JPS63241177A - マイクロ波プラズマcvd装置 - Google Patents

マイクロ波プラズマcvd装置

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JPS63241177A
JPS63241177A JP62073556A JP7355687A JPS63241177A JP S63241177 A JPS63241177 A JP S63241177A JP 62073556 A JP62073556 A JP 62073556A JP 7355687 A JP7355687 A JP 7355687A JP S63241177 A JPS63241177 A JP S63241177A
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JP
Japan
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substrate
film
plasma cvd
temperature
film forming
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Pending
Application number
JP62073556A
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English (en)
Inventor
Shigehira Iida
茂平 飯田
Tetsuya Takei
武井 哲也
Keishi Saito
恵志 斉藤
Takashi Arai
新井 孝至
Junichiro Hashizume
淳一郎 橋爪
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、基体上に堆積膜、とりわけ機能性M、特に半
4体ディバイス、電子写真用感光体ディバイス、画像入
力用ラインセンサー、撮像ディバイス、光起電力ディバ
イス等に用いるアモルファス半導体膜を形成する装置、
及びエツチング装置等のマイクロ波プラズマCVD装置
に関するものである。
〔従来の技術の説明〕
従来、半導体ディバイス、電子写真用感光体ディバイス
、画像入力用ラインセンサー、撮像ディバイス、光起電
力ディバイス、その他各種エレクトロニクス素子、光学
素子等に用いる素子部材として、アモルファスシリコン
、例えば水素又は/及びハロゲン(例えばフッ素、塩素
等)で補償されたアモルファスシリコン(以下、A−5
i:H:Xと記す)等のアモルファス半導体の堆積膜が
提案され、その中のいくつかは実用に付されている。
そして、こうした堆Mi欣は、プラズマCVD法、即ち
、原料ガスを直流又は高周波、マイクロ波グロー放電に
よって分解し、ガラス、石英、耐熱性合成w n=フィ
ルム、ステンレス、アルミニウムなどの基体上に薄膜状
の堆積膜を形成する方法により形成される事が知られて
おり、そのための装置も各種提案されている。
特に近年マイクロ波グロー放電分解を用いたプラズマC
VD法すなわちマイクロ波プラズマCVD法が工業的に
も注目されている。そうした従来のマイクロ波プラズマ
CVD法による堆積膜形成装置は代表的には、第4図の
透視略図、及び第5図の平面略図で示される装置構成の
ものである。
第4図及び第5図において、401.501は反応容器
であり、真空気密化構造を成している。
402.502は、マイクロ波電力を反応炉容器内へ効
率良く透過し、かつ真空気密を保持し得る様な材料(例
えば石英ガラス、アルミナセラミックス等)で形成され
たマイクロ波導入窓である。
403.503はマイクロ波電力の伝送部で主として金
属の矩i波管より成っており、スタブチューナー(図示
せず)、アイソレーター(図示せず)を介してマイクロ
波電源(図示せず)に接続されている。404,504
は一端が真空容器401、soi内に開口し、他端が排
気装置(図506は基体405,505により囲まれた
放電空間を示す。
こうした従来の堆積膜形成装置による堆積膜形成は、以
下の様にして行われる。まず真空ポンプ(図示せず)に
より排気管404.504を介して、反応容器401.
501を脱気し、反応容器内圧力をI X 10−’T
orr以下に調整する0次いでヒーター407,507
により、基体405゜505の温度を膜堆積に好適な温
度に加熱保持する。そこで原料ガスをガス放出管408
.508を介して、例えばアモルファスシリコン堆積膜
を形成する場合であれば、シランガス、水素ガス等の原
料ガスが反応容器401.501内に導入される。それ
と同時併行的にマイクロ波電源(図示せず)により周波
数500MH2以上の、好ましくは2.45aHzのマ
イクロ波を発生させ、導波管403,503を通じ、誘
電体窓402,502を介して反応容器401,501
内に導入される。
かくして基体405,505により囲まれた放電空間4
06,506において、原料ガスはマイクロ波のエネル
ギーにより励起されて解離し、基体405.505表面
に堆積膜が形成される。この時、基体405.5(15
を基体母線方向中心軸の回りに回転させることにより、
基体405.505全周に渡って堆積膜が形成される。
この様な従来の堆積膜形成装置による場合、ある程度の
品質の堆積膜を得るのは可能だが、真に良質な堆積膜を
得るには困難であった。それはプラズマ放電中における
基体の温度制御が難しいためである。ある一定の温度に
基体をヒーターにより加熱した後、プラズマ放電を開始
した場合、基体温度は上昇し続け、全く温度制御nは不
可能になfi +’ ?、。
る、この傾向は、マイクロ波プラズマCVD法に特に著
しく、その原因はプラズマ空間より基体への輻射熱及び
基体自身のマイクロ波の吸収発熱のためである。基体の
湯境上昇防止策として従来装置ではプラズマ放電開始と
同時に、基体内部の加熱ヒーターを切る方法、基体内部
の加熱ヒーターに冷却管等を取り付は加熱冷却併用ヒー
ターの方法等が挙げられるが、それらはほとんど効果が
無いのが現状である。
さらに従来の堆積膜形成装置の欠点として基体の放電空
間に晒された放電面基体表面と晒されない非放電面たる
基体表面の間で温度差を生じる事により堆積膜の品質上
問題を生じていた。
プラズマCVD法により作成する堆積膜特性は堆積中の
基体温度に掻めて敏感であり、例えば感光ドラム用のA
−3i:H:X膜を堆積する場合にも所定の基体温度以
上になると堆積膜中の水素の脱離が生じ、感光ドラムと
しての帯電性能が劣る事は周知の事実である。
それにもかかわらず従来の堆積膜形成装置による場合は
基体温度上昇が激しく、得られた堆積膜に所望の特性が
得られないというのが現状であった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上述のごとき従来の装置における諸問
題を克服して、半導体ディバイス、電子写真用感光体デ
ィバイス、光起電力素子、その他のエレクトロニクス素
子、光学素子等に用いられる素子部材としての堆積膜を
、マイクロ波プラズマCVD法により、安定して高速形
成し得る方法、及び該方法を実施するに至適な装置を提
供することにある。
さらに本発明の目的は、マイクロ波プラズマCVD法に
よりA−3t  :H:X堆積膜を形成するについて、
特性の優れた膜を形成し得る方法及び該方法を実施する
に至適な装置を提供する事にあ〔発明の構成〕 本発明は、前記目的を達成するために堆積膜形成用の円
筒基体と、該基体の近傍にマイクロ波エネルギーによる
堆積膜形成用の原料ガスの分解空間を有するマイクロ波
プラズマCVD装置において、前記円筒基体の外部より
基体加熱手段を、かつ円筒基体内部より基体冷却手段を
設けた事を特徴とする。
本発明によるプラズマCVD装置により、堆積膜形成中
において基体温度を一定に制御し、かつ、基体表面全域
に渡り均一な温度制御を可能とし、前記目的を達成し得
る。
本発明を達成しうるマイクロ波プラズマCVD装置の具
体例を第1図に示す、すなわち第1図は、本発明の具体
例の平面図であり、反応容i?1)01に対してマイク
ロ波導入窓102が設けられており、かつ堆積膜形成用
基体105が放電空間106を取り囲む様に配置され、
実質的に一方向よりプラズマ放電を基体側面に受ける形
となり、基体105が自転する事により周方向に均一な
堆積膜が得られる。ここまでの説明の範囲においては従
来の第4図及び第5図に示した装置と同型であり、堆積
膜形成方法においても同方法である。
本発明の特徴は、従来の基体温度コントロールが基体内
部における加熱ヒーターであるのに対し、第3図に示す
基体外部からの加熱手段107及び基体内部における冷
却手段109を設けた点である。本発明における内部冷
却手段の一例としては第2図に示す様に円筒基体201
の内部に冷却管202を成す構成を有する。
本発明における基体外部からの加熱手段の具体例として
は、真空仕様である発熱体であれば良く、より具体的に
はシース状ヒーターの巻付ヒーター、板状ヒーター、セ
ラミックヒータ−等の電気抵抗発熱体、ハロゲンランプ
、赤外線ランプ等の熱放射ランプ発熱体、液体、気体等
を温媒とし熱交換手段による発熱体等が挙げられる。加
熱手段の表面材質はステンレス、ニッケル、アルミニウ
ム、銅等の金属類、セラミックス、耐熱性高分子樹脂等
を使用する事が出来る。
本発明における基体内部からの冷却手段の具体例として
は真空仕様である吸熱体であれば良く、より具体的には
、液体、気体等を冷却媒体として流す事が出来る冷却コ
イル、冷却板、冷却筒等が挙げられ、その表面材質はス
テンレス、ニッケル、アルミニウム、銅等の金属類、セ
ラミックス、高分子樹脂等を使用する事が出来るが好ま
しくは熱伝導性の優れたアルミニウム、銅等が好ましい
本発明における基体外部からの加熱ヒーター107は成
膜前の基体加熱用として、基体を放電開始前において、
適切な温度に昇温させておくためと放電空間106外部
での基体温度低下を防止するために使用される。しかし
、放電中においてはプラズマ放電空間からの熱輻射やマ
イクロ波の基体吸収発熱により実質的には放電開始と同
時に加熱ヒーター107をオフしても基体温度は加熱さ
れ適切な基体温崩をコントロールする事は難しい、特に
従来の基体内部加熱ヒーターでは熱伝4の応答が遅いた
めに特に著しく問題であった。
本発明の基体内部冷却管202を基体外部加熱ヒーター
107と併用し、放電開始前の基体加熱中は、基体外部
加熱ヒーター107にて基体温度を所定の温度に昇温し
、放電中においては冷却用媒体の温度及び流量をコント
ロールする事により、・又、加熱用ヒーターの熱量をコ
ントロールする事により基体を任意の温度に、かつ、周
方向の温度分布を均一に保つ事が出来る。
本発明における外部加熱及び内部冷却による基体温度制
御をより効果的にするための基体と外部加熱ヒーター、
基体と内部冷却管との間の好ましい間隔は1〜50龍、
より好ましくは1〜300である。かつ、内部冷却管は
最適には基体内壁と接触している状態が好ましく、冷却
管表面に金属メックi、金属ブラシ状の接触金属体を設
置し、直接熱伝導による冷却効果を得る事が出来る。
以下実施例により本発明の効果をさらに詳しく説明する
しかし、本発明は実施例により限定されるものではない
〔実施例〕
叉止炎土 第1図及び第2図に示したマイクロ波プラズマCV D
 vi置を使用して、第1表に示す条件で阻止型構造の
感光ドラムを作成した。マイクロ波電源には最大2kW
、2.45GHzの発振器を用いた。
基体の加熱は、最初内部冷却用媒体を流さずに外部加熱
用ヒーターを入れ、基体を自転させながら所定の温度ま
で昇温した後保持した。原料ガスを流し後にマイクロ波
を導入し、グロー放電を開始すると同時に内部冷却用媒
体を流し、冷却用媒体の流量、温度及び/又は外部加熱
用ヒーターの熱量を調整して所定の温度を維持する様に
した。
比較例としては第4図及び第5図に示す従来の基体内部
加熱ヒーターのみの装置において上記実施例と同条件に
て、阻止型感光ドラムを作成した。
放電中の感光ドラムの表面温度は放電空間及び非放電空
間に相当するドラム表面に熱電対を接触させる事により
測定した。
この様な条件下で作成した感光ドラムを渦電流式膜厚計
にて膜厚測定を、又キャノン株式会社製複写機NP−7
550(商品名)に設置した表面電位計にて表面電位を
測定した。
第2表に使用したヒーター及び冷却手段の組み合わせ放
電空間に面するドラム表面温度の適正温度からのずれ、
ΔTs+、ΔTst、周方向表面温度差(ΔTs+−Δ
Tsい、比較例を100%とした場合の比堆積速度、比
帯電能を示した6表面温度においては、外部ヒーター、
内部冷却併用の本発明の場合ΔTs+、 ΔTs□及び
周方向表面温度差(ΔTs+−ΔTs、)各れにおいて
も適正温度に対し5℃以内でコントロール可能であるの
に対し、冷却機能を持たないヒーターのみの場合はドラ
ム表面温度上昇が著しい、特に外部ヒーターのみの場合
、その目的が放電面と非放電面の表面温度差を小さくす
るために非放電面を加熱しているため(ΔTs+−ΔT
s*) −30°と小さいもののドラムの温度上昇の点
ではさらに不利になりΔTs、、  ΔT s z共に
最も高い。
一方特性的には堆積速度に大差ないものの帯電能では比
較例に比べ、本発明による組み合わせにより128%と
向上している。
以上の実施例により本発明による外部加熱ヒーター及び
内部冷却手段を有する装置による感光ドラムは、温度コ
ントロール、周方向温度差、帯電能各れにおいても極め
て優れている事が明白である。
スIL影 第1図及び第2図に示したマイクロ波プラズマCVD装
置を使用し、排気速度を変化させて放電空間の内圧を変
化させる以外は、実施例1と同様の条件で外部加熱及び
内部冷却併用の実験を実施したところ、第3図の様にな
った。ここで縦軸は第4図に示した装置により作成した
ドラムの帯電能の最高値を100%とした。帯電能は内
圧が10mTorrを越えると低下していくが、それ以
外の領域では良好な結果を示し、10mTorr以下で
効果のあることが判明した。
去1貫1 希釈ガスH1を5iFn 、5izFaのF系ガス、及
びAr、Heの各々のガスにかえた以外は実施例1.実
施例2と同様の実験を実施したところ、ガス種によらず
いずれも同様の結果が得られ、本発明が感光ドラム特性
を向上させることが判明した。
スIL支 原料ガス5iHaの一部をG e Haで置換した以外
は実施例1、実施例2と同様の実験を実施したところ、
やはり同様の結果が得られ、特性の向上が認め−られた
なお本発明は上記実施例になんら限定されるものではな
い。
本発明はさらに、基体の内面からの冷却効果を上げるた
めに基体内面からの熱放射率を高める手段として色、面
荒さ等の処理を実施する事により効果が向上する。
本発明はさらに、基体支持体を使用する場合、冷却効果
を上げるために色、面荒さ等の処理を実施する事により
効果が向上する。
〔発明の効果の概要〕
本発明は以上説明した様に、マイクロ波プラズマCVD
装置において堆積すべく基体の表面すなわち円筒基体に
おいては円筒基体外側より加熱手段を、堆積すべく基体
の裏面、すなわち円筒基体においては、円筒基体内側よ
り冷却手段を設ける事により、堆植成形成中の基体温度
を所定の温度に一定に保つ事が可能であり、かつ基体表
面温度を均一に保つ事が可能である。その結果、良質な
堆積膜を形成する事が可能となり、量産性に富んだ高性
能機能膜のための堆積膜形成装置を提供出来る。
第   1   表 第   2   表
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明によるマイクロ波プラズマCVD法に
よる堆積膜形成装置の1例の平面図である。 第2図は本発明による内部冷却機構の断面図である。 第3図は、本発明のマイクロ波プラズマCVD法による
堆積膜形成装置を用いた場合の放電量内圧と比帯電能と
の関係を示す図である。 第4図は従来のマイクロ波プラズマCVD法による堆積
膜形成vt置の透視略図である。 第5図は第4図の平面図である。 図において、101,401.501・・・反応容器、
102.402,502・・・誘電体窓、103.40
3゜503・・・導波管、104,404,504・・
・排気管、105.201,405,505・・・基体
、106゜406.506・・・放電空間、107,4
07,507・・・ヒーター、108,408.508
・・・ガス放出管、109,202・・・冷却管。 第1図 第2図 第4図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)真空気密化可能な成膜空間を有する反応容器を有
    し、該反応容器内に成膜用原料ガスを導入する手段と該
    反応容器内にマイクロ波エネルギーを導入する手段を備
    えていて、前記成膜空間内の基体ホルダー上に載置され
    た基体で囲まれて形成される空間にグロー放電を励起さ
    せて前記基体に膜堆積を行うマイクロ波プラズマCVD
    法による堆積膜形成装置であって、前記基体の表面を加
    熱する手段と前記基体の裏面を冷却する手段を備えてい
    ることを特徴とするマイクロ波プラズマCVD法による
    堆積膜形成装置。
  2. (2)前記基体が円筒形基体である、特許請求の範囲第
    1項に記載のマイクロ波プラズマCVD法による堆積膜
    形成装置。
  3. (3)前記基体の表面を加熱手段が、グロー放電の励起
    されない成膜空間の位置で前記基体の表面を加熱するよ
    うに設けられ、前記基体の裏面を冷却する手段が前記基
    体ホルダーに設置されている特許請求の範囲第1項又は
    第2項に記載のマイクロ波プラズマCVD法による堆積
    膜形成装置。
JP62073556A 1987-03-27 1987-03-27 マイクロ波プラズマcvd装置 Pending JPS63241177A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002036850A3 (de) * 2000-11-03 2002-07-18 Ver Foerderung Inst Kunststoff Verfahren und vorrichtung zum beschichten von hohlkörpern

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002036850A3 (de) * 2000-11-03 2002-07-18 Ver Foerderung Inst Kunststoff Verfahren und vorrichtung zum beschichten von hohlkörpern

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