JPS63240940A - 対象物の処理方法 - Google Patents
対象物の処理方法Info
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- JPS63240940A JPS63240940A JP62074774A JP7477487A JPS63240940A JP S63240940 A JPS63240940 A JP S63240940A JP 62074774 A JP62074774 A JP 62074774A JP 7477487 A JP7477487 A JP 7477487A JP S63240940 A JPS63240940 A JP S63240940A
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J19/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J19/08—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
- B01J19/12—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor employing electromagnetic waves
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、超微粒子を用いて成膜又はエツチングを行う
新規な対象物の処理方法に関する。
新規な対象物の処理方法に関する。
尚、本発明で言う超微粒子とは、20人〜1000人の
超微細な粒子をいう。
超微細な粒子をいう。
従来、ガス中蒸発法で生成された超微粒子は、多くの場
合、多数個が連結したり、凝集して2次粒子を形成した
りするために、粒子表面の活性状態が不良である。
合、多数個が連結したり、凝集して2次粒子を形成した
りするために、粒子表面の活性状態が不良である。
又、ガス中蒸発法では、炭化物、窒化物等の化合物超微
粒子を生成することが困難であった。
粒子を生成することが困難であった。
更に、特開昭59−87077号公報には、予め生成し
た超微粒子をキャリアガスと共に管内を輸送し、管の先
端に取付けられたノズルを介して基板上に堆積させる方
法が記載されている。
た超微粒子をキャリアガスと共に管内を輸送し、管の先
端に取付けられたノズルを介して基板上に堆積させる方
法が記載されている。
この方法を用いると、超微粒子による微細なパターン形
成が可能となる。
成が可能となる。
しかしながら、前記従来例の方法によれば、超微粒子を
管を通して輸送するため、超微粒子本来の性質が失われ
たり、表面活性が不良になるという欠点を生じる。
管を通して輸送するため、超微粒子本来の性質が失われ
たり、表面活性が不良になるという欠点を生じる。
そこで本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解消し
、超微粒子の活性を保持した状態で、対象物の特定領域
に成膜もしくはエツチングを行う対象物の処理方法を提
供することにある。
、超微粒子の活性を保持した状態で、対象物の特定領域
に成膜もしくはエツチングを行う対象物の処理方法を提
供することにある。
更に本発明の目的は、超微粒子を用いて対象物に直接パ
ターニングを行うことが可能な対象物の処理方法を提供
することにある。
ターニングを行うことが可能な対象物の処理方法を提供
することにある。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕上記の巨的は
、以下の本発明によって達成される。
、以下の本発明によって達成される。
即ち本発明は、気相での化学反応を利用して超微粒子を
形成し、前記超微粒子を用いて対象物を処理する方法で
あって、前記超微粒子の形成領域を制限して、対象物の
特定領域に前記超微粒子を衝突させることを特徴とする
対象物の処理方法である。
形成し、前記超微粒子を用いて対象物を処理する方法で
あって、前記超微粒子の形成領域を制限して、対象物の
特定領域に前記超微粒子を衝突させることを特徴とする
対象物の処理方法である。
本発明に於いて、超微粒子の形成領域を制限する方法と
しては、反応ガス流の特定領域に超微粒子形成のための
エネルギーを付与したり、別のガス流を付与したりする
方法等がある。まず第1に反応ガス流、とりわけ反応ガ
スビームを作り出す方法としては、ノズルを介して反応
ガスを噴出させる方法が有効である。
しては、反応ガス流の特定領域に超微粒子形成のための
エネルギーを付与したり、別のガス流を付与したりする
方法等がある。まず第1に反応ガス流、とりわけ反応ガ
スビームを作り出す方法としては、ノズルを介して反応
ガスを噴出させる方法が有効である。
ビームを発生させる手段として用いるノズルとしては、
径の小さな平行管もしくは、先細ノズル。
径の小さな平行管もしくは、先細ノズル。
状を工夫した場合には気相材料をビーム化し得ると共に
超音速流とすることが可能であるため特に好ましいもの
である。
超音速流とすることが可能であるため特に好ましいもの
である。
第1図はガスビームの発生手段として、縮小拡大ノズル
を用いた場合の装置図であり、縮小拡大ノズルを介して
」二流室と反応室を連結した構造をとっている。
を用いた場合の装置図であり、縮小拡大ノズルを介して
」二流室と反応室を連結した構造をとっている。
このガスビーム発生手段の動作原理は以下の通りである
。まず上流室内に反応ガス(気相材料ガス)を供給する
。一方、反応室の圧力P2を一定値以下、例えばIPa
以下に制御できる。
。まず上流室内に反応ガス(気相材料ガス)を供給する
。一方、反応室の圧力P2を一定値以下、例えばIPa
以下に制御できる。
他方上流室3の圧力P1を一定値以上、例えばIPa以
上、好ましくは10Pa以上に制御して、上流室3とノ
ズルのど部の圧力比P n / P 、を下記(1)式
で与えられる臨界圧力比以下になるように設定する。
上、好ましくは10Pa以上に制御して、上流室3とノ
ズルのど部の圧力比P n / P 、を下記(1)式
で与えられる臨界圧力比以下になるように設定する。
尚、本発明に係る臨界圧力比を以下のように定義する。
即ち、ノズルのど部で流速が音速に一致すると、上流室
2の圧力P、とノズルのど部の圧力Pnとの圧力比は理
想的には次式で表わされる値に一致する。
2の圧力P、とノズルのど部の圧力Pnとの圧力比は理
想的には次式で表わされる値に一致する。
このRの値を臨界圧力比と呼ぶ。ここではγは比熱比で
ある。
ある。
ノズルのど部の圧力はのど部にあけられた穴(不図示)
を通して測定できる。
を通して測定できる。
供給された反応ガスは上記圧力設定により生じる圧力差
によって上流室から縮小拡大ノズルを通過して反応室へ
と流入する。
によって上流室から縮小拡大ノズルを通過して反応室へ
と流入する。
その際、縮小拡大ノズルは単に上流側と反応室の圧力差
に応じて反応ガスを噴出するだけでなく、噴出される反
応ガスの進行方向を揃えてビーム化することが可能であ
る。
に応じて反応ガスを噴出するだけでなく、噴出される反
応ガスの進行方向を揃えてビーム化することが可能であ
る。
この様にして反応ガスをビーム化して移送すれば、空間
的に独立状態にあるビームとして移送することが可能で
あり、反応室の下流側に設けた反応場に対し、反応ガス
を特定の領域にのみ付与することができるようになる。
的に独立状態にあるビームとして移送することが可能で
あり、反応室の下流側に設けた反応場に対し、反応ガス
を特定の領域にのみ付与することができるようになる。
ガスビームの発生手段としては、先細ノズルを用いても
可能である。このビーム発生手段の動作原理は以下の通
りである。ノズルから真空中に粘性流を噴出し断熱膨張
流を作り、この断熱膨張流からスキマーによって分子流
を拾い出しコリメーティングスリットによってビームを
生成する。
可能である。このビーム発生手段の動作原理は以下の通
りである。ノズルから真空中に粘性流を噴出し断熱膨張
流を作り、この断熱膨張流からスキマーによって分子流
を拾い出しコリメーティングスリットによってビームを
生成する。
ノズルから噴出された粘性流を出来るだけ自由噴流に近
い状態にするため、圧力調整室の排気が重要となる。
い状態にするため、圧力調整室の排気が重要となる。
得られるビーム強度はスキマーで拾う断熱膨張流の状態
に存在するが、この断熱膨張流の状態はノズルに導入し
た気相材料の圧力とノズルからの距離で制御出来る。
に存在するが、この断熱膨張流の状態はノズルに導入し
た気相材料の圧力とノズルからの距離で制御出来る。
スキマーは断熱膨張流からビーム軸方向に加速された気
相材料の分子を分子流として拾い出す所であり、この分
子流が実質的なビーム源である。
相材料の分子を分子流として拾い出す所であり、この分
子流が実質的なビーム源である。
スキマーは粘性流から分子流に変わる中間領域で使われ
ることからスキマー形状とビーム生成を理論的に取扱う
のは難しいが、スキマーの外角を約60°、内角を50
°以上に設定すると良い結果が得られた。
ることからスキマー形状とビーム生成を理論的に取扱う
のは難しいが、スキマーの外角を約60°、内角を50
°以上に設定すると良い結果が得られた。
次に、カス流の特定領域に超微粒子形成のための励起領
域を形成する方法としては、 1)ビーム状に絞られたエネルギービームを付与する。
域を形成する方法としては、 1)ビーム状に絞られたエネルギービームを付与する。
2)高エネルギーをもった荷電粒子あるいは中性粒子ビ
ームを付与する。
ームを付与する。
3)局所的に励起させる手段を用いる。
等が挙げられる。
■のビーム状に絞られたエネルギービームとしては、直
接光化学反応に寄与できる紫外光のビーム、例えばエキ
シマレーザ−等、あるいは熱エネルギーに転用しうるエ
ネルギービームとして、C○2レーザー、N2レーザー
等のレーザー光、X線等が用いられる。
接光化学反応に寄与できる紫外光のビーム、例えばエキ
シマレーザ−等、あるいは熱エネルギーに転用しうるエ
ネルギービームとして、C○2レーザー、N2レーザー
等のレーザー光、X線等が用いられる。
■の直接反応ガスと反応しつる高エネルギーをもった荷
電粒子のビームとしては、イオンビーム。
電粒子のビームとしては、イオンビーム。
電子ビームあるいはプラズマビーム等が、中性粒子とし
ては、プラズマ、熱フィラメント等により生成されるラ
ジカルビームが挙げられる。
ては、プラズマ、熱フィラメント等により生成されるラ
ジカルビームが挙げられる。
また■の空間内を局所的に励起させる手段としては、例
えばマイクロ波を反応室内に導入し、反応室空間内の局
部にECR(電子サイクロトロン共鳴)条件が成立する
ように磁場を設けることにより達成可能である。
えばマイクロ波を反応室内に導入し、反応室空間内の局
部にECR(電子サイクロトロン共鳴)条件が成立する
ように磁場を設けることにより達成可能である。
次に本発明の方法を図面を用いて説明する。
第1図に本発明方法を実施する超微粒子の生成装置の模
式図を示す。
式図を示す。
超微粒子生成装置1は、縮小拡大ノズル2を介して上流
室3と反応室必が連通されている。
室3と反応室必が連通されている。
反応室乳白には基体支持台5上に所望の基体6が載置さ
れている。
れている。
7は基体加熱用ヒータであり、超微粒子を作成する前に
基体6を加熱処理したり、生成した超微粒子を基体6に
作用させる際に表面反応を促進させたり、超微粒子膜を
作成する際、膜の特性を一層向上させる為にアニール処
理等をするために使用される。
基体6を加熱処理したり、生成した超微粒子を基体6に
作用させる際に表面反応を促進させたり、超微粒子膜を
作成する際、膜の特性を一層向上させる為にアニール処
理等をするために使用される。
得られる超微粒子の活性状態を保持するためには、他の
冷却手段を設けた方が良く、また超微粒子膜を作成する
場合は50°C〜450℃程度の基体の温度にすること
が好ましい。8は基体の温度をモニタする熱電対である
。
冷却手段を設けた方が良く、また超微粒子膜を作成する
場合は50°C〜450℃程度の基体の温度にすること
が好ましい。8は基体の温度をモニタする熱電対である
。
9は排気系に接続されており、ターボ分子ポンプおよび
ロータリーポンプ(不図示)により排気される。
ロータリーポンプ(不図示)により排気される。
10はエネルギービームであり、窓11を通して反応室
2内に導入される。本実施例ではエキシマレーザ−(A
rF)を用いた。また、窓11にはスブラジルの石英窓
を用いた。
2内に導入される。本実施例ではエキシマレーザ−(A
rF)を用いた。また、窓11にはスブラジルの石英窓
を用いた。
12は反応ガス供給管であり、図には示されていないが
各種原料ガスおよび必要な場合は活性促進カスあるいは
キャリヤーカスが各マスフローコントローラーにより所
望の流量に制御されて上流室3に供給される。上流室3
の圧力P1は圧力計13により測定される(本実施例の
場合はバラトロン真空計を用いた)。上流室3に入った
反応ガスはノズル2を通過して、反応室4へ一定方向に
噴出させる。
各種原料ガスおよび必要な場合は活性促進カスあるいは
キャリヤーカスが各マスフローコントローラーにより所
望の流量に制御されて上流室3に供給される。上流室3
の圧力P1は圧力計13により測定される(本実施例の
場合はバラトロン真空計を用いた)。上流室3に入った
反応ガスはノズル2を通過して、反応室4へ一定方向に
噴出させる。
本実施例ではノズル2を第1図(b)に示したような縮
小拡大ノズルを用いており、前に述べたような超高速の
流れとするとガスを一定方向へ噴出して、噴出直後の噴
流断面をほぼ保ちながら直進しビーム化される。
小拡大ノズルを用いており、前に述べたような超高速の
流れとするとガスを一定方向へ噴出して、噴出直後の噴
流断面をほぼ保ちながら直進しビーム化される。
縮小拡大ノズル2としては、前述のように流入口2aか
ら徐々に開口面積が絞られてのど部2Cとなり、再び徐
々に開口面積が拡大して流出口2bとなっているもので
あればよいが、そののど部2Cの開口面積が、真空ポン
プ壬ヨjの排気流量より、所要の上流室3の圧力及び温
度下におけるノズル流量が小さくなるよう定められてい
る。これによって流出口2bは適正膨張となり、流出口
2bでの減速等を防止できる。
ら徐々に開口面積が絞られてのど部2Cとなり、再び徐
々に開口面積が拡大して流出口2bとなっているもので
あればよいが、そののど部2Cの開口面積が、真空ポン
プ壬ヨjの排気流量より、所要の上流室3の圧力及び温
度下におけるノズル流量が小さくなるよう定められてい
る。これによって流出口2bは適正膨張となり、流出口
2bでの減速等を防止できる。
尚、流出口2b付近の内周面が中心軸に対してほぼ平行
であることが好ましい。これは噴出される反応ガスの流
れ方向がある程度流出口2b付近の内周面の方向によっ
て影響を受けるので、できるだけ平行流にさせやすくす
るためである。
であることが好ましい。これは噴出される反応ガスの流
れ方向がある程度流出口2b付近の内周面の方向によっ
て影響を受けるので、できるだけ平行流にさせやすくす
るためである。
前述のように得られた反応ガスのビーム15は基体6上
の作用させたい部分に直線的に向っている。
の作用させたい部分に直線的に向っている。
反応ガスビーム15は反応室4内で別方向から導入され
たエネルギービーム10と交差し、化学反応の領域が形
成される。
たエネルギービーム10と交差し、化学反応の領域が形
成される。
上述のように限定された化学反応の領域でのみ反応ガス
は反応して生成物(超微粒子)を生成する。さらに、高
濃度のガスビーム中で均一な超微粒子(直径≦1μm)
が生成される。
は反応して生成物(超微粒子)を生成する。さらに、高
濃度のガスビーム中で均一な超微粒子(直径≦1μm)
が生成される。
このようにして得られた超微粒子は未反応ガス、あるい
はキャリヤーガスと共に運ばれ基体上に捕集されるか、
あるいは基体上で化学作用を及ぼす。
はキャリヤーガスと共に運ばれ基体上に捕集されるか、
あるいは基体上で化学作用を及ぼす。
このようにして、基体上の所望の領域にのみ超微粒子を
作用させることが可能となる。
作用させることが可能となる。
また反応場を制限するために前述したエネルギービーム
を動かしたり、またはレーザー光を用いる場合はシリン
ドリカルレンズ等でビームを絞ったりして行うことがで
きる。
を動かしたり、またはレーザー光を用いる場合はシリン
ドリカルレンズ等でビームを絞ったりして行うことがで
きる。
S
また基体6とガスビーム具の間にスリットを入れること
により化学反応場の制御、あるいは基体上の作用領域の
制御を容易に行うことが可能である。
により化学反応場の制御、あるいは基体上の作用領域の
制御を容易に行うことが可能である。
以下に本発明を具体例を以て説明する。
〔実施例1〕
第1図に示した装置を用い以下の操作により、シリコン
(Si)の超微粒子膜を作成した。
(Si)の超微粒子膜を作成した。
先ず基体6としてコーニング7o59ガラスを支持ンベ
からSi2H6を20SCCMとH2ガスを11003
CC上流室3に導入した。ノズル2ののど部2cを2
m mφ、又流出口2bの直径を8mmφとした時、上
流室3側の圧力計13は0.5Torrを示し、反応室
4側の圧力計14は、3.4 X 10−3Torrを
示し、100倍以上の圧力差を生じていた。
からSi2H6を20SCCMとH2ガスを11003
CC上流室3に導入した。ノズル2ののど部2cを2
m mφ、又流出口2bの直径を8mmφとした時、上
流室3側の圧力計13は0.5Torrを示し、反応室
4側の圧力計14は、3.4 X 10−3Torrを
示し、100倍以上の圧力差を生じていた。
次にエキシマレーザ−(ArF)光1oをスブラジル製
の窓11を通して反応室4内に照射した。ガスビームに
あたるレーザー光の幅は25 m mであった。
の窓11を通して反応室4内に照射した。ガスビームに
あたるレーザー光の幅は25 m mであった。
この条件で基体6上に得られた超微粒子膜は10mmφ
内のみであり、その外側には超微粒子が付着しなかった
。また基体6上の限定された領域に形成されたSiの超
微粒子膜は、IR吸収スペクトルからSiH3とSiH
2がメインであり水素含有量は64%とたいへん大きな
値を示した。従って、上記の方法で得られる超微粒子膜
は水素貯臓膜としての応用が可能である。尚この水素含
有量の多い超微粒子膜は120℃付近から水素放出をし
始め、380℃でかなりの量の水素を放出した。
内のみであり、その外側には超微粒子が付着しなかった
。また基体6上の限定された領域に形成されたSiの超
微粒子膜は、IR吸収スペクトルからSiH3とSiH
2がメインであり水素含有量は64%とたいへん大きな
値を示した。従って、上記の方法で得られる超微粒子膜
は水素貯臓膜としての応用が可能である。尚この水素含
有量の多い超微粒子膜は120℃付近から水素放出をし
始め、380℃でかなりの量の水素を放出した。
〔実施例2〕
第1図に示した装置を用い、SiCの超微粒子膜を作成
した。実施例1と同様な方法で、Si2H6ガスを20
SCCM、C3H8ガスを50SCCM、 H2ガスを
50SCCMを上流室3に導入した。次にエキシマレー
ザ−(ArF )光を照射した。1時間で0.5μmの
SiCの超微粒子膜が得られた。TEM観察の結果得ら
れた1個の超微粒子の大きさは90人〜100人で均一
な超微粒子の集まりであることがわかった。このSiC
の超微粒子膜はAr”レーザー光で室温でフォトルミネ
ッセンスを測定した処、 500nm〜800nmまで
ブロードは発光ピークが認められた。従ってELに応用
することが可能である。
した。実施例1と同様な方法で、Si2H6ガスを20
SCCM、C3H8ガスを50SCCM、 H2ガスを
50SCCMを上流室3に導入した。次にエキシマレー
ザ−(ArF )光を照射した。1時間で0.5μmの
SiCの超微粒子膜が得られた。TEM観察の結果得ら
れた1個の超微粒子の大きさは90人〜100人で均一
な超微粒子の集まりであることがわかった。このSiC
の超微粒子膜はAr”レーザー光で室温でフォトルミネ
ッセンスを測定した処、 500nm〜800nmまで
ブロードは発光ピークが認められた。従ってELに応用
することが可能である。
〔実施例3〕
第2図に励起エネルギー供給手段をプラズマビームによ
り達成する方法を示す。図中1〜9,12〜15までは
第1図と同様である。16は空洞共振器であり、マイク
ロ波(2、45G Hz )が導波管17を通り、窓1
8を介して空洞共振器16に供給される。また、プラズ
マ発生用ガスは図には示されていないがマスフローコン
トローラーにより所望の流量に制御されて、ガス供給管
19から空洞共振器内に導入される。また、20はプラ
ズマを反応室4内に引き出すためのマグネットである。
り達成する方法を示す。図中1〜9,12〜15までは
第1図と同様である。16は空洞共振器であり、マイク
ロ波(2、45G Hz )が導波管17を通り、窓1
8を介して空洞共振器16に供給される。また、プラズ
マ発生用ガスは図には示されていないがマスフローコン
トローラーにより所望の流量に制御されて、ガス供給管
19から空洞共振器内に導入される。また、20はプラ
ズマを反応室4内に引き出すためのマグネットである。
上述のような装置を用いて実施例1・と同様にしてSi
F430SCCMを反応ガス供給管12がら上流室3内
に導入し、またH2ガス50SCCMを放電ガス供給管
19から空洞共振器16内に導入した処、反応室の圧力
計14は4X10−3Torrを示した。
F430SCCMを反応ガス供給管12がら上流室3内
に導入し、またH2ガス50SCCMを放電ガス供給管
19から空洞共振器16内に導入した処、反応室の圧力
計14は4X10−3Torrを示した。
次にマイクロ波を空洞共振器内に導入した処200Wで
水素のプラズマビームが反応室4内に噴出した。この際
プラズマビームの広がりは約40 m mφであり、化
学反応場[A]が特定領域に制御できた。
水素のプラズマビームが反応室4内に噴出した。この際
プラズマビームの広がりは約40 m mφであり、化
学反応場[A]が特定領域に制御できた。
このようにして得られたSiの超微粒子膜は非常に活性
であり、フッ素の含有■は1%以下であった。
であり、フッ素の含有■は1%以下であった。
〔実施例4〕
第2図に示した装置を用い、実施例3で作成したSi超
微粒子膜上にW超微粒子を作用させた。
微粒子膜上にW超微粒子を作用させた。
実施例3と同様にして、W F a 203 CCMを
反応ガス供給管12から上流室3内に導入し、又、H2
ガス50SCCMを放電ガス供給管19から空洞共振器
16内に導入した。次にマイクロ波パワーを250Wで
投入し、水素のプラズマビームを発生させ前記WF6の
ガスビームと交差させた。
反応ガス供給管12から上流室3内に導入し、又、H2
ガス50SCCMを放電ガス供給管19から空洞共振器
16内に導入した。次にマイクロ波パワーを250Wで
投入し、水素のプラズマビームを発生させ前記WF6の
ガスビームと交差させた。
得られた超微粒子膜は非常に酸化し易かったが、X線回
析試験の結果WCのピークが認められた。尚真空中で5
00℃、2時間加熱した処WCのピーク強度は50倍以
上になった。
析試験の結果WCのピークが認められた。尚真空中で5
00℃、2時間加熱した処WCのピーク強度は50倍以
上になった。
〔実施例5〕
第3図に局部的に励起エネルギーを供給する手段として
空間的に局部的に励起させる手段を用いた例を示す。図
中1〜9,12〜15までは第1図と同様である。17
はマイクロ波導波管であり、窓18を介して反応室4に
導入される。ここでマイクロ波が反応場[A]まで伝播
できるように金属メツシュ21が反応室4内に設置され
ている。第3図(b)で示した20−1.20−2は永
久磁石であり、先端部ツシュの箱21にも垂直に設置さ
れている。上述のような装置を用いて、両磁石20−1
.20−2の間で局部的なプラズマを発生させた。
空間的に局部的に励起させる手段を用いた例を示す。図
中1〜9,12〜15までは第1図と同様である。17
はマイクロ波導波管であり、窓18を介して反応室4に
導入される。ここでマイクロ波が反応場[A]まで伝播
できるように金属メツシュ21が反応室4内に設置され
ている。第3図(b)で示した20−1.20−2は永
久磁石であり、先端部ツシュの箱21にも垂直に設置さ
れている。上述のような装置を用いて、両磁石20−1
.20−2の間で局部的なプラズマを発生させた。
本実施例では基体6と反応場空間[A]の中心との距離
は120 m mである。実施例1と同様に排気操作を
行った後、SiF4ガスをIO3ccM、CH4ガスを
40SCCM1H2ガスを11005CC,反応ガス供
給管12から上流室3内に導入した。その際、上流室側
圧力計は0.5Torr、反応室側圧力計は3.8 X
10’−”Torrを示した。次にマイクロ波パワー
投入パワー300Wで窓18から反応室内に投入した処
永久磁石20−1. 2!O−2近傍でプラズマが発生
した。そして10分はどで基体6上に5μm以上のSi
C超微粒子膜が直径10 m mφ内に堆積した。得ら
れたSiC超微粒子膜はX線回折試験の結果結晶性は良
好であり、シエーラーの式から60人の粒子径と判定さ
れた。しかしながらTEM観察の結果粒子径は90〜1
20人と判定された。従って得られたSiC超微粒子膜
はアモルファス相を含むSiCと考えられる。
は120 m mである。実施例1と同様に排気操作を
行った後、SiF4ガスをIO3ccM、CH4ガスを
40SCCM1H2ガスを11005CC,反応ガス供
給管12から上流室3内に導入した。その際、上流室側
圧力計は0.5Torr、反応室側圧力計は3.8 X
10’−”Torrを示した。次にマイクロ波パワー
投入パワー300Wで窓18から反応室内に投入した処
永久磁石20−1. 2!O−2近傍でプラズマが発生
した。そして10分はどで基体6上に5μm以上のSi
C超微粒子膜が直径10 m mφ内に堆積した。得ら
れたSiC超微粒子膜はX線回折試験の結果結晶性は良
好であり、シエーラーの式から60人の粒子径と判定さ
れた。しかしながらTEM観察の結果粒子径は90〜1
20人と判定された。従って得られたSiC超微粒子膜
はアモルファス相を含むSiCと考えられる。
以上説明したように本発明によれば、対象物の特定領域
にのみ超微粒子膜を堆積したり、対象物の特定領域にの
み活性な超微粒子を作用させたりすることが可能となっ
た。
にのみ超微粒子膜を堆積したり、対象物の特定領域にの
み活性な超微粒子を作用させたりすることが可能となっ
た。
又、本発明によれば生成した超微粒子の活性をできる限
り失わさずに対象物上に運ぶことができる。
り失わさずに対象物上に運ぶことができる。
更に、本発明によれば、対象物上に直接、超微粒子によ
るパターニングを行うことが可能となった。
るパターニングを行うことが可能となった。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の一実施例を示す模式図、第1図
(b)はノズルの断面構造図、 第2図は本発明の他の実施例を示す模式図、第3図(a
)は本発明の別の実施例を示す模式図、第3図(b)は
第3図(a)の(A) −(A)’の部分断面図である
。 1は超微粒子作成装置、 2は縮小拡大ノズル、 3は上流室、 4は反応室、 5は基体支持台、 6は基体、 7は基体加熱用ヒータ、 8は熱電対、 9は排気系、 10はエネルギービーム、 11は窓、 12は反応ガス供給管、 13.14は圧力計、 l5はガスビーム、 16は空洞共振器、 17はマイクロ波導波管、 18は窓、 19は放電ガス供給管、 20は磁石、 20−1.20−2は磁石、 21は金属メツシュの箱、 [A]は反応領域。 特許出願人 キャノン株式会社 躬1図(d) 第1図(b) 唱2図 −Zイク躊支 ↓ マイクロ環 ガズ乙゛−ム
(b)はノズルの断面構造図、 第2図は本発明の他の実施例を示す模式図、第3図(a
)は本発明の別の実施例を示す模式図、第3図(b)は
第3図(a)の(A) −(A)’の部分断面図である
。 1は超微粒子作成装置、 2は縮小拡大ノズル、 3は上流室、 4は反応室、 5は基体支持台、 6は基体、 7は基体加熱用ヒータ、 8は熱電対、 9は排気系、 10はエネルギービーム、 11は窓、 12は反応ガス供給管、 13.14は圧力計、 l5はガスビーム、 16は空洞共振器、 17はマイクロ波導波管、 18は窓、 19は放電ガス供給管、 20は磁石、 20−1.20−2は磁石、 21は金属メツシュの箱、 [A]は反応領域。 特許出願人 キャノン株式会社 躬1図(d) 第1図(b) 唱2図 −Zイク躊支 ↓ マイクロ環 ガズ乙゛−ム
Claims (1)
- (1)気相での化学反応を利用して超微粒子を形成し、
前記超微粒子を用いて対象物を処理する方法であって、
前記超微粒子の形成領域を制限して、対象物の特定領域
に前記超微粒子を衝突させることを特徴とする対象物の
処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62074774A JPS63240940A (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 対象物の処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62074774A JPS63240940A (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 対象物の処理方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63240940A true JPS63240940A (ja) | 1988-10-06 |
Family
ID=13556970
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62074774A Pending JPS63240940A (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 対象物の処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63240940A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010521393A (ja) * | 2007-03-15 | 2010-06-24 | レヴ・リニューワブル・エナージー・ヴェンチャーズ・インコーポレーティッド | プラズマ支援合成 |
-
1987
- 1987-03-27 JP JP62074774A patent/JPS63240940A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010521393A (ja) * | 2007-03-15 | 2010-06-24 | レヴ・リニューワブル・エナージー・ヴェンチャーズ・インコーポレーティッド | プラズマ支援合成 |
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