すべきガスを導入するパ
イプ、前記パイプの一端開口部内に密接して嵌め入れら
れた多孔質体、前記多孔質体と対面して設けられた引出
電極、および、その本体が前記多孔質体中に埋め込まれ
、その先端部が露出して前記引出電極と対向している別
状エミッタを備えている。
[作用]
この発明に係る電界放射型ガスイオン源は以−トのよう
に構成されている。したがって、パイプ内に導入された
イオン化すべきガスは、多孔質体中を通り、多孔質体中
に埋め込まれた別状エミッタの先端部に集まり、エミッ
タの先端部から流出するようになる。
に構成されている。したがって、パイプ内に導入された
イオン化すべきガスは、多孔質体中を通り、多孔質体中
に埋め込まれた別状エミッタの先端部に集まり、エミッ
タの先端部から流出するようになる。
[実施例]
以下、この発明の実施例を図について説明Jる。
第1A図はこの発明に係る実施例の断面模式図である。
図中、1は絶縁基台である。絶縁基台1は、たとえば、
熱伝導の良いサファイヤ単結晶より形成される。絶縁基
台1の中央に透孔が穿たれ、該透孔にパイプ11が挿入
され固定されている。該パイプ11の一端開口部内に多
孔質体14が密接して嵌め入れられている。多孔質体1
4と対向して引出電極3が設(Jられている。別状エミ
ッタ2の本体が多孔質体14中に埋め込まれ、ぞの先端
部が露出して、引出電極3と対向している。実施例にお
いては、5本の別状エミッタ2が多孔質体14中に埋め
込まれている。針状エミッタ2の先端部は釘状に尖るよ
うに電解研磨されている。
熱伝導の良いサファイヤ単結晶より形成される。絶縁基
台1の中央に透孔が穿たれ、該透孔にパイプ11が挿入
され固定されている。該パイプ11の一端開口部内に多
孔質体14が密接して嵌め入れられている。多孔質体1
4と対向して引出電極3が設(Jられている。別状エミ
ッタ2の本体が多孔質体14中に埋め込まれ、ぞの先端
部が露出して、引出電極3と対向している。実施例にお
いては、5本の別状エミッタ2が多孔質体14中に埋め
込まれている。針状エミッタ2の先端部は釘状に尖るよ
うに電解研磨されている。
パイプの11の他端の開口部はパイプ蓋12で閉じられ
ている。パイプ蓋12には透孔が穿たれており、該透孔
にガス導入管8が挿入されて固定されている。絶縁基台
1にはガス導入管8、絶縁基台1、パイプ11を冷却す
るための冷fJV層6が配されている。冷2J1層6内
には液体窒素または液体ヘリウム6aが入れられている
。
ている。パイプ蓋12には透孔が穿たれており、該透孔
にガス導入管8が挿入されて固定されている。絶縁基台
1にはガス導入管8、絶縁基台1、パイプ11を冷却す
るための冷fJV層6が配されている。冷2J1層6内
には液体窒素または液体ヘリウム6aが入れられている
。
11状エミツタ2の先端が対向する位置に、それぞれの
先端に対応するように孔のあいた引出電極3が配置され
ている。引出電源7によって引出電極3とパイプ11間
に所定の高圧電位が与えられる。引出電源7の一端には
イオンビームを加速するための加速電源13が接続され
ている。加速電源13の細端は接地されている。
先端に対応するように孔のあいた引出電極3が配置され
ている。引出電源7によって引出電極3とパイプ11間
に所定の高圧電位が与えられる。引出電源7の一端には
イオンビームを加速するための加速電源13が接続され
ている。加速電源13の細端は接地されている。
なお、多孔質体14は発泡金属からなり、該金属にはN
i系、Fe系、C1系、貴金属系が一般に用いられる。
i系、Fe系、C1系、貴金属系が一般に用いられる。
しかし、本装置に導入されるガスが反応性ガスである場
合には、該金属にはタングステン、モリブデン、タンタ
ルなどの金属あるいはその炭化物、またはアルミナなど
のセラミックが好ましく用いられる。
合には、該金属にはタングステン、モリブデン、タンタ
ルなどの金属あるいはその炭化物、またはアルミナなど
のセラミックが好ましく用いられる。
また、針状エミッタ2、パイプ11およびガス導入管8
も、本装置に導入されるガスが反応性ガスである場合に
は、タングステン、モリブデン、タンタルなどの金属あ
るいは(の炭化物で形成されるのが好ましい。さらに、
絶縁基台1およびパイプ蓋12にはPBN (PVrO
lytlCBoron N1tride) 、アルミ
ナなどの電気絶縁性が高く、かつ熱伝導性が高い材料を
用いるのが好ましい。
も、本装置に導入されるガスが反応性ガスである場合に
は、タングステン、モリブデン、タンタルなどの金属あ
るいは(の炭化物で形成されるのが好ましい。さらに、
絶縁基台1およびパイプ蓋12にはPBN (PVrO
lytlCBoron N1tride) 、アルミ
ナなどの電気絶縁性が高く、かつ熱伝導性が高い材料を
用いるのが好ましい。
次に動作について説明する。
ガスを、矢印9より、ガス導入管8を用いて、=9−
パイプ11内に導入する。ガス導入管8、パイプ11お
よび絶縁基台1は冷却帝6内の液体窒素あるいは液体ヘ
リウム6aにより冷却されているので、導入されたガス
も冷却される。パイプ11内に導入されたガスは多孔質
体14内を通り、別状エミッタ2の先端部から流出する
。パイプ11および多孔質体14は電導性の高い材料で
形成されているので、パイプ11−引出電極3間に電圧
をか(プることは、$]状エミッタ2−引出電極3間に
電圧をかEづるのに等しい。釘状エミッタ2と引出電極
3間に電位がかけられることによ−)で、前記の流出ガ
スは針状エミツタ2先端部で分極し、イオン化される。
よび絶縁基台1は冷却帝6内の液体窒素あるいは液体ヘ
リウム6aにより冷却されているので、導入されたガス
も冷却される。パイプ11内に導入されたガスは多孔質
体14内を通り、別状エミッタ2の先端部から流出する
。パイプ11および多孔質体14は電導性の高い材料で
形成されているので、パイプ11−引出電極3間に電圧
をか(プることは、$]状エミッタ2−引出電極3間に
電圧をかEづるのに等しい。釘状エミッタ2と引出電極
3間に電位がかけられることによ−)で、前記の流出ガ
スは針状エミツタ2先端部で分極し、イオン化される。
イオン化されたガスは、引出電極3によって、イオンビ
ーム10として外部に引出される。この引出されたイオ
ンビーム10(ま加速電源13により加速される。なお
−り記実施例では、5本の21状エミツタ2が多孔質体
14中に埋め込まれているので、別状エミッタ2が1本
埋め込まれている場合に比べて、5倍の高密度・大電流
のイオンビーム10が(qられる。
ーム10として外部に引出される。この引出されたイオ
ンビーム10(ま加速電源13により加速される。なお
−り記実施例では、5本の21状エミツタ2が多孔質体
14中に埋め込まれているので、別状エミッタ2が1本
埋め込まれている場合に比べて、5倍の高密度・大電流
のイオンビーム10が(qられる。
第1B図は、引出電極3を下から見た図である。
引出電極3には、5本の釘状エミッタがそれぞれ対向す
る位置に、5個の貫通孔3aが設けられている。この貫
通孔3aからイオンビームが照射されることになる。
る位置に、5個の貫通孔3aが設けられている。この貫
通孔3aからイオンビームが照射されることになる。
なお、上記実施例では5本の釘状エミッタ2を多孔質体
14中に埋め込んだ場合を例示したが、この発明はこの
本数に限られるものでなく、必要に応じて加減し得る。
14中に埋め込んだ場合を例示したが、この発明はこの
本数に限られるものでなく、必要に応じて加減し得る。
[発明の効果]
以上のようにこの発明に係る電界放射型ガスイオン源に
よれば、その内部にイオン化すべきガスを導入するパイ
プと、前記パイプの一端開口部内に密接して嵌め入れら
れた多孔質体と、前記多孔質体と対面して設けられた引
出電極と、その本体が前記多孔質体中に埋め込まれ、そ
の先端部が露出して前記引出電極と対向している釘状エ
ミッタとを備えているので、パイプ内に導入されたガス
は多孔質体を通ってt1状エミッタの先端部に集まる。
よれば、その内部にイオン化すべきガスを導入するパイ
プと、前記パイプの一端開口部内に密接して嵌め入れら
れた多孔質体と、前記多孔質体と対面して設けられた引
出電極と、その本体が前記多孔質体中に埋め込まれ、そ
の先端部が露出して前記引出電極と対向している釘状エ
ミッタとを備えているので、パイプ内に導入されたガス
は多孔質体を通ってt1状エミッタの先端部に集まる。
したがって、高密度・大電流のイオンビームが(qられ
る。また、装置製作上の問題もない。
る。また、装置製作上の問題もない。
なお、多孔質体中に針状エミッタを複数本埋め込んだ場
合には、釘状エミッタを1本埋め込んだ場合に比べて、
より高密度で、しかもより大きい電流のイオンビームが
得られる。
合には、釘状エミッタを1本埋め込んだ場合に比べて、
より高密度で、しかもより大きい電流のイオンビームが
得られる。
第1A図はこの発明の一実施例の断面図、第1B図はこ
の発明に用いる引出電極の正面図、第2図は第1の従来
例の断面図、第3図は第2の従来例の断面図である。 図において、2は針状エミッタ、3は引出電極、8はガ
ス導入管、10はイオンビーム、11はパイプ、14は
多孔質体である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示ず。 第1A図 第1B図 2:合トA又゛エミぎゾ/7 3:引出電a 8:力
′ヌ4シλ奢10:I7J>tニー1+ 11 :
A’イア° 14:多孔111g第2図 第3因
の発明に用いる引出電極の正面図、第2図は第1の従来
例の断面図、第3図は第2の従来例の断面図である。 図において、2は針状エミッタ、3は引出電極、8はガ
ス導入管、10はイオンビーム、11はパイプ、14は
多孔質体である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示ず。 第1A図 第1B図 2:合トA又゛エミぎゾ/7 3:引出電a 8:力
′ヌ4シλ奢10:I7J>tニー1+ 11 :
A’イア° 14:多孔111g第2図 第3因
Claims (3)
- (1)ガスを導入し、引出電極と針状エミッタ間に所定
の電圧をかけて該ガスをイオン化し、イオンビームを取
出す電解放射型ガスイオン源であって、 その内部にイオン化すべきガスを導入するパイプ、 前記パイプの一端開口部内に密接して嵌め入れられた多
孔質体、 前記多孔質体と対面して設けられた引出電極、および その本体が前記多孔質体中に埋め込まれ、その先端部が
露出して前記引出電極と対向している針状エミッタ、を
備えた電解放射型ガスイオン源。 - (2)前記針状エミッタが複数本多孔質体中に埋め込ま
れている特許請求の範囲第1項記載の電解放射型ガスイ
オン源。 - (3)前記引出電極には、前記針状エミッタが対向する
位置に、貫通孔が形成されている特許請求の範囲第1項
または第2項記載の電解放射型ガスイオン源。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12773187A JPS63292551A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 電解放射型ガスイオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12773187A JPS63292551A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 電解放射型ガスイオン源 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63292551A true JPS63292551A (ja) | 1988-11-29 |
Family
ID=14967297
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12773187A Pending JPS63292551A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 電解放射型ガスイオン源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63292551A (ja) |
-
1987
- 1987-05-25 JP JP12773187A patent/JPS63292551A/ja active Pending
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