JPS6326548A - 粉粒体の付着水分率測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上夏且且分立 この発明は、粉粒体の付着水分率測定装置に関するもの
で、高分子樹脂粉末材料、エンジニャプラスチック、フ
ァインセラミック分野等で利用されるものである。

従来坐肢血 一般の粉粒体の水分率を測定する方法として、従来、次
の３方式が知られている。

（ａ）静電容量式 （ｂ）赤外線式 （０）中性子式 （°シよ゛と　る口　占 従来の静電容量式は、微量水分率の測定に対しては、精
度上不可である。

また、赤外線式では、高分子樹脂材料に対して性状に影
響を与えて不可である。

さらに、中性子式では、放射能被爆対策が必要で取扱上
不可であり、当業界では上記３方式に代る高性能の粉粒
体の付着水分率測定装置が要望されていた。

５　占　　゛　るための この発明は、試料となる粉粒体の出し入れ及び大気の給
排を可能とした気密構造の真空槽と、咳真空槽内を真空
にする真空ポンプと、上記真空槽内に設置された計量機
と、該計１機に載荷・非載荷可能に設けた試料受皿と、
該試料受皿を計量機に載荷・非載荷状態に制御するクラ
ンプ装置と、非載荷状態の受皿に加振撹拌作用を付与す
る加振装置と、上記真空ポンプ、計量機、クランプ装置
及び加振装置を所定の順序で動作させる制御手段とから
なり、一定量の粉粒体を受皿に受け取り、大気圧と常温
化で計量機により初期ＭｉＷ　１を計測させ、次に、受
皿を非載荷状態にして受皿を加振しつつ真空ポンプで真
空槽内を一定時間低温真空とし、試料の低温真空乾燥後
、真空槽内を大気圧及び常温に戻し、加振を止め、再度
受皿を計量機に載荷して真空乾燥後の粉粒体の重量Ｗ２
を計測させ、付算・表示・記録をマイクロコンピュータ
で自動的に行わせたものである。

作且 この発明は、真空槽内を真空にしてい（と、水分の藤発
が活発になって乾燥されることと、マイクロコンピュー
タにより自動計測、演算、表示、記録機能とを利用し、
予め乾燥前の粉粒体の初期重量ｗ１を計測し、乾燥後、
再び粉粒体の重量Ｗ２を計測し、これらの差が乾燥した
水分の全重量であるから、これを粉粒体の重量〔乾燥重
量〕で割り、１００をかけて水分率を求めるようにした
ものである。上記真空乾燥中、受皿を加振させているの
は、粉粒体を均一に乾燥させるためである。

１１皿 第１図は本発明装置の内部構造図、第２図は外観正面図
、第３図はその側面図である。

第１図〜第３図において、（１）は気密構造の真空槽、
（２）は真空ポンプで同一筐体（３）内に区画設置され
ている。真空槽（１）内には計量機（４）、受皿（５）
、クランプ装置（６）、加振装ｆ　（７）が設けられて
いる。

受皿（５）は、クランプ装置（６）を介して針量機（４
）に対して載荷状態〔第１図の鎖線状態参照〕、と非載
荷状態〔第１図の実線状態参照〕とに制御可能とされて
いる。

加振装置（７）は、非載荷状態の受皿（５）に振動撹拌
作用を与えるものである。

第２図及び第３図において、前面下部は操作パヱル、表
示器、プリンタが配列され、（８）は操作スイッチ群、
（９）は表示器、（１０）はプリンタ、（１１）は記録
紙を示し、前面上部は、試料の出し入れのだめの扉（１
２）を備え、真空に耐える構造とされる。

第４図は本発明装置のフローチャートであって、まず、
測定条件の設定として初期セットを行う。測定条件とし
て、真空引時の槽内温度の測定と時間、真空引の時間、
受皿加振時間等のプログラム設定を行う。受皿は計量器
に載荷状態にある。次に、被測定試料となる粉粒体を一
定量、例えば約１００ｇ採取し、受１に載せて槽内にセ
ットし、扉を閉じてプログラムスタートスイッチを押圧
し、あと自動的にプログラム設定に従って作動する。

先ず、粉粒体の初期重量Ｗ１を、自動計測、印字し、低
温制御〔約り℃〕後、受皿を非載荷状態にし、真空ポン
プがスタートして真空槽内の真空引きを行う。所定の真
空度と真空時間ｔ１〔約５分〕、受皿加振時間ｔｚ、（
約５分〕後、真空槽内を大気圧常温に戻し、受Ｉの振動
を止め、受皿を載荷状態とし、乾燥後の粉粒体の重ｔｉ
　Ｗ　２を測定、印字し、直ちに、演算処理印字する。

−通りの計測が完了するとブザーが鳴動し、ｍ　（１１
）の開放も可能となり、試料の取り出しができる。上記
各動作制御は、マイクロコンピュータに行わせるもので
ある。

第５図は上記した本発明装置のプログラムのタイムチャ
ートであって、これらの時間は初期セントの段階で自由
に設定可能とされている。

１皿曵免果 この発明によれば、従来方式では測定し得なかったエン
ジニャプラスチックやファインセラミック分野等に使用
されるあらゆる粉粒体に付着する微量水分率を、被測定
物の性状に影響を与えることなく、短時間で正確に自動
計測可能となワた。また、プリンタにより、データ記録
ができ、外部データ出力を付ければ、品質管理の合理化
を図れるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明装置の内部構造を示す正面図、第２図は
その外観正面図、第３図はその側面図、第４図は本発明
装置のフローチャート図、第５図は本発明のプログラム
のタイムチャートである。 （１）・−真空槽、　　　　（２）−・・真空ポンプ、
（４）・−・・計量機、　　　　（５）・−受皿、（６
）・−・クランプ装置、（７）・−・加振装置。 第１図　　　　　　　第２図 第３図 第５図 手続補正書 １．事件の表示 昭和６１年特許願第１７０４９１号 ２、発明の名称　　粉粒体の付着水分率測定装置３、Ｍ
正をする者 事件との関係　特許出願人 名称　竹本電機計器株式会社 ４、代理人　８５５０ 住　所　　大阪府大阪市西区江戸堀１丁目１５番２６号
６、？！正の内容 図面中、第５図を別紙の通り補正する。 第５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）試料となる粉粒体の出し入れ及び大気の給排を可
   能とした気密構造の真空槽と、該真空槽内を真空にする
   真空ポンプと、上記真空槽内に設置された計量機と、該
   計量機に載荷・非載荷可能に設けた試料受皿と、該試料
   受皿を計量機に載荷・非載荷状態に制御するクランプ装
   置と、非載荷状態の受皿に加振撹拌作用を付与する加振
   装置と、上記真空ポンプ、計量機、クランプ装置及び加
   振装置を所定の順序で動作させる制御手段とからなり、
   一定量の粉粒体を受皿に受け取り、大気圧と常温化で計
   量機により初期重量Ｗ＿１を計測させ、次に、受皿を非
   載荷状態にして受皿を加振しつつ真空ポンプで真空槽内
   を一定時間低温真空とし、試料の低温真空乾燥後、真空
   槽内を大気圧及び常温に戻し、加振を止め、再度受皿を
   計量機に載荷して真空乾燥後の粉粒体の重量Ｗ＿２を計
   測させ、付着水分率ｗ＝〔（Ｗ＿１−Ｗ＿２）／Ｗ＿２
   〕×１００％の演算・表示・記録をマイクロコンピュー
   タで自動的に行わせたことを特徴とする粉粒体の付着水
   分率測定装置。