JPS6127053A - 電子ビ−ム源 - Google Patents

電子ビ−ム源

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Publication number
JPS6127053A
JPS6127053A JP14637584A JP14637584A JPS6127053A JP S6127053 A JPS6127053 A JP S6127053A JP 14637584 A JP14637584 A JP 14637584A JP 14637584 A JP14637584 A JP 14637584A JP S6127053 A JPS6127053 A JP S6127053A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma
electron beam
magnetic field
electrode
discharge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14637584A
Other languages
English (en)
Inventor
Umeo Kondo
梅夫 近藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP14637584A priority Critical patent/JPS6127053A/ja
Publication of JPS6127053A publication Critical patent/JPS6127053A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/06Electron sources; Electron guns
    • H01J37/077Electron guns using discharge in gases or vapours as electron sources

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の分野) この発明は、電子ビームを引き出す電子ビーム源に関づ
る。
(先行技術の説明) 第1図は、従来の電子ビーム源の構成を示す図である。
この電子ビーム源は、カソード1.つ工−ネルト電極(
電位形成電極)2および引出電極(アノード)3から成
り、カソード1から放出される熱電子を、カソード1に
対して正の電圧が印加された引出電極3により直接引き
出している。
従来の電子ビーム源は、高輝度のあるいは収差の小さい
電子ビームを引き出すことを目的としている。従って、
大電流の電子ど一ムを得るためには、大面積の電子放出
面を持つカソード(例えば平板カソード)を使用する等
、カソード形状を特殊なものにする必要があった。しか
もカソード材料の選定も難しかった。また、大口径(大
面積)の電子ビー・ムを得るためには、電子ビーム源よ
り引き出された電子ビームを所定のエネルギーまで加速
した後、電界あるいは磁界によりこれを走査する等、別
に特別な手段が必要であった。
(発明の目的) この発明は、容易に大電流かつ大口径の電子ビームを引
き出すことができる電子ビーム源を提供することを目的
とする。
(発明の構成) この発明は、放電プラズマ室を有し、その中で希ガスを
アーク放電させることによってプラズマを生成させるプ
ラズマ生成部と、プラズマ生成部でのプラズマ閉込めを
制御する磁界を発生させる磁界発生部と、複数の孔を有
し、プラズマ生成部において生成されたプラズマから電
子ビームを引き出す引出電極とを備えることを特徴とす
る電子ビーム源である。
(実施例の説明) 第2図は、この発明の一実施例に係る電子ビーム源の構
成を示す図である。この電子ビーム源は、希ガスをアー
ク放電さけることによってプラズマを生成させるプラズ
マ生成部4と、プラズマ生成部4でのプラズマ閉込めを
制御する磁界を発生さける磁界発生部、例えば磁場コイ
ル5と、プラズマ生成部4において生成されたプラズマ
から電子ビームを引き出す引出電極6とを1える。ここ
で言う希ガスとは、ヘリウム、ネオン、アルゴン。
クリプトン、キセノンおよびラドンである。
プラズマ生成部4は、ガス注入口41と、カソード電!
7に接続される1以上のカソード42と、アーク電源8
に接続されるアノード43おにびプラズマ電極44.4
5と、放電プラズマ室46とを備える。ガス注入口41
は、高真空の放電プラズマ室46にアーク放電ガスを注
入するための入口である。アノード43とプラズマ電極
44.45とで囲まれた放電プラズマ室46に入ってき
た希ガスは、カソード42から放出される熱電子によっ
て、アノード43との間でアーク放電する。
電子はその行路中のガス分子と衝突を繰り返し、その結
果として電子が更に生成される。そのようにして生成さ
れた電子はプラズマの一部として、磁場コイル5によっ
てできた磁界によって放電プラズマ室46中に閉じ込め
られる。尚、磁場コイル5の代りに永久磁石を用いても
よい。
プラズマ電極45および引出電極6は、それぞれ、電子
引出し用の多数の小孔(例えば直径が1閤φ前後)45
1および61を有している。放電プラズマ室46に閉じ
込められている電子を引きだすために、引出電源9によ
って、引出電極6にはプラズマ電極/15に対して正の
電圧が印加される。これによって、放電プラズマ室46
から引出電極6を経由して電子ビームが引き出される。
次に、この発明に係る電子ビーム源によって大電流かつ
大口径の電子ビームが引き出される理由につき説明する
。尚、以下の説明において添字eは電子を表わし、添字
iはイオンを表わす。
まず放電プラズマ室46における電子の生成、閉じ込め
の観点から考察する。プラズマ中の一価のイオンを考え
れば、電子の密度n。とイオンの密度n・どの間には、
no=niなる関係が成立する。プラズマ中の粒子の平
均速度■は、マクスウェル分布に従うとして、v=5了
77T蒲で表わされる。ここで、kはボルツマン定数、
王は温19、mは粒子(イオンあるいは電子)の質量で
ある。電流密度jは、j=envで表わされ、eは電荷
素置(1,602X10−19クーロン)である。従っ
て、電子による電流密度j は、jo=enoVoで表
わされ、イオンによる電流密度j・は、j −en、■
、で表わされ、イれらの比は次式で表わされる。
ここで、T /T・′、10稈度であり、m、 /m゜
−1840・Mであるので、(1)式からj。/j、=
135%が得られる。Mはガス物質の質量数であり、例
えばヘリウムであれば4である。従って、希ガスをヘリ
ウムとした場合でも、jo/j1軛270となり、プラ
ズマ中の電子電流密度はイオン電流密度の数百倍となる
同様にして、放電プラズマ室46において生成された電
子を引き出す観点から考察する。放電プラズマから引き
出される電流密度Jについては、次式で表わされるヂャ
イルド・ラングミュアの式が適用される。
ここで、Kは定数、ε0は真空中の誘電率、dは電極間
の距離、■は電極間の電圧である。mとeは前述と同様
である。従って、イオン引出しの場合と電子引出しの場
合とを同一電界の下で行うとすれば、電子型流密IJ 
 とイオン電流密度J。
どの比は次式で表わされ、ヘリウムを例にすれば約90
倍となる。
従って、生成、引出しを通して考察してみると、電子引
出しの場合はイオン引出しの場合に比べて1桁から2桁
上の電流密度が得られる。
次に大口径の点につぎ説明すると、本電子ビーム源にお
いては、ガス放電により生成した広い領域のプラズマか
ら電子ビームを引き出すため、大口径化についての問題
点は全く無い。従来の電子ビーム源のように別に走査手
段を設けなくても、それ自身で大口径の電子ビームを引
き出すことが可能である。
尚、ガス放電では一般には負イオンが生成されるが、希
ガスを用いればほとんど負イオンは生成されない。従っ
て、本電子ビーム源においては、引き出された電子ビー
ム中に負イオンが混在することはない1゜ 本電子ビーム源は、例えば、半導体等のアニール用に用
いられる。
尚、第2図中の符号10はビームラインを示し、ここは
ビームが通っているときでも通常1Q−5T。
rr程麿の高真空に引かれている。このビームライン1
0の真空度を良くするためには、放電プラズマ室46に
排気口を設けて真空引きをしてもよいし、あるいは、引
出電極6の孔61の径を前述したように小さくしたり、
引出電極6の厚みを厚くしたりして(例えば、4s程度
)、孔61の部分のコンダクタンスを小さくしてもよい
(発明の効果) この発明によれば、簡単な構成でありながら、容易に大
電流かつ大口径の電子ビームを引き出すことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の電子ビーム源の構成を示す図である。 M2図は、この発明の一実施例に係る電子ビーム源の構
成を示す図である。 4・・・プラズマ生成部、5・・・磁場コイル、6・・
・引出電極

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)電子ビームを引き出す電子ビーム源であって、 放電プラズマ室を有し、その中で希ガスをアーク放電さ
    せることによってプラズマを生成させるプラズマ生成部
    と、 プラズマ生成部でのプラズマ閉込めを制御する磁界を発
    生させる磁界発生部と、 複数の孔を有し、プラズマ生成部において生成されたプ
    ラズマから電子ビームを引き出す引出電極とを備える、
    電子ビーム源。
JP14637584A 1984-07-13 1984-07-13 電子ビ−ム源 Pending JPS6127053A (ja)

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JP14637584A JPS6127053A (ja) 1984-07-13 1984-07-13 電子ビ−ム源

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ID=15406291

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63114036A (ja) * 1986-10-31 1988-05-18 Japan Atom Energy Res Inst 電子ビ−ム発生装置
KR100318873B1 (ko) * 1996-05-30 2002-06-20 브라이언 알. 바흐맨 이온주입기에서이온형성을위한방법및장치
KR100388428B1 (ko) * 1998-02-26 2003-06-25 액셀리스 테크놀로지스, 인크. 넓은 출력전류 동작범위를 갖는 이온 소스

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5963729A (ja) * 1982-10-04 1984-04-11 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> イオンシヤワ装置

Patent Citations (1)

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KR100318873B1 (ko) * 1996-05-30 2002-06-20 브라이언 알. 바흐맨 이온주입기에서이온형성을위한방법및장치
KR100388428B1 (ko) * 1998-02-26 2003-06-25 액셀리스 테크놀로지스, 인크. 넓은 출력전류 동작범위를 갖는 이온 소스

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