JPS63244418A - 光ピツクアツプ - Google Patents

光ピツクアツプ

Info

Publication number
JPS63244418A
JPS63244418A JP62078989A JP7898987A JPS63244418A JP S63244418 A JPS63244418 A JP S63244418A JP 62078989 A JP62078989 A JP 62078989A JP 7898987 A JP7898987 A JP 7898987A JP S63244418 A JPS63244418 A JP S63244418A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
interference
order diffracted
diffracted light
order
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62078989A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Nose
野勢 彰士
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaha Corp
Original Assignee
Yamaha Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamaha Corp filed Critical Yamaha Corp
Priority to JP62078989A priority Critical patent/JPS63244418A/ja
Publication of JPS63244418A publication Critical patent/JPS63244418A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/13Optical detectors therefor

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光デイスク媒体からの反射回折光を検出す
る光ピックアップに関し、特に、RF信号検出、フォー
カス誤差信号検出およびトラッキング誤差信号検出を合
わせて行なうようにしたものに関する。
〔従来の技術〕
ビデオディスク(VD)、コンパクトディスク(CD)
、記録再生(D RAW ; Direct Read
After Write )ディスクなどの光デイスク
媒体には、非常に狭い間隔(例えばCDでは1.6μm
間隔)でトラックが形成されており、このトラック上の
ピットにレーザ光を照射することにより情報の再生など
がなされる。ところが、媒体を微視的に見ると、多かれ
少なかれ偏心しながら回転しているのが現実でおる。そ
こで、多数のトラックの中から所定のトラックを選び出
してレーザ光を照射するに際して、トラッキング誤差を
検出して正確なトラッキングを行なうことか必要になる
このような目的に用いられるトラッキング誤差の検出方
式としては、大別すると3ビ一ム方式と1ビ一ム方式が
知られており、1ビ一ム方式には、プッシュプル法、ヘ
テロダイン法および時間差検出法がある。ここで、1ビ
一ム方式は媒体におけるレーザ光のビームパワーを大き
くとることかでき、その中のプッシュプル法は誤差検出
装置の構成を簡単にできるなどの特徴がある。
また、光ピックアップの対物レンズは焦点深度が±1μ
m程度しかなく、反面、媒体には反りや面振れかあるの
でフォーカシングを行なうことが必要となる。フォーカ
ス誤差の検出方式として非点収差法、臨界角検出法およ
びナイフェツジプリズム法などが知られている。ここで
、非点収差法は光学系を小型化できるだけでなく、フォ
ーカス点の検出感度を高くとれるという利点がある。
以下、プッシュプル法によるトラッキング誤差検出と、
非点収差法によるフォーカス誤差検出とを、第5図を参
照して簡単に説明する。同図に示すように1、光源(半
導体レーザ)1からのレーザ光は、コリメータレンズ2
、プリズム3、偏光ビームスプリッタ4、λ/4板5お
よび対物レンズ6を介してディスク7に照射される。そ
して、ディスク7で反射し回折されたレーザ光ビームは
、同一の経路を戻って偏光ビームスプリッタ4で光路変
更され、検出レンズ8を介してハーフミラ−9に入射さ
れる。ハーフミラ−9を通過した光はシリンドリカルレ
ンズ゛10を介してフォーカス用光検出器11で光量検
出され、ハーフミラ−9で光路変更された光はトラッキ
ング用光検出器12で光量検出される。
ここで、媒体7のトラックにはピットの凹凸が存在して
いるので、大剣レーザ光のビームスポットと前記ピット
どの位置関係により反射レーザ光には様々な回折が生じ
る。入射レーザ光のビームスポットかピットに対して位
置ずれすると、回折光の干渉により反射レーザ光の光強
度分布が変化し、これを2分割されたトラッキング用光
検出器12の受光面で検出し、この検出光量を電気信号
に変換し、例えば差動増幅器(AMP>で比較すれば、
トラッキングを正確に行なうためのトラッキング誤差信
号を得ることができる。
また、フォーカス用光検出器11の前面にはシリンドリ
カルレンズ10が設(プられているので、対物レンズ6
と媒体7の距離に応じて、レーザ光のビームスポット形
状が円形になったり、楕円形になったりする。そこで、
4分割されたフォーカス用光検出器12てこの光量を検
出して比較すれば、フォーカスを正確にとるためのフォ
ーカス誤差信号を得ることができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
、上述のようにプッシュプル法で得られたトラッキング
誤差信号は、通常は対物レンズ4をトラッキングシフト
させるために用いられる。ところが、対物レンズ4をシ
フトさせると、2分割のトラッキング用光検出器12の
受光面における回折光のビームスポットもシフトしてし
まい、トラッキング誤差信号にオフセットが現われてい
た。このため、充分なトラッキング追従性能が得られず
、従来装置における対物レンズ4の最大シフト量は±1
00〜150μmに止まっていた。
また、上述の従来方式では、フォーカス用とトラッキン
グ用の2種の光検出器が必要になるだけでなく、光路分
岐のためのハーフミラ−なども必要になり、ヘッドの大
型化や重量化を招いていた。
この発明は、上述の点に鑑みてなされたもので、トラッ
キング追従の性能を大幅に改善すると共に、ヘッドの小
型、軽量化をも合わせて実現することのできる、光ピッ
クアップを提供しようとするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る光ピックアップは、媒体からの0次回折
光、+1次回折光および一1次回折光を検出するための
受光面が、0次回折光のビームスポットの中心に対して
4等分に分割され、かつ、この受光面は、0次回折光と
+1次回折光の干渉領域内に配設される第1の干渉光受
光面と、0次回折光と一1次回折光の干渉領域内に配設
される第2の干渉光受光面とを更に含み、第1および第
2の干渉光受光面は、対物レンズのシフトにより干渉領
域がシフトしたときにもこの干渉領域から逸脱しないよ
う、その面積および位置が設定されていることを特徴と
する。
(作用〕 4分割された受光面のそれぞれは、非点収差によるレー
ザ光のビームスポット形状の変化を検出する。一方、第
1の干渉光受光面は、0次回折光と+1次回折光の干渉
領域の光量を検出し、第2の干渉光受光面は、0次回折
光と一1次回折光の干渉領域の光量を検出する。そして
、対物レンズかシフl〜したときにも、第1および第2
の干渉光受光面は上記の干渉領域から逸脱することがな
い。
このため、プッシュプル法におけるオフセットを抑えト
ラッキング追従のための対物レンズの最大シフ1〜量を
大きくてきるだけでなく、単一の受光素子でRF信号検
出、フォーカス誤差検出およびトラッキング誤差検出を
行なうことができる。
〔実施例〕
以下、添付図面の第1図ないし第4図を参照して、この
発明の詳細な説明する。
第1図は、この実施例に係る光ピックアップの平面構成
を説明する図である。第1図(a)に示すように、受光
素子はA、B、C,Dの4つの受光面に分割され、この
中には更にE、F、G、ト1の小さい面積の受光面が形
成されている。そして、受光面E、F、G、Hは、第1
図(b)に示すように、0次回折光と+1次回折光、お
よび0次回折光と一1次回折光の干渉領域内にそれぞれ
位置している。その大きさは、回折光のビームスポット
径をaとしたときにトラッキング方向く図中横方向)の
幅かa/7、トラッキング直交方向く図中縦方向)の幅
a/7〜a/3となっており、またトラッキング方向の
離間距離もa/7となっており、いずれにせよi〜ラッ
キングに伴ない対物レンズがシフトしたときにも、受光
面E、F、G。
]」が干渉領域から逸脱しないようになっている。
このような受光素子におけるRF倍信号フォーカス誤差
信号およびトラッキング誤差信号の検出は、下記の関係
式に従ってなされる。すなわち、受光面A〜1」のそれ
ぞれの受光量をA〜Hとすると、 RF 信号−(A+E)+(B+G)+(C+H)+(
D+F)フォーカス誤差信号 = ((A+E)+(B+G))−((C+旧+(D+
F))トラッキング誤差信号 −(E+F)−(G++1) として求められる。具体的には、第2図に示すように、
受光面A、Eの出力を加算器21で加算し、受光面B、
Gの出力を加算器22で加締し、受光面C,Hの出力を
加算器23で加算し、受光面り。
「の出力を加算器24で加算する。そこで、加算器21
.23の出力を加算器と26で加算し、加算器22.2
4の出力を加算器27で加算し、更にこれらを加算器2
8で加算すると、情報再生のための RF信号= (A+E)+(B+G)+(C+H)+(
D+F)を得ることができる。また、加算器27.28
の出力を差動増幅器31に与えると、 フォーカス誤差信号 −((A+E)+(C+旧)−((B+G)+(D+F
))を得ることができる。更に、加算器25.26の出
力を差動増幅器32に与えると、 1〜ラッキング誤差信号−(G十旧−(E+F)を得る
ことができる。
第3図は、この発明の他の実施例に係る光ピックアップ
の平面構成を示すもので、トラッキング誤差を検出する
ための受光面(干渉光受光面)E。
F、G、Hの構成が異なっている。このような受光素子
によっても、第1図に示すものとほぼ同様のRF信号検
出、フォーカス誤差検出およびトラッキング誤差検出を
行なうことができる。
第4図は、第1図または第3図に示す受光素子を適用し
た光ピックアップの、基本的な構成を説明するための図
である。そして、これが第5図に示す従来装置と異なる
点は、媒体7から反則、回折されたレーザ光の受光検出
が単一の受光素子41によりなされていることと、光路
分岐のためのハーフミラ−が設けられていないことでお
る。
このため、第4図の構成によれば、光学系の小型、軽量
化および光ピックアップの小型、軽量化を実現すること
かできる。
また、単一ビームのレーザ光を媒体に照射し、かつ、こ
れを反射、回折後も分岐させることなく単一の受光素子
で検出しているので、ビームパワーを大きくとることが
可能である。従って、この発明のピックアップは単なる
再生用のものではなく、記録再生兼用のもの(DRAW
>に用いるのに特に適している。
この発明は、上述した実施例に限定されるものではなく
、種々の変形が可能である。例えば、受光素子の受光面
の構成は、第1図および第3図のものに限られるもので
はなく、種々の形状とすることができる。また、干渉光
受光面とビームスポットの大きざの比は1ニアに限られ
ない。但し、干渉光受光面が大きくなるとオフセットが
抑えられる範囲が減少しトラッキング追従性能が低下し
、逆に小さくなると受光素子の出力信号におけるS/へ
が低下するので、両者を比較、衡量したうえで適切な寸
法比、面積比とする必要がある。具体的には、例えば第
1図に示すようにすれば、十分な信号出力をI′Jなか
らトラッキング追従性能を、従来プッシュプル法での限
界であった100〜150μmから3ビ一ム方式なみの
400〜500μm程度に改善することができる。また
、光学系の構成も第4図のものに限られない。
(発明の効果) 以上述べたように、この発明の光ピックアップは、4分
割された受光面のそれぞれで、干渉光受光面と組み合わ
されて非点収差によるレーザ光ビームのスポット形状を
検出し、一方、第1および第2の干渉受光面のそれぞれ
で、0次回折光と+1次回折光、および0次回折光と一
1次回折光のそれぞれの干渉領域の光量を検出し、かつ
、対物レンズかシフトしたときにも第1および第2の干
渉光受光面のそれぞれが干渉領域から逸脱することがな
いようにしたので、プッシュプル法のトラッキング誤差
信号のオフセットを抑え対物レンズの最大シフト量を大
きくでき、トラッキング追従性能を大幅に改善すること
が可能になるとともに、単一の受光素子でRF信号検出
、フォーカス誤差検出、およびトラッキング誤差検出を
行なえるので、光ピックアップの小型、軽量化を実現す
ることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の光ピックアップの受光面を説明する
図、 第2図は第1図の受光面による信号検出回路の構成図、 第3図は第1図に示す受光面の変形例を説明する図、 第4図は第1図および第3図に示す受光面を適用した光
ピックアップの構成図、 第5図は従来の光ピックアップの構成図である。 1・・・光源(半導体レーザ〉、2・・・コリメータレ
ンズ、3・・・プリズム、4・・・(−光ビームスプリ
ッタ、5・・・λ/4板、6・・・対物レンズ、7・・
・ディスク、8・・・検出用レンズ、9・・・ハーフミ
ラ−110・・・シリンドリカルレンズ、11・・・フ
ォーカス用光検出器、12・・・トラッキング用光検出
器、16・・・スポット、21〜28・・・加算器、3
1.32・・・差動増幅器、41・・・受光素子、A−
H・・・受光面。 特許出願人  日本楽器製造株式会社 代理人弁理士   長谷用  芳  樹第  4  図 第  5  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、媒体からの0次回折光、+1次回折光および−1次
    回折光を検出するための受光面が、前記0次回折光のビ
    ームスポットの中心に対して4等分に分割されてなる光
    ピックアップにおいて、前記受光面は、前記0次回折光
    と+1次回折光の干渉領域内に配設される第1の干渉光
    受光面と、前記0次回折光と−1次回折光の干渉領域内
    に配設される第2の干渉光受光面とを更に含み、前記第
    1および第2の干渉光受光面は、対物レンズのシフトに
    より前記干渉領域がシフトしたときにもこの干渉領域か
    ら逸脱しないようその面積および位置が設定されている
    こと を特徴とする光ピックアップ。
JP62078989A 1987-03-31 1987-03-31 光ピツクアツプ Pending JPS63244418A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62078989A JPS63244418A (ja) 1987-03-31 1987-03-31 光ピツクアツプ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62078989A JPS63244418A (ja) 1987-03-31 1987-03-31 光ピツクアツプ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63244418A true JPS63244418A (ja) 1988-10-11

Family

ID=13677304

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62078989A Pending JPS63244418A (ja) 1987-03-31 1987-03-31 光ピツクアツプ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63244418A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0440963A2 (en) * 1990-02-06 1991-08-14 Hewlett-Packard Company Enhanced focus sensing in optical information storage systems

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0440963A2 (en) * 1990-02-06 1991-08-14 Hewlett-Packard Company Enhanced focus sensing in optical information storage systems

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61296535A (ja) 光学式記録再生装置
JP2776487B2 (ja) 光学式情報記録再生装置
US20070133374A1 (en) Optical pickup and optical disc apparatus
US5930220A (en) Tracking method for optical disk apparatus using diffraction light
JP3276132B2 (ja) 光ヘッド
EP0324949B1 (en) Tracking system for optical disc memory
KR100335408B1 (ko) 포커스옵셋조정가능한광픽업장치
JP2672618B2 (ja) 光情報記録再生装置
US5838651A (en) Optical read-out head capable of improved read-out of media with different pit heights
JP2875650B2 (ja) 光学式情報記録再生装置
JPH0887760A (ja) 情報記録再生装置
JPS63244418A (ja) 光ピツクアツプ
JP2633420B2 (ja) 光記録再生装置
JPH10269588A (ja) 光ピックアップ装置及び光ディスク記録・再生装置
JP2594903B2 (ja) 焦点誤差検出装置
JP2660523B2 (ja) 光記録再生装置
KR100556692B1 (ko) 광디스크재생장치
KR20050090221A (ko) 트랙 피치가 상이한 광디스크용 광픽업 장치
JP2000357342A (ja) 光ピックアップ装置
KR100640309B1 (ko) 광픽업 장치
JPH0240576Y2 (ja)
JPH06119647A (ja) 光スポットのエラー検出方法
JPH10242502A (ja) 光半導体素子及び光学ピックアップ装置
KR19980078467A (ko) 씨디-디브이디 겸용 광픽업 장치
JPS61113140A (ja) 光学情報記録再生装置