JPS63259427A - 放射率および温度の測定装置 - Google Patents

放射率および温度の測定装置

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JPS63259427A
JPS63259427A JP9261187A JP9261187A JPS63259427A JP S63259427 A JPS63259427 A JP S63259427A JP 9261187 A JP9261187 A JP 9261187A JP 9261187 A JP9261187 A JP 9261187A JP S63259427 A JPS63259427 A JP S63259427A
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JP
Japan
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emissivity
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temperature
contribution
distance
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Pending
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JP9261187A
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English (en)
Inventor
Yoshiki Fukutaka
善己 福高
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、鋼板等の測定物体の放射率および温度の測定
装置に関するもので、さらに評言するならば、放射率お
よび温度の測定精度をより高いものとすることを目的と
するものである。
〔従来の技術〕
鋼板等の測定物体の放射率および温度の測定手段として
、従来量も優れていると思われるものとして、本件出願
人が先に出願した特開昭61−210921号公報があ
る。
この特開昭61−210921号公報に示された技術は
、放射源が測定物体に投射する放射エネルギーを変化さ
せる寄与率変化手段を用いて三つの異なった状態につい
ての放射検出器の出力信号の内、任意の二つの信号の差
の比である寄与率の比と寄与率の差とが所定の関係にあ
ることに基づい−て測定物体の放射率を求め、この求め
られた放射率から測定物体の温度を求めるようにしたも
のである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
この特開昭61−210921号公報に示された技術は
、確かに測定物体の大きさとか移動速度に関係なしに、
測定物体の放射率と温度を簡便に測定することができる
のであるが、測定装置と測定物体との距離が変化すると
、測定誤差が大きくなってしまうと云う重大な問題点が
ある。
すなわち、鋼板等の測定物体は、常に一定の高さレベル
を保たれて搬送されているわけではないので、測定物体
をフロータ等で搬送している場合には、この測定物体の
パスラインが大きく変動してしまい、このパスラインの
変動による測定装置と測定物体との距離の変動により、
放射源から測定物体の表面に投射される放射エネルギー
の照射面積が大きく変動することになり、この変動によ
り大きな測定誤差を生じるのである。
本発明は、上記した従来技術における問題点を解消すべ
く創案されたもので、距離の変化による寄与率の変化が
一定関係にあることに着眼し、測定中に距離の変動があ
っても上記した関係を利用して寄与率の距離による変化
分を補償することができるようにすることをその技術的
課題とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
以下、本発明を、本発明の一実施例を示す図面を参照し
ながら説明する。
本発明の手段は、 測定物体1に対して放射エネルギーを投射する放射源2
と、 測定物体lからの放射エネルギーを検出する放射検出器
4と、 放射源2から測定物体1に投射される放射エネルギーの
寄与率を変化させる寄与率変化手段3と、この寄与率変
化手段3と測定物体1との距離を測定する距離計6と、 寄与率変化手段3による少なくとも測定物体1からの放
射エネルギーのみが通過できるようにした状態を含む三
つの異なった状態についての放射検出器4の出力信号の
内、任意の二つの信号の差の比である寄与率の比と寄与
率の差とが、寄与率変化手段3と測定物体1との距離を
パラメータとして所定の関数関係にあることに基づいて
放射率を求め、この放射率から測定物体lの温度を求め
る演算手段5と、 を備えることにある。
〔作用〕
寄与率変化手段3により設定される三つの異なった各状
態における放射検出器4の出力信号E0、El、E2を
求め、この出力信号の差の比、すなわち(El−EO)
 / (Hz−Be)から寄与率の比、すなわちF +
 / F zを求め、また出力信号の差から放射率εを
求める式を得ることができる。
ここで、D−Ft  hと、R=F、/P、との関係を
求めると、第2図に示すようにD=f (L R)で示
される所定の関数関係にあることが実験的に確認された
。それゆえ、寄与率変化手段3と測定物体1との距離l
と、寄与率の比Rとから寄与率の差りを求めることがで
き、この求められた寄与率の差りから放射率εを求める
ことができる。
そして、このようにして求めた放射率εにより測定物体
1の温度Tが求められる。
すなわち、第2図に示すように、予め距離2をパラメー
タとして寄与率の比Rと寄与率の差りとの関数関係を求
めておくと共に、他の測定可能な一定値、例えば放射源
2の放射率εrを求めて演算手段5に入力させておく。
次に、寄与率変化手段3を操作して三つの異なる状態を
設定して放射検出器4の出力信号を得るが、この際、寄
与率変化手段3と測定物体1との距#lを同時に測定し
て演算手段5に供給する。演算手段5は、放射検出器4
からの出力信号に従って寄与率の比Rを求めにと共に、
測定された距離lにおける寄与率の比Rと寄与率の差り
の関係関数に基づいて寄与率の差りを求めるのである。
このように、本発明による測定装置は、距離lの変化に
従って変化する寄与率の差りを、距離2をパラメータと
したD=f (/!、R)の関係関数により求めるので
、測定された放射率εおよび温度Tに距離lの変化によ
る誤差を生じることがなく、常に正しい測定物体lの温
度T測定を達成できることになる。
また、実際の測定物体1のパスラインにおける距離lの
変動は、本発明装置による測温操作に要する時間に比べ
てはるかに緩慢であるので、三つの異なる状態の測温操
作期間中に、距離lが大きく変化することは全くなく、
よって本発明装置による測温操作に際しては、距離lは
最初に検出された値の一定値であるとみなすことができ
、これによって測定操作が簡単なものとなる。
〔実施例〕
第1図図示実施例は、寄与率変化手段3としてシャッタ
手段を使用した例を示すもので、この寄与率変化手段3
は加熱によるそれ自身の放射率の変化を生じないように
冷却が施されている。放射検出器4は、放射源2の中央
に形成された開孔2aを通して測定物体1からの放射エ
ネルギーを検出するように配置されている。寄与率変化
手段3と測定物体1との距離2を測定する距離計6とし
ては、無接触型の距離計が良く、例えば三角測量式レー
ザ距離計等を利用する。放射検出器4からの出力信号、
放射源2の温度を検出する温度検出器20の出力信号、
寄与率変化手段3の背景相当の温度を検出する温度検出
器30の出力信号のそれぞれが供給される演算手段5と
しては、アナログ回路とかマイクロコンピュータとかさ
らにはパーソナルコンピュータ等が使用される。
寄与率変化手段3をほぼ閉として測定物体1からの放射
エネルギーのみが通過できるようにした状態■における
放射検出器4の出力信号E0と、寄与率変化手段3を半
閉状態■とした際における放射検出器4の出力信号E1
と、寄与率変化手段3を開状態■とした際における放射
検出器4の出力信号E2とは、それぞれ実際に測定によ
り求めることができるが、この出力信号E0、El、F
2の物理的な関係式は、 EO=εE (T) + (1−e) E (Ta) 
・・(1)1:、=εE (T) +P、 (1−e)
 er E (Tr)+ (I  P+01−ε)E(
Ta)  ・・(2)Ez=εE (T) +Fz(1
−ε) er E (Tr)+ (I  Fり(1−6
) E(Ta)  ・・(3)で与えられる。
なお、上記各式において、Trは放射源2の温度であり
、erは放射源2の放射率、Taは寄与率変化手段3の
温度であり、F、は状態0時における放射源2からの放
射エネルギーが測定物体1に反射して放射検出器4に入
射する寄与率であり、F2は状態0時における放射源2
からの放射エネルギーが測定物体lに反射して放射検出
器4に入射する寄与率であって、この両寄与率の間には
、状態■に対して状態■の方が開放面積が大きいことか
らして、p+<pgの関係がある。
状態■においては、寄与率変化手段3がほぼ閉状態にあ
ることから、(1)式の右辺第1項は測定物体1自体か
らの放射エネルギーの寄与分、第2項は寄与率変化手段
3からの放射エネルギーの寄与分で、放射源2からの放
射エネルギーは無視できる。同様に、状態■、■時の(
2)、(3)式の右辺第2項は放射源2からの放射エネ
ルギーの寄与分、第3項は寄与率変化手段3からの放射
エネルギーの寄与分である。
(2)式から(1)式を減算すると、 EI  86=FI (1g) er E(Tr)P+
 (1g) E(Ta) が求められ、同様に(3)式から(1)を減算すると、 Et  E(1=F!(1e)  tr E(Tr)F
z (1t ) E(Ta) が求められる。
この両式の比、すなわち出力信号の差の比は、(El 
 Eo) / (F2  EO)  =F+/Fz=R
・ ・ (4) となり、出力の差の比は寄与率の比Rとなるのであるか
ら、演算手段5は出力信号E0、F3、E!から(4)
式の寄与率の比Rを求めるのである。
また、(2)、(3)式〇辺々差し引くと、El  E
z= (PI  F2)(1g)  (εr E (T
r)−E (Ta) ) が得られる。
この式から放射率εは、 t=1(El  82)/ ((PI  F2)  (
εr E(Tr)−E(Ta)))  ・・ (5) で求められることになる。
ここで、寄与率の差D =F、−F2と、寄与率の比R
=F、/F2とは、D=f  (L R)で表される所
定の関数関係にあるので、演算手段5に予め記憶されて
いる距離2をパラメータとした寄与率の差りと寄与率の
比Rとの関数関係から、(5)式の寄与率の差り−F+
  hの項の値を求めることができ、同様に(5)式の
他の項の値は温度検出器20および30からの出力信号
により求まるので、演算手段5はこの(5)式に従って
放射率εを求めることになる。
そして、(1)式から、 E (T)−(F6  (1−e ) E(Ta)) 
/ t・・ (6) であるから、この(6)式に(5)式で求めた放射率ε
を代入することにより測定物体1の温度Tを求める。
なお、第1図に示した実施例においては、寄与率変化手
段3として、放射源2と測定物体lとの間の放射エネル
ギーの通過通路の通路面積を変更および開閉設定するこ
とのできるシャッタ手段を使用した場合を示したが、こ
の寄与率変化手段3としては、単に大きさの異なる開口
を有する遮光板を移動させる構成のものも使用できる。
[発明の効果] 以上の説明から明らかなごと(、本発明による放射率お
よび温度の測定装置は、予め寄与率変化手段と測定物体
との異なる多数の距離をパラメータとした寄与率の差と
寄与率の比との関数関係を求めておき、実測時における
寄与率変化手段と測定物体との距離における寄与率の差
と寄与率の比との関数関係から測定物体の放射率および
温度を測定演算するので、測定物体の距離の変動による
測定誤差の発生を完全に防止することができ、これによ
って測定物体の正しい放射率および温度を測定すること
ができ、また従来のものに比較して距離計を追加しただ
けであるので、その構成も簡単である等優れた効果を発
揮するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明装置の一実施例を示す構成説明図であ
る。 第2図は、寄与率の差と寄与率の比との距離をパラメー
タとした関数関係の一例を示す特性線図である。 符号の説明 1;測定物体、2:放射源、2a;開孔、20;温度検
出器、3;寄与率変化手段、30;温度検出器、4;放
射検出器、5;演算手段、6;距離計。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)測定物体(1)に対して放射エネルギーを投射す
    る放射源(2)と、前記測定物体(1)からの放射エネ
    ルギーを検出する放射検出器(4)と、前記放射源(2
    )から測定物体(1)に投射される放射エネルギーの寄
    与率を変化させる寄与率変化手段(3)と、該寄与率変
    化手段(3)と測定物体(1)との距離を測定する距離
    計(6)と、前記寄与率変化手段(3)による少なくと
    も前記測定物体(1)からの放射エネルギーのみが通過
    できるようにした状態を含む三つの異なった状態につい
    ての前記放射検出器(4)の出力信号の内、任意の二つ
    の信号の差の比である寄与率の比と寄与率の差とが、前
    記寄与率変化手段(3)と測定物体(1)との距離をパ
    ラメータとして所定の関数関係にあることに基づいて放
    射率を求め、該放射率から前記測定物体(1)の温度を
    求める演算手段(5)と、を備えたことを特徴とする放
    射率および温度の測定装置。
  2. (2)寄与率変化手段(3)を、放射源(2)から測定
    物体(1)への放射エネルギーの投射通路の遮断時間を
    任意に設定できるシャッタ手段とした特許請求の範囲第
    1項に記載の放射率および温度の測定装置。
  3. (3)寄与率変化手段(3)を、放射源(2)から測定
    物体(1)への放射エネルギーの投射通路の通路面積を
    任意に変更できる移動可能な遮光板とした特許請求の範
    囲第1項に記載の放射率および温度の測定装置。
JP9261187A 1987-04-15 1987-04-15 放射率および温度の測定装置 Pending JPS63259427A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02245624A (ja) * 1989-03-20 1990-10-01 Chino Corp 放射温度測定装置
JP2013246002A (ja) * 2012-05-24 2013-12-09 Kobe Steel Ltd 被測定板の温度測定装置及び測定温度の補正方法

Cited By (2)

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