JPS63288994A - 耐摩耗素子の製造方法 - Google Patents
耐摩耗素子の製造方法Info
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- JPS63288994A JPS63288994A JP12451287A JP12451287A JPS63288994A JP S63288994 A JPS63288994 A JP S63288994A JP 12451287 A JP12451287 A JP 12451287A JP 12451287 A JP12451287 A JP 12451287A JP S63288994 A JPS63288994 A JP S63288994A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は長寿命化を薄膜で実現された耐摩耗性を有する
摩擦の非常に小さい耐摩耗素子の製造方法に関するもの
である。
摩擦の非常に小さい耐摩耗素子の製造方法に関するもの
である。
従来の技術
従来の耐摩耗膜として硬質被膜または固体潤滑膜が使用
されており、硬質被膜としては炭化シリいられ、固体潤
滑膜としては高分子系のフッ素樹脂や、硫化物、ハロゲ
ン化合物などが用いられていた。また、このような耐摩
耗膜の形成には焼結などとともに気相成長法などが用い
られてい友。
されており、硬質被膜としては炭化シリいられ、固体潤
滑膜としては高分子系のフッ素樹脂や、硫化物、ハロゲ
ン化合物などが用いられていた。また、このような耐摩
耗膜の形成には焼結などとともに気相成長法などが用い
られてい友。
長寿命でかつ潤滑性のある耐摩耗膜を実現するためには
、下地材の硬度を大きくしすなわち硬質被膜を形成し、
さらにその上に硫化モリブデン(MoS2)、硫化タン
グステン(WS2)などの潤滑膜全形成することが望ま
しいが、2つの膜形成の処理を別に行う必要があシ、2
行程を要してい友。
、下地材の硬度を大きくしすなわち硬質被膜を形成し、
さらにその上に硫化モリブデン(MoS2)、硫化タン
グステン(WS2)などの潤滑膜全形成することが望ま
しいが、2つの膜形成の処理を別に行う必要があシ、2
行程を要してい友。
発明が解決しようとする問題点
しかし、従来硬質被膜は十分な硬度を有しているとはい
えず、ダイヤモンドにより近い耐摩耗性を有する安価で
成形の容易な薄膜が望まれ、ダイヤモンドを焼結体とし
て用い保護の硬質被it形成する方法が実現されている
。しかしこの方法においても高温を必要とするほか、厚
膜となる、コストが高いなどの問題があシ、用途が非常
に限定されていた。ま九、硬質被膜には潤滑性がなく、
摩擦のさいに凝着が生じ、基体との付着力が弱い九め剥
離がおこ力やすいなどの問題があった。ま九、固体潤滑
膜は、薄くすると寿命が短くなり、また厚くすると摩耗
がおこりやすいなどの問題があった。したがって、下地
の硬度を大きくし、潤滑性のある膜をその上に形成する
ことが、長寿命、安定したすペシを実現する上で望まし
いが2つの膜形成の処理を態別に行う必要があシ、製造
が複雑化し、製膜速度が遅くコストが高くなるという問
題点があり、また密着性に問題が多く実現が難しかつ友
。
えず、ダイヤモンドにより近い耐摩耗性を有する安価で
成形の容易な薄膜が望まれ、ダイヤモンドを焼結体とし
て用い保護の硬質被it形成する方法が実現されている
。しかしこの方法においても高温を必要とするほか、厚
膜となる、コストが高いなどの問題があシ、用途が非常
に限定されていた。ま九、硬質被膜には潤滑性がなく、
摩擦のさいに凝着が生じ、基体との付着力が弱い九め剥
離がおこ力やすいなどの問題があった。ま九、固体潤滑
膜は、薄くすると寿命が短くなり、また厚くすると摩耗
がおこりやすいなどの問題があった。したがって、下地
の硬度を大きくし、潤滑性のある膜をその上に形成する
ことが、長寿命、安定したすペシを実現する上で望まし
いが2つの膜形成の処理を態別に行う必要があシ、製造
が複雑化し、製膜速度が遅くコストが高くなるという問
題点があり、また密着性に問題が多く実現が難しかつ友
。
本発明は上記問題点を解決す名ものであシ、基体の上層
に、耐摩耗性が大きく、低コストで製造が容易な薄膜を
作製できる耐摩耗素子の製造方法を提供することを目的
とするものである。
に、耐摩耗性が大きく、低コストで製造が容易な薄膜を
作製できる耐摩耗素子の製造方法を提供することを目的
とするものである。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するため、本発明は真空槽内に少なく
とも一種類の反応ガスを導入し、マイクロ波と磁界を印
加してマ、イクロ波ブフズマを発生させ、炭素を含む原
料ガスと反応させ、基体に直i、sるいはバッファ層を
介して、ダイヤモンド薄膜またはダイヤモンド状薄膜か
らなる第1の薄膜を析出させ、前記第1の薄膜上に前記
反応ガヌに対する原料ガスの比t−第1の薄膜の析出時
よシも増加させて潤滑膜を析出させ、耐摩耗素子1作製
するものである。
とも一種類の反応ガスを導入し、マイクロ波と磁界を印
加してマ、イクロ波ブフズマを発生させ、炭素を含む原
料ガスと反応させ、基体に直i、sるいはバッファ層を
介して、ダイヤモンド薄膜またはダイヤモンド状薄膜か
らなる第1の薄膜を析出させ、前記第1の薄膜上に前記
反応ガヌに対する原料ガスの比t−第1の薄膜の析出時
よシも増加させて潤滑膜を析出させ、耐摩耗素子1作製
するものである。
作用
上記方法により、基体上層に硬度の非常に大きいダイヤ
モンド薄膜あるいはダイヤモンド状薄膜からなる第1の
薄膜が形成され、さらにその上層に反応ガスと原料ガス
の比を変化させるという容易な方法で潤滑膜が形成され
る。また、マイクロ波と磁界を印加し九ことによりプラ
ズマがよシ活性化され基体と形成される薄膜の密着性が
増し、また反応性が高く低ガス圧でも膜成長速度が大き
く、薄膜が高速で形成される。
モンド薄膜あるいはダイヤモンド状薄膜からなる第1の
薄膜が形成され、さらにその上層に反応ガスと原料ガス
の比を変化させるという容易な方法で潤滑膜が形成され
る。また、マイクロ波と磁界を印加し九ことによりプラ
ズマがよシ活性化され基体と形成される薄膜の密着性が
増し、また反応性が高く低ガス圧でも膜成長速度が大き
く、薄膜が高速で形成される。
実施例
以下、本発明の製造方法を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の耐摩耗素子の製造方法に用いた装置の
概略構成図である。第1図において、1は真空ポンプ(
図示せず)に接続された真空槽であシ、真空W11の一
側面には反応ガス導入口2、原料ガス導入口3が設けら
れ、さらにマイクロ波発振器(図示せず〕に接続されマ
イクロ波2.45GHzを導入する導波管4が接続され
ている。5は基体で、ここではステンレス製の工具を使
用した。この基体5は真空槽1の内部において基体5の
温度を調節可能な基体ホルダー6の表面に導波管4と対
面して取付けられている。さらに前記真空槽1の外部に
は電磁石からなる磁界発生器7が設けられており、導波
管4より真空W!1に導入されたマイクロ波により発生
したマイクロ波プフズマに磁場を印加している。
概略構成図である。第1図において、1は真空ポンプ(
図示せず)に接続された真空槽であシ、真空W11の一
側面には反応ガス導入口2、原料ガス導入口3が設けら
れ、さらにマイクロ波発振器(図示せず〕に接続されマ
イクロ波2.45GHzを導入する導波管4が接続され
ている。5は基体で、ここではステンレス製の工具を使
用した。この基体5は真空槽1の内部において基体5の
温度を調節可能な基体ホルダー6の表面に導波管4と対
面して取付けられている。さらに前記真空槽1の外部に
は電磁石からなる磁界発生器7が設けられており、導波
管4より真空W!1に導入されたマイクロ波により発生
したマイクロ波プフズマに磁場を印加している。
次に本発明の製造方法について説明する。先ず、真空槽
1をlo−6Torr以下に排気し、基体ホルダー6に
て基体5の温度1700℃に設定したのち、反応ガス導
入口2より反応ガスg、としてアμゴーンと水素を(1
:10)の割合で混合し導入する。また、原料ガスg2
としてメタンを用い、水素との比6’r(CH4:H2
=0.5 : 10)の割合となるよりに原料ガス導入
口3よシ導入する。そしてガスg、+g2 t−導入し
、徘9ICを行うことで真空W11の内部の圧力を常時
1O−4Torr程度を維持して、この真空Wj1に、
磁界発生器7よ!+ 800ガウスの磁場をかけ導波管
4からマイクt:I 波2.45GH,e導入し、電子
サイクロトロン共鳴プラズマを発生させる。すると、電
子サイクロトロン共鳴によって生じた高エネルギーなラ
ジカルなどが基体5の上でtlr12図ratに示すよ
うに、ダイヤモンド薄膜11t−高速に形成する。この
ダイヤモンド薄膜11はX線回折およびラマン分析によ
り、ダイヤモンドと同定されるピークが確認され、ビッ
カース硬度も10000Kg、−以上であった。また成
長速度は5μm/hrでありft o次に、(CH4:
H2=3 : 10)の8割′合でガスを導入し、上
記と同条件にて電子サイクロトロン共鳴プラズマを発生
させると、水素H2の作用が弱くグラファイト的構造が
多く残り第2図(blに示すように、潤滑性を有する潤
滑膜12がダイヤモンド薄膜11の上に形成された。潤
滑膜12の摩擦係数は0.3以下であった。
1をlo−6Torr以下に排気し、基体ホルダー6に
て基体5の温度1700℃に設定したのち、反応ガス導
入口2より反応ガスg、としてアμゴーンと水素を(1
:10)の割合で混合し導入する。また、原料ガスg2
としてメタンを用い、水素との比6’r(CH4:H2
=0.5 : 10)の割合となるよりに原料ガス導入
口3よシ導入する。そしてガスg、+g2 t−導入し
、徘9ICを行うことで真空W11の内部の圧力を常時
1O−4Torr程度を維持して、この真空Wj1に、
磁界発生器7よ!+ 800ガウスの磁場をかけ導波管
4からマイクt:I 波2.45GH,e導入し、電子
サイクロトロン共鳴プラズマを発生させる。すると、電
子サイクロトロン共鳴によって生じた高エネルギーなラ
ジカルなどが基体5の上でtlr12図ratに示すよ
うに、ダイヤモンド薄膜11t−高速に形成する。この
ダイヤモンド薄膜11はX線回折およびラマン分析によ
り、ダイヤモンドと同定されるピークが確認され、ビッ
カース硬度も10000Kg、−以上であった。また成
長速度は5μm/hrでありft o次に、(CH4:
H2=3 : 10)の8割′合でガスを導入し、上
記と同条件にて電子サイクロトロン共鳴プラズマを発生
させると、水素H2の作用が弱くグラファイト的構造が
多く残り第2図(blに示すように、潤滑性を有する潤
滑膜12がダイヤモンド薄膜11の上に形成された。潤
滑膜12の摩擦係数は0.3以下であった。
このように容易な反応ガスと原料ガスの比を変化させる
という操作で摩擦係数0.3 以下の潤滑膜か゛形成−
でき、この2層構造が寿命、安定性とも儂; 4向上させる結果となった。また、成長速度もはやく、
大面積に形成可能で工業的に有効である。
という操作で摩擦係数0.3 以下の潤滑膜か゛形成−
でき、この2層構造が寿命、安定性とも儂; 4向上させる結果となった。また、成長速度もはやく、
大面積に形成可能で工業的に有効である。
第3図は他の実施例を示す。この場合には、基体5′と
して磁気ディスクを用いた。先ず、室温で(CH4:
H2=3 : 10 )の割合でガスを導入し前記実施
例と同条件にて電子サイクロトロン共鳴プラズマを発生
させて、基体5′の上にバッファ層13を形成し、その
後、(CH4: H2=0.5 : 10ンの割合でガ
スを導入してダイヤモンド状薄膜14°をバッファ層1
3の上に形成し、その上層に再び(CH4:H2=3
:10)の割合でガスを導入して潤滑膜12′t″50
A程度形成した。この潤滑膜12′の摩擦係数は0.2
程度であったまた、ダイヤモンド状薄膜14は硬度40
00v−で明確な結晶形は示さないが、数百λ〜数十^
の膜厚で十分安定に保護膜として作用した。なお、バッ
ファ層13は形成しなくとも10 同程度の寿命は確
認されているが、第3図に示すようにバッフ1層13t
−形成した場合はより寿命が長くなった。さらに、基体
5′である磁気ディスクなどの磁気特性に悪影響を与え
ない耐摩耗素子が実現され、フレキシブpな基体5′に
も十分に対応でき、利用分野に非常に広いことが確認さ
れた。
して磁気ディスクを用いた。先ず、室温で(CH4:
H2=3 : 10 )の割合でガスを導入し前記実施
例と同条件にて電子サイクロトロン共鳴プラズマを発生
させて、基体5′の上にバッファ層13を形成し、その
後、(CH4: H2=0.5 : 10ンの割合でガ
スを導入してダイヤモンド状薄膜14°をバッファ層1
3の上に形成し、その上層に再び(CH4:H2=3
:10)の割合でガスを導入して潤滑膜12′t″50
A程度形成した。この潤滑膜12′の摩擦係数は0.2
程度であったまた、ダイヤモンド状薄膜14は硬度40
00v−で明確な結晶形は示さないが、数百λ〜数十^
の膜厚で十分安定に保護膜として作用した。なお、バッ
ファ層13は形成しなくとも10 同程度の寿命は確
認されているが、第3図に示すようにバッフ1層13t
−形成した場合はより寿命が長くなった。さらに、基体
5′である磁気ディスクなどの磁気特性に悪影響を与え
ない耐摩耗素子が実現され、フレキシブpな基体5′に
も十分に対応でき、利用分野に非常に広いことが確認さ
れた。
なお、第2図、第3図に示した実施例において、磁場は
800ガウスとしたがこれはこれほど強くなくとも薄膜
の析出に効果を有し、高速化に非常に寄与し、低ガス圧
化を可能とし、生産性を高く、コストを低くすることが
可能となる。また、磁場の強度を電子サイクロトロン共
鳴条件以上で行うことによシ高速化、付着力の向上、高
硬度化がはかられる。さらに反応ガスとしてはアルゴン
の代(C/2など)、ハロゲン化水素(HCl)など水
素と同様に炭素を含む原料ガスと反応して固体物を生成
しないガスを用いてもよい。また、反応ガスは前記ガス
一種類の単独で用いてもよく、また混合して用いてもよ
い。不活性ガスを混合するとプラズマを容易に形成し活
性化をうながし低エネルギーで薄膜の形成が可能となり
、より高速化が図られる。水素などの固体物を生成しな
いガスは基体上のグツファイト状態などのダイヤモンド
構造に近くない部分と反応し、ダイヤモンドに近い硬度
を有する膜の形成が可能となり、膜形成速度全作つこと
が可能となる。原料ガスとして飽和系または不飽和系炭
化水素、芳香族炭化水素、脂環式炭化水素、多核炭化水
素を用いると、よりダイヤモンドに近い硬度の膜が得ら
れ、原料ガスとして酸素あるいはチッ素を含む、犬化物
、たとえばアルコール、エーテル、アルデヒド、ケトン
、カルボン酸、アミド、アミンなどを用い九場合には、
酸素、チッ素が触媒的な役割を果たすと考えられ、高速
化が図られ、付着力も増す。
800ガウスとしたがこれはこれほど強くなくとも薄膜
の析出に効果を有し、高速化に非常に寄与し、低ガス圧
化を可能とし、生産性を高く、コストを低くすることが
可能となる。また、磁場の強度を電子サイクロトロン共
鳴条件以上で行うことによシ高速化、付着力の向上、高
硬度化がはかられる。さらに反応ガスとしてはアルゴン
の代(C/2など)、ハロゲン化水素(HCl)など水
素と同様に炭素を含む原料ガスと反応して固体物を生成
しないガスを用いてもよい。また、反応ガスは前記ガス
一種類の単独で用いてもよく、また混合して用いてもよ
い。不活性ガスを混合するとプラズマを容易に形成し活
性化をうながし低エネルギーで薄膜の形成が可能となり
、より高速化が図られる。水素などの固体物を生成しな
いガスは基体上のグツファイト状態などのダイヤモンド
構造に近くない部分と反応し、ダイヤモンドに近い硬度
を有する膜の形成が可能となり、膜形成速度全作つこと
が可能となる。原料ガスとして飽和系または不飽和系炭
化水素、芳香族炭化水素、脂環式炭化水素、多核炭化水
素を用いると、よりダイヤモンドに近い硬度の膜が得ら
れ、原料ガスとして酸素あるいはチッ素を含む、犬化物
、たとえばアルコール、エーテル、アルデヒド、ケトン
、カルボン酸、アミド、アミンなどを用い九場合には、
酸素、チッ素が触媒的な役割を果たすと考えられ、高速
化が図られ、付着力も増す。
発明の効果
以上本発明によれば、マイクロ波にょ多発生したプラズ
マに磁場をかけるという方法にょシ、高速で大面積でか
つ硬度の非常に大きなダイヤモンド薄膜またはダイヤモ
ンド状薄膜の第1の薄膜を基体上に形成でき、反E3分
スと原料ガスのガス比を変化させるという容易な方法に
より第1の薄膜の上に潤滑膜を形成することができ、安
定性に優れ、寿命の長い耐摩耗素子を高速で大面積に製
造することができる丸め、安価な製品の量産に相応し、
この産業的価値は非常に大きいものがある。
マに磁場をかけるという方法にょシ、高速で大面積でか
つ硬度の非常に大きなダイヤモンド薄膜またはダイヤモ
ンド状薄膜の第1の薄膜を基体上に形成でき、反E3分
スと原料ガスのガス比を変化させるという容易な方法に
より第1の薄膜の上に潤滑膜を形成することができ、安
定性に優れ、寿命の長い耐摩耗素子を高速で大面積に製
造することができる丸め、安価な製品の量産に相応し、
この産業的価値は非常に大きいものがある。
第1図は本発明の耐摩耗素子の製造方法の実施に使用す
る装置の概略構成図、第2図は製造行程を示す基体の断
面の模式図、第3図は基体上にバッファ層を設けた他の
実施例の耐摩耗素子の断面の模式図である。 1・・・真空槽、2・・・反応ガス導入口、3・・・原
料ガス導入口、4・・・導波管、5,5′・・・基体、
7・・・磁界発生器、11・・・ダイヤモンド薄膜、1
2.12’・・・潤滑膜、13・・・バッファ層、14
・・・ダイヤモンド状薄膜。 代理人 森 本 義 弘 第f図 /−一一五空f骨 2・−及1七〃゛ス11べ0 3−・ツ―ず↑力゛ス坪入0 4−導波管 ど)−・−蟇イ2トミ 7−石庇RN工器 第2医 第3図 f3− ノで177層 14−ダンYt;ドノメ1j苧R便 tz″−jwI滑腫
る装置の概略構成図、第2図は製造行程を示す基体の断
面の模式図、第3図は基体上にバッファ層を設けた他の
実施例の耐摩耗素子の断面の模式図である。 1・・・真空槽、2・・・反応ガス導入口、3・・・原
料ガス導入口、4・・・導波管、5,5′・・・基体、
7・・・磁界発生器、11・・・ダイヤモンド薄膜、1
2.12’・・・潤滑膜、13・・・バッファ層、14
・・・ダイヤモンド状薄膜。 代理人 森 本 義 弘 第f図 /−一一五空f骨 2・−及1七〃゛ス11べ0 3−・ツ―ず↑力゛ス坪入0 4−導波管 ど)−・−蟇イ2トミ 7−石庇RN工器 第2医 第3図 f3− ノで177層 14−ダンYt;ドノメ1j苧R便 tz″−jwI滑腫
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、真空槽内に少なくとも一種類の反応ガスを導入し、
マイクロ波と磁界を印加してマイクロ波プラズマを発生
させ、炭素を含む原料ガスと反応させ、基体に直接ある
いはバッファ層を介して、ダイヤモンド薄膜またはダイ
ヤモンド状薄膜からなる第1の薄膜を析出させ、前記第
1の薄膜上に前記反応ガスに対する原料ガスの比を第1
の薄膜の析出時よりも増加させて潤滑膜を析出させる耐
摩耗素子の製造方法。 2、バッファ層を、真空槽内に少なくとも一種類の反応
ガスを導入し、マイクロ波と磁界を印加してマイクロ波
プラズマを発生させ、反応ガスに対する原料ガスの比を
第1の薄膜析出時の反応ガスに対する原料ガスの比より
も増加させて析出する特許請求の範囲第1項記載の耐摩
耗素子の製造方法。 3、反応ガスを炭素を含む原料ガスと反応して固体物を
生成しないものとした特許請求の範囲第1項記載の耐摩
耗素子の製造方法。 4、反応ガスの不活性ガスを含むこととした特許請求の
範囲第1項記載の耐摩耗素子の製造方法。 5、炭素を含む原料ガスと反応して固体物を生成しない
反応ガスを水素、酸素、窒素、炭化水素、ハロゲン、ハ
ロゲン化水素のうちの少なくとも1つとした特許請求の
範囲第3項記載の耐摩耗素子の製造方法。 6、炭素を含む原料ガスを飽和系または不飽和系炭化水
素、芳香族炭化水素、脂環式炭化水素、多核炭化水素の
うちの少なくとも1つとした特許請求の範囲第1項記載
の耐摩耗素子の製造方法。 7、炭素を含む原料ガスをアルコール、エーテル、アル
デヒド、ケトン、カルボン酸、アミド、アミンなどの少
なくとも酸素あるいはチッ素を含むものとした特許請求
の範囲第1項記載の耐摩耗素子の製造方法。 8、磁界の強度を電子サイクロトロン共鳴条件を満たす
強度以上とした特許請求の範囲第1項記載の耐摩耗素子
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12451287A JPS63288994A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 耐摩耗素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12451287A JPS63288994A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 耐摩耗素子の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63288994A true JPS63288994A (ja) | 1988-11-25 |
Family
ID=14887323
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12451287A Pending JPS63288994A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 耐摩耗素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63288994A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002146533A (ja) * | 2000-11-06 | 2002-05-22 | Mitsubishi Electric Corp | 炭素薄体、炭素薄体形成方法および電界放出型電子源 |
-
1987
- 1987-05-20 JP JP12451287A patent/JPS63288994A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002146533A (ja) * | 2000-11-06 | 2002-05-22 | Mitsubishi Electric Corp | 炭素薄体、炭素薄体形成方法および電界放出型電子源 |
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