JPS6329244Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6329244Y2 JPS6329244Y2 JP1980188225U JP18822580U JPS6329244Y2 JP S6329244 Y2 JPS6329244 Y2 JP S6329244Y2 JP 1980188225 U JP1980188225 U JP 1980188225U JP 18822580 U JP18822580 U JP 18822580U JP S6329244 Y2 JPS6329244 Y2 JP S6329244Y2
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- JP
- Japan
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- time
- circuit
- test piece
- predetermined value
- Prior art date
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- Expired
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- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、材料内に微視的に発生する塑性変
形、き裂を音響的にとらえるアコーステツク・エ
ミツシヨン（以下AEと略称する）計測装置に関
し、特に２チヤンネル方式のAE計測装置に関す
る。AE計測法において、計測したい領域からの
AE信号と雑音を弁別するために、時間差計測に
よる位置標定法が用いられているが、この方法は
装置が複雑になる欠点がある。
形、き裂を音響的にとらえるアコーステツク・エ
ミツシヨン（以下AEと略称する）計測装置に関
し、特に２チヤンネル方式のAE計測装置に関す
る。AE計測法において、計測したい領域からの
AE信号と雑音を弁別するために、時間差計測に
よる位置標定法が用いられているが、この方法は
装置が複雑になる欠点がある。
本考案は上記に鑑み、きわめて簡単な構成で
AE信号と雑音を弁別し、AE測定領域も任意に設
定できる改良されたAE計測装置の提供を目的と
している。
AE信号と雑音を弁別し、AE測定領域も任意に設
定できる改良されたAE計測装置の提供を目的と
している。
本考案のAE計測装置は、２個の音響−電気変
換素子の１個の出力が所定値以上のときこの感知
信号を任意に設定できる時間Ｔだけ遅延されると
ともに、もう１個の素子の出力が所定値以上のと
きに上記の時間Ｔと連動して変化する時間幅２Ｔ
のパルス信号を出力させ、この時間幅２Ｔのパル
ス信号が出力している間に上記遅延した信号が現
れたことを論理積回路で検出し、その出力パルス
数を計数することにより、２個の音響−電気変換
素子の中間部において時間Ｔおよび２Ｔの設定値
に応じた領域から発生する現象のみを計測し得る
よう構成したことを特徴としている。
換素子の１個の出力が所定値以上のときこの感知
信号を任意に設定できる時間Ｔだけ遅延されると
ともに、もう１個の素子の出力が所定値以上のと
きに上記の時間Ｔと連動して変化する時間幅２Ｔ
のパルス信号を出力させ、この時間幅２Ｔのパル
ス信号が出力している間に上記遅延した信号が現
れたことを論理積回路で検出し、その出力パルス
数を計数することにより、２個の音響−電気変換
素子の中間部において時間Ｔおよび２Ｔの設定値
に応じた領域から発生する現象のみを計測し得る
よう構成したことを特徴としている。
以下、本考案の実施例を説明する。
第１図は本考案実施例を示す回路ブロツク図と
試験片を併記した図である。試験片１には図中斜
線部で示す計測領域の外側の２個所にAEセンサ
ー２Ａ，２Ｂを装着している。このAEセンサー
２Ａ，２Ｂは圧電素子からなる音響−電気変換素
子であつて、10KHz乃至2MHzの周波数分布をも
つAE波を感知する。この電気信号をそれぞれ、
増幅器及びフイルタ回路３Ａ，３Ｂ、弁別及びパ
ルス発生回路４Ａ，４Ｂを経て、感知信号の大き
さが所定値以上のときカウンタ８が応答しうる程
度の時間幅をもつ１発のパルス信号を発生する。
一方の弁別及びパルス発生回路４Ａの出力パルス
P1は遅延時間Ｔの遅延回路５に入力され、他方
の弁別及びパルス発生回路４Ｂの出力パルスP2
は時間幅２Ｔの単安定マルチバイブレータ６に入
力され、遅延回路５の遅延時間Ｔ及び単安定マル
チバイブレータ６の時間幅２Ｔは、例えば２連可
変抵抗器を有する設定器９により同時に調節でき
るようになつている。論理積回路７は単安定マル
チバイブレータ６の出力時間内に遅延回路５が出
力したことを検出し、カウンタ８はこの論理積出
力を計数して出力する。
試験片を併記した図である。試験片１には図中斜
線部で示す計測領域の外側の２個所にAEセンサ
ー２Ａ，２Ｂを装着している。このAEセンサー
２Ａ，２Ｂは圧電素子からなる音響−電気変換素
子であつて、10KHz乃至2MHzの周波数分布をも
つAE波を感知する。この電気信号をそれぞれ、
増幅器及びフイルタ回路３Ａ，３Ｂ、弁別及びパ
ルス発生回路４Ａ，４Ｂを経て、感知信号の大き
さが所定値以上のときカウンタ８が応答しうる程
度の時間幅をもつ１発のパルス信号を発生する。
一方の弁別及びパルス発生回路４Ａの出力パルス
P1は遅延時間Ｔの遅延回路５に入力され、他方
の弁別及びパルス発生回路４Ｂの出力パルスP2
は時間幅２Ｔの単安定マルチバイブレータ６に入
力され、遅延回路５の遅延時間Ｔ及び単安定マル
チバイブレータ６の時間幅２Ｔは、例えば２連可
変抵抗器を有する設定器９により同時に調節でき
るようになつている。論理積回路７は単安定マル
チバイブレータ６の出力時間内に遅延回路５が出
力したことを検出し、カウンタ８はこの論理積出
力を計数して出力する。
次に、第２図のタイムチヤートに従い作用を説
明する。いま、試験片１の２個のAEセンサー２
Ａ，２Ｂ間の中心０よりセンサー２Ｂ側へＬだけ
隔つたＡ点でAE信号が発生したものとすると、
この信号はまずセンサー２Ｂに入力し、やや遅れ
てセンサー２ａに入力する。ここで、AE信号の
伝播速度をｖとすれば到達の時間差は2L／ｖであ る。設定器９により設定される時間Ｔを Ｔ＝2L／ｖ …(1) に選べば、単安定マルチバイブレータ６の出力時
間内に遅延回路５が出力してこれが論理積回路７
で検出される臨界状態となる。試験片１の中心０
センサー２Ａ側へＬだけ隔つたＢ点でAE信号が
発生した場合は、まづセンサー２Ａに入力し、同
様に2L／ｖだけ遅れてセンサー２Ｂに入力するか ら、第２図から明らかなように論理積回路７で検
出される他方の臨界状態となる。従つて、２個の
センサー２Ａ，２Ｂ間の中心０から±Ｌの領域
（第１図の斜線を施こした部分）で発生するAE信
号のみを論理積回路７が検出しカウンタ８がこれ
を計数することができ、この領域外で発生する雑
音を排除することができる。
明する。いま、試験片１の２個のAEセンサー２
Ａ，２Ｂ間の中心０よりセンサー２Ｂ側へＬだけ
隔つたＡ点でAE信号が発生したものとすると、
この信号はまずセンサー２Ｂに入力し、やや遅れ
てセンサー２ａに入力する。ここで、AE信号の
伝播速度をｖとすれば到達の時間差は2L／ｖであ る。設定器９により設定される時間Ｔを Ｔ＝2L／ｖ …(1) に選べば、単安定マルチバイブレータ６の出力時
間内に遅延回路５が出力してこれが論理積回路７
で検出される臨界状態となる。試験片１の中心０
センサー２Ａ側へＬだけ隔つたＢ点でAE信号が
発生した場合は、まづセンサー２Ａに入力し、同
様に2L／ｖだけ遅れてセンサー２Ｂに入力するか ら、第２図から明らかなように論理積回路７で検
出される他方の臨界状態となる。従つて、２個の
センサー２Ａ，２Ｂ間の中心０から±Ｌの領域
（第１図の斜線を施こした部分）で発生するAE信
号のみを論理積回路７が検出しカウンタ８がこれ
を計数することができ、この領域外で発生する雑
音を排除することができる。
以上の説明から明らかなように、本考案によれ
ば、簡単な回路構成で測定したい領域からのAE
信号と領域外で発生する雑音を弁別することがで
きる。また、設定器の調節だけで簡単にAE測領
域を任意に変えることができる。更に、２個の音
響−電気変換素子の中間部を中心として計測領域
を設定できるので、音響−電気変換素子を装着し
にくい箇所を中心として任意の広さをもつ計測領
域を設定することができる。
ば、簡単な回路構成で測定したい領域からのAE
信号と領域外で発生する雑音を弁別することがで
きる。また、設定器の調節だけで簡単にAE測領
域を任意に変えることができる。更に、２個の音
響−電気変換素子の中間部を中心として計測領域
を設定できるので、音響−電気変換素子を装着し
にくい箇所を中心として任意の広さをもつ計測領
域を設定することができる。
第１図は本考案実施例の回路ブロツク図と試験
片を併記した構成図、第２図は上記実施例の作用
説明図である。 １……試験片、２Ａ，２Ｂ……音響−電気変換
素子、５……遅延回路、６……単安定マルチバイ
ブレータ、７……論理積回路、９……設定器。
片を併記した構成図、第２図は上記実施例の作用
説明図である。 １……試験片、２Ａ，２Ｂ……音響−電気変換
素子、５……遅延回路、６……単安定マルチバイ
ブレータ、７……論理積回路、９……設定器。
Claims (1)
- 試験片の２点に装着した２個の音響−電気変換
素子と、時間Ｔとその２倍の時間２Ｔとを連動し
て変化させ得る時間設定手段と、上記２個の音響
−電気変換素子のうちどちらか一方の出力が所定
値以上のときに設定された上記時間Ｔ遅延したパ
ルスを出力する第１の回路手段と、上記２個の音
響−電気変換素子の残り一方の出力が所定値以上
のときに設定された上記時間２Ｔの時間幅の出力
を発する第２の回路手段と、上記第１の回路手段
の出力と上記第２の回路手段の出力の重なりを検
出する論理積回路を有し、上記試験片の２点の中
間部における上記時間Ｔおよび２Ｔの設定値に応
じた領域から発生する現象のみを計測し得るよう
にしたアコーステイツク・エミツシヨン計測装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980188225U JPS6329244Y2 (ja) | 1980-12-29 | 1980-12-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980188225U JPS6329244Y2 (ja) | 1980-12-29 | 1980-12-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57112953U JPS57112953U (ja) | 1982-07-13 |
| JPS6329244Y2 true JPS6329244Y2 (ja) | 1988-08-05 |
Family
ID=29991613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980188225U Expired JPS6329244Y2 (ja) | 1980-12-29 | 1980-12-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6329244Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5312636Y2 (ja) * | 1972-10-27 | 1978-04-05 |
-
1980
- 1980-12-29 JP JP1980188225U patent/JPS6329244Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57112953U (ja) | 1982-07-13 |
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