JPS63249069A - 異音発生箇所探査装置 - Google Patents

異音発生箇所探査装置

Info

Publication number
JPS63249069A
JPS63249069A JP8264087A JP8264087A JPS63249069A JP S63249069 A JPS63249069 A JP S63249069A JP 8264087 A JP8264087 A JP 8264087A JP 8264087 A JP8264087 A JP 8264087A JP S63249069 A JPS63249069 A JP S63249069A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
time difference
abnormal sound
accelerometers
sound generating
abnormal noise
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8264087A
Other languages
English (en)
Inventor
Keiichi Katayama
圭一 片山
Shigeki Morii
茂樹 森井
Naoyuki Nagai
直之 長井
Mamoru Tsuboi
坪井 守
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP8264087A priority Critical patent/JPS63249069A/ja
Publication of JPS63249069A publication Critical patent/JPS63249069A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
  • Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は例えば火力プラント、化学プラント、各種機器
プラント等に発生する固体音の発生位置を発見する際に
用いられる異音発生箇所探査装置に関する。
[従来の技術] 一般に、上記各プラントの稼動状態の善し悪しを知る方
法の一つとして、正常稼動中における動作音とは異なる
音(異音)の有無を発見する方法がある。つまり異音の
発生箇所には何等かの不具合が生じていると推定できる
からである。この場合、まず異音の発生箇所を発見する
必要があるが単に外観から調査しただけでは発見できな
いことが多いため、現在では下記の方法によっている。
まず異音の発生した機械の表面に、任意の距離ノ(m)
を隔てて検出端を取り付ける。検出端とし、では加速度
計が用いられることが多いが、特に限定はしない。そし
て機械の任意の場所を加振することによって検出端間へ
の波動の到達時間差Δt(sec)を計測する。これよ
り機械中を伝播する波動の伝播速度c(m/s)は次式
で表わされる。
C−ノ/Δt(m/s)        ・・・(1)
ここでは検出信号として加振信号を用いたが実際に機械
から発生している異音を対象としても差し支えない。
次に実際の異音発生箇所を挟む様にして検出端を上記と
同じ要領で取り付け、波動の到達時間差Δt(sec)
を計測すれば、検出端から異音発生源までの短い方の距
離I!i  (m)は、次式で求められる。
、c、l−CΔt ) / 2  (m)     −
(2)実際には(2)式を満たす異音発生箇所の存在範
囲は円又は球となるが、検出端取り付は位置を変えて同
様の手順を繰り返せば、円又は球の交点として異音発生
箇所が求められる。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上記に示した方法で波動の到達時間差Δ
t(−sec)を計測する際には、検出信号の立ち上が
りを比較して求めるために、機械の定常運転時の振動等
暗振動を伴うような場合、あるいは機械要素として結合
部、摺動部を有しており、その部分で立ち上がりの鈍る
ような場合には、波動の立ち上がりを正確に判断するこ
とは非常に困難となる。
また、機械としては数メートル、長くとも数十メートル
のものが多く、固体中を伝播する波動の伝播速度が数千
メートル毎秒であるから、検出しなければならない波動
の到達時間差はミリセックのオーダーである。このこと
から考えても到達時間差をいかに正確に計測するかで異
音発生箇所の推定精度が決定される。
本発明は、上記従来の問題点を解消し、異音発生箇所探
査を精度よく行なうことができる異音発生箇所探査装置
を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段] 本発明による異音発生箇所探査装置は、計n1点間への
波動到達時間差を検出して異音発生箇所を探査する異音
発生箇所探査装置において、異音にケプストラム解析を
適用するためのケプストラム処理回路と、ケプストラム
処理された信号の最大のピーク値から計測点間への波動
到達時間差を検出する時間差検出装置とを具備してなる
ことを特徴とする。
〔作 用] 本発明によれば、異音にケプストラム解析を適用して計
測点間への波動到達時間差をピーク値として検出し、音
速更正と異音発生箇所探査とを短時間で行なうことがで
きるので、従来の波動の立ち上がりの比較によって検出
するのに比べ、大幅にS/Nを向上することができる。
〔実施例] 以下本発明の一実施例を第1図及び第2図に基づいて説
明する。
第2図は本発明の一実施例における異音発生箇所探査装
置を適用する一次元梁状構造物のモデルを示すもので、
同図において、lが配管ダクトでこの配管ダクト1によ
りコンプレッサ2とコンデンサ3とが結合されている。
上記配管l中の符号4が、例えば漏水あるいは内部異物
混入等による異音発生箇所と仮定すると、同図に示すよ
うに異音発生箇所4を挟む場合及び挟まない場合の両ケ
ースを実現するように検出端例えば加速度計5゜6.7
を取り付ける。この操作は耳で判断するなどして十分可
能である。第1図は本発明の一実施例の異音発生箇所探
査装置の構成を示すブロック図であるが、同図中8は伝
播波動の音速を求めるか、異音発生箇所探査を行なうか
によって装置全体を制御するコントローラ、9は複数の
加速度計によって検出されたアナログ信号を、それぞれ
単独にデジタル量に変換する機能を有するサンプルホー
ルド付A/D変換器、10はサンプルホールド付A/D
変換器9によってデジタル化された信号に対して、反射
波を除去できる機能を有する例えばトランジェントエク
スポーネンシャ′ル等のウィンドウ装置、11は複数個
のデジタル信号に対して加算又は減算処理を行なう加減
算器、12はデジタル量として入力された信号に対して
フーリエ変換を行ないその対数を取った後逆フーリエ変
換を行なうというケプストラム処理回路、13はケプス
トラム処理された信号の最大ピーク値を検知して到達時
間差を検出する時間差検出装置、14はコントローラ8
により選択された項目について計算を行なう演算回路、
15は演算回路14により計算された内容をCRTディ
スプレイやプリンタ等に表示は又は印刷する表示部、1
6はインプット又は計算された結果を記憶させておく記
憶装置であり上述の装置とつながっている。
以下この上記実施例の動作について述べる。第2図に示
すように、異音発生箇所4を挟まないように距離ノ3 
(m)だけ離して加速度計6,7が取り付けられている
ものとする。第1図においてコントローラ8を音速更正
のボタンにセットすると、コントローラ8はつぎのよう
に各回路を動かしてゆく 異音が発生すると加速度計6
.7で伝播波動を検出し、サンプルホールドA/D変換
器9により検出信号をデジタル量に変換して取り込む。
取り込まれた信号は記憶装置16の一部に記憶されてお
り必要な時にそこから取り出される。
ウィンドウ装置10を用いてそれぞれ単独に反射波を取
り除いた後に加減算器11を通して2個号の加算信号又
は減算信号をつくる。その信号を時間差検出装置13に
入力するとケプストラム処理回路12によってケプスト
ラムが計算される。第3図に示す如く、ケプストラ“ム
(Cepstrum)の横軸はケフレンシー(Quef
rency )という時間の単位を持った物理量であり
、ピークを示すケフレンシーは到達時間差を表わす。時
間差検出装置13にてケフレンシーの最大値を検出して
波動の到達時間差Δt(sec)が得られると、演算回
路14により音速を次式で計算する。
C−13/Δt (m/ s )      =13)
ここでi3(m)は加速度計間の距離であらかじめ一記
憶装置16の中にインプットしておく。この結果は再び
記憶装置16の中に記憶させた後表示部15上に表示さ
れ、音速更正の処理は悔修)終了する。
次に異音発生箇所探査のため加速度計を2個取り付け、
コントローラ8の異音発生箇所探査のボタンを押すとコ
ントローラ8は時間差検出装置13までは音速更正のと
きと同様に作動させ、到達時間差Δt’  (s e 
c)が求まると次のステップにうつる。音速更正時に求
まり記憶装置16に記憶されている音速C(m/s)を
取り出し、演算回路14で次式により加速度計から異音
発生箇所4までの距離が計算される。
若し11又はノ20ならば、2個の加速度計は異へ 音発生箇所を挟んで取り付けられていないので、表示部
15上に加速度計の取り付は位置を変更するようメツセ
ージを出して終了する。ノ1も12もOでなければ、表
示部15上に加速度計から異音発生箇所までの距離11
* A’ 2を表示して終了する。         
    わ1.;上記システムによって音速更正異音発
生箇所探△ 査までを一連の自動化したものとすることができ、大幅
に所要時間を短縮することができる。
[発明の効果] 以上のように本発明によれば、任意に取り付けた検出端
例えば加速度計の検出信号から、伝播波動の音速更正と
異音発生箇所探査を同時に精度よく行なうことができる
コンパクトな異音発生箇所探査装置を提供できる等の優
れた効果が奏せられる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の異音発生箇所探査装置の構
成を示すブロック図、第2図は本発明の一実施例に係わ
る異音発生箇所探査装置を適用するモデルを示した図、
第3図は本発明の一実施例におけるケプストラム処理に
よる到達時間差検出例を示した図である。 12・・・ケプストラム処理回路、13・・・時間差検
出回路、14・・・演算回路、15・・・表示部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 計測点間への波動到達時間差を検出して異音発生箇所を
    探査する異音発生箇所探査装置において、異音にケプス
    トラム解析を適用するためのケプストラム処理回路と、
    ケプストラム処理された信号の最大のピーク値から計測
    点間への波動到達時間差を検出する時間差検出装置とを
    具備してなることを特徴とする異音発生箇所探査装置。
JP8264087A 1987-04-03 1987-04-03 異音発生箇所探査装置 Pending JPS63249069A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8264087A JPS63249069A (ja) 1987-04-03 1987-04-03 異音発生箇所探査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8264087A JPS63249069A (ja) 1987-04-03 1987-04-03 異音発生箇所探査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63249069A true JPS63249069A (ja) 1988-10-17

Family

ID=13780027

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8264087A Pending JPS63249069A (ja) 1987-04-03 1987-04-03 異音発生箇所探査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63249069A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07333331A (ja) * 1994-06-14 1995-12-22 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency 相関による音響位置測定装置
JP2013195405A (ja) * 2012-03-22 2013-09-30 Fujitsu Ltd 位置推定方法、装置及びプログラム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07333331A (ja) * 1994-06-14 1995-12-22 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency 相関による音響位置測定装置
JP2013195405A (ja) * 2012-03-22 2013-09-30 Fujitsu Ltd 位置推定方法、装置及びプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102323514B1 (ko) 볼트 축력 측정방법
JP3449194B2 (ja) 回転機器の異常診断方法およびその装置
CA1303204C (en) Acoustic emission leak source location
JP4693516B2 (ja) 重量測定方法
JPH10508354A (ja) 回転機械を自動的に均衡させるための方法及び装置
JP2000214052A (ja) 異常音検出システム及び記録媒体
JP3020349B2 (ja) 異常検出方法及び装置
Wu et al. An order-tracking technique for the diagnosis of faults in rotating machineries using a variable step-size affine projection algorithm
KR100436573B1 (ko) 진동 및 소음품질 자동검사장치
JPS63249069A (ja) 異音発生箇所探査装置
JPS63266318A (ja) 異音発生箇所探査装置
JPH08261817A (ja) 回転機械のラビング判定方法およびその装置
US11624687B2 (en) Apparatus and method for detecting microcrack using orthogonality analysis of mode shape vector and principal plane in resonance point
JPH0493653A (ja) Aeセンサの動的応答特性測定法
JP3055788B2 (ja) 振動特性解析方法及び装置
JPH0750144B2 (ja) 部分放電位置標定方法
JPH0989701A (ja) 圧力校正装置
JP2007218669A (ja) 異常検出装置およびプログラム
JPH01114725A (ja) 異音発生箇所探査装置
JP2002214209A (ja) 欠陥診断装置
CN110274957B (zh) 一种大阻尼层合结构界面粘接质量检测方法
Mastrodicasa et al. DIC Using Low Speed Cameras on a Scaled Wind Turbine Blade
Lyu et al. Operational Modal Analysis and Baseline-Free Damage Detection of a Beam Under Random Excitation via a Novel Demodulation Method With a Reference Signal
JP2000292302A (ja) 異常箇所検出装置
Bitter et al. On high-resolution pressure amplitude and phase measurements comparing fast-response pressure transducers and unsteady pressure-sensitive paint