JPS63285691A - Coupling inspection device for memory cartridge - Google Patents

Coupling inspection device for memory cartridge

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JPS63285691A
JPS63285691A JP62120075A JP12007587A JPS63285691A JP S63285691 A JPS63285691 A JP S63285691A JP 62120075 A JP62120075 A JP 62120075A JP 12007587 A JP12007587 A JP 12007587A JP S63285691 A JPS63285691 A JP S63285691A
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memory
electronic device
memory cartridge
coupling
cartridge
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Mikio Watanabe
幹夫 渡辺
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Abstract

PURPOSE:To easily check the coupling between a memory cartridge and an electronic device by providing a means which inspects an inspection code sent from an inspection code generating means through 1st and 2nd coupling means and decides whether or not the coupling is normal. CONSTITUTION:A memory card is provided with the means which generates the inspection code. When the memory cartridge 20 is mounted on an electronic device 10, the predetermined inspection code generated by the memory cartridge 20 is transferred to the side of the electronic device 10 through the 1st and 2nd coupling means 24 and 14 and the electronic device 10 decides whether or not the code is a specific code. When it is known that the code is the specific code, it is judged that the physical coupling between the memory cartridge 20 and electronic device 10 is normal and when not, it is judged that the coupling is abnormal. Thus, it is checked whether or not the memory cartridge 20 and electronic device is coupled normally by the relatively simple processing in a relatively short time.

Description

【発明の詳細な説明】 発明の要約 電子装置とこれに装着されたメモリ・カートリッジとの
結合不良が無いかどうかを直接にチェックする。メモリ
・カートリッジに検査コード発生手段を設けておき、メ
モリ・カートリッジが電子装置に装着されたときに発生
する検査コードを電子装置側でチェックし、結合状態の
良否を判定する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Summary of the Invention It is directly checked whether there is a connection failure between an electronic device and a memory cartridge installed therein. A test code generating means is provided in the memory cartridge, and the test code generated when the memory cartridge is attached to the electronic device is checked on the electronic device side to determine whether the coupling state is good or bad.

発明の背景 この発明はメモリ・カートリッジが所定箇所に装着され
たときにこのメモリ・カートリッジと物理的信号(電気
信号、磁気信号、光信号など)により結合可能となる電
子装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to an electronic device that can be coupled to a memory cartridge by physical signals (electrical signals, magnetic signals, optical signals, etc.) when the memory cartridge is installed in a predetermined location.

ICなどの半導体素子または半導体装置を内蔵したIC
カード、CPUカードまたはメモリ・カードは、一方で
は従来からの磁気カードに代わるものとして、他方では
フロッピィ・ディスク等の外部メモリに代わるものとし
て、さらに新しい電子媒体または制御手段としてその用
途が広い分野にわたって模索されており、一部では実用
に供されている。この種のカードは自動機械、制御機器
、その他の電子装置の所定箇所に装着されたときに、物
理的信号(電気信号、磁気信号、光信号等)によって電
子装置と結合可能な状態となる。
ICs with built-in semiconductor elements or semiconductor devices such as ICs
Cards, CPU cards or memory cards have a wide range of applications, on the one hand as a replacement for traditional magnetic cards, on the other hand as a replacement for external memories such as floppy disks, and also as new electronic media or control means. It is being explored and, in some cases, put into practical use. When this type of card is installed in a predetermined location of an automatic machine, control device, or other electronic device, it can be coupled to the electronic device by means of a physical signal (electrical signal, magnetic signal, optical signal, etc.).

すなわち、カードの接続端子が電子装置のコネクタに接
続されたり、磁気的または光学的カップリングが達成さ
れる。こうした状態で電子装置とカードが相互に交信し
たり、電子装置がカードのメモリにデータの書込み等の
カード処理が行なわれる。
That is, the connection terminal of the card is connected to the connector of the electronic device, or a magnetic or optical coupling is achieved. In this state, the electronic device and the card communicate with each other, and the electronic device performs card processing such as writing data into the memory of the card.

一般的にICカード、CPUカード、メモリ・カードは
手で取扱われるので、その接続端子に浦、塵埃、その他
の異物が付着しやすく、そうすると接続不良を起こす。
Since IC cards, CPU cards, and memory cards are generally handled by hand, dirt, dust, and other foreign substances tend to adhere to their connection terminals, which can cause connection failures.

接続端子が接続不良状態となると上述した正常なカード
処理が行なわれなくなる。すなわち、電子装置とカード
との間の交信においてエラーが生じたり、カードのメモ
リへの正しいデータの書込みが不可能となる。
If the connection terminal is in a poor connection state, the above-mentioned normal card processing will not be performed. That is, an error may occur in the communication between the electronic device and the card, or it may not be possible to write correct data to the memory of the card.

ところで、比較的容量の大きなメモリを備えたメモリ・
カードの用途の一つとしてディジタル電子スチル・カメ
ラで撮影した影像データを記録する媒体としての使用が
考えられている。この種のカメラは屋内のみならず屋外
でも使用されるのでメモリ・カードの接続端子に水分が
付着しやすく、このために接続端子の酸化、腐食が進行
しやすい。そうすると接続不良を起こし、映像データの
正常な記録が行なわれなくなる。メモリ・カードのメモ
リ容量が一層大きくなると接続端子数も増加することが
予想される。1つの端子でも接続不良を起こすと確実な
記録は期待できないので。
By the way, memory with a relatively large capacity
One possible use of the card is as a medium for recording image data taken with a digital electronic still camera. Since this type of camera is used not only indoors but also outdoors, moisture tends to adhere to the connection terminals of the memory card, which tends to cause oxidation and corrosion of the connection terminals. If this happens, a connection failure will occur and video data will not be recorded properly. It is expected that as the memory capacity of a memory card becomes larger, the number of connection terminals will also increase. If even one terminal has a poor connection, reliable recording cannot be expected.

正常な記録が行なわれなくなるおそれは増大する。The possibility that normal recording will not be performed increases.

カードの接続端子と電子装置のコネクタとの電気的接触
によって結合可能なもののみならず、磁気的または光学
的に結合するカードにおいても塵埃の付着等が結合不良
の原因となる。
Not only cards that can be coupled by electrical contact between the connecting terminal of the card and the connector of the electronic device, but also cards that are coupled magnetically or optically can be caused by dust adhesion and the like to cause poor coupling.

さらにカードの電子装置への装着(たとえば挿入)が適
切に行なわれない場合にも正常なカード処理は望めない
Further, if the card is not properly mounted (for example, inserted) into the electronic device, normal card processing cannot be expected.

発明の概要 この発明は、比較的簡単な処理でICカード。Summary of the invention This invention allows IC cards to be created with relatively simple processing.

メモリを備えたCPUカード、メモリ・カード等(これ
らを総称してメモリ・カートリッジという)と電子装置
との間の結合チェックを行なえるようにすることを目的
とする。
It is an object of the present invention to enable a connection check between a CPU card, a memory card, etc. (collectively referred to as a memory cartridge) equipped with a memory, and an electronic device.

この発明によるメモリ・カートリッジと電子装置の結合
状態の検査装置は、メモリおよび第1の結合手段を備え
たメモリ・カートリッジ、ならびに第2の結合手段を備
えメモリ・カートリッジが装着されたときに第1および
第2の結合手段を通してメモリ・カートリッジと物理的
信号により結合可能な状態となる電子装置から構成され
る。
A device for inspecting the coupling state of a memory cartridge and an electronic device according to the present invention includes a memory cartridge including a memory and a first coupling means, and a second coupling means, which detects the first coupling state when the memory cartridge is installed. and an electronic device that can be coupled to the memory cartridge by a physical signal through a second coupling means.

メモリ・カードには、検査コードを発生する手段、およ
び第1の結合手段とメモリまたは検査コード発生手段と
の接続を切換える切換手段が設けられる。
The memory card is provided with means for generating a test code and switching means for switching the connection between the first coupling means and the memory or the test code generating means.

メモリ・カートリッジおよび電子装置のいずれか一方に
は、メモリ・カートリッジが電子装置の所定箇所Jこ装
着されたことを検出する手段、ならびに上記の検出があ
ったときに検査コード発生手段を第1の結合手段に接続
するよう上記切換手段を制御する手段が設けられる。
Either the memory cartridge or the electronic device includes a means for detecting that the memory cartridge is installed in a predetermined position of the electronic device, and a means for generating a test code when the above detection is made. Means are provided for controlling the switching means to connect to the coupling means.

電子装置には、第1および第2の結合手段を介して検査
コード発生手段から送られてくる検査コードを検査して
、第1および第2の結合手段による結合の良否を判定す
る手段が設けられる。
The electronic device is provided with means for inspecting the test code sent from the test code generation means via the first and second coupling means to determine whether or not the coupling by the first and second coupling means is good or bad. It will be done.

メモリ・カートリッジとは上述したようにメモリをカー
ド状ケース、箱状ケース等のケース内に内蔵したものを
意味する。CPUとメモリを備えたもの、さらに液晶表
示装置やキーボードを備えたもののみならず、CPUを
含まずメモリのみまたはメモリに加えて必要な電源、そ
の他の若干の回路を備えたものもメモリ・カートリッジ
の概念に含まれるのはいうまでもない。また上述したよ
うにメモリ・カートリッジと電子装置の結合形態は、メ
モリ・カートリッジの接続端子と電子装置のコネクタと
の電気的接触のみならず、メモリ・カートリッジ、電子
装置の一方に設けられた1または複数の投光素子と他方
に設けられた1または複数の受光素子とから構成される
光学的結合、コイル等を含む手段よりなる磁気的結合等
を含む。
As mentioned above, the term "memory cartridge" refers to one in which a memory is housed in a case such as a card-like case or a box-like case. Memory cartridges include not only those equipped with a CPU and memory, but also those equipped with a liquid crystal display and keyboard, as well as those equipped with only memory without a CPU, or those equipped with the necessary power supply and some other circuits in addition to memory. Needless to say, it is included in the concept of Furthermore, as mentioned above, the coupling form of the memory cartridge and the electronic device is not limited to the electrical contact between the connection terminal of the memory cartridge and the connector of the electronic device, but also the electrical contact between the connection terminal of the memory cartridge and the connector of the electronic device. This includes optical coupling made up of a plurality of light emitting elements and one or more light receiving elements provided on the other side, and magnetic coupling made up of means including a coil or the like.

この発明によると、メモリ・カートリッジが電子装置に
装着されたときに、メモリ・カートリッジにおいて発生
したあらかじめ定められた検査コードが上記第1.第2
の結合手段を通して電子装置側に転送され、電子装置側
において所定のものかどうかが検査される。所定のコー
ドであることが分れば、メモリ・カートリッジと電子装
置との物理的結合は正常と判断され、一致しなければ異
常ということになる。
According to the present invention, when the memory cartridge is installed in an electronic device, the predetermined test code generated in the memory cartridge is detected by the first test code. Second
The data is transferred to the electronic device through the coupling means, and checked on the electronic device to see if it is a predetermined one. If it is found to be a predetermined code, it is determined that the physical connection between the memory cartridge and the electronic device is normal, and if they do not match, it is determined that there is an abnormality.

このようにして、メモリ・カートリッジと電子装置との
間の結合が正常かどうかが、比較的短時間のうちにかつ
比較的簡単な処理で可能となる。
In this way, it is possible to determine whether the coupling between the memory cartridge and the electronic device is normal in a relatively short time and with a relatively simple process.

実施例の説明 第1図は電子装置lOとメモリ・カートリッジ20との
接続状態を示すものである。
DESCRIPTION OF THE EMBODIMENTS FIG. 1 shows the state of connection between an electronic device IO and a memory cartridge 20. As shown in FIG.

電子装置IOは、上述したディジタル電子スチル・カメ
ラのような、所定のデータを記憶する媒体としてメモリ
・カートリッジ20を要求するものである。電子装置1
0にはメモリ・カートリッジ20を装着(たとえば挿入
)するための凹部またはガイド15が設けられている。
The electronic device IO is one that requires a memory cartridge 20 as a medium for storing predetermined data, such as the digital electronic still camera mentioned above. Electronic device 1
0 is provided with a recess or guide 15 for mounting (eg, inserting) a memory cartridge 20 therein.

メモリ・カートリッジ20の四部15に挿入される部分
には多数の接続端子24が形成されている。そして電子
装置IOの四部15内に、メモリ・カートリッジ20が
装着されたときに各接続端子24とそれぞれ電気的に接
触する端子24と同数の端子を備えたコネクタ14が設
けられている。また、メモリ・カートリッジ20が凹部
15に適切に装着されたことを検出するリミット・スイ
ッチ1Bが凹部15内に配置されている。リミット・ス
イッチ16の検出信号はCPUを含むシステム・コント
ローラ11に与えられるヶメモリ・カートリッジ20の
装着検知はたとえば光学的に検知する光電スイッチ、磁
気的に検知するスイッチ等積々のセンサによって行なう
ことが可能である。さらに第2図に示すような電気的検
出手段によってメモリ・カートリッジ20の装着検知善
行なうことが可能である。電子装置10のコネクタ14
の1つの端子14aがそのグランドに、他の1つの端子
14bが必要ならば増幅器を経てシステム・コントロー
ラ11に接続されている。一方、メモリ舎カートリッジ
20の上記の端子14a、 14bに接続されるべき端
子24a、 24bは相互に接続されかつカード20の
グランドに接続されている。メモリーカード20が電子
装置lOに装着されると端子L4a、 24a、 24
b、 14bを経てグランド中レベルの信号がシステム
・コントローラ11に与えられるので、コントローラ1
1はカード20が装着されたことを検知する。
A large number of connection terminals 24 are formed in the portion inserted into the four parts 15 of the memory cartridge 20. In each of the four parts 15 of the electronic device IO, a connector 14 is provided which has the same number of terminals as the terminals 24 that make electrical contact with each connection terminal 24 when the memory cartridge 20 is installed. Further, a limit switch 1B is disposed within the recess 15 to detect whether the memory cartridge 20 is properly installed in the recess 15. The detection signal of the limit switch 16 is given to the system controller 11 including the CPU.The attachment of the memory cartridge 20 can be detected by a number of sensors such as an optically detecting photoelectric switch, a magnetically detecting switch, etc. It is possible. Furthermore, it is possible to detect the attachment of the memory cartridge 20 by using an electrical detection means as shown in FIG. Connector 14 of electronic device 10
One terminal 14a of is connected to its ground, and the other terminal 14b is connected to the system controller 11 via an amplifier if necessary. On the other hand, terminals 24a and 24b to be connected to the terminals 14a and 14b of the memory cartridge 20 are connected to each other and to the ground of the card 20. When the memory card 20 is inserted into the electronic device IO, terminals L4a, 24a, 24
b, 14b, a medium-ground level signal is given to the system controller 11, so the controller 1
1 detects that the card 20 is installed.

電子装置lOにはこの電子装置の諸動作の制御および後
述するメモリ・カートリッジの接続チェック処理を行な
うCPUを含むシステム・コントローラIIが設けられ
ている。また接続チェックで異常であると判定されたと
きにその旨を報知するためのブザー、発光ダイオード等
からなる警報装置(図示略)が電子装置lOに設けられ
かつシステム・コントローラ11に接続されている。こ
の電子装置10がディジタル電子スチル・カメラの場合
には、メモリ会カートリッジ20のメモリ21に書込む
べき映像データは、撮像装置(図示略)からアナログ信
号の形でA/D変換および信号処理回路I2に与えられ
る。この回路12でA/D変換および所定の信号処理が
行なわれることによって作成された画像データはデータ
・バスにより3ステート・バッファ13に与えられる。
The electronic device IO is provided with a system controller II including a CPU that controls various operations of the electronic device and performs memory cartridge connection check processing, which will be described later. In addition, an alarm device (not shown) consisting of a buzzer, a light emitting diode, etc., is provided in the electronic device IO and is connected to the system controller 11 to notify when an abnormality is determined in the connection check. . When the electronic device 10 is a digital electronic still camera, the video data to be written into the memory 21 of the memory cartridge 20 is sent from the imaging device (not shown) in the form of an analog signal to an A/D conversion and signal processing circuit. given to I2. Image data created by A/D conversion and predetermined signal processing in this circuit 12 is provided to a 3-state buffer 13 via a data bus.

3ステート・バッファは1人力する制御信号によって高
出力インピーダンスにすることのできるバッファであり
、このとき出力側から与えられる信号はこのバッファへ
の人力が禁止される。3ステート・バッファは通常は低
出力インピーダンスであり、入力側の信号はそのまま出
力側に導かれる。この3ステート・バッファ13にはシ
ステムφコントローラ11からのアドレスeバス、コン
トロール争バスが接続されている。3ステート・バッフ
ァ13の出力側はコネクタ14に接続されているととも
にシステム・コントローラ11にも接続されている。
A three-state buffer is a buffer that can be made to have a high output impedance by a control signal input by one person, and at this time, input of a signal from the output side to the buffer is prohibited. Three-state buffers typically have low output impedance, and the signal on the input side is routed unchanged to the output side. An address e bus and a control bus from the system φ controller 11 are connected to this three-state buffer 13. The output side of three-state buffer 13 is connected to connector 14 and also to system controller 11.

メモリ・カートリッジ20には、1または複数のメモリ
・チップを含むメモリ21.あらかじめ定めら・れた検
査コードの発生回路22.メモリ21または発生回路2
2と端子24との間の接続を切換えるマルチプレクサ2
3および検査コード発生回路22に動作電力を与えるた
めの電源(図示略)(電池)が設けられている。マルチ
プレクサ23は通常は端子24とメモリ21とを接続し
ている(a側)。端子24Aから切換制御信号が与えら
れるとマルチプレクサ23は一定時間の間検査コード発
生回路22の出力側を端子24に接続する(b側)。メ
モリ21が揮発性のものである場合にはメモリ2Iにも
電源から電力が与えられる。
Memory cartridge 20 includes memory 21. which includes one or more memory chips. Predetermined test code generation circuit 22. Memory 21 or generation circuit 2
multiplexer 2 for switching the connection between 2 and terminal 24;
A power source (not shown) (battery) for supplying operating power to the test code generation circuit 22 and the test code generation circuit 22 is provided. The multiplexer 23 normally connects the terminal 24 and the memory 21 (a side). When a switching control signal is applied from terminal 24A, multiplexer 23 connects the output side of test code generation circuit 22 to terminal 24 for a certain period of time (side b). If the memory 21 is volatile, power is also supplied to the memory 2I from the power supply.

コネクタI4の端子およびこれに対応するメモリ・カー
トリッジ20の接続端子24のうちのいくつかは、メモ
リ・カートリッジ20のメモリ21のアドレスを指定す
るためのアドレス信号を伝達するためのものであり、他
のいくつかはデータ転送用のものである。さらにチップ
・セレクト信号、リード/ライト指令R/W、および上
述の切換制御信号(端子24A)等のコントロール信号
用のものもある。したがって、メモリ・カートリッジ2
oが電子装置10に装着されたときに、電子装置10内
のアドレス・バス、データ・バスおよびコントロール・
ラインはメモリ・カートリッジ20内の対応するバスお
よびラインにコネクタ14および端子24を介して接続
され、電子装置10のシステム・コントローラ11のC
PUはメモリ争カートリッジ20のメモリ21を直接に
アクセスすることができるようになる。これらのすべて
の端子24.コネクタ14の端子の接続状態を検査する
ために検査コードが用いられるので2発生回路22から
発生する検査コードはマルチプレクサ23を介してすべ
ての端子24(端子24Aを除く)に与えられる。
Some of the terminals of the connector I4 and the corresponding connection terminals 24 of the memory cartridge 20 are for transmitting address signals for specifying addresses of the memory 21 of the memory cartridge 20, and others are for transmitting address signals for specifying addresses of the memory 21 of the memory cartridge 20. Some of them are for data transfer. Furthermore, there are also control signals such as a chip select signal, a read/write command R/W, and the above-mentioned switching control signal (terminal 24A). Therefore, memory cartridge 2
o is attached to the electronic device 10, the address bus, data bus, and control bus in the electronic device 10 are connected to the electronic device 10.
The lines are connected to corresponding buses and lines in the memory cartridge 20 via connectors 14 and terminals 24, and are connected to the C of the system controller 11 of the electronic device 10.
The PU can now directly access the memory 21 of the memory cartridge 20. All these terminals 24. Since the test code is used to test the connection state of the terminals of the connector 14, the test code generated from the 2 generation circuit 22 is applied to all the terminals 24 (except the terminal 24A) via the multiplexer 23.

場合によっては電子装置10からメモリ・カートリッジ
20に電力を供給するための電源ラインを接続するため
の接続端子も設けられる。
In some cases, a connection terminal for connecting a power line for supplying power from the electronic device 10 to the memory cartridge 20 is also provided.

電子装置10のCPUによって行なわれる接続チェック
処理の手順の概要は次の通りである。
An outline of the procedure of the connection check process performed by the CPU of the electronic device 10 is as follows.

リミット壷スイッチ16からメモリ・カートリッジ20
の装着検知信号が与えられると、コントローラUのCP
Uは切換制御信号を出力する。この制御信号は端子24
Aおよびこれに対応するコネクタ14の端子を経てマル
チプレクサ23および検査コード発生回路22に与えら
れる。したがって、検査コード発生回路22の出力側が
端子24に接続されるとともに1発生回路22は所定の
検査コードを発生して出力する。これと同時にコントロ
ーラ11から3ステート・バッファ13に制御信号が与
えられ。
Limit font switch 16 to memory cartridge 20
When the attachment detection signal of controller U is given, CP of controller U
U outputs a switching control signal. This control signal is at terminal 24
A and the corresponding terminal of the connector 14 to the multiplexer 23 and the test code generation circuit 22. Therefore, the output side of the test code generation circuit 22 is connected to the terminal 24, and the 1 generation circuit 22 generates and outputs a predetermined test code. At the same time, a control signal is applied from the controller 11 to the 3-state buffer 13.

その出力側が高インピーダンスとなる。発生回路22か
ら発生した検査コードは、マルチプレクサ23、端子2
4.コネクタ14を経てシステム・コントローラ11に
与えられる。バッファ13は高出力インピーダンス(検
査コードにとってみれば高人力インピーダンス)となっ
ているので、検査コードはバッファ13には入力しない
Its output side becomes high impedance. The test code generated from the generation circuit 22 is sent to the multiplexer 23 and terminal 2.
4. It is provided to system controller 11 via connector 14. Since the buffer 13 has a high output impedance (high human power impedance for the test code), the test code is not input to the buffer 13.

システム拳コントローラ11のCPUは入力する検査コ
ードが所定のものかどうかをチェックする。このチェッ
クは、コントローラ11にも検査コードをあらかじめス
トアしておきこれと入力する検査コードを比較して一致
するかどうかによって行なうこともできるし1回路22
で発生する検査コードがある規則性を有するものであれ
ば(たとえば1010のように1を先頭として1と0と
を交互に繰返すもの)、この規則性を検査することによ
って行なうこともできる。発生回路22から2種類以上
の検査コードを順次発生させ、すべての端子24および
コネクタ14の端子に1および0の信号が伝送されるよ
うにすることが好ましい。これらのすべての検査コード
のチェックにおいて異常がなければ、CPUは切換制御
信号の出力を停止しマルチプレクサ23をメモリ21側
に切換えるとともに1発生回路22からの検査コードの
発生を停止させる。そしてメモリ争カートリッジ20に
対する所定の処理、たとえば映像データの所定のメモリ
・エリアへの書込み等に進む。検査コードのチェックの
結果、1ビツトでも誤りがある場合には警報装置に指令
を与えてその旨を報知させる。
The CPU of the system fist controller 11 checks whether the input inspection code is a predetermined one. This check can also be done by storing a test code in advance in the controller 11 and comparing it with the test code to be input to see if they match.
If the generated check code has a certain regularity (for example, 1 and 0 are repeated alternately with 1 at the beginning, such as 1010), this can be done by checking this regularity. It is preferable to sequentially generate two or more types of test codes from the generating circuit 22 so that signals of 1 and 0 are transmitted to all the terminals 24 and the terminals of the connector 14. If all of these test codes are checked and there is no abnormality, the CPU stops outputting the switching control signal, switches the multiplexer 23 to the memory 21 side, and stops the generation of the test code from the 1 generation circuit 22. The program then proceeds to predetermined processing for the memory cartridge 20, such as writing video data into a predetermined memory area. As a result of checking the inspection code, if there is an error in even one bit, a command is given to the alarm device to notify that fact.

場合によってはこの検査処理を複数回繰返したのちにO
Kの判定結果が得られない場合にのみ警報を発生させる
ようにしてもよい。また、カートリッジを自動的に装填
するオートローディング機構を備えたものにおいては、
上記検査コードのチェック処理でNGの判定結果が得ら
れたときにはカートリッジを一旦取外し再度装填する動
作を行なわせるようにしてもよい。
In some cases, after repeating this inspection process multiple times, O
An alarm may be generated only when the determination result of K cannot be obtained. In addition, for those equipped with an autoloading mechanism that automatically loads the cartridge,
When an NG determination result is obtained in the inspection code checking process, the cartridge may be temporarily removed and reloaded.

メモリ・カートリッジがCPUをもつものである場合に
は検査コードをこのCPUが発生するようにしてもよい
。また、カートリッジの装着検知スイッチをメモリ・カ
ートリッジに設け、カートリッジ内のCPUがこの装着
検知に応答してマルチプレクサ23の切換えを指令しか
つ検査コードの発生を開始するようにしてもよい。
If the memory cartridge has a CPU, the CPU may generate the check code. Alternatively, a cartridge attachment detection switch may be provided in the memory cartridge, and the CPU within the cartridge may respond to this attachment detection by instructing switching of the multiplexer 23 and starting generation of the test code.

さらに、第2図の構成において、端子14aに所定の電
圧を与えておき、カートリッジを装着したときに端子2
4aに現われる電圧によってマルチプレクサ23の切換
えと検査コードの発生を起動するようにしてもよい。こ
の場合には、検査終了後端子24aに与える電圧をグラ
ンドに落とすか、またはカートリッジにタイマを設けて
おいて検査時1fJをこのタイマによって管理し、タイ
ム・アップしたときにマルチプレクサ23をメモリ側に
戻しがっ検査コードの発生を停止させるようにしてもよ
い。
Furthermore, in the configuration shown in FIG. 2, a predetermined voltage is applied to the terminal 14a, and when the cartridge is installed, the terminal 14a
The voltage appearing at 4a may trigger the switching of multiplexer 23 and the generation of the test code. In this case, either reduce the voltage applied to the terminal 24a to ground after the test is completed, or provide a timer in the cartridge to manage 1fJ during the test, and then switch the multiplexer 23 to the memory side when the time is up. It may also be possible to stop the generation of return inspection codes.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は電子装置とメモリ・カードの接続状態およびそ
の電気的構成の概要を示すものであり。 第2図はカードの装着を検出する他の例を示すものであ
る。 10・・・電子装置。 11・・・システム・コントローラ。 14・・・コネクタ。 1B・・・装着検知用リミット・スイッチ。 20・・・メモリ・カートリッジ。 21・・・メモリ。 23・・・マルチプレクサ。 24・・・接続端子。 以  上 特許出願人  富士写真フィルム株式会社代 理 人 
 弁理士 加藤朝道(外1名)第2図
FIG. 1 shows a connection state between an electronic device and a memory card and an outline of its electrical configuration. FIG. 2 shows another example of detecting card attachment. 10...Electronic device. 11...System controller. 14... Connector. 1B...Limit switch for attachment detection. 20...Memory cartridge. 21...Memory. 23...Multiplexer. 24... Connection terminal. Patent applicant: Fuji Photo Film Co., Ltd. Agent
Patent attorney Asamichi Kato (1 other person) Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】 メモリおよび第1の結合手段を備えたメモリ・カートリ
ッジ、ならびに第2の結合手段を備えメモリ・カートリ
ッジが装着されたときに第1および第2の結合手段を通
してメモリ・カートリッジと物理的信号により結合可能
となる電子装置から構成され、 メモリ・カードには、検査コードを発生する手段、およ
び第1の結合手段とメモリまたは検査コード発生手段と
の接続を切換える切換手段が設けられ、 メモリ・カートリッジおよび電子装置のいずれか一方に
、メモリ・カートリッジが電子装置の所定箇所に装着さ
れたことを検出する手段、ならびに上記の検出があった
ときに検査コード発生手段を第1の結合手段に接続する
よう上記切換手段を制御する手段が設けられ、 電子装置には、第1および第2の結合手段を介して検査
コード発生手段から送られてくる検査コードを検査して
、第1および第2の結合手段による結合の良否を判定す
る手段が設けられている。 メモリ・カートリッジの結合検査装置。
Claims: A memory cartridge comprising a memory and a first coupling means, and a second coupling means for connecting the memory cartridge through the first and second coupling means when the memory cartridge is installed. The memory card is comprised of an electronic device that can be coupled by a physical signal, and the memory card is provided with means for generating a test code and switching means for switching the connection between the first coupling means and the memory or the test code generation means. , a means for detecting that the memory cartridge is installed in a predetermined location of the electronic device, and a test code generating means coupled to one of the memory cartridge and the electronic device in the first manner. Means is provided for controlling said switching means to connect to said means, the electronic device being configured to test a test code sent from said test code generating means via said first and second coupling means, Also provided is means for determining whether the coupling by the second coupling means is good or bad. Memory cartridge bonding inspection device.
JP62120075A 1987-05-06 1987-05-19 Coupling inspection device for memory cartridge Expired - Fee Related JPH0734211B2 (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH03248249A (en) * 1990-02-27 1991-11-06 Mitsubishi Electric Corp Ic memory card
JPH05242307A (en) * 1992-01-31 1993-09-21 Nec Corp Memory card connector

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JPS6217869A (en) * 1985-07-16 1987-01-26 Casio Comput Co Ltd Ic card system

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