JPS6323669U - - Google Patents

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JPS6323669U
JPS6323669U JP11715686U JP11715686U JPS6323669U JP S6323669 U JPS6323669 U JP S6323669U JP 11715686 U JP11715686 U JP 11715686U JP 11715686 U JP11715686 U JP 11715686U JP S6323669 U JPS6323669 U JP S6323669U
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JP
Japan
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board
circuit networks
defective
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circuit
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【図面の簡単な説明】
第１図及び第２図はこの考案に係るボードテス
タの実施例に係り、第１図はそのブロツク線図、
第２図は上記第１図と異なる回路網の測定手段説
明用配線図、第３図及び第４図は従来装置のブロ
ツク線図である。 図中、１は測定部、２，３は電流検出器、４は
差検出器、５はコンパレータ、７は良品基板、８
は被測定基板、９はパルス発生器である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 基準とする良品基板と、該良品基板と同一構成
    でなる被測定基板との対応する２つの回路網に切
    り換え可能な正極性又は負極性のパルス信号を並
    列的に加え、上記両回路網に流れる電流又は両回
    路網に発生する電圧をそれぞれ検出してその差を
    出力する検出部と、 上記良品基板の回路網ごとに定められた許容上
    限値と下限値とに対応する２つの基準値を有し、
    上記検出部からの差出力が上記２つの基準値にて
    区切られた幅内にあるか若しくは幅外にあるかを
    比較して上記被測定基板の良否を判別するコンパ
    レータとを備えていることを特徴とするボードテ
    スタ。
JP11715686U 1986-07-30 1986-07-30 Pending JPS6323669U (ja)

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JP11715686U JPS6323669U (ja) 1986-07-30 1986-07-30

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JPS6323669U true JPS6323669U (ja) 1988-02-16

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JP11715686U Pending JPS6323669U (ja) 1986-07-30 1986-07-30

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JP (1) JPS6323669U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001264398A (ja) * 1999-11-22 2001-09-26 Fujitsu Ten Ltd 電子部品検査装置及び検査方法
JP2005189115A (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Ricoh Co Ltd 基板解析装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5853774A (ja) * 1981-09-25 1983-03-30 Toshiba Corp Ｌｓｉの試験方法

Patent Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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