JPS63265129A - 表示装置の画素検査システム - Google Patents

表示装置の画素検査システム

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JPS63265129A
JPS63265129A JP10089687A JP10089687A JPS63265129A JP S63265129 A JPS63265129 A JP S63265129A JP 10089687 A JP10089687 A JP 10089687A JP 10089687 A JP10089687 A JP 10089687A JP S63265129 A JPS63265129 A JP S63265129A
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JP
Japan
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panel
inspection
area sensor
lighting
pixel
Prior art date
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Pending
Application number
JP10089687A
Other languages
English (en)
Inventor
Toru Tanigawa
徹 谷川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP10089687A priority Critical patent/JPS63265129A/ja
Publication of JPS63265129A publication Critical patent/JPS63265129A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、液晶表示パネルやELパネルに代表される規
則的な画素の配列を有する表示装置の検査システムに関
するもので、特に、表示装置の画素数が多く、通常の■
Tvカメラ等のエリアセンサの分解能だけでは高解像度
の検査が困難な対象に対する画素の点灯検査システムに
関するものである。
〈従来の技術〉 微細加工技術や各種材料の開発に伴って大型かり高密度
表示装置が実用化され、近年では単に情報全表示する機
能を具備するだけに留まらず、微細な画素を用い之高品
質の画像が求められるようになってきた。
表示品質を高めるためには作製し比表示装置の検査が必
要になる。従来装置のように7セグメントLEDや数行
の英数字をドツトマトリックス表示する液晶パネル等の
ように点灯画素数が少なくjた各画素の大きさが比較的
大きい場合には、目視で検査するか、もしくは1台のI
TVカメラで容易に画素の点灯検査を実施することがで
きた。
〈発明が解決しようとする問題点〉 しかし各画素の寸法が目視困難な程にまで微細化し、ま
た一画面の構成に膨大な画素数が求められる表示装置に
あっては、画素の点灯を目視検査することが困難になっ
てきた。
尚、画素数の多い表示装置の検査に高解像度のりニアセ
ンサを用いる方式も考えられるが、入力画像が一次元で
あるためリアルタイムでの検査対象のモニタリングが困
難であり、画像入力に時間が力為かる。カメラと検査対
象との相対位置の調整が難しいという問題があり、更に
は検査対象の全画面を入力してふら後に検査処理を行う
ので検査処理に時間と大容量のメモリ空筒を要する等の
問題点があった。
く問題点を解決する之めの手段〉 本発明は画素数の多い表示装置の画素点灯検査で、特に
目視検査が困難な1画素の面積が小さい表示装置の画素
点灯検査システムにおいて、通常のITV等のエリアセ
ンサを検査対象となる表示装置に対して、相対的にエリ
アセンサがもつ許容入力画面又は、それに近いピッチで
縦もしくは横方向に繰り返し移動させてエリアセンサで
各領域内の画素の点灯状態を検出し、この検出結果から
全範囲に対しての点灯状態を検査する。
ま之検査効率を高めるため、検査時におけるエリアセン
サの各部分の入力画像を量子化した状態で記憶させて画
素検査のtめの信号を形成し、一方あらかじめ検査すべ
きエリアを登録し、その限定されt領域に対して検査処
理を行うことにより高速な画素点灯検査を行う。
〈実施例〉 液晶表示装置に代表される規則的な画素を持つ表示装置
の画素配列方式には、格子状配列や横方向に%ピッチず
らした第8図のようなデルタ配列方式等がある。
本発明の一実施例として、第3図のようなデルタ配列方
式の表示デバイスの検査について、水平方向の画素数が
300以上、垂直方向の画素数が200以上総数6万画
素以上にも′なる高密度表示デバイスの1画素単位での
点灯状態の検査を説明する。この場合表示パネル1枚に
対して必要な検査分解能は、表示画素と表示画素の間に
表示←を用いられないマスク頭載があることや、1画素
内において画素中央部が明るいような輝度分布が存在す
る。検査光学系の焦点ずれ7画像入力センサ数の8倍以
上の検査分解能が必要と考えられる。
第1図に本発明の一実施例に関するシステム構成を示す
。図において、検査対象となる表示パネル4の点灯状態
を入力情報として取り込むためのITVカメラ2がエリ
アセンサとして設けられている。該エリアセンサ2けエ
リアセンサ移動用XYステージ1に搭載され、一方表示
パネル4を支θ 持するパネル位置・姿勢調整用XYQステージ3との間
でエリアセンサ2と表示パネル4との相対的な位置関係
が調整される。
一方上記機構部分等を電気的に制御するため制御回路が
設けられている。該制御回路は上記エリアセンサ移動用
XYステージlを電気的な信号で制御するためのエリア
センサ移動制御回路6.パθ ネル位置・姿勢調整用XY會ステージ3を制御する乏め
の回路7.検査対象パネル4t−検査ステージ位置に送
り込みまた検査済みパネルを検査ステーシカ・ら排出す
るための搬送機構(図示せず)を制御するための回路8
.検査パネル4側の重重に対応する検査装置側電極に信
号を供給して点灯を制御する回路9及び上記エリアセン
サ2から画像入力を取り込んで検査を実行する検査処理
回路10i含んで構成され、これら制御回路6〜10は
システムコントローラー1によって表示パネルの点灯状
態の検査が総合的に制御される。
上記機構部分及び制御回路を以下に動作と共に更に詳細
に説明する。
検査対象パネル4は制御回路8の指令に基いて搬送機構
の駆動によりパネル位置・姿勢調整ステージ8ヘプリア
ライメントされる。プリアライメントされた検査パネル
4は、アライメント光学系を用いて制御回路7の信号の
下に自動もしくけ手θ 動によりパネル位置・姿勢調整用XY+ステージ8を駆
動することにより、指定した位置でかつエリアセンサ移
動用XYステージ1の各軸とパネル画素配列とが平行に
なるように精密に位置合せされる。同時に検査パネル4
の電極部は検査装置電極部とコンタクト可能な位置に位
置決めされ、両電極のコンタクトによりパネル点灯制御
回路9を介して画素点灯検査のための信号をシステムコ
ントローラ11から入力する。
検査対象パネル4は画素点灯検査に必要な分解能になる
ように部分検査エリア5毎に分割検査さレル。即ちエリ
アセンサ2の特性及び検査対象パネル4の大きさ等を考
慮して1つのパネルに対しても必要に応じて部分検査エ
リア5に分割され、複数画素が含まれたエリア5毎に検
査される。
エリアセンサ2の一例としては耐振性があり、画像歪に
よる影響等が少いITVカメラ、特にCCD等の同体撮
像素子を用いるものが望ましい。
エリアセンサ2で入力された画像の一例を第2′図に示
す。同図において、マトリクスに配列された各矩形が画
素に対応し、各画素はX及びY方向の座標によって与え
られ、特に各画素は矩形領域内の中心座標によって与え
られる。中心座標によって与えられた各画素に対して検
査が必要となる領域の情報がXwXYwとして与えられ
る。
エリアセンサ2から入力された画像は、検査処理回路1
0に設けられた量子化回路で量子化され同処理回路に含
まれたメモリ部にアドレス情報と共に一時記憶される。
記憶された入力画像情報は画像メモリ内のX、Y位置の
指定を行うことにより読み出される。
本実施例において、分割された検査エリアのi番目の部
分について検査する場合、表示装置の画素に対応する画
像メモリ上での検査位置は、例えば第1図の表示装置の
画素18に対応する検査位置14は、予めシステムコン
ト・ローラ11に中心位置(xi3−Yi2)及び大き
さXwxYw画率という情報によって登録される。全体
としては入力されeii番目部分検査エリア毎に座標情
報xix、xi2−・・Xim −Yix−Yil” 
Yin’*及び全検査エリアについて大きな情報XW、
Ywが与えられ、エリアセンサ2が表示パネル4面を相
対的に移動することによって入力される画像情報が各位
置情報に対応して記憶される。
上述のようにエリアセンサ2から入力され、量子化され
念情報が上記検査位置情報に対応して画像メモリに記憶
される定め、該記憶され之情報全読み出すことによって
各画素の点灯状態を知ることができる。検査処理回路l
Oにおいて画像メモリの読み出しを制御することによっ
て適宜領域における点灯状態を検査することができる。
さらに検査効率を高めるべく高速処理する場合検査箇所
のエリアXw、Ywをそれぞれlに設定することにより
処理情報を極力少なくして検査処理のより高速化を図り
得る。特に、この方式は、1画素毎にドライブ用TFT
i持つアクティブ方式の液晶表示パネルの1画素量位の
点灯検査や他の表示デバイスにおける1画素の一部が欠
けるような欠陥がほとんどない表示パネルの検査に適し
ている。
また検査処理回路10において、予め検査すべき量子化
記憶画像中の検査エリアを登録することにより、エリア
センサを繰り返し移動させながら入力させる部分検査画
像に対して登録されたエリアのみについて点灯検査処理
を実行し得る。更には、検査エリアに対して、領域に含
まれた中央に位置する画素若しくは最も特性の把握しや
すい選択した位置の量子化記憶画像の1画素をサンプリ
ングして検査することもできる。
〈発明の効果〉 以上述べたように、本発明は規則的な画素の配列により
構成される表示デバイスの検査においてエリアセンサを
表示装置に対して相対的に繰り返し移動させながら検査
処理することにより、通常のITVカメラ等のエリアセ
ンサにおいても表示デバイスの画素毎の点灯状態を高分
解能で検査することができる。
さらに、データ処理範囲を制限することにより効率的に
高速に検査処理を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明゛による一実施例の画素検査システムを
示すブロック図、第2図は同検査システムの動作を説明
するための表示パネルの模式図、第3図は表示パネル上
の画素配列の一例を示す図である。 1:エリアセンサ移動用XYステージ、2:エリアセン
サカメラ、 3:パネル位置・姿勢調整用XYQステージ、4:検査
パネル、  5:部分検査エリア、6:カメラ移動制御
回路、 7:パネル位置・姿勢制御回路、 8:検査パネル搬送制御回路、 9:パネル点灯制御回路、 lO:検査画像入力処理回路、 11ニジステムコントローラ、 13:検査対象画素、 14:検査処理エリア、15:
部分検査面@(部分検査エリア)代理人 弁理士 杉 
山 毅 至(他1名)第1図 第2 望

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)複数画素を2次元に配列してなる表示パネルと、 該表示パネル面の分割された小領域毎に点灯情報を入力
    するエリアセンサと、 該エリアセンサの画像情報入力部を上記表示パネル面に
    対して相対的に移動させる駆動機構と、 上記エリアセンサ出力を位置情報に対応して記憶保持す
    るメモリと、 メモリの内容を読出して表示パネルの点灯状態を検査す
    る回路とを備えてなることを特徴とする表示装置の画素
    検査システム。
JP10089687A 1987-04-23 1987-04-23 表示装置の画素検査システム Pending JPS63265129A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH034120A (ja) * 1989-06-01 1991-01-10 Kanto Seiki Co Ltd 計器の指示値調整方法
JPH03107718A (ja) * 1989-09-20 1991-05-08 Wako Giken Kk リモコン自動検査装置
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JPH0455735A (ja) * 1990-06-25 1992-02-24 Sharp Corp 光透過型表示パネルの検査装置
JP2005062819A (ja) * 2003-08-08 2005-03-10 Photon Dynamics Inc 処理中の大型平板柔軟媒体の搬送と拘束のための高精度気体軸受軸方向分割ステージ

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