JPS63285447A - ガス混合物の分折方法および装置、並びにこの為の可視発光スペクトルのジェネレータ - Google Patents

ガス混合物の分折方法および装置、並びにこの為の可視発光スペクトルのジェネレータ

Info

Publication number
JPS63285447A
JPS63285447A JP63109837A JP10983788A JPS63285447A JP S63285447 A JPS63285447 A JP S63285447A JP 63109837 A JP63109837 A JP 63109837A JP 10983788 A JP10983788 A JP 10983788A JP S63285447 A JPS63285447 A JP S63285447A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
region
mixture
gas mixture
component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63109837A
Other languages
English (en)
Inventor
デービッド・ワドロー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Messer LLC
Original Assignee
BOC Group Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOC Group Inc filed Critical BOC Group Inc
Publication of JPS63285447A publication Critical patent/JPS63285447A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
    • G01N21/68Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using high frequency electric fields
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
    • G01N21/69Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence specially adapted for fluids, e.g. molten metal

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野 この発明は可視発光分光分析法によるガス混合物の分析
方法およびその装置に関し、さらに詳しくは多成分ガス
混合物中の−またはそれ以上の特定のガスの連続定量分
析方法および装置に関する。
発明の背景 アルゴン、ヘリウム、酸素、および他の大気中のガス等
の永久ガス(すなわち、非常に低い沸点を仔し通常気体
として存在する)の回収に際して、不純物として混入す
るガスの量をかなりの程度減らし、製品が気体であれ液
体であれ抽出生産物の生産速IWを向上するため、運転
条件を調節することが好ましい。例えば、大気からアル
ゴンを回収するに際して、温度、流量、圧力、および他
の運転条件の比較的小さな変動に応じて、窒素の濃度は
一桁またはそれ以上にわたり、つまり百万分の数十から
数千にわたり変化する。これ1で窒素濃度は、Lati
mer の米国特許2,934,908に開示されてい
るように、精留塔の特定のトレイ温度を監視し、補助精
留塔から取り出すアルゴンの量を調節することにより、
コントロールされるか、Scofigldの米国特許2
,934,907等に開示されているように、前述の方
法と同じように温度の変化に応じて主精留塔の還流箭を
調節することによりコントロールされてきた。運転状態
の変化を感知しこれにより運転条件を調節することは、
精留においては常に遅れをともなう。窒素濃度を好筐し
い範囲、例えば20から2000 ppm、に保つため
に、第2の精留塔で処理される流れに含まれる窒素量を
分析することにより、精留塔をより効率的に運転するこ
とができる。
気相中の原子または分子種の吸光または放射スペクトル
による定性および定量分析は分析化学の技術として良く
知られている。原子吸光分光分析では、分析される成分
を含む気相に光を通し、気相による光の吸収の程度から
気相に存在する成分が定量される。可視発光分光分析法
においては、気相中の原種が励起され発光し、この発光
スペクトルと強度を分析することに・より、存在する成
分とその量が決められる。原子種を励起し放射させるた
めに、例えばア゛−り、スパークおよびフレーム等の種
々の方法が用いられている。気相中で、励起されメタス
テーブル状態にある比較的不活性なガス状の原子と接触
させることにより、原子種を励起する方法も知られてい
る。
Robert B、 Frasgrに1976年4月2
0日および12月7日にそれぞれ与えられた米国特許3
.951,607および3,996,010においてガ
ス分析方法が開示されており、これによれば分析される
ガスはガスと接触する電極を含む分析室に通され、電極
により原子または分子に特有な放射スペクトルが発生さ
せられ、このスペクトルは種々の透過特性のフィルター
を備えた検出器により検出され、それぞれの検出器で得
られた清報は定4化(計算機により)され、この値は気
相に存在するそれぞれの成分の量ヲ与える。この分析は
連続してデータを与えるが、内部電極の酸化に起因する
ようなコンタミイ・−ジョンによる予期しないスペクト
ルを与える欠陥がある。
高感度で、広い範囲にわたり線形のダイナミックレンジ
を有し、一つ以上の成分を分析できる、比較的簡単で干
渉を受けにくい信頼性の高い、多成分系ガス分析方法お
よび装置の開発が要望されていることは明らかである。
発明の要旨 本発明は、分析ガスを導入するチャンバー、このチャン
バーの外側に互いに縦に配置された電極、この電極間に
電流を流し分析されるガス混合物に放射スペクトルを発
生させるための電極に連結されたデfエネルギー源、お
よびチャンバーの近くに配置され放射スペクトルを検出
するための少なくとも一つの検出器(典型的には光検出
器)を含む装置において、放射スペクトル奮発生させこ
れを分析することによる、多成分混合ガスをオン−ライ
ン、リアルタイムで連続的に分析する装置および方法に
関する。
放射そベクトルを光検知器に導入する前に、混合ガスの
中の注目成分に%有な波長であり、注意深(選択された
波長がフィルターにより選択される。特定の波長におけ
る放射強度を検出し、これを実験的に決定された式によ
り換算し、抽出されるガスおよびおもな不純物成分それ
ぞれの量を求めるための、サンプリング装置がこれに続
く。換算は専用のマイクロコンピュータによりおこなわ
れ、結果は通常の方法で表示される。
本発明の方法eこおいてとくに有効な放射スペクトルは
、ほぼ200ナノメータから900ナノメータにおよぶ
例として示す本発明の方法、装置により分析されるガス
混合物では、大気中の空気から貴ガスであるアルゴンが
抽出され、10から15%のアルゴンと酸素をバランス
として含み、と(少量の窒素からなる混合物となる。前
もって確立した方法により制御するが、窒素濃度は20
から2000ppmの範囲において変動する。しかし、
この範囲内で窒素濃度を最適値に近(制御することが好
ましい。この最適値はプロセス条件により変化する。
この特定のガス混合物にとくに有効な放射スペクトルは
ほぼ250ナノメータから750ナノメータである。
発明の詳細説明 図面1について説明すれば、本発明による放射装置が1
0として示されており、これは〕・ウウジダグ18互い
に分離された円筒状電極14および16を有するU型の
導管12を含む放射セル10α、第1の検出器30(通
常フォトダイオード)、実質的に光ビ遮断したチャンバ
ー32、コリメータ34、フィルターアッセンブリ36
および好ましくは第2の検出器38(通常フォトダイオ
ード)を含む。分析するガスは導管12を所定の圧力お
よび流量で流れる。本発明は図面1.2、および3に示
した装置乞使用し、多成分混合ガスの少なくとも1成分
のガスの組成または相対濃度を測定するために放射スペ
クトルを利用する方法を用いる。用いられるスペクトル
は典型的には可視スペクトルであり、本発明においては
200から900ナノメータ(?!fi)と定義される
導管12は基底部分22並びに脚部分20および24?
:含み、この脚部分けノ・ウジング18から外に出てい
る。好ましくは耐食性の導電材料からなる円筒状電極1
4および16は、導管120基底部22および脚部20
’i1′縦方向に互いに離れてそれぞれ取巻く。代表的
な例では電極14は一枚板であり、電極16はメツシュ
からなる。導管12は透明で、好ましくはガラスまたは
石英からなり、可視光線を光学検出器30(図面23に
も示されている)に透過する。電極14および16は測
定ガスに触れること乞避けるために導管12の外側に設
置され、それぞれ導線26および28により通常のデf
(ラジオ波)電源52、これは図面1には示されていな
いが、図面2には示されている、に繋がれる。電極16
は通常接地される。
ホット電極と接地電極との面積の比がrfエネルギーを
放射セルに加えることにより発生するプラズマのシース
内の電位分布を決める一つの因子であることが見出され
ている。
電源52が入っている場合には、導管12を流れるガス
は導管12の電極14および16の間の部分でrfグロ
ー放電反応を起こす。グロー放電反応の結果発生する光
はコリメータ34によりコリメートされ、フォトダイオ
ード30を照射する。
オプションとして用いられる検出器38(フォトダイオ
ード)はハウジング18の中に設置され、ハウジング内
の放射を検知し、ガス混合物の分析中のハウジング内の
電磁波の発生を知らせる。セルの電極14および16に
印加される電圧は電場を発生させ、この領域のガスに含
まれるイオンおよび電子を加速し、安定なグロー放電と
して表れるプラズマを発生させる。プラズマにおいては
、電子、イオン、および中性分子は絶えず互いに衝突し
ている。その結果可視分野のフォトンが放射される。放
射するフォトンには多(の離散したエネルギーレベルが
あり、これらのフォトンの波長は準位間の遷移のエネル
ギーの逆数に比例することが知られている。もしガス檎
が一つの場合には、可視連続スペクトルが観察され、そ
のガスに特長ある波長のパターンおよび強度からガスは
同定さh 7.、)。種々のガスのスペクトルはカタロ
グに記載されている。
ガス混合物のスペクトルのシグナルの解釈に関する基礎
はA6acdemic Pressから1965年に出
版されたBochkovらの5pectroscopi
cAsalyais of Gas Miztsres
”に述べられている。
ガスの放電により放射される放射スペクトルは放射され
たすべてのフォトンの和であるが、これは個々のスペク
トルの線形和ではない。種々のガスのスペクトルライン
の相対強度はマトリクス効果により保存されない。合体
されたスペクトルから個々のスペクトルを分離する作業
は科学というよりは勘にたよるところが大きい。多成分
ガスではと(に複雑となる。
二種類以上のガスが混合されるときに一般的にマトリク
ス効果が現れる。さらに効果は常に非線形であり、この
ことは放射スペクトルの形の変化は混合される他のガス
の量のみならずその性質にも依存することを意味する。
比較的簡単な二成分系混合物、例えば、酸素とアルゴン
の系では、多(の場合特定のピーク高さの変化を経験的
に組成と関係づけることができる。この変化が単調であ
るばあい、この関係を二種類のガスの存在割合の決定に
利用することは当を得ている。しかしながら、混合物に
二成分以上のガスが存在する場合、種々の放射ピークの
相対強度とガス組成との関係は複雑すぎて前述の方法で
は解釈できない。
多成分ガスの分析が常ならず複雑であるにもかかわらず
、すくな(とも幾つかの成分を含む混合ガスについて、
代数的な関係またはより適当な表現をすればこれらの関
係の集合が存在し、これが正確にかつ一義的に多成分ガ
ス混合物の組成をある組成範囲内において、ガス混合物
の特定な放射成分により記述できることを私は見出した
。この分析のアルゴリズムは専用のマイクロコンピュー
タ−のプログラムメモリに書込まれ、これにより、光学
検出器から供給されるスペクトルデータを用い連続的に
ガス組成暑計算できる。これは専用のリアルタイムガス
分析装置といえる。
安定な励起源が決ったとして、第1のステップは関心を
持っているそれぞれの純粋なガスについて、異なる励起
領域でかつ異なる操作条件で可視発光スペクトルをとる
ことである。
具体例の分析において興味ある混合物はパーセントレベ
ルのアルゴンと酸素とからなりppmレベルの窒素を含
み、この窒素が測定され制御される。
窒素の信号の強度は窒素の濃度めみならず、アルゴン/
酸素の比にも依存することに留意する必要がある。窒素
濃度が低いので、rf励起源はガス中に多量にあるアル
ゴン、酸素、より窒素の放射に適していることが好まし
い。これは接地した電極を巻いたセルの脚の縦方向に光
検出器を設置することにより達成できる。スペクトルは
セルの場所により変化する。電極16に近いセルの部分
ン選ぶことが好ましい。この部分で窒素のピークがより
強(なる傾向がある。このように配置することにより、
良好な信号/ノイズ比と早い処理に充分に適した強度と
安定性を有する光を出す放射線を開発できることを私は
見出した。
第2のステップはスペクトル線間の干渉があまり強くな
(、強度が比較的強い波長領域乞見つげることである。
図面4は500 TJ’Pmの窒素、18%のアルゴン
を含み他は酸素であるガス混合物の放射スペクトルであ
る。横軸はナノメータで表した波長であり、縦軸は光の
強度であり、任意メモリである。800ナノメータ附近
のギャップはアルゴンおよび酸素のラインがスケールオ
ーバーしていることを示している。幾つかの異なるピー
クがそれぞれのガス成分に基づくものであると同定され
た。セルの圧力を変え、スペクトルを幾つか取った。そ
の結果2.75から5.75 Torrの範囲では、強
度はセル圧力とともに減少することが見出された( I
 Torrice11i = 1 / 760気圧)。
しかし、約4Torr以上では異なる領域における強度
低下の早さがほぼ同じとなることが観測された。高い圧
力では、信号の強度とともに、セルの応答時間が悪(な
る(ガスのサンプリング速度が等しいとして)。これら
を勘案して、圧力は4,0Torrとした。
第3のステップは種々の光の強度とガス組成とを関連づ
けることが出来るかどうか、もし出来るとすればどうし
てかを調べることである。このため、組成既知のガスに
ついて、モノクロメータ2用い非常に多くの放射スペク
トルを発生させ(役に立つデータを得るために、50か
ら100の異なる組成を用いた)、得られたスペクトル
を数値化した。次いでスペクトルは幾つかの波長領域に
分けられ、それぞ第1の領域につ℃・て発光強度が積分
され、窒素およびアルゴン濃度と関連づけられた。この
分析から、濃度と信頼性の高い関連?つけるために必要
となる最低の領域の数乞決めることが出来るよ5になっ
た。良く知られた線形回帰の手法により、三つの領域の
積分光強度の連続した特異点のない関数と濃度との間に
強い相関があることが見出された。図面4に示すように
、これらの三つの領域は次の放射ピーフケ中心持つ:窒
素による3555mピーク、酸素による617nmピー
ク、アルゴンによる697および707nmのツインピ
ーク。
最後のステップは分析の式または算法な誘導することで
ある。前記の三つの領域の積分光強度なVl、V2、V
、とする。二次元のプロットができるように、これらの
二つを他の値に対してノーマライズする。このようにし
て次の二つの独立変数が得られる: R、=Vs /Vt  および R,=V2/V R1およびR2の値をプロットし、窒素濃度一定、アル
ゴン濃度一定の曲線の集合2描(ことが容易にでき、こ
の図面はガス混合物の成分の濃度とR1およびR2との
関係をグラフとして与える。この関係は適当な境界2持
つ二次式のセットにより表示できる。
このようにして得られる解析的な応答関数は次の形とな
る: 窒素=aO+c1Z1+cL2Z2+a3Z12+a、
 4Z I Z 2+a 5Z 22アルゴン=bO+
b1ZL+b2Z2+b3Z12+b4Z1Z2+b5
Z22; ここに、αおよびbは数値係数であり、そしてZ、 =
R,−M、、Z2=R,−M、であり、MlおよびR2
はそれぞれのデータのグループの中央値である。
もしこれらの式の解が不連続性のために好ましい精度で
得られない場合には、応答関数は隣りあうエグメントに
分けることができる。
適当な具体例では、三つのセグメントについて式が作ら
れた: A=R,◇1,62 ; B=L62<R,ぐ1.88
;またはC=R2> 1.88 得られた中央値および用いられた係数を次の表1に示す
二 表   I 係数    A       13      (’α
0   313.60   196.57   87.
41α1  −211064  −259.27  −
227.14α2  −626.94  −42=18
1  −211.21α3  −116.41   −
79.41   −67.03α4  −126.24
    8.306  104.31α5   892
.24   387.65   107.89b 0 
   13,88    12.53    8.11
761    25.90    21.34   1
4.40b2   −19.00   −14.89 
  −6.17263    9.792    7.
604   4.316b4   −32.89   
−22.03   −14.4965    17.2
0     !6.87    1.860M 1  
  0.8185   0.884   0.850M
2    1.537    1.738   2.1
415再び図面2に帰って、フィルターアセンブリ36
はシャフト56によりモーター58に連なる回転フィル
ターウィール54を含み、さらに三つのフィルターエレ
メント60,62.64を備えている。フィルターエレ
メ/)60,62.64は、励起された窒素、アルゴン
、酸素の混合物が放射する可視発光スペクトルに特有な
ある部分にマツチするスペクトル透過特性を有している
。フィルターエレメントのバンド幅は、ガス混合物の分
子種に関して関心ある波長の元を充分に透過するに足る
幅ではあるが、必要のない隣接する波長の光を不必要に
透過しない幅となるように調節されている。それぞれの
フィルターエレメントのバンド幅は、任意にきめた透過
率における透過バンドの幅として定義する。すでに前に
述べたが、元ダイオードは非常に強い元から弱い光にわ
たる広い範囲を測定する場合には誤差を生ずるので、こ
のダイオードのゲインによる誤差をなるべく小さくする
ように、それぞれの種の発光強度がほぼ同じ強さの部分
で可視光強度を測定することが一般的に好ましい。
タイミングウィール66は軸56に取り付けられており
、等しい間隔で幾つかの開口部68が設けられており、
この開口部の半分けフィルター60.62.64と一直
線上にぐるようになっており、もしこれが−直線上から
ずれる場合には電気的に調節、補償することもできる。
放射光検出器30は導線が取り付けられており、情報を
データ処理部分40に送る。タイミングウィール66に
は二つの発光ダイオード72、および光トランジスタ−
74が装備されており、開口部68かもタイミングの情
報を得、これを導線76および78によりデータ処理部
分40に送る。
データ処理部40へは、放射検出器3oで得られる三つ
のスペクトル強度の信号の組の繰返しを含む情報が導線
70により送られ、元トランジスター74で受信され導
線76および78で送られた信号と合わされ、ついでデ
ータ処理部分4oのハードウェアーにより、連続してこ
のスペクトル信号がそれぞれの波形のピーク強度に比例
した信号に変換される。
データ処理部40は79で示されるサンプリング/保持
回路、S/H1微分アンブリファイア−1およびその他
の回路、アナログ/デジタルコンバータ81、デジタル
マイクロコンピュータ82およびデジタル/アナログコ
ンバータ83を含む。
フィルターウィール36の三つのフィルターヲ通過して
くる一連の積分されたエネルギーを元ダイオード30、
導線70により回路79が受ける。
回路79はタイミングウィール68から得られる二つの
タイミング信号を受ける。タイミング信号は二つとも回
転する軸56により繰返される。第1のタイミング信号
は、通常のり/グカウンターを使用することにより、二
つの選択された波長部分のサンプリングのための時間を
与える。第2のタイミング信号はこれらのそれぞれのス
ペクトル信号を読み込む順序を与える。
図面3は図面2の回路79の詳細図である。上部のイン
プットライン79には、コリメータ34およびフィルタ
ーウィール54から得られ、元ダイオードとアンブリフ
ァイア−により通常の方法で電気波に変換された、時間
とともに変る、スペクトル信号を表す電圧波形105が
生じ、ウィール54のそれぞれのフィルターを通して得
られる別個の波として順次出力される。タイミングウィ
ール66の開口部により創られたサンプリングの信号は
通常の方法で光トランジスタ一部74で電気信号に変換
され、ライン76および78に表れる。これらの信号は
、通常のオペレーショナルアンブリファイア−を構成す
るパルスフォーマ−76および78で、固定されたペー
スと比較される。パルスフォーマ77かものサンプリン
グタイミングパルスは、ブロック9oで遅延調整を受け
、波形97で示したタイミングパルスの形で、サンプリ
ング/ホールドブロック100に供給される。
サンプリングタイミングパルスはまたリングカウンター
91にクロックパルスとして供、給すれる。
同様にして、パルスフォーマ107においテ、元トラン
ジスタ74から導線78に表れる信号により、タイミン
グウィール55の回転速度に対応する96の波形のリセ
ットパルスが創られる。通常のJK型フリンプ70ツブ
からなる、リングカウンター91はパルスフォーマ77
からのクロックパルスおよびパルスフォーマ107から
のリセットパルスで動かされる。リングカウンター91
は6個のゲートパルス(波形98)をサンプル/ホール
ドブロックおよび微分アンプリファイアープロック10
0に与え、遅延調整ブロック77からの遅延調整サンプ
リングパルスが波形105に示されたスペクトル信号の
それぞれのピーク(波形105において1.3.5と表
示)およびベースライン(波形105において2.4.
6と表示)パルスに対応できるようにする。サンプリン
グ/ホールド部分100に蓄えられたピークおよびベー
スラインレベルの値がブロック100の微分アンブリフ
ァイア一部に与えられ、ここで全スペクトル信号から選
択された波長部分のエネルギーに比例する電圧信号が発
生される。これらの信号は導線80−1.80−2.8
0−3によりコンバータ81およびマイクロコンピュー
タ82に供給され、上に述べたアルゴリズムに基づき分
析される。
再び図面2にかえって、コンバータ81はこれらのアナ
ログ量をマイクロコンピュータ82の入力に適したデジ
タル値に変換する。マイクロコンピュータ82はこれら
の供給された信号を、前に決められたアルゴリズムと表
1の係数を用いて計算し、分析する混合ガスに不純物と
して含まれる窒素の量、および目的とする貴ガスである
アルゴンのパーセントに比例する信号を与える。コンピ
ュータ82かものデジタル出力信号は合わされ、D/A
コ/バーター83に供給され、ここでアナログ型に変換
される。得られたアナログ信号は導線84および86を
経て、適当なディスプレー装置85Aおよび85Bにそ
れぞれ表れる。85Aの装置は窒素含有量をppmで直
接読めるように表示し、85Bの装置は混合物中のアル
ゴンのパーセントを表示する。
運転中、分析されるガス混合物は導管12によりほぼ1
からI Q Torτの圧力で放射セル10に導かれる
。電極工4および16はイから10インチの導管12の
周りに縦方向に配置され、セル壁材料の電気特性により
決る発光スペクトルを出すために、これにrf電源が接
続される。導管12は石英等の誘電材料、例えばガラス
のような透明でありかつ絶縁性の材料からなる。放射ス
ペクトルは目で見ることができるか、減衰の非常に小さ
い検出器により検出されることが必要である。混合物の
成分を代表するなるべく同じ高さのピークを用いて分析
することが好ましいので、分析ガスの種類、可視発光ス
ペクトルの種類により、導管12を種々の適した形とす
ることができる。
電極14および16は適当な導電性の延べ材またはメツ
シュで作られ、メツシュで作られる場合には、製造装置
のプロセスが要求する特有の変数、たとえばアルゴン/
醒素ガス混合物(4−20%アルゴン−バランス酸素)
における微量の窒素、に固有の最も適した場所である、
これはガス混合物を予備的に分析することによりきめる
ことができるが、導管12にそういかなる部分において
も測定が可能となる。すでに述べたように本応用例にお
いて、前述したガス混合物を、フィルターアッセンブリ
36の開口部に設置したアルゴン、窒素、酸素用の適当
なフィルター60.62.64により分析する場合には
、導管12の脚部20に添って発光する可視スペクトル
を用いるのが最も適していることが見出された。
一つの例では、ガス流(ほぼ208CCM)がアルゴン
精製プロセスの配管から連続して抜取られ、リアルタイ
ムで含まれる窒素量が分析された。ガス流はアルゴン−
酸素混合物であった(4−20チアルゴンー酸素バラン
ス)。窒素含有量は100から1500 ppmの範囲
の微量濃度であった。この範囲外では、プロセス全体が
う1く働かない。
ガス流が4.0Torrの圧力で脚部2oを通り、円筒
形のステンレスの延べ板からなる電極14および円筒形
のステンレスのメツシュからなり約5羽はなして取り付
けられた電極16を含む、導管12(0,152インチ
外径)に導入された。13.56MHzのrf、xネル
ギーを加え、可視発光スペクトルを発生させた。導管1
2かもの元は導管12の脚部に添って設置されたフィル
ターアッセンブリ36、コリメーター34を通し、放射
検出器30で検出されるが、これらの精確な配置は発生
シグナルを用い試行錯誤によりきめられる。フィルター
ウィール52には市販されている、下記の詳細仕様のサ
ーキュラ−オプティカルバンドパスインタフエランスフ
イルターが取り付けられている。
1  360  11   Corion PIO−3
60−Fした 放射検出器30により受けられた信号は、それぞれのオ
プティカルチャネルに相当する三つのアナログ電圧に変
えられ、この大きさからガス組成がリアルタイムで計算
される。前述の例では、放射スペクトルを分けるのにフ
ィルターウィールが用いられた、しかし、一つまたはそ
れ以上のオプトエレクトロ二ツクディテクターと合せス
ペクトログラフまたはラビツドスキャンニングモノクロ
メータを用いること、または固定のフィルターとともに
複数のフォトディテクターを用いること、ができること
はこの分野に精通した人々にとって理解されることであ
る。
本発明の基礎的な原理を、理解しゃすくするために単純
化して、以下に要約する: 本発明は組成がほぼ特定の範囲にある、多成分ガス混合
物(二つまたはそれ以上)の少なくとも一つの成分の組
成、または相対濃度を測定する手法である。ある応用で
は、窒素、アルゴン、酸素の混合物において窒素の量が
ある好ましい範囲にあることを保証する重要な例で示さ
れるように、ある成分の量が上限であれ下限であれ、特
定の範囲を外れることを検出することに興味がある。
三種類のガスの混合物の例では、本発明の方法はラジオ
波エネルギーを混合物に供給し、これにより可視発光を
起こさせ、ガス組成がそれぞれのスペクトル帯から放射
される元の強度の関数となるように、このスペクトルを
幾つかのスペクトル帯に分離することを含む。狙いとす
る領域の光の強度は別々に電流値に変えられる。実際に
使用する濃度範囲を含む種々の範囲の濃度既知の混合物
を数多く測定することにより、選ばれた領域の光強度か
ら連続的に成分ガスの濃度を計算するアルゴリズムを得
ることができる。アルゴリズムは典型的にはコンピュー
タの電気的なメモリーとして適当な係数とともに蓄える
ことができる。
ついで、ある濃度範囲内の未知ガス混合物が、前に誘導
し保存しであるアルゴリズムにより定量的に分析される
発明は特定の例に関連して説明されたが、多くの変化形
が可能であることはこの分野に精通した人にとっては自
明のことであり、この明細書およびこれに付属する特許
請求の範囲はこれらの変化形も含む。さらに、発明は二
次元の図に描ける特定の三成分ガス混合物について開示
されたが、この方法の原理はマトリクス効果がより複雑
であり、多次元チャートが必要となるさらに多くの混合
物系にも拡張できることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
とくに添付の図面を参考に詳細に説明することにより、
本発明の理解を深めることができる、これらの図面にお
いてはすべ℃同じ数字は同じような部分を意味する: 第1図は本発明において、放射スペクトルを発生させ、
これを検出する装置の簡単な図面であり;第2図は本発
明において、図面1を含むガス混合物をリアルタイムで
分析する装置の構成図であり; 第3図は図面2のいくつかの装置の詳細なブロックダイ
アグラムであり;そして 第4図はごく微量の窒素を含むアルゴンと酸素の混合物
の代表的なスペクトルであり、本発明の説明に有効であ
る。 図 1 瓜 −置

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、結合した発光スペクトルにより、三種またはそれ以
    上の原子または分子成分からなる混合物の構成成分の量
    を分析する次の工程を含む方法:a)それぞれの成分ガ
    スを同定する特性周波数においてエネルギーピークを有
    するようなそれぞれのバンド−パス領域を、少なくとも
    成分ガスの数と等しい数、前記結合発光スペクトルから
    選び;b)それぞれの選択された領域のエネルギー強度
    を測定し; c)領域の強度をデジタル電気信号に変え;d)ある範
    囲に渡る既知の代表的なガス混合物のスペクトル応答を
    繰返し観測することにより得られたアルゴリズムにより
    、隣接する変換された電気信号のそれぞれの比を混合物
    に存在する個々の組成ガスの量を代表する量に関係づけ
    ;そしてe)個々の成分ガスの少なくとも一つの相対的
    な量を決める。 2、結合発光スペクトルにより、三種の原子または分子
    成分X、Y、Zのガス混合物の成分の量を分析する次の
    工程を含む方法: a)それぞれの成分ガスを同定する特性周波数において
    エネルギーピークを有するようなそれぞれのバンド−パ
    ス領域A、B、Cを、少なくとも成分ガスX、Y、Zの
    数と等しい数、前記混合物の放射スペクトルから選び; b)それぞれの選択された領域A、B、Cのエネルギー
    強度を測定し; c)領域の強度をデジタル電気信号に変え;d)下記の
    式により、隣接する変換された電気信号のそれぞれの比
    を混合物に存在する個々の組成ガスの測定値を代表する
    量に関係づけ; G1=a0+a1Z1+a2Z2+a3Z12+a4Z
    1Z2+a5Z22、 G2=b0+b1Z1+b2Z2+b3Z12+b4Z
    1Z2+b5Z22; ここに、a0からa5およびb0からb5は定数の係数
    であり; V1=領域Aにおける選択されたXガスのスペクトルラ
    イン強度; V2=領域Bにおける選択されたYガスのスペクトルラ
    イン強度; V3=領域Cにおける選択されたZガスのスペクトルラ
    イン強度; Z1=R1−M1;Z2=R2−M2; R1=V3/V1;R2=V2/V1: M1およびM2はそれぞれR1およびR2の値の数値範
    囲の中央値であり;そして e)解G1G2から個々の成分ガスの少なくとも一つの
    相対的な量を決める。 3、成分Xがppmで表される窒素量、 成分Yが%で表される酸素量、 および成分Zが%で表されるアルゴン量である特許請求
    の範囲2の方法。 4、特許請求の範囲2の方法において、 領域Aがほぼ360nm(ナノメー)の波長域において
    約10nmのバンド幅を占め、 領域Bがほぼ620nm(ナノメー)の波長域において
    約10nmのバンド幅を占め、そして領域Cがほぼ70
    0nm(ナノメー)の波長域において約25nmのバン
    ド幅を占める方法。 5、混合物の放射スペクトルにより、三種の原子または
    分子成分X、Y、Zのガス混合物の成分を分析する下記
    を含む装置: a)前記混合物の放射スペクトルを、少なくとも成分ガ
    スX、Y、Zの数と等しい数に、それぞれの成分ガスを
    同定する特性周波数においてエネルギーピークを有する
    ようなそれぞれのバンド−パス領域A、B、Cに分ける
    手段; b)それぞれの分離されたスペクトル領域A、B、Cの
    エネルギー強度を測定する手段; c)領域の強度をデジタル電気信号に変えるアナログ/
    ディジタル変換手段; d)下記の式により、隣接する変換された電気信号のそ
    れぞれの比を混合物に存在する個々の組成ガスの測定値
    を代表するデジタル量に関係づける計算手段: G1=a0+a1Z1+a2Z2+a3Z12+a4Z
    1Z2+a5Z22、 G2=b0+b1Z1+b2Z2+b3Z12+b4Z
    1Z2+b5Z22; ここに、a0からa5およびb0からb5は定数の係数
    であり; V1=領域Aにおける選択されたXガスのスペクトルラ
    イン強度; V2=領域Bにおける選択されたYガスのスペクトルラ
    イン強度; V3=領域Cにおける選択されたZガスのスペクトルラ
    イン強度; Z1=R1−M1;Z2=R2−M2; R1=V3/V1;R2=V2/V1: M1およびM2はそれぞれR1およびR2の値の数値範
    囲の中央値であり;そして e)上述の計算手段において、上述の式および係数を保
    存する手段、 f)上述の計算手段により得た解G1、G2をアナログ
    出力信号に変換するデジタル/アナログ変換手段、およ
    び g)上述のデジタル/アナログ変換手段からの出力信号
    に応答し、個々の成分ガスの少なくとも一つの相対的な
    量を利用可能な電気量として決める手段。 6、成分Xがppmで表される窒素量、 成分Yが%で表される酸素量、 および成分Zが%で表されるアルゴン量であり、そして
    測定の手段がフオトエレクトリツクである、特許請求の
    範囲5の装置。 7、領域Aがほぼ360nm(ナノメー)の波長域にお
    いて約10nmのバンド幅を占め、 領域Bがほぼ620nmの波長域において約10nmの
    バンド幅を占め、そして 領域Cがほぼ700nmの波長域において約25nmの
    バンド幅を占める、 特許請求の範囲5の装置。 8、次の工程を含む、少なくとも三種の成分を含むガス
    混合物の分析方法: a)混合物の放射スペクトルを発生させるため、rf(
    ラジオ周波数)エネルギーを混合物に供給し; b)上述の放射スペクトルの放射を、それぞれのバンド
    で検出される放射が主として混合物に含まれる異なる成
    分の放射であるような少なくとも三つの分離した波長バ
    ンドに分け測定する方法を用い、分析される組成に近い
    組成既知の代表的なガス混合物のそれぞれの波長バンド
    帯において個別に放射を測定し、 c)既知混合物のこのような測定から、電子計算手段の
    プログラムメモリーとして使用できるアルゴリズムを導
    き、このようなアルゴリズムを電子計算手段に蓄え; d)組成既知のガス混合物に供給したのと同じ方法で、
    それぞれの分離した波長バンドにおいて、上述のrfエ
    ネルギーを分析するガス混合物に供給し;そして e)未知混合物からのそれぞれの分離した波長バンドに
    おける放射量の測定値を電子計算手段に供給し、混合物
    の中の希望する成分の測定量の出力を、外部で使用する
    ために、創る。 9、分析されるガス混合物が三種のガスを含み、それぞ
    れのガスに対応する、その中に含まれるエネルギー量を
    検出するための三つの選択された波長バンドを含む特許
    請求の範囲8の方法。 10、三種のガス成分がアルゴン、酸素および窒素であ
    る特許請求の範囲8の方法。 11、ガス混合物の成分を定量する下記を含む装置:上
    述のガス混合物を受けるチャンバー; 上述のチャンバーの外側の周囲に縦方向に離して設置さ
    れた電極; rfエネルギー源; 上述のガス混合物の可視発光スペクトルを発生させるた
    め、上述の電極と上述のrfエネルギー源を結合する手
    段; 上述の発生した可視発光スペクトルをコリメートする手
    段; 上述のガス混合物のそれぞれの成分を代表する波長のフ
    ィルターエレメントを含む濾過手段;発生した可視発光
    スペクトルの成分を検出する手段およびこのスペクトル
    の成分を上述の成分を代表する電気パルスに変換する手
    段;および 上述の電気パルスを評価し、上述のガス混合物の上述の
    成分を定量する手段。 12、上述のガス混合物を上述のチャンバーに導入し、
    取り出す導管をさらに含む特許請求の範囲11の装置。 13、上述のチャンバーが透明な材料からできている特
    許請求の範囲11の装置。 14、上述の電極が1/4から10インチ離れて取り付
    けられた特許請求の範囲11の装置。 15、上述のチャンバーがU型である特許請求の範囲1
    1の装置。 16、上述の電極の少なくとも一つがメッシュである特
    許請求の範囲11の装置。 17、上述の可視発光スペクトル発生装置のオンモード
    を確認するための手段を提供するために、上述のスペク
    トルに応答するフォトダイオードをさらに含む特許請求
    の範囲11の装置。 18、上述のフィルターエレメントが回転円盤に配置さ
    れた特許請求の範囲13の可視発光ジェネレーター。 19、上述のフィルターの手段が、上述のコリメータと
    上述のかくして発生された可視発光スペクトルの濾過し
    たパルスを受ける上述の手段との間に配置された、特許
    請求の範囲11の可視発光ジェネレーター。 20、上述のガス混合物のそれぞれの成分のバンドにお
    いて、ほぼ同じくらいの強度の可視発光スペクトルを検
    出するために、上述のコリメーターが配置された特許請
    求の範囲11の可視発光ジェネレーター。 21、発生した可視発光スペクトルを受ける上述の手段
    がフォトダイオードである特許請求の範囲11の可視発
    光ジェネレーター。 22、チャンバーから放射があつた場合上述の放射がコ
    リメータを通るように、上述のコリメータが上述のチャ
    ンバーと共軸となるように配置された、特許請求の範囲
    11の可視発光ジェネレーター。
JP63109837A 1987-05-04 1988-05-02 ガス混合物の分折方法および装置、並びにこの為の可視発光スペクトルのジェネレータ Pending JPS63285447A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/045,336 US4801209A (en) 1986-01-17 1987-05-04 Process and apparatus for analyzing a gaseous mixture and a visible emission spectrum generator therefor
US45336 1987-05-04

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63285447A true JPS63285447A (ja) 1988-11-22

Family

ID=21937296

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63109837A Pending JPS63285447A (ja) 1987-05-04 1988-05-02 ガス混合物の分折方法および装置、並びにこの為の可視発光スペクトルのジェネレータ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4801209A (ja)
EP (1) EP0292143A3 (ja)
JP (1) JPS63285447A (ja)
AU (1) AU1449088A (ja)
CA (1) CA1317476C (ja)
ZA (1) ZA882565B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005249551A (ja) * 2004-03-03 2005-09-15 Taiyo Nippon Sanso Corp 混合ガス中の不純物の分析方法及び装置
JP2006201106A (ja) * 2005-01-24 2006-08-03 Taiyo Nippon Sanso Corp 混合ガス中の不純物の分析方法及び装置
JP2014179474A (ja) * 2013-03-15 2014-09-25 Hitachi High-Technologies Corp 半導体エッチング装置及び分析装置

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH675773A5 (ja) * 1988-03-31 1990-10-31 Sulzer Ag
US4898465A (en) * 1989-01-30 1990-02-06 Medical Graphics Corporation Gas analyzer apparatus
US5023804A (en) * 1989-05-23 1991-06-11 The Perkin-Elmer Corporation Method and apparatus for comparing spectra
US5790420A (en) * 1989-12-14 1998-08-04 Lang; Fred D. Methods and systems for improving thermal efficiency, determining effluent flows and for determining fuel mass flow rates of a fossil fuel fired system
US5327356A (en) * 1989-12-14 1994-07-05 Wahlco Environmental Systems, Inc. Emissions spectral radiometer/fuel flow instrument
US5313800A (en) 1993-02-01 1994-05-24 Praxair Technology, Inc. Process for maximizing the recovery of argon from an air separation system at high argon recovery rates
US5412467A (en) * 1993-03-24 1995-05-02 Praxair Technology, Inc. Gas emission spectrometer and method
US5353113A (en) * 1993-07-15 1994-10-04 Cetac Technologies Incorporated Single and multiple radiation transparent afterglow electric discharge detector systems
US5382804A (en) * 1993-07-15 1995-01-17 Cetac Technologies Inc. Compact photoinization systems
US5431023A (en) * 1994-05-13 1995-07-11 Praxair Technology, Inc. Process for the recovery of oxygen from a cryogenic air separation system
US5522224A (en) * 1994-08-15 1996-06-04 Praxair Technology, Inc. Model predictive control method for an air-separation system
US5567945A (en) * 1994-11-16 1996-10-22 Analytical Precision, Inc. Compact atomic absorption analyzer
DE19505104A1 (de) * 1995-02-15 1996-08-22 Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der Reinheit und/oder des Drucks von Gasen für elektrische Lampen
US6015479A (en) * 1997-07-25 2000-01-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Thin-layer spectroelectrochemical cell
US5892364A (en) * 1997-09-11 1999-04-06 Monagle; Matthew Trace constituent detection in inert gases
US6034768A (en) * 1997-09-26 2000-03-07 Physical Sciences Inc. Induced breakdown spectroscopy detector system with controllable delay time
US6043881A (en) * 1998-03-06 2000-03-28 Praxair Technology Inc Sample cell for gaseous emission spectroscopy
EP1325304A4 (en) * 2000-09-11 2006-05-17 Verity Instr Inc EMISSION SPECTROSCOPY MONITOR WITH POST-DISCHARGE LIGHT
JP4024494B2 (ja) * 2001-03-29 2007-12-19 大陽日酸株式会社 ガス中の窒素測定方法及び装置
US6780378B2 (en) 2001-06-28 2004-08-24 Gas Technology Institute Method for measuring concentrations of gases and vapors using controlled flames
US6701256B2 (en) * 2001-09-11 2004-03-02 Environmental Systems Products Holdings Inc. Exhaust opacity measuring device
US7113277B2 (en) * 2003-05-14 2006-09-26 Lockheed Martin Corporation System and method of aerosolized agent capture and detection
WO2007098586A1 (en) * 2006-02-28 2007-09-07 Panalytique Inc. System and method of eliminating interference for impurities measurement in noble gases
US8647273B2 (en) * 2007-06-21 2014-02-11 RF Science & Technology, Inc. Non-invasive weight and performance management
US8259299B2 (en) * 2007-06-21 2012-09-04 Rf Science & Technology Inc. Gas scanning and analysis
US8382668B2 (en) * 2007-06-21 2013-02-26 Rf Science & Technology Inc. Non-invasive determination of characteristics of a sample
US8647272B2 (en) * 2007-06-21 2014-02-11 Rf Science & Technology Inc Non-invasive scanning apparatuses
US10264993B2 (en) * 2007-06-21 2019-04-23 Rf Science & Technology Inc. Sample scanning and analysis system and methods for using the same
DE102009057130A1 (de) 2009-12-08 2011-06-09 Heinrich-Heine-Universität Düsseldorf Verfahren zur Analyse der Zusammensetzung von Gasgemischen
US20220317033A1 (en) * 2019-07-05 2022-10-06 Horiba, Ltd. Sample gas analysis device, sample gas analysis method, and program for sample gas analysis
CN116879227B (zh) * 2023-07-07 2024-06-11 安徽农业大学 一种基于激光光谱的快速气体反演方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2967451A (en) * 1957-04-04 1961-01-10 Waters Corp Method and apparatus for gas analysis
JPS5759146A (en) * 1980-09-26 1982-04-09 Hitachi Ltd Apparatus of emission spectroscopic analysis
JPS61292538A (ja) * 1985-06-21 1986-12-23 Hitachi Ltd プラズマモニタ
JPS62217145A (ja) * 1986-01-17 1987-09-24 ザ・ビ−オ−シ−・グル−プ・インコ−ポレ−テツド ガス状混合物を分析する方法および装置およびそのための可視発光スペクトル発生器

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3025745A (en) * 1953-06-30 1962-03-20 Beckman Instruments Inc Method and apparatus for analyzing gases
US2934908A (en) * 1954-08-16 1960-05-03 Union Carbide Corp High argon recovery using proper shelf-top pinch principle
US2934907A (en) * 1954-08-17 1960-05-03 Union Carbide Corp High argon recovery using kettle top feed-top pinch principle
GB1017072A (en) * 1961-07-10 1966-01-12 Hilger & Watts Ltd Improvements relating to the analysis of alloys and the like
US3428401A (en) * 1964-10-28 1969-02-18 Beckman Instruments Inc Flame photometer
US3610759A (en) * 1967-06-14 1971-10-05 Mercantile Safe Deposit And Tr Method and apparatus for analyzing atomic spectra of gas samples
US3586441A (en) * 1967-07-12 1971-06-22 Instrumentation Labor Inc Atomic absorption spectroanalysis system
US3612686A (en) * 1968-01-03 1971-10-12 Iit Res Inst Method and apparatus for gas analysis utilizing a direct current discharge
US3545863A (en) * 1968-01-15 1970-12-08 Dow Chemical Co Method for detection of mercury in a helium glow discharge
US3600567A (en) * 1969-03-17 1971-08-17 Angstrom Inc Method and apparatus for analog computation of concentrations
US3704952A (en) * 1969-12-29 1972-12-05 Environment One Corp Fluid medium source tracer method
US3996010A (en) * 1974-11-29 1976-12-07 Searle Cardio-Pulmonary Systems Inc. Breathing gas analyzer
US3951607A (en) * 1974-11-29 1976-04-20 Searle Cardio-Pulmonary Systems Inc. Gas analyzer
US4148612A (en) * 1976-02-19 1979-04-10 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method and apparatus for detecting and measuring trace impurities in flowing gases
US4083367A (en) * 1976-07-28 1978-04-11 Andros Incorporated Method and apparatus for pulmonary function analysis
US4150951A (en) * 1977-09-19 1979-04-24 The Aerospace Corporation Measurement of concentrations of gaseous phase elements
US4195641A (en) * 1977-12-15 1980-04-01 Burton Larry W Spectroscopic analysis of chemical substances
GB2020009B (en) * 1978-04-08 1982-12-01 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Apparatus for determining the concentration of components of a sample
US4197095A (en) * 1978-08-31 1980-04-08 Pall Corporation Heatless adsorbent fractionators with microprocessor cycle control and process
US4309187A (en) * 1979-10-25 1982-01-05 University Of Virginia Alumni Patents Foundation Metastable energy transfer for analytical luminescence
US4415264A (en) * 1981-06-25 1983-11-15 The Perkin-Elmer Corporation Spectrophotometer gas control system
US4660151A (en) * 1983-09-19 1987-04-21 Beckman Instruments, Inc. Multicomponent quantitative analytical method and apparatus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2967451A (en) * 1957-04-04 1961-01-10 Waters Corp Method and apparatus for gas analysis
JPS5759146A (en) * 1980-09-26 1982-04-09 Hitachi Ltd Apparatus of emission spectroscopic analysis
JPS61292538A (ja) * 1985-06-21 1986-12-23 Hitachi Ltd プラズマモニタ
JPS62217145A (ja) * 1986-01-17 1987-09-24 ザ・ビ−オ−シ−・グル−プ・インコ−ポレ−テツド ガス状混合物を分析する方法および装置およびそのための可視発光スペクトル発生器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005249551A (ja) * 2004-03-03 2005-09-15 Taiyo Nippon Sanso Corp 混合ガス中の不純物の分析方法及び装置
JP2006201106A (ja) * 2005-01-24 2006-08-03 Taiyo Nippon Sanso Corp 混合ガス中の不純物の分析方法及び装置
JP2014179474A (ja) * 2013-03-15 2014-09-25 Hitachi High-Technologies Corp 半導体エッチング装置及び分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0292143A2 (en) 1988-11-23
US4801209A (en) 1989-01-31
ZA882565B (en) 1988-10-11
CA1317476C (en) 1993-05-11
AU1449088A (en) 1988-11-10
EP0292143A3 (en) 1990-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS63285447A (ja) ガス混合物の分折方法および装置、並びにこの為の可視発光スペクトルのジェネレータ
Watanabe et al. Absorption coefficients of oxygen in the vacuum ultraviolet
Butler et al. Inductively coupled plasma-optical emission spectrometry. Application to the determination of alloying and impurity elements in low and high alloy steels
Oldenberg et al. Kinetics of OH radicals as determined by their absorption spectrum III. A quantitative test for free OH; probabilities of transition
US3032654A (en) Emission spectrometer
US3843257A (en) Microwave-excited emission detector
CN113324973B (zh) 一种结合光谱内标的多因素校正拉曼光谱定量分析方法
Mann et al. Spectrophotometric analysis by cross-correlation
Houpt Physical phenomena and analytical applications of helium microwave discharges
McNeal et al. Absolute chemiluminescent reaction rates for emission of the O2 Herzberg bands in oxygen and oxygen–inert‐gas afterglows
Slatvitz et al. Atmospheric-pressure microwave-induced helium plasma spectroscopy for simultaneous multielement gas chromatographic detection
Dawson et al. Background and background correction in analytical atomic spectrometry. Part 1. Emission spectrometry. A tutorial review
Pickett et al. Absolute absorption of ozone in the midinfrared
EP0233694A2 (en) Process and apparatus for analyzing a gaseous mixture and a visible emission spectra generator therefor
Goulden et al. Automatic emission spectrometer for the determination of nitrogen-15
Dingjan et al. A comparative study of two cavities for generating a microwave induced plasma in helium or argon as a detector in gas chromatography
EP0807819A1 (en) Optogalvanic spectroscopy with phase independent detection
JPH01124746A (ja) 窒素含有化合物の分析方法
Goode et al. An experimental study of the signal-to-noise ratio in the microwave-induced plasma gas Chromatographie detector
US3887280A (en) Analytical apparatus and method of analysis
JPH0219717Y2 (ja)
Hirschfeld Integration and" Matched Window" Signal Noise Enhancement of Weak Spectral Peaks
Vasileiadis et al. Kinetics of the reaction: H+ HI→ H2+ I at 298 K and very low pressures
Rossi Isotopic analysis of uranium by an optical spectral method—IV: Study of the suitability of some uranium lines for the absolute determination of isotopic ratios
Khvostikov et al. Investigation of potentialities of atomic fluorescence spectrometry with a tantalum coil atomizer for gas monitoring