JPS62128379U - - Google Patents
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- JPS62128379U JPS62128379U JP1534786U JP1534786U JPS62128379U JP S62128379 U JPS62128379 U JP S62128379U JP 1534786 U JP1534786 U JP 1534786U JP 1534786 U JP1534786 U JP 1534786U JP S62128379 U JPS62128379 U JP S62128379U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement device
- dielectric strength
- strength measurement
- sample
- vessel
- Prior art date
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示す測定回路構成
図、第２図は試料に印加する交流試験電圧のタイ
ミング図、第３図は従来の測定回路構成図である
。 １……試験電圧発生回路、２……試料、３……
電流検出用抵抗、４……電流検出回路、５……良
・否判定回路、６……電流検出用カレント・トラ
ンス。
図、第２図は試料に印加する交流試験電圧のタイ
ミング図、第３図は従来の測定回路構成図である
。 １……試験電圧発生回路、２……試料、３……
電流検出用抵抗、４……電流検出回路、５……良
・否判定回路、６……電流検出用カレント・トラ
ンス。
Claims (1)
- 半導体素子の絶縁特性を交流電流試験法にて測
定する絶縁耐圧測定器において、被測定試料内で
起こる部分放電電流の検出をカレント・トランス
により検出する機能を設けたことを特徴とする絶
縁耐圧測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1534786U JPS62128379U (ja) | 1986-02-04 | 1986-02-04 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1534786U JPS62128379U (ja) | 1986-02-04 | 1986-02-04 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62128379U true JPS62128379U (ja) | 1987-08-14 |
Family
ID=30806196
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1534786U Pending JPS62128379U (ja) | 1986-02-04 | 1986-02-04 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62128379U (ja) |
-
1986
- 1986-02-04 JP JP1534786U patent/JPS62128379U/ja active Pending
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