JPS61131674U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61131674U JPS61131674U JP1465885U JP1465885U JPS61131674U JP S61131674 U JPS61131674 U JP S61131674U JP 1465885 U JP1465885 U JP 1465885U JP 1465885 U JP1465885 U JP 1465885U JP S61131674 U JPS61131674 U JP S61131674U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection circuit
- under test
- contact
- wire under
- linear electrodes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Processes Specially Adapted For Manufacturing Cables (AREA)
Description
第１〜３図は本考案の実施例を示し、第１図、
第２図は共に本考案装置により被試験線材の欠陥
部を検出する場合の構成を示す模式図であり、第
３図は本考案に用いる線状電極の要部拡大図であ
る。第４〜５図は従来装置を示し、第４図はピン
ホール検出時、第５図は裸部分検出時の構成を示
す模式図である。 図中の符号１は被試験線材、２は絶縁皮膜、３
はピンホール、４は裸部分、５は線状電極、６は
電極露出部、７は絶縁皮膜、８は第１の検出回路
、９は第２の検出回路である。
第２図は共に本考案装置により被試験線材の欠陥
部を検出する場合の構成を示す模式図であり、第
３図は本考案に用いる線状電極の要部拡大図であ
る。第４〜５図は従来装置を示し、第４図はピン
ホール検出時、第５図は裸部分検出時の構成を示
す模式図である。 図中の符号１は被試験線材、２は絶縁皮膜、３
はピンホール、４は裸部分、５は線状電極、６は
電極露出部、７は絶縁皮膜、８は第１の検出回路
、９は第２の検出回路である。
Claims (1)
- 被試験線材と接触する先端部のみ電極を露出さ
せ、他の部分には絶縁皮膜を被覆させた複数本の
線状電極からなる第１の検出回路と、前記第１の
検出回路と同一構造の複数本の線状電極からなる
第２の検出回路とを、走行する被試験線材の同一
箇所へ接触させて課電することを特徴とする絶縁
電線欠陥部検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1465885U JPS61131674U (ja) | 1985-02-06 | 1985-02-06 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1465885U JPS61131674U (ja) | 1985-02-06 | 1985-02-06 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61131674U true JPS61131674U (ja) | 1986-08-16 |
Family
ID=30499784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1465885U Pending JPS61131674U (ja) | 1985-02-06 | 1985-02-06 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61131674U (ja) |
-
1985
- 1985-02-06 JP JP1465885U patent/JPS61131674U/ja active Pending
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