JPS63244418A - 光ピツクアツプ - Google Patents
光ピツクアツプInfo
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- JPS63244418A JPS63244418A JP62078989A JP7898987A JPS63244418A JP S63244418 A JPS63244418 A JP S63244418A JP 62078989 A JP62078989 A JP 62078989A JP 7898987 A JP7898987 A JP 7898987A JP S63244418 A JPS63244418 A JP S63244418A
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- Japan
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- diffracted light
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光デイスク媒体からの反射回折光を検出す
る光ピックアップに関し、特に、RF信号検出、フォー
カス誤差信号検出およびトラッキング誤差信号検出を合
わせて行なうようにしたものに関する。
る光ピックアップに関し、特に、RF信号検出、フォー
カス誤差信号検出およびトラッキング誤差信号検出を合
わせて行なうようにしたものに関する。
ビデオディスク(VD)、コンパクトディスク(CD)
、記録再生(D RAW ; Direct Read
After Write )ディスクなどの光デイスク
媒体には、非常に狭い間隔(例えばCDでは1.6μm
間隔)でトラックが形成されており、このトラック上の
ピットにレーザ光を照射することにより情報の再生など
がなされる。ところが、媒体を微視的に見ると、多かれ
少なかれ偏心しながら回転しているのが現実でおる。そ
こで、多数のトラックの中から所定のトラックを選び出
してレーザ光を照射するに際して、トラッキング誤差を
検出して正確なトラッキングを行なうことか必要になる
。
、記録再生(D RAW ; Direct Read
After Write )ディスクなどの光デイスク
媒体には、非常に狭い間隔(例えばCDでは1.6μm
間隔)でトラックが形成されており、このトラック上の
ピットにレーザ光を照射することにより情報の再生など
がなされる。ところが、媒体を微視的に見ると、多かれ
少なかれ偏心しながら回転しているのが現実でおる。そ
こで、多数のトラックの中から所定のトラックを選び出
してレーザ光を照射するに際して、トラッキング誤差を
検出して正確なトラッキングを行なうことか必要になる
。
このような目的に用いられるトラッキング誤差の検出方
式としては、大別すると3ビ一ム方式と1ビ一ム方式が
知られており、1ビ一ム方式には、プッシュプル法、ヘ
テロダイン法および時間差検出法がある。ここで、1ビ
一ム方式は媒体におけるレーザ光のビームパワーを大き
くとることかでき、その中のプッシュプル法は誤差検出
装置の構成を簡単にできるなどの特徴がある。
式としては、大別すると3ビ一ム方式と1ビ一ム方式が
知られており、1ビ一ム方式には、プッシュプル法、ヘ
テロダイン法および時間差検出法がある。ここで、1ビ
一ム方式は媒体におけるレーザ光のビームパワーを大き
くとることかでき、その中のプッシュプル法は誤差検出
装置の構成を簡単にできるなどの特徴がある。
また、光ピックアップの対物レンズは焦点深度が±1μ
m程度しかなく、反面、媒体には反りや面振れかあるの
でフォーカシングを行なうことが必要となる。フォーカ
ス誤差の検出方式として非点収差法、臨界角検出法およ
びナイフェツジプリズム法などが知られている。ここで
、非点収差法は光学系を小型化できるだけでなく、フォ
ーカス点の検出感度を高くとれるという利点がある。
m程度しかなく、反面、媒体には反りや面振れかあるの
でフォーカシングを行なうことが必要となる。フォーカ
ス誤差の検出方式として非点収差法、臨界角検出法およ
びナイフェツジプリズム法などが知られている。ここで
、非点収差法は光学系を小型化できるだけでなく、フォ
ーカス点の検出感度を高くとれるという利点がある。
以下、プッシュプル法によるトラッキング誤差検出と、
非点収差法によるフォーカス誤差検出とを、第5図を参
照して簡単に説明する。同図に示すように1、光源(半
導体レーザ)1からのレーザ光は、コリメータレンズ2
、プリズム3、偏光ビームスプリッタ4、λ/4板5お
よび対物レンズ6を介してディスク7に照射される。そ
して、ディスク7で反射し回折されたレーザ光ビームは
、同一の経路を戻って偏光ビームスプリッタ4で光路変
更され、検出レンズ8を介してハーフミラ−9に入射さ
れる。ハーフミラ−9を通過した光はシリンドリカルレ
ンズ゛10を介してフォーカス用光検出器11で光量検
出され、ハーフミラ−9で光路変更された光はトラッキ
ング用光検出器12で光量検出される。
非点収差法によるフォーカス誤差検出とを、第5図を参
照して簡単に説明する。同図に示すように1、光源(半
導体レーザ)1からのレーザ光は、コリメータレンズ2
、プリズム3、偏光ビームスプリッタ4、λ/4板5お
よび対物レンズ6を介してディスク7に照射される。そ
して、ディスク7で反射し回折されたレーザ光ビームは
、同一の経路を戻って偏光ビームスプリッタ4で光路変
更され、検出レンズ8を介してハーフミラ−9に入射さ
れる。ハーフミラ−9を通過した光はシリンドリカルレ
ンズ゛10を介してフォーカス用光検出器11で光量検
出され、ハーフミラ−9で光路変更された光はトラッキ
ング用光検出器12で光量検出される。
ここで、媒体7のトラックにはピットの凹凸が存在して
いるので、大剣レーザ光のビームスポットと前記ピット
どの位置関係により反射レーザ光には様々な回折が生じ
る。入射レーザ光のビームスポットかピットに対して位
置ずれすると、回折光の干渉により反射レーザ光の光強
度分布が変化し、これを2分割されたトラッキング用光
検出器12の受光面で検出し、この検出光量を電気信号
に変換し、例えば差動増幅器(AMP>で比較すれば、
トラッキングを正確に行なうためのトラッキング誤差信
号を得ることができる。
いるので、大剣レーザ光のビームスポットと前記ピット
どの位置関係により反射レーザ光には様々な回折が生じ
る。入射レーザ光のビームスポットかピットに対して位
置ずれすると、回折光の干渉により反射レーザ光の光強
度分布が変化し、これを2分割されたトラッキング用光
検出器12の受光面で検出し、この検出光量を電気信号
に変換し、例えば差動増幅器(AMP>で比較すれば、
トラッキングを正確に行なうためのトラッキング誤差信
号を得ることができる。
また、フォーカス用光検出器11の前面にはシリンドリ
カルレンズ10が設(プられているので、対物レンズ6
と媒体7の距離に応じて、レーザ光のビームスポット形
状が円形になったり、楕円形になったりする。そこで、
4分割されたフォーカス用光検出器12てこの光量を検
出して比較すれば、フォーカスを正確にとるためのフォ
ーカス誤差信号を得ることができる。
カルレンズ10が設(プられているので、対物レンズ6
と媒体7の距離に応じて、レーザ光のビームスポット形
状が円形になったり、楕円形になったりする。そこで、
4分割されたフォーカス用光検出器12てこの光量を検
出して比較すれば、フォーカスを正確にとるためのフォ
ーカス誤差信号を得ることができる。
、上述のようにプッシュプル法で得られたトラッキング
誤差信号は、通常は対物レンズ4をトラッキングシフト
させるために用いられる。ところが、対物レンズ4をシ
フトさせると、2分割のトラッキング用光検出器12の
受光面における回折光のビームスポットもシフトしてし
まい、トラッキング誤差信号にオフセットが現われてい
た。このため、充分なトラッキング追従性能が得られず
、従来装置における対物レンズ4の最大シフト量は±1
00〜150μmに止まっていた。
誤差信号は、通常は対物レンズ4をトラッキングシフト
させるために用いられる。ところが、対物レンズ4をシ
フトさせると、2分割のトラッキング用光検出器12の
受光面における回折光のビームスポットもシフトしてし
まい、トラッキング誤差信号にオフセットが現われてい
た。このため、充分なトラッキング追従性能が得られず
、従来装置における対物レンズ4の最大シフト量は±1
00〜150μmに止まっていた。
また、上述の従来方式では、フォーカス用とトラッキン
グ用の2種の光検出器が必要になるだけでなく、光路分
岐のためのハーフミラ−なども必要になり、ヘッドの大
型化や重量化を招いていた。
グ用の2種の光検出器が必要になるだけでなく、光路分
岐のためのハーフミラ−なども必要になり、ヘッドの大
型化や重量化を招いていた。
この発明は、上述の点に鑑みてなされたもので、トラッ
キング追従の性能を大幅に改善すると共に、ヘッドの小
型、軽量化をも合わせて実現することのできる、光ピッ
クアップを提供しようとするものである。
キング追従の性能を大幅に改善すると共に、ヘッドの小
型、軽量化をも合わせて実現することのできる、光ピッ
クアップを提供しようとするものである。
この発明に係る光ピックアップは、媒体からの0次回折
光、+1次回折光および一1次回折光を検出するための
受光面が、0次回折光のビームスポットの中心に対して
4等分に分割され、かつ、この受光面は、0次回折光と
+1次回折光の干渉領域内に配設される第1の干渉光受
光面と、0次回折光と一1次回折光の干渉領域内に配設
される第2の干渉光受光面とを更に含み、第1および第
2の干渉光受光面は、対物レンズのシフトにより干渉領
域がシフトしたときにもこの干渉領域から逸脱しないよ
う、その面積および位置が設定されていることを特徴と
する。
光、+1次回折光および一1次回折光を検出するための
受光面が、0次回折光のビームスポットの中心に対して
4等分に分割され、かつ、この受光面は、0次回折光と
+1次回折光の干渉領域内に配設される第1の干渉光受
光面と、0次回折光と一1次回折光の干渉領域内に配設
される第2の干渉光受光面とを更に含み、第1および第
2の干渉光受光面は、対物レンズのシフトにより干渉領
域がシフトしたときにもこの干渉領域から逸脱しないよ
う、その面積および位置が設定されていることを特徴と
する。
(作用〕
4分割された受光面のそれぞれは、非点収差によるレー
ザ光のビームスポット形状の変化を検出する。一方、第
1の干渉光受光面は、0次回折光と+1次回折光の干渉
領域の光量を検出し、第2の干渉光受光面は、0次回折
光と一1次回折光の干渉領域の光量を検出する。そして
、対物レンズかシフl〜したときにも、第1および第2
の干渉光受光面は上記の干渉領域から逸脱することがな
い。
ザ光のビームスポット形状の変化を検出する。一方、第
1の干渉光受光面は、0次回折光と+1次回折光の干渉
領域の光量を検出し、第2の干渉光受光面は、0次回折
光と一1次回折光の干渉領域の光量を検出する。そして
、対物レンズかシフl〜したときにも、第1および第2
の干渉光受光面は上記の干渉領域から逸脱することがな
い。
このため、プッシュプル法におけるオフセットを抑えト
ラッキング追従のための対物レンズの最大シフ1〜量を
大きくてきるだけでなく、単一の受光素子でRF信号検
出、フォーカス誤差検出およびトラッキング誤差検出を
行なうことができる。
ラッキング追従のための対物レンズの最大シフ1〜量を
大きくてきるだけでなく、単一の受光素子でRF信号検
出、フォーカス誤差検出およびトラッキング誤差検出を
行なうことができる。
以下、添付図面の第1図ないし第4図を参照して、この
発明の詳細な説明する。
発明の詳細な説明する。
第1図は、この実施例に係る光ピックアップの平面構成
を説明する図である。第1図(a)に示すように、受光
素子はA、B、C,Dの4つの受光面に分割され、この
中には更にE、F、G、ト1の小さい面積の受光面が形
成されている。そして、受光面E、F、G、Hは、第1
図(b)に示すように、0次回折光と+1次回折光、お
よび0次回折光と一1次回折光の干渉領域内にそれぞれ
位置している。その大きさは、回折光のビームスポット
径をaとしたときにトラッキング方向く図中横方向)の
幅かa/7、トラッキング直交方向く図中縦方向)の幅
a/7〜a/3となっており、またトラッキング方向の
離間距離もa/7となっており、いずれにせよi〜ラッ
キングに伴ない対物レンズがシフトしたときにも、受光
面E、F、G。
を説明する図である。第1図(a)に示すように、受光
素子はA、B、C,Dの4つの受光面に分割され、この
中には更にE、F、G、ト1の小さい面積の受光面が形
成されている。そして、受光面E、F、G、Hは、第1
図(b)に示すように、0次回折光と+1次回折光、お
よび0次回折光と一1次回折光の干渉領域内にそれぞれ
位置している。その大きさは、回折光のビームスポット
径をaとしたときにトラッキング方向く図中横方向)の
幅かa/7、トラッキング直交方向く図中縦方向)の幅
a/7〜a/3となっており、またトラッキング方向の
離間距離もa/7となっており、いずれにせよi〜ラッ
キングに伴ない対物レンズがシフトしたときにも、受光
面E、F、G。
]」が干渉領域から逸脱しないようになっている。
このような受光素子におけるRF倍信号フォーカス誤差
信号およびトラッキング誤差信号の検出は、下記の関係
式に従ってなされる。すなわち、受光面A〜1」のそれ
ぞれの受光量をA〜Hとすると、 RF 信号−(A+E)+(B+G)+(C+H)+(
D+F)フォーカス誤差信号 = ((A+E)+(B+G))−((C+旧+(D+
F))トラッキング誤差信号 −(E+F)−(G++1) として求められる。具体的には、第2図に示すように、
受光面A、Eの出力を加算器21で加算し、受光面B、
Gの出力を加算器22で加締し、受光面C,Hの出力を
加算器23で加算し、受光面り。
信号およびトラッキング誤差信号の検出は、下記の関係
式に従ってなされる。すなわち、受光面A〜1」のそれ
ぞれの受光量をA〜Hとすると、 RF 信号−(A+E)+(B+G)+(C+H)+(
D+F)フォーカス誤差信号 = ((A+E)+(B+G))−((C+旧+(D+
F))トラッキング誤差信号 −(E+F)−(G++1) として求められる。具体的には、第2図に示すように、
受光面A、Eの出力を加算器21で加算し、受光面B、
Gの出力を加算器22で加締し、受光面C,Hの出力を
加算器23で加算し、受光面り。
「の出力を加算器24で加算する。そこで、加算器21
.23の出力を加算器と26で加算し、加算器22.2
4の出力を加算器27で加算し、更にこれらを加算器2
8で加算すると、情報再生のための RF信号= (A+E)+(B+G)+(C+H)+(
D+F)を得ることができる。また、加算器27.28
の出力を差動増幅器31に与えると、 フォーカス誤差信号 −((A+E)+(C+旧)−((B+G)+(D+F
))を得ることができる。更に、加算器25.26の出
力を差動増幅器32に与えると、 1〜ラッキング誤差信号−(G十旧−(E+F)を得る
ことができる。
.23の出力を加算器と26で加算し、加算器22.2
4の出力を加算器27で加算し、更にこれらを加算器2
8で加算すると、情報再生のための RF信号= (A+E)+(B+G)+(C+H)+(
D+F)を得ることができる。また、加算器27.28
の出力を差動増幅器31に与えると、 フォーカス誤差信号 −((A+E)+(C+旧)−((B+G)+(D+F
))を得ることができる。更に、加算器25.26の出
力を差動増幅器32に与えると、 1〜ラッキング誤差信号−(G十旧−(E+F)を得る
ことができる。
第3図は、この発明の他の実施例に係る光ピックアップ
の平面構成を示すもので、トラッキング誤差を検出する
ための受光面(干渉光受光面)E。
の平面構成を示すもので、トラッキング誤差を検出する
ための受光面(干渉光受光面)E。
F、G、Hの構成が異なっている。このような受光素子
によっても、第1図に示すものとほぼ同様のRF信号検
出、フォーカス誤差検出およびトラッキング誤差検出を
行なうことができる。
によっても、第1図に示すものとほぼ同様のRF信号検
出、フォーカス誤差検出およびトラッキング誤差検出を
行なうことができる。
第4図は、第1図または第3図に示す受光素子を適用し
た光ピックアップの、基本的な構成を説明するための図
である。そして、これが第5図に示す従来装置と異なる
点は、媒体7から反則、回折されたレーザ光の受光検出
が単一の受光素子41によりなされていることと、光路
分岐のためのハーフミラ−が設けられていないことでお
る。
た光ピックアップの、基本的な構成を説明するための図
である。そして、これが第5図に示す従来装置と異なる
点は、媒体7から反則、回折されたレーザ光の受光検出
が単一の受光素子41によりなされていることと、光路
分岐のためのハーフミラ−が設けられていないことでお
る。
このため、第4図の構成によれば、光学系の小型、軽量
化および光ピックアップの小型、軽量化を実現すること
かできる。
化および光ピックアップの小型、軽量化を実現すること
かできる。
また、単一ビームのレーザ光を媒体に照射し、かつ、こ
れを反射、回折後も分岐させることなく単一の受光素子
で検出しているので、ビームパワーを大きくとることが
可能である。従って、この発明のピックアップは単なる
再生用のものではなく、記録再生兼用のもの(DRAW
>に用いるのに特に適している。
れを反射、回折後も分岐させることなく単一の受光素子
で検出しているので、ビームパワーを大きくとることが
可能である。従って、この発明のピックアップは単なる
再生用のものではなく、記録再生兼用のもの(DRAW
>に用いるのに特に適している。
この発明は、上述した実施例に限定されるものではなく
、種々の変形が可能である。例えば、受光素子の受光面
の構成は、第1図および第3図のものに限られるもので
はなく、種々の形状とすることができる。また、干渉光
受光面とビームスポットの大きざの比は1ニアに限られ
ない。但し、干渉光受光面が大きくなるとオフセットが
抑えられる範囲が減少しトラッキング追従性能が低下し
、逆に小さくなると受光素子の出力信号におけるS/へ
が低下するので、両者を比較、衡量したうえで適切な寸
法比、面積比とする必要がある。具体的には、例えば第
1図に示すようにすれば、十分な信号出力をI′Jなか
らトラッキング追従性能を、従来プッシュプル法での限
界であった100〜150μmから3ビ一ム方式なみの
400〜500μm程度に改善することができる。また
、光学系の構成も第4図のものに限られない。
、種々の変形が可能である。例えば、受光素子の受光面
の構成は、第1図および第3図のものに限られるもので
はなく、種々の形状とすることができる。また、干渉光
受光面とビームスポットの大きざの比は1ニアに限られ
ない。但し、干渉光受光面が大きくなるとオフセットが
抑えられる範囲が減少しトラッキング追従性能が低下し
、逆に小さくなると受光素子の出力信号におけるS/へ
が低下するので、両者を比較、衡量したうえで適切な寸
法比、面積比とする必要がある。具体的には、例えば第
1図に示すようにすれば、十分な信号出力をI′Jなか
らトラッキング追従性能を、従来プッシュプル法での限
界であった100〜150μmから3ビ一ム方式なみの
400〜500μm程度に改善することができる。また
、光学系の構成も第4図のものに限られない。
(発明の効果)
以上述べたように、この発明の光ピックアップは、4分
割された受光面のそれぞれで、干渉光受光面と組み合わ
されて非点収差によるレーザ光ビームのスポット形状を
検出し、一方、第1および第2の干渉受光面のそれぞれ
で、0次回折光と+1次回折光、および0次回折光と一
1次回折光のそれぞれの干渉領域の光量を検出し、かつ
、対物レンズかシフトしたときにも第1および第2の干
渉光受光面のそれぞれが干渉領域から逸脱することがな
いようにしたので、プッシュプル法のトラッキング誤差
信号のオフセットを抑え対物レンズの最大シフト量を大
きくでき、トラッキング追従性能を大幅に改善すること
が可能になるとともに、単一の受光素子でRF信号検出
、フォーカス誤差検出、およびトラッキング誤差検出を
行なえるので、光ピックアップの小型、軽量化を実現す
ることが可能になる。
割された受光面のそれぞれで、干渉光受光面と組み合わ
されて非点収差によるレーザ光ビームのスポット形状を
検出し、一方、第1および第2の干渉受光面のそれぞれ
で、0次回折光と+1次回折光、および0次回折光と一
1次回折光のそれぞれの干渉領域の光量を検出し、かつ
、対物レンズかシフトしたときにも第1および第2の干
渉光受光面のそれぞれが干渉領域から逸脱することがな
いようにしたので、プッシュプル法のトラッキング誤差
信号のオフセットを抑え対物レンズの最大シフト量を大
きくでき、トラッキング追従性能を大幅に改善すること
が可能になるとともに、単一の受光素子でRF信号検出
、フォーカス誤差検出、およびトラッキング誤差検出を
行なえるので、光ピックアップの小型、軽量化を実現す
ることが可能になる。
第1図はこの発明の光ピックアップの受光面を説明する
図、 第2図は第1図の受光面による信号検出回路の構成図、 第3図は第1図に示す受光面の変形例を説明する図、 第4図は第1図および第3図に示す受光面を適用した光
ピックアップの構成図、 第5図は従来の光ピックアップの構成図である。 1・・・光源(半導体レーザ〉、2・・・コリメータレ
ンズ、3・・・プリズム、4・・・(−光ビームスプリ
ッタ、5・・・λ/4板、6・・・対物レンズ、7・・
・ディスク、8・・・検出用レンズ、9・・・ハーフミ
ラ−110・・・シリンドリカルレンズ、11・・・フ
ォーカス用光検出器、12・・・トラッキング用光検出
器、16・・・スポット、21〜28・・・加算器、3
1.32・・・差動増幅器、41・・・受光素子、A−
H・・・受光面。 特許出願人 日本楽器製造株式会社 代理人弁理士 長谷用 芳 樹第 4 図 第 5 図
図、 第2図は第1図の受光面による信号検出回路の構成図、 第3図は第1図に示す受光面の変形例を説明する図、 第4図は第1図および第3図に示す受光面を適用した光
ピックアップの構成図、 第5図は従来の光ピックアップの構成図である。 1・・・光源(半導体レーザ〉、2・・・コリメータレ
ンズ、3・・・プリズム、4・・・(−光ビームスプリ
ッタ、5・・・λ/4板、6・・・対物レンズ、7・・
・ディスク、8・・・検出用レンズ、9・・・ハーフミ
ラ−110・・・シリンドリカルレンズ、11・・・フ
ォーカス用光検出器、12・・・トラッキング用光検出
器、16・・・スポット、21〜28・・・加算器、3
1.32・・・差動増幅器、41・・・受光素子、A−
H・・・受光面。 特許出願人 日本楽器製造株式会社 代理人弁理士 長谷用 芳 樹第 4 図 第 5 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、媒体からの0次回折光、+1次回折光および−1次
回折光を検出するための受光面が、前記0次回折光のビ
ームスポットの中心に対して4等分に分割されてなる光
ピックアップにおいて、前記受光面は、前記0次回折光
と+1次回折光の干渉領域内に配設される第1の干渉光
受光面と、前記0次回折光と−1次回折光の干渉領域内
に配設される第2の干渉光受光面とを更に含み、前記第
1および第2の干渉光受光面は、対物レンズのシフトに
より前記干渉領域がシフトしたときにもこの干渉領域か
ら逸脱しないようその面積および位置が設定されている
こと を特徴とする光ピックアップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62078989A JPS63244418A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 光ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62078989A JPS63244418A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 光ピツクアツプ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63244418A true JPS63244418A (ja) | 1988-10-11 |
Family
ID=13677304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62078989A Pending JPS63244418A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63244418A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0440963A2 (en) * | 1990-02-06 | 1991-08-14 | Hewlett-Packard Company | Enhanced focus sensing in optical information storage systems |
-
1987
- 1987-03-31 JP JP62078989A patent/JPS63244418A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0440963A2 (en) * | 1990-02-06 | 1991-08-14 | Hewlett-Packard Company | Enhanced focus sensing in optical information storage systems |
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