JPS61104765U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61104765U JPS61104765U JP18880184U JP18880184U JPS61104765U JP S61104765 U JPS61104765 U JP S61104765U JP 18880184 U JP18880184 U JP 18880184U JP 18880184 U JP18880184 U JP 18880184U JP S61104765 U JPS61104765 U JP S61104765U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltmeter
- optical fiber
- conductor
- coil
- semiconductor layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
第1図ないし第20図は本考案の実施例を示し
、第1図は一例の構成図、第2図はコイルの断面
図、第3図はコイルの一例の全体の構成図、第4
図は鉄芯端のコイルエンド部の構成図、第5図は
半導電層と絶縁層の等価回路図、第6図は半導電
層の抵抗値と電圧との関係を示すグラフ、第7図
は光フアイバ電圧計のBSOセンサの原理図、第
8図は第1図の測定における等価回路図、第9図
は容量分圧を説明する説明図、第10図は検出手
段を主に示すブロツク図、第11図は第1変形例
の構成図、第12図は第11図の容量分圧を説明
する説明図、第13図は第2変形例の構成図、第
14図は第13図の容量分圧を説明する説明図、
第15図は第3変形例の構成図、第16図は第1
5図の容量分圧を説明する説明図、第17図は第
4変形例の構成図、第18図は容量分圧の説明図
、第19図a,b,cは光センサ電圧計と検出電
極との接続法を示す説明図、第20図a,bはそ
れぞれ検出電極の接続状態図である。 図中、1は導体、2は絶縁層、3は半導体層、
4は鉄芯、6は光フアイバ電圧計、6a,6bは
電極端子である。
、第1図は一例の構成図、第2図はコイルの断面
図、第3図はコイルの一例の全体の構成図、第4
図は鉄芯端のコイルエンド部の構成図、第5図は
半導電層と絶縁層の等価回路図、第6図は半導電
層の抵抗値と電圧との関係を示すグラフ、第7図
は光フアイバ電圧計のBSOセンサの原理図、第
8図は第1図の測定における等価回路図、第9図
は容量分圧を説明する説明図、第10図は検出手
段を主に示すブロツク図、第11図は第1変形例
の構成図、第12図は第11図の容量分圧を説明
する説明図、第13図は第2変形例の構成図、第
14図は第13図の容量分圧を説明する説明図、
第15図は第3変形例の構成図、第16図は第1
5図の容量分圧を説明する説明図、第17図は第
4変形例の構成図、第18図は容量分圧の説明図
、第19図a,b,cは光センサ電圧計と検出電
極との接続法を示す説明図、第20図a,bはそ
れぞれ検出電極の接続状態図である。 図中、1は導体、2は絶縁層、3は半導体層、
4は鉄芯、6は光フアイバ電圧計、6a,6bは
電極端子である。
Claims (1)
- 導体の外周に形成される絶縁層内にあつてコイ
ルの鉄心挿入部からコイルエンド部にかけて半導
体層を形成し、この半導体層が存在するコイルエ
ンド部にBSOセンサを備えた光フアイバ電圧計
の一方の電極を配置し、この光フアイバ電圧計の
他方の電極をアース又は導体のいずれかに接続す
るか開放し、上記光フアイバ電圧計から導出され
た光フアイバを検出手段に接続する絶縁劣化監視
装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984188801U JP2510328Y2 (ja) | 1984-12-14 | 1984-12-14 | 絶縁劣化監視装置 |
US06/806,675 US4737775A (en) | 1984-12-14 | 1985-12-09 | Insulation deterioration monitoring apparatus |
EP85115928A EP0187309B1 (en) | 1984-12-14 | 1985-12-13 | Insulation deterioration monitoring apparatus |
DE8585115928T DE3579800D1 (de) | 1984-12-14 | 1985-12-13 | Apparatur zur ueberwachung der verschlechterung der isolation. |
KR2019850016704U KR920002832Y1 (ko) | 1984-12-14 | 1985-12-13 | 절연 열화 감시 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984188801U JP2510328Y2 (ja) | 1984-12-14 | 1984-12-14 | 絶縁劣化監視装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61104765U true JPS61104765U (ja) | 1986-07-03 |
JP2510328Y2 JP2510328Y2 (ja) | 1996-09-11 |
Family
ID=30746265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1984188801U Expired - Lifetime JP2510328Y2 (ja) | 1984-12-14 | 1984-12-14 | 絶縁劣化監視装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2510328Y2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003091743A1 (fr) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Procede et systeme de diagnostic de deterioration de bobine |
CN113933668A (zh) * | 2021-11-12 | 2022-01-14 | 中广核核电运营有限公司 | 发电机转子绝缘检测方法及发电机定子故障测试方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5843162A (ja) * | 1981-09-07 | 1983-03-12 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 高圧回転機線輪の絶縁性能監視方法 |
-
1984
- 1984-12-14 JP JP1984188801U patent/JP2510328Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5843162A (ja) * | 1981-09-07 | 1983-03-12 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 高圧回転機線輪の絶縁性能監視方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003091743A1 (fr) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Procede et systeme de diagnostic de deterioration de bobine |
JP2003315402A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Toshiba Corp | コイル劣化診断方法およびこの診断方法に適用するコイル劣化診断装置 |
CN113933668A (zh) * | 2021-11-12 | 2022-01-14 | 中广核核电运营有限公司 | 发电机转子绝缘检测方法及发电机定子故障测试方法 |
CN113933668B (zh) * | 2021-11-12 | 2024-05-10 | 中广核核电运营有限公司 | 发电机转子绝缘检测方法及发电机定子故障测试方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2510328Y2 (ja) | 1996-09-11 |