JPS63246656A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS63246656A JPS63246656A JP62080077A JP8007787A JPS63246656A JP S63246656 A JPS63246656 A JP S63246656A JP 62080077 A JP62080077 A JP 62080077A JP 8007787 A JP8007787 A JP 8007787A JP S63246656 A JPS63246656 A JP S63246656A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、金属などの固体中の傷などを非破壊で探す超
音波探傷装置に関するものである。
音波探傷装置に関するものである。
従来の技術
最近、固体中の傷など、内部状態を非破壊で検出する超
音波探傷装置が急速に発展し、実用化されている。この
従来の超音波探傷装置としては、例えば、「超音波技術
便覧」日刊工業新聞社などに記載されている構成が知ら
れている。以下、従来の超音波探傷装置について説明す
る。
音波探傷装置が急速に発展し、実用化されている。この
従来の超音波探傷装置としては、例えば、「超音波技術
便覧」日刊工業新聞社などに記載されている構成が知ら
れている。以下、従来の超音波探傷装置について説明す
る。
金属などの被検物体の表面に送波装置の送波トランスデ
ューサを付着させ、これより被検物体に超音波(多くは
縦波)を送波し、被検物体中で反射、散乱1回折した超
音波を受波装置の受波トランスデューサで受ける(送波
と受波のトランスデューサが同一の場合も多い)。超音
波の伝播路中に傷などの欠陥がある場合、この傷などに
より超音波が反射、散乱、回折などしてそれが受波装置
により受波され、受信信号となる。そして受信信号に正
常では見られない信号を検出することにより、被検物体
中の傷や欠陥などを検出することができる。
ューサを付着させ、これより被検物体に超音波(多くは
縦波)を送波し、被検物体中で反射、散乱1回折した超
音波を受波装置の受波トランスデューサで受ける(送波
と受波のトランスデューサが同一の場合も多い)。超音
波の伝播路中に傷などの欠陥がある場合、この傷などに
より超音波が反射、散乱、回折などしてそれが受波装置
により受波され、受信信号となる。そして受信信号に正
常では見られない信号を検出することにより、被検物体
中の傷や欠陥などを検出することができる。
発明が解決しようとする問題点
しかし、以上のような従来の構成では、以下に述べるよ
うな問題点があった。
うな問題点があった。
上述した受信信号は被検物体からの数多くの信号が重畳
している。すなわち、被検物体の端面の超音波反射によ
る信号や、端面で反射した超音波が本来の伝播方向と異
なる方向に伝播して被検物体の本来の伝播方向と異なる
部分での反射、散乱による信号などが混じるため、数個
以上の信号がしばしば重畳し、それらの信号を分離する
ことが困難なために傷や欠陥の判定が困難となる事が多
い。また、被検物体に具体的な割れなどの欠陥が生じる
前段階の大きな歪や応力が発生した状態では大きな反射
、散乱などが生ぜず判定が困難であった。
している。すなわち、被検物体の端面の超音波反射によ
る信号や、端面で反射した超音波が本来の伝播方向と異
なる方向に伝播して被検物体の本来の伝播方向と異なる
部分での反射、散乱による信号などが混じるため、数個
以上の信号がしばしば重畳し、それらの信号を分離する
ことが困難なために傷や欠陥の判定が困難となる事が多
い。また、被検物体に具体的な割れなどの欠陥が生じる
前段階の大きな歪や応力が発生した状態では大きな反射
、散乱などが生ぜず判定が困難であった。
そこで、本発明は、被検物体中の傷や欠陥を明確に判定
することができ、また割れなどの欠陥が生じる前段階の
大きな歪や応力の状態も検出することができるようだし
た超音波探傷装置を提供しようとするものである。
することができ、また割れなどの欠陥が生じる前段階の
大きな歪や応力の状態も検出することができるようだし
た超音波探傷装置を提供しようとするものである。
問題点を解決するだめの手段
そして上記問題点を解決するための本発明の技術的な手
段は、同一伝播方向で異なる複数変位方向の偏波を有す
る超音波を固体の被検物体中に送波する送波装置と、上
記各超音波に対応する受信信号を独立に受波する受波装
置と、この受波装置で受けた受波信号の偏波による差異
を検出する信号処理装置とを備えたものである。
段は、同一伝播方向で異なる複数変位方向の偏波を有す
る超音波を固体の被検物体中に送波する送波装置と、上
記各超音波に対応する受信信号を独立に受波する受波装
置と、この受波装置で受けた受波信号の偏波による差異
を検出する信号処理装置とを備えたものである。
作 用
上記技術的手段による作用は次のようになる。
すなわち、被検物体中に同一伝播方向で異なる複数変位
方向の偏波を有する超音波を送波し、被検物体中で反射
、散乱1回折、透過などしだ受波信号を受波装置により
受け、各受波信号の偏波による差異を信号処理装置によ
り検出するので、数多くの重畳した信号を区別し、被検
物本中の傷、欠陥、歪などを判定することができる。
方向の偏波を有する超音波を送波し、被検物体中で反射
、散乱1回折、透過などしだ受波信号を受波装置により
受け、各受波信号の偏波による差異を信号処理装置によ
り検出するので、数多くの重畳した信号を区別し、被検
物本中の傷、欠陥、歪などを判定することができる。
実施例
以下、図面を参照しながら本発明の実施例について説明
する。
する。
まず、本発明の第1実施例について説明する。
第1図は本発明の第1実施例における超音波探傷装置を
示す構成図である。第1図において、1は超音波の送波
装置で、几Fパルス発生器2、送波トランスデユーサ3
、送波切換器4より構成されている。5は超音波の受波
装置で、受波トランスデューサ6、受波切換器7.アン
プ8よシ構成されている。9は信号処理装置、10は固
体の被検物体。11は送波装置1より被検物体10中に
送波された超音波、12は被検物体10の溝、13は被
検物体10の欠陥、14は検出信号である。
示す構成図である。第1図において、1は超音波の送波
装置で、几Fパルス発生器2、送波トランスデユーサ3
、送波切換器4より構成されている。5は超音波の受波
装置で、受波トランスデューサ6、受波切換器7.アン
プ8よシ構成されている。9は信号処理装置、10は固
体の被検物体。11は送波装置1より被検物体10中に
送波された超音波、12は被検物体10の溝、13は被
検物体10の欠陥、14は検出信号である。
次に上記実施例の動作について説明する。
、 送波装置1の送波トランスデユーサ3より発生し
た超音波11は被検物体10の中で反射、散乱、回折、
透過などして受波装置5の受波トランスデユーサ6によ
り受波される。ここで、図示例のように被検物体10の
溝12が欠陥13と近接するような場合には、欠陥13
よりの反射超音波A′と溝12による反射超音波B′は
受波装置5で受けるとほぼ同時に受信信号となって重畳
し、非常に区別が困難となり、欠陥13の有無を判定す
ることができない。しかし、固体の被検物本10中を伝
播する超音波で横波は一般に偏波する性質がある。
た超音波11は被検物体10の中で反射、散乱、回折、
透過などして受波装置5の受波トランスデユーサ6によ
り受波される。ここで、図示例のように被検物体10の
溝12が欠陥13と近接するような場合には、欠陥13
よりの反射超音波A′と溝12による反射超音波B′は
受波装置5で受けるとほぼ同時に受信信号となって重畳
し、非常に区別が困難となり、欠陥13の有無を判定す
ることができない。しかし、固体の被検物本10中を伝
播する超音波で横波は一般に偏波する性質がある。
そこで、本発明においては、切換器4で送波トランスデ
ューサ3を切換えることにより同一伝播方向で、異なる
2つの偏波した横波を発生可能にしてあり、例えば始め
に図中に示すX方向に変位方向がある偏波の横波を送波
するために、送波切換器4と受波切換器7を接点aに接
続して装置全体を働かせ、受波装置5で受信した信号を
信号処理装置9に送り、その受信信号をデジタル化して
メモリなどに記録しておく。次に、X方向に変位方向が
ある偏波の横波を送波または受波するために、送波切換
器4と受波切換器7を接点すに接続して装置全体を働か
せ、受信した信号を信号処理装置9に送り、先に記録し
たX方向変位の受信信号と比較する。溝12などの平担
で超音波の伝播方向と垂直な面からの反射はX方向偏波
とX方向偏波で同じため、受信信号はX方向偏波とX方
向偏波で差異を生じない。しかし、一般に超音波11の
伝播方向と垂直でない傾いた面の反射は偏波面により反
射率が異り、欠陥13などのように不規則な表面を持つ
場合は傾いた多くの面の集合体であるため1反射率が偏
波面により異なる(反射の振幅や位相が異なる)。その
ため、受信信号の振幅や位相に差異を生ずる。これによ
り、欠陥13か溝12かの判定が可能となる。ここでは
溝12を例にとって説明したが、溝以外でも本来の被検
物体10の構成の一部と近接した欠陥などに有効である
。
ューサ3を切換えることにより同一伝播方向で、異なる
2つの偏波した横波を発生可能にしてあり、例えば始め
に図中に示すX方向に変位方向がある偏波の横波を送波
するために、送波切換器4と受波切換器7を接点aに接
続して装置全体を働かせ、受波装置5で受信した信号を
信号処理装置9に送り、その受信信号をデジタル化して
メモリなどに記録しておく。次に、X方向に変位方向が
ある偏波の横波を送波または受波するために、送波切換
器4と受波切換器7を接点すに接続して装置全体を働か
せ、受信した信号を信号処理装置9に送り、先に記録し
たX方向変位の受信信号と比較する。溝12などの平担
で超音波の伝播方向と垂直な面からの反射はX方向偏波
とX方向偏波で同じため、受信信号はX方向偏波とX方
向偏波で差異を生じない。しかし、一般に超音波11の
伝播方向と垂直でない傾いた面の反射は偏波面により反
射率が異り、欠陥13などのように不規則な表面を持つ
場合は傾いた多くの面の集合体であるため1反射率が偏
波面により異なる(反射の振幅や位相が異なる)。その
ため、受信信号の振幅や位相に差異を生ずる。これによ
り、欠陥13か溝12かの判定が可能となる。ここでは
溝12を例にとって説明したが、溝以外でも本来の被検
物体10の構成の一部と近接した欠陥などに有効である
。
次に本発明の第2実施例について説明する。第2図は本
発明の第2実施例を示す構成図である。
発明の第2実施例を示す構成図である。
第2図において、第1図と同一部材については同一符号
を付してその説明を省略する。
を付してその説明を省略する。
本実施例においては、送波装置1の送波トランスデュー
サ3と受波装置5の受波トランスデユーサ6が被検物体
10を介して互いに対向するように配置されている。図
中、15は被検物本10中の応力が入った応力領域、1
6は内部応力方向を示している。
サ3と受波装置5の受波トランスデユーサ6が被検物体
10を介して互いに対向するように配置されている。図
中、15は被検物本10中の応力が入った応力領域、1
6は内部応力方向を示している。
次に上記実施例の動作について説明する。
被検物体10の内部に大きな応力や歪が生じた応力領域
15が発生しているだけの場合には、超音波はほとんど
反射や散乱されず、また透過する超音波の振幅にも変化
を生じないため、従来は検出が非常に困難であった。し
かし、本発明においては、上記第1実施例で説明したと
同様に送波と受波の切換器4と7を接点aに接続し、X
方向変位の偏波した横波で送波装置1から超音波11を
被検物体10に送波し、この超音波11を受波装置5で
受信し、この受信信号を信号処理装置9に記録する。次
に送波と受波の切換器4と7を接点すに接続し、X方向
変位の偏波した横波で送波装置1から超音波11を被検
物t*10に送波し、この超音波11を受波装置5で受
信し、この受信信号と先に記録されたX方向変位の受信
信号とを比咬する。応力領域15に例えばX方向に内部
応力方向16があるとすると、被検物体10はX方向偏
波の横波とX方向偏波の横波の速度が応力領域15では
わずかに異なってくるため、X方向とX方向の偏波の受
信信号で送信から受信までの時間が少し異なる事になる
。このわずかな時間差は通常、受信信号の位相の差とな
って表われるため、信号処理装置9により上記の異なる
偏波の信号の位相を比較することにより内部応力の検出
が可能となる。
15が発生しているだけの場合には、超音波はほとんど
反射や散乱されず、また透過する超音波の振幅にも変化
を生じないため、従来は検出が非常に困難であった。し
かし、本発明においては、上記第1実施例で説明したと
同様に送波と受波の切換器4と7を接点aに接続し、X
方向変位の偏波した横波で送波装置1から超音波11を
被検物体10に送波し、この超音波11を受波装置5で
受信し、この受信信号を信号処理装置9に記録する。次
に送波と受波の切換器4と7を接点すに接続し、X方向
変位の偏波した横波で送波装置1から超音波11を被検
物t*10に送波し、この超音波11を受波装置5で受
信し、この受信信号と先に記録されたX方向変位の受信
信号とを比咬する。応力領域15に例えばX方向に内部
応力方向16があるとすると、被検物体10はX方向偏
波の横波とX方向偏波の横波の速度が応力領域15では
わずかに異なってくるため、X方向とX方向の偏波の受
信信号で送信から受信までの時間が少し異なる事になる
。このわずかな時間差は通常、受信信号の位相の差とな
って表われるため、信号処理装置9により上記の異なる
偏波の信号の位相を比較することにより内部応力の検出
が可能となる。
以上述べたように、被検物体10:の構造の一部と近接
した判別困難な欠陥や傷の判別や、内部応力や歪の大き
く入った状態の検出が可能となる。
した判別困難な欠陥や傷の判別や、内部応力や歪の大き
く入った状態の検出が可能となる。
なお、上記第1実施例では、送波トランスデューサ3と
受波トランスデユーサ6を別にしであるが、同一のトラ
ンスデユーサを電子的に切換えて使用することも可能で
ある。また上記各実施例では、直線偏差の直交する2つ
の横波を使用した場合について説明したが、この他、右
回りや左回りの円偏波や橢円偏波などを使用することも
できる。
受波トランスデユーサ6を別にしであるが、同一のトラ
ンスデユーサを電子的に切換えて使用することも可能で
ある。また上記各実施例では、直線偏差の直交する2つ
の横波を使用した場合について説明したが、この他、右
回りや左回りの円偏波や橢円偏波などを使用することも
できる。
次に、送波、受波トランスデユーサ3.6の具体例につ
いて第3図(a)〜(C)を参照しながら説明する。第
3図(a)〜(C)はトランスデユーサの構成図で、同
図(a)は平面図、同図(b)は正面図、同図fc)は
底面図である。
いて第3図(a)〜(C)を参照しながら説明する。第
3図(a)〜(C)はトランスデユーサの構成図で、同
図(a)は平面図、同図(b)は正面図、同図fc)は
底面図である。
第3図に示すように第1の圧電振動子31と第2の圧電
撮動子32とより構成されている。第1の圧電振動子3
1はXカットのLiNbO3板などの圧電材料よりなる
第1の圧電層33の両面に電極34が設けられ、第1の
変位方向37のように変位振動する。第2の圧電振動子
32は上記第1の圧電層33と90’回転した方向の圧
電材料よりなる第2の圧電層35の両面に電極34が設
けられ、第2の変位方向38のように変位移動する。
撮動子32とより構成されている。第1の圧電振動子3
1はXカットのLiNbO3板などの圧電材料よりなる
第1の圧電層33の両面に電極34が設けられ、第1の
変位方向37のように変位振動する。第2の圧電振動子
32は上記第1の圧電層33と90’回転した方向の圧
電材料よりなる第2の圧電層35の両面に電極34が設
けられ、第2の変位方向38のように変位移動する。
これら第1と第2の圧電振動子31と32は一体化され
、電極34より端子36a、36b、3’6cが引出さ
れている。
、電極34より端子36a、36b、3’6cが引出さ
れている。
そして端子36a、36b間経高周波電気信号を印加す
ると、第1の圧電振動子31より第1の変位方向37の
偏波を持つ横波を発生させ、端子36b、36c間に高
周波電気信号を印加すると、第2の圧電振動子32より
第2の変位方向38の偏波を持つ横波を発生させること
ができる。上記と逆の原理で、第1の圧電振動子31に
より第1の変位方向の崩波を検出し、端子36a、36
b間に電気的に出力し、第2の圧電振動子32により第
2の変化方向の横波を検出し、端子36b、36a間に
電気的に出力することができる。このトランスデューサ
は被検物体10の表面に樹脂接着したり、粘性の高い材
料を間に入れて被検物体100表面に押付けたりするこ
とにより送波や受波のトランスデユーサとして使用する
ことができる。
ると、第1の圧電振動子31より第1の変位方向37の
偏波を持つ横波を発生させ、端子36b、36c間に高
周波電気信号を印加すると、第2の圧電振動子32より
第2の変位方向38の偏波を持つ横波を発生させること
ができる。上記と逆の原理で、第1の圧電振動子31に
より第1の変位方向の崩波を検出し、端子36a、36
b間に電気的に出力し、第2の圧電振動子32により第
2の変化方向の横波を検出し、端子36b、36a間に
電気的に出力することができる。このトランスデューサ
は被検物体10の表面に樹脂接着したり、粘性の高い材
料を間に入れて被検物体100表面に押付けたりするこ
とにより送波や受波のトランスデユーサとして使用する
ことができる。
なお、被検物体10に上記トランスデユーサの第2の、
圧電撮動子32側の底面を付けると、第1の圧電振動子
31の撮動は第2の圧電撮動子32を通過して被検物体
10に入るので、第2の圧電撮動子を超音波が通過する
時間遅れる。この遅れは遅延時間を偏波方向で厳密に比
較する時は問題となるが、この遅延時間は一定であるの
で、事前に測定して比較の時の補正をすれば良く、本質
的な問題とはならない。この事は受波トランスデユーサ
として使用した時にも言える。また第1の圧電撮動子3
1と第2の圧電振動子32に位相差や据咥差を持った高
周派電気信号を印すロすることにより、右回りや左回り
の円偏波や橢円偏波の送波が可能な送波トランスデュー
サとしても動作させ、逆の原理で、第1の圧電振動子3
1と第2の圧電振動子32の電気信号を位相差や振幅差
を与えて加算することにより右回りや左回りの円偏波や
橢円偏波の受波が可能な受波トランスデューサとして動
作させることができる。
圧電撮動子32側の底面を付けると、第1の圧電振動子
31の撮動は第2の圧電撮動子32を通過して被検物体
10に入るので、第2の圧電撮動子を超音波が通過する
時間遅れる。この遅れは遅延時間を偏波方向で厳密に比
較する時は問題となるが、この遅延時間は一定であるの
で、事前に測定して比較の時の補正をすれば良く、本質
的な問題とはならない。この事は受波トランスデユーサ
として使用した時にも言える。また第1の圧電撮動子3
1と第2の圧電振動子32に位相差や据咥差を持った高
周派電気信号を印すロすることにより、右回りや左回り
の円偏波や橢円偏波の送波が可能な送波トランスデュー
サとしても動作させ、逆の原理で、第1の圧電振動子3
1と第2の圧電振動子32の電気信号を位相差や振幅差
を与えて加算することにより右回りや左回りの円偏波や
橢円偏波の受波が可能な受波トランスデューサとして動
作させることができる。
発明の効果
以上述べたように本発明によれば、送波装置より同一伝
播方向で異なる複数の変位方向の偏波を有する超音波を
固体の被検物本中に送波し、各受波信号を受波装置によ
り独立に受波し、信号処理装置により各受波信号の偏波
による差異を検出するようにしているので、被検物本中
の欠陥や傷を明確に判別することができ、また内部の応
力状態、 も検出することができる。
播方向で異なる複数の変位方向の偏波を有する超音波を
固体の被検物本中に送波し、各受波信号を受波装置によ
り独立に受波し、信号処理装置により各受波信号の偏波
による差異を検出するようにしているので、被検物本中
の欠陥や傷を明確に判別することができ、また内部の応
力状態、 も検出することができる。
第1図は本発明の第1実施例における超音波探傷装置を
示す構成図、第2図は本発明の第2実施例を示す構成図
、第3図(a)〜(C1は本発明に用いるトランスデュ
ーサの具体例を示し、同図(a)は平面図、同図(bJ
は正面図、同図1(Aは底面図である。 1・・・送波装置、2・・・nFパルス発生器、3・・
・送波トランスデューサ、4・・・送波切換器、5・・
・受波装置、6・・・受波トランスデユーサ、7・・・
受波切換器、8・・・アンプ、9・・・信号処理装置、
10・・・被検物体、11・・・超音波、13・・・欠
陥、31・・・第1の圧電振動子、32・・・第2の圧
電撮動子、33・・・第1の圧電層、34・・・電極、
35・・・第2の圧電層。 36a、36b、36c ・一端子。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
蓼 第2図 5v我峡1 第3図 33菊z、71文盛方梠
示す構成図、第2図は本発明の第2実施例を示す構成図
、第3図(a)〜(C1は本発明に用いるトランスデュ
ーサの具体例を示し、同図(a)は平面図、同図(bJ
は正面図、同図1(Aは底面図である。 1・・・送波装置、2・・・nFパルス発生器、3・・
・送波トランスデューサ、4・・・送波切換器、5・・
・受波装置、6・・・受波トランスデユーサ、7・・・
受波切換器、8・・・アンプ、9・・・信号処理装置、
10・・・被検物体、11・・・超音波、13・・・欠
陥、31・・・第1の圧電振動子、32・・・第2の圧
電撮動子、33・・・第1の圧電層、34・・・電極、
35・・・第2の圧電層。 36a、36b、36c ・一端子。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
蓼 第2図 5v我峡1 第3図 33菊z、71文盛方梠
Claims (3)
- (1)同一伝播方向で異なる複数変位方向の偏波を有す
る超音波を固体の被検物体中に送波する送波装置と、上
記各超音波に対応する受波信号を独立に受波する受波装
置と、この受波装置で受けた各受波信号の偏波による差
異を検出する信号処理装置とを備えたことを特徴とする
超音波探傷装置。 - (2)送波装置と受波装置のトランスデューサが一体化
されている特許請求の範囲第1項記載の超音波探傷装置
。 - (3)送波装置と受波装置のトランスデューサが第1の
変位方向に変位振動する第1の圧電振動子と、この第1
の圧電振動子の変位方向と直交する第2の変位方向に変
位振動する第2の圧電振動子を一体化している特許請求
の範囲第1項または第2項記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62080077A JPS63246656A (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62080077A JPS63246656A (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63246656A true JPS63246656A (ja) | 1988-10-13 |
Family
ID=13708149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62080077A Pending JPS63246656A (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63246656A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009534651A (ja) * | 2006-04-20 | 2009-09-24 | ヴェクトロン インターナショナル,インク | 高圧環境用の電気音響センサ |
CN111795931A (zh) * | 2020-07-06 | 2020-10-20 | 武汉理工大学 | 一种针对激光超声缺陷检测衍射回波信号的重构提取方法 |
-
1987
- 1987-04-01 JP JP62080077A patent/JPS63246656A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009534651A (ja) * | 2006-04-20 | 2009-09-24 | ヴェクトロン インターナショナル,インク | 高圧環境用の電気音響センサ |
CN111795931A (zh) * | 2020-07-06 | 2020-10-20 | 武汉理工大学 | 一种针对激光超声缺陷检测衍射回波信号的重构提取方法 |
CN111795931B (zh) * | 2020-07-06 | 2023-07-04 | 武汉理工大学 | 一种针对激光超声缺陷检测衍射回波信号的重构提取方法 |
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