JPS63229335A - 光測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、例えば計測器の位置から見た特定の視野内の
比較的微細な部分からの放射光や反射光の量を測定する
輝度計等の光測定装置に関する。

〈従来の技術〉 従来、輝度計の製造工程における最終校正は、次のよう
にして行われる。すなわち、生産工場において、基準の
光源と白色透過拡散板を使用して基準輝度をつくり、輝
度計の表示値が基亭輝度値になるように校正される。し
かし、・実際この校正において表示値が基め輝度のある
範囲内に入れば校正が行われたとすることが多い。この
ような校正をされた輝度計を、たとえば３台使用しであ
る輝度面を測定すると、夫々の表示値が、Ｎ０６Ｉの輝
度計の表示値　　　１３４．８ｃｄ／ｍ”Ｎｏ、２の輝
度計の表示値　　　１３５．０ｃｄ／ｍ”Ｎｏ、３の輝
度計の表示値　　　１３５．５ｃｄ／ｍ”になり、器差
が生じる。輝度計を数台以上匁用する場合、この器差が
大きな問題となり、この器差をなくす必要がある。その
ため、このような輝度計を実際の測定で数台同時に使用
する場合、その中から１台をマスター機として選別し、
このマスター機の表示値に他の輝度計の表示値を一致さ
せるように、これら各表示値に夫々所定の係数を乗じて
、各輝度計間の器差を除去している。また、ユーザー側
で独自の基準値を持っている場合や、全く任意の値に表
示値を変換したい場合も多い。

たとえば、表示値（測定値）が１３４．８ｃｄ／ｍ”で
あるが、表示を別の値（同じ値でもよい）１３５．０ｃ
ｄ／　ｍ２に変換したい場合等である。この変換を行う
と、以後測定値に１３５．０／１３４．８ミ１．００１
４８の糸数のかかった値が表示される。この変換を行う
には、測定値と任意の設定値（上記の例では、１３４．
８力＜　ＩＩＩ定値、　１３５．０が任意の設定値）が
必要である。このように、測定値を任意の値に変換して
測定値を補正することも必要である。

一方、輝度計の受光素子の分光感度は、人間の目のそれ
に合わせる必要がある。光電測色式の輝度計では受光素
子にフィルタを付けて分光感度を補正しているが、フィ
ルタによる補正のため、理想の形に一致させることは困
難であり、ずれが生じる。このように輝度計の分光感度
の誤差は、フィルタの不完全さに起因して生じ、例えば
第１８図に見られるように、実線で示す輝度計の分光感
度Ｓ（λ）と２点鎖線で示す標準比視感度Ｖ（λ）（理
想的分光感度）間にはずれが認められる。一度決定した
分光感度に関しては、個々の製品のばらつきは非常に小
さく、個々の測定値の差は無視できる。そして、この輝
度計で最終校正時の基牟光源と色温度を異にする光源を
測定する場合、分光感度のずれによって生じる測定誤差
を除去するため、測定値に下記の（１）式で示す色補正
係数（Ｃ、Ｃ。

Ｆと略す）を乗じている。

ただし、■（λ）：標準比視感度 Ａ（λ）：校正光源の放射エネルギの分光分布Ｓ（λ）
：輝度計の分光感度 Ａ、（λ）：測定しようとする発光面の放射エネルギの
分光分布 〈発明が解決しようとする問題点〉 ところが、上記従来の輝度計では、１つの測定値補正手
段を校正誤差（器差）の補正と分光感度の誤差の補正に
使い分けているため、測定に数台の輝度計を同時使用す
る場合、初めにマスター機の表示値に他の輝度計の表示
値を一致させる前述の補正をして器差を除去しておいて
も、測定対象の光源の色温度が異なるたびに、分光感度
の誤差を補正するためにマスター機と他の全ての輝度計
を再校正しなければならないという欠点がある。また、
輝度計の焦点距離よりも近距離の狭い部分の輝度を測定
するため゛、通常一定透過率をもつクローズアップレン
ズを併用するが、このような場合には、透過率が既知の
一定値であるにも拘わらずこのクローズアップレンズを
用いた輝度計をマスター機に対して校正し直す必要があ
り、いずれにしても再校正に長時間を要するという問題
がある。

そこで、本発明の目的は、各光測定装置間の器差の補正
と分光感度のずれの補正を同時に行なうことができ、正
確な測定値が迅速に得られ、品質管理や工程管理に用い
れば好適な光測定装置を堤供することである。

く問題点を解決するための手段〉 上記目的を達成するため、本発明の光測定装置は、入射
する光の量を電気信号に変換する光電変換部と、内部部
品による固有の誤差を含んだ測定値に対する校正基準値
を入力する校正基準値入力手段と、光源の色温度に応じ
て生じる分光感度の誤差を補正する色補正係数などの補
正係数を入力する補正係数入力手段と、上記光電変換部
から入力される電気信号を上記校正基準値を用いて補正
する第１補正手段および上記電気信号を上記補正係数を
用いて補正する第２補正手段を有する演算処理部とを備
えて、上記校正基準値または補正係数、あるいは上記校
正基準値および補正係数を用いて測定値を補正するよう
にしたことを特徴とする。

く作用〉 入射光量は、光電変喚部で電気信号に変換され、演算処
理部は、上記電気信号を演算処理して測定値を算出する
とともに、校正基準値入力手段から入力された校正基め
値および補正係数入力手段から入力された補正係数に基
づき、上記測定値に、必要に応じて選択された校正基準
値、補正係数。

校正基準値と補正係数のいずれかによる補正を施す。従
って、数台の光測定装置を同時使用する場合、まず、マ
スター装置の測定値を校正基準値として他の装置の測定
値を補正するようにしておけば装置間の器差が除かれ、
次に入射光の色温度が変化した場合、この色温度に応じ
た補正係数を各装置の補正係数入力手段から入力するだ
けで、各装置がその測定値に上記校正基準値と補正係数
による補正を施す。

〈実施例〉 以下、本発明を図示の実施例により詳細に説明する。

第１図は本発明の一実施例としての輝度計のブロック図
であり、■はフォトダイオード２とこのフォトダイオー
ドの分光感度を標準比視感度に補正するフィルタ３を有
し、入射する光の量を電気信号に変換する光電変換回路
、４はこの光電変換回路から入力されるアナログ信号を
ディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路、５は上記光
電変換回路ｌおよびＡ／Ｄ変換回路４からの出力信号が
所定値以上であるか否かを判定するオーバー判定回路、
６は内部部品による固有の誤差を含んだ測定値に対する
校正基準値を入力する校正基準値入力手段と光源の色温
度に応じて生じる分光感度の誤差を補正する補正係数を
入力する補正係数入力手段を兼ねるキー操作部、７は測
光のための種々の演算処理プログラムを格納するＦＲＯ
Ｍ、８は上記キー操作部６のキー操作によって定まる設
定モードに応じてＦ　ＲＯＭ　７から必要な演算処理プ
ログラムを選択する選択回路である。

また、９は測定スイッチＩＯのオン信号を受けて、Ａ／
Ｄ変換回路４から入力されるディジタル信号を、上記選
択回路８で選択されたプログラムに従って演算して入射
光量を測定値として算出するとともに、この測定値と上
記オーバー判定回路５の出力をフィードバックして、光
電変換回路ｌを最適計測レンジに制御する一方、キー操
作部６から入力された上記校正基準値と補正係数を不揮
発性ＲＡＭｌｌ１．：格納し、上記測定値を、キー操作
部６の操作で定まる上記校正基準値あるいは補正係数の
いずれか一方または双方で補正する第１および第２補正
手段を有する演算処理部としてのＣＰＵ、１２．１３は
このＣＰＵ９で演算された演算結果やキー操作部６から
の入力データをドライバ１４を経て表示する内部表示装
置および外部表示装置、Ｉ５は電源回路、１６は外部と
の信号のやりとりや給電を行なうための入出力端子てあ
第２図は上記輝度計の外観側面図であり、２０は被測定
物に対するレンズの焦点を調節する距離目盛２１付鏡銅
、２２は接眼枠、２３はグリップ、２４はこのグリップ
の上部前面に設けたブツシュ式の測定ボタン（第１図中
１０参照）、２５は上記グリップ２３の上部側面に設け
たスライド式の電源スィッチ、２６は上記グリップ２３
の基部に取り付けたハンドストラップ、２７は中央部側
面に設けたキー操作部（第１図中６参照）、２８はこの
キー操作部の上部に設けた液晶表示装置（第１図中１３
参照）、２９は上面に着脱自在に設けられた電池室蓋、
３０はグリップ２３の下部に設けたディジタル出力端子
カバー、３Ｉはグリップ２３の端面に設けた三脚用のね
じ穴である。また、上記輝度計は輝度単位をｃｄ／ｍ２
とＨ，に切換える図示しない輝度単位スイッチを何する
。

第３図は、上記キー操作部２７の拡大図である。

同図において、スライド式の校正スイッチ３５は、校正
の基■を選ぶスイッチであり、ｒＰＲＥＳＥＴ」で製造
時の最終校正が、ｒＶＡＲｌ、Ｊでユーザーが後述の如
く選択する校正基準値（Ｌ　ＵＭ　Ｉ　、）あるいは補
正係数（Ｃ，Ｃ，Ｆ、）のいずれか一方または双方が夫
々校正の基準となる。スライド式の測定モードスイッチ
３６は、表示モードを切換えるスイッチであり、測定値
は、夫々ｒＡＢｓ、Ｊで絶対値表示、「％」で％表示さ
れる。スライド式の応答速度切換スイッチ３７は、輝度
計の応答速度を、ｒＦＡｓＴＪで速く、ｒＳＬＯＷＪで
遅くするものである。また、上部に５個並んだブツシュ
キーの右端のＦキー３８は、他のキーと同時に操作して
種々の選択を行なうものであり、Ｌ／Ｃキー３９と共に
（ＬＵＭｌ、）、（Ｃ，Ｃ，Ｆ、）、（ＬＵＭＩ汁Ｃ，
Ｃ，Ｆ、）のいずれかのユーザー校正モードを選択でき
、Ｐ／Ｃキー４０と共に測定時の最大値（ＰＥＡＫ）ま
たは瞬時値（ＣＯＮＴ、）を選択でき、↑キー４１と共
にデータ設定時の小数点移動や置数のインクリメントを
行なうとともに、このＦキー３８を押しながらスライド
式の上記校正スイッチ３５あるいは測定モードスイッチ
３６を往復動さ仕ると、設定されたデータが不揮発性Ｒ
ＡＭにメモリされる。５個並んだブツシュキーの左端の
Ｒ／△キー４２は、単独で押すと、メモリ（第１図中１
１参照）に格納した％基帛値や校正の基準となる（ＬＵ
Ｍｌ、）、（Ｃ，Ｃ，Ｆ、）の設定値などが表示される
一方、データ設定時に桁移動ができるようになっている
。

第４図は、上記液晶表示装置２８の拡大図である。同図
では、全セグメントが点灯した状態を示しているか、使
用時にはキー操作部２７で設定されたモードに応じて、
Ｃ，Ｃ，Ｆ、とＬＵＭｌ、の一方または双方、ＰＥＡＫ
、％、ｆＬとｃｄ／ｍ’の一方が夫々点灯するとともに
、測定値や設定値に応じて数字セグメントが点灯する。

上記構成の輝度計の動作について、第５図〜第１７図を
参照しつつ以下に述べる。

第５図−は、キー操作部２７等におけるキー操作を判定
する処理の流れの概略を示すフローチャートである。同
図の各ステップにおける処理は、次のとおりである。

（イ）電源スィッチ２５（第２図参照）かオンになると
、ＣＰＵ９（第１図参照）は、不揮発性ＲＡＭ１１に格
納された前回測定時の５つのデータ、即ちＰ／Ｃキー４
０でＰＥＡＫとＣ０ＮＴ、のどちらが選択されていたか
、Ｌ／Ｃキー３９で（ＬＵＭＴ　、）、（Ｃ，Ｃ，Ｆ、
）、（ＬＵＭＩ　、＋Ｃ，Ｃ，Ｆ、）のうちどの校正モ
ードが選択されていたかおよび％基準値、補正係数（Ｃ
，Ｃ，Ｆ、）の値９校正基準値（ＬＵＭＩ　、）と校正
係数を読み込むとともに初期設定を行ない、液晶表示２
８（第４図参照）に例示の如く初期表示をさせ、次に、
測定ボタン２４（第２図参照）が押されると、割込を解
除する。

（ロ）ＣＰ　Ｕ　９は、他のブツシュキーと共にＰＥＡ
Ｋ／Ｃ０ＮＴ　や校正モードの選択を行なうＦキー３８
（第３図参照）が押されているか否かを判定し、押され
ていればステップ（へ）〜（ワ）に進んで、これらの前
回データを設定し直し、押されていなければ変更はない
ものとして次のステップ（ハ）へ進む。

（ハ）次に、前回データリコール用のＲ／△キー４２が
押されているか否かを判定し、押されていればステップ
（ヌ）〜（ワ）に進んで％基準値、Ｃ１Ｃ，Ｆ、の値、
ＬＵＭｌ、の値を設定し直し、押されていなければこれ
らの前回データに変更はないものとして次のステップ（
ニ）へ進む。

（ニ）さらに、スライド式の校正スイッチ３５あるいは
測定モードスイッチ３６に変化があったか否かを判定し
、変化があればそれまでに設定されたデータに基づいて
演算を開始すべきとして次のステップ（ホ）へ進み、変
化がなければステップ（ロ）に戻って前述の判定を繰返
す。

（ホ）ＣＰＵ９は、それまでに設定されたデータに基づ
いて、選択回路８（第１図参照）によってＰＲＯＭ７か
ら選ばれた演算処理プログラムに従って、Ａ／Ｄ変換回
路４から入力される電気信号を演算して入射光量を測定
値として算出するととらに、この測定値に補正係数１校
正係数（校正括準値／測定値）のいずれか一方または双
方を乗じて測定値を補正する。そして、演算か終わると
演算結果を液晶表示装置に表示させ、再びステップ（ロ
）ヘ戻る。

ステップ（へ）以降の処理は、次のとおりである。

（へ）ＣＰｔｊ９は、ステップ（イ）で読み込んたＰＥ
ＡＫ、Ｃ０ＮＴ、のいずれか、および（ｔ、ｕＭｌ、）
。

（Ｃ，Ｃ，Ｆ、）、（ＬＬｊＭｌ、＋Ｃ，Ｃ，Ｆ、）の
いずれかである前回データを初期設定するとともに、そ
れを液晶表示装置に表示さける。

（ト）次に、Ｌ／Ｃキー３９およびＰ／Ｃキー４０の状
態から、それが上記初期モードを変更するものであるか
否かを判別し、変更ずろものなら次□のステップ（チ）
に進む。

（ヂ）Ｌ／Ｃキー３９およびＰ／Ｃキー４０で新たに選
択されたモードにデータを設定し直し、これを液晶表示
装置に表示さＵ″、次のステップ（す）−進む。

（ワ）ＣＰｔ、：９は、Ｆキー３８が離されｆこか否か
でデータ設定が終了したか否かを判定し、終了した場合
はステップ（力）に、そうでない場合は上記ステップ（
ト）に夫々進む。

（力）ＣＰＬ１９は、不揮発性ｒｌＡＭＩ＋に書き込ま
れていた前回デ、−夕を消去して、新たに設定されたデ
ータを書き込んだ後、ステップ（ロ）へ戻る。

また、ステップ（ヌ）以降の処理は、次のとおりである
。

（ヌ）ＣＰＵ９は、ステップ（イ）で読み込んだ前回の
％基準値、Ｃ，Ｃ，Ｆ、の値、！、ＵＭＬの値を、■、
／Ｃキー３９で選択された校正モードおよび測定モード
スイッチ３６で選択された測定モードに応じて初期値と
して設定し、液晶表示装置に例示の如く表示させろ。

（ル）次に、Ｆキー３８．↑キー４１．Ｒ／△キー４２
の状態から、それが上記初期値を変更しようとするもの
であるか否かを判別し、変更しようとするらのなら次の
ステップ（ヲ）に進む一方、そうでないならステップ（
ヨ）に進む。

（ヲ）上記各ブッンユキ−３８，４１，４２で新たに与
えられる数値に上記初期値を設定し直し、これを液晶表
示装置に表示させ、次のステップ（ワ）へ進む。

（ワ）ＣＰＵ９は、Ｆキー３８が押されつつ校正スイッ
チ３５あるいは測定モードスイッチ３６が往復動された
か否かで、データ設定が終了したか否かを判定し、終了
した場合は上記ステップ（力）に、そうでない場合は上
記ステップ（ル）に夫々進む。

なお、上記ステップ（ル）で初期値を変更しないしのと
された場合、ＣＰＵ９は、ステップ（ヨ）において、校
正スイッチ３５あるいは測定モードスイッチ３６が往復
動したか否かで、データ設定が終了したか否かを判定し
、終了した場合は上記ステップ（コ）に、そうでない場
合は上記ステップ（ル）に夫々進む。

第６図は、入射光量を測定する処理の流れの概略を示す
フローチャートである。同図の各ステップにおける処理
は、次のとおりである。

（イ）４す定ボタン２４（第２図参照）が押されると、
ＣＰＵ９（第１図参照）に割込１がかかり、Ａ／Ｄ変換
用ＲＡＭが初期設定され、光？ＩＸ変換回路ｌの計測レ
ンジか所定の切期レンジに設定されるとと乙に、液晶表
示装置２８が例示の如く消灯して測定開始を知らせる。

（ロ）Ａ／Ｄ変換回路４の図示しないコンデンサに貯え
られた電荷が放電（リセット）され、続いてこのコンデ
ンサに光電変換回路１から入力されるアナログ電圧信号
が貯えられて積分が行なわれる。

（ハ）オーバー判定回路５は、上記コンデンサに貯えら
れた１待が所定量以上であるか否かを判定し、所定量以
上のときはステップ（ホ）の処理に、そうでないときは
次のステップ（ニ）の処理に進む。

（ニ）Ａ／Ｄ変換回路４の上記コンデンサの放電か開始
され、信号変換手段が一定時間内に放電されるｍｍａを
計数し、カウント値としてデイノタル化する。

（ホ）上記ステップ（ハ）でオーバーと判定されたとき
、ＣＰＵ９は、充ｉ！変換回路！の設定計測レンジが最
上レンジであるか否かを判定し、最上レンジならレンノ
アソプ不能可としてステップ（ト）に進む一方、そうで
ないならステップ（へ）で計測レンジを一つ上のレンジ
に変更してステップ（ロ）に戻る。

（チ）上記ステップ（ニ）の一定時間が経過すると、Ａ
／Ｄ変換回路４からＣＰＵ９に割込０がかかり、その時
点でのカウント値が入力される。

（す）ＣＰＵ９は、上記カウント値が所定値以下である
か否かを判定し、所定値以下のときには光量不足として
ステップ（ワ）に、そうでないときは次のステップ（ヌ
）へ夫々進む。

（ヌ）ＣＰＵ９は、上記カウント値に対して、ＦＲＯＭ
７から設定モードに応じて第５図で述べたようにして選
ばれた演算処理プログラムに則って演算を施し、演算結
果を液晶表示装置に例示の如く表示させ、次のステップ
（ル）へ進む。

（ル）ＣＰＵ９は、測定ボタン２４か離されたか否かを
判別し、離された場合は、離す直航の表示値をホールド
するとともにステップ（ヲ）で入出力端子＋６（第１図
参照）を経てデータを出力した後、第５図のＡ即ち第５
図のステップ（ロ）へ戻る。一方、離されていない場合
は、第６図のステップ（ロ）へ戻って以降の測光を繰り
返し、液晶表示装置には測定値が定時間間隔で順次表示
されることにな（ワ）上記ステップ（す）でアンダーと
判定されたとき、ＣＰＵ９は、光電変換回路１の設定計
測レンジが最下レンジであるか否かを判定し、最下Ｉノ
ンジならレンジダウン不可能として上記計算ステップ（
ヌ）へ進む一方、そうでないならステップ（力）で計測
レンジを一つ下のレンジに変更してステップ（ロ）に戻
る。

次に、キー操作部２７（第３図参照）によるモード設定
と数値設定の個々の具体例について、キー操作と表示例
を示す説明図およびそれに対応する流れ図を参照しなが
ら説明する。

第７図は、校正モードをＬ　ＵＭ　ｒ　、（校正基準値
）、Ｃ，Ｃ，Ｆ、（補正計数）、ＬＵＭｒ、＋Ｃ，Ｃ，
Ｆ　のいずれかに設定する場合の説明図である。校正ス
イッチ３５（第３図参照）をＶＡＲｌ、に、測定モード
スイッチ３６をＡＢＳ、にし、Ｆキー３８を押したまま
で、Ｌ／Ｃキー３９を繰り返して押す。

Ｌ／Ｃキーを一度押すと、（ａ）の如く記憶されている
前回の校正モード（Ｌ　ＵＭ　Ｉ　、）が表示され、も
う一度押すと、（ｂ）の如く次の校正モード（Ｃ。

Ｃ，Ｆ、）が、さらに一度押すと、（Ｃ）の如くさらに
次の校正モード（ＬＵＭｌ、＋Ｃ，Ｃ，Ｆ、）が次々表
示され、さらに一度押すと（ａ）に示゛すものと校正モ
ード（Ｌ　ＵＭ　Ｉ　、）に戻る。希望の校正モードに
なったとき、Ｆキーを離すと、表示は一瞬の間（ｄ）の
如くなり、選ばれた校正モードに対応した係数を測定値
に乗じる補正がＣＰＵ４によって行なわれる。そして、
補正された測定値が、その校正モードに応じて（ｅ）、
（ｆ）、（ｇ）に例示するように表示され、測定値かな
い場合は（ｈ）の如く表示される。

なお、第７図中のＬ／Ｃの上に付した０は、そのキーを
一度押すことを示す。

上述の校正モード設定を、第８図のフローチャートに即
して説明する。校正スイッチ３５がＶＡＲｌ、側なので
ステップ（イ）で正と判定されて前回の校正モード（Ｌ
ＵＭＴ、）が表示され、第７図（ａ）のＦキー、Ｌ／Ｃ
キーが共に押された状態からＬ／Ｃキーが離れると、ス
テップ（ロ）で否、ステップ（ハ）で正と判定され、次
にＬ／Ｃキーか第７図（ｂ）の如くもう一部押されると
、ステップ（ニ）で正と判定されて次の校正モード（Ｃ
、Ｃ、ｌ”　、）が表示される。この状態でＦキー、Ｌ
／Ｃキーが共に離されると、ステップ（ホ）で否、ステ
ップ（へ）で否と判定され、処理は（ル）の計算へ移り
、−瞬間ＣＡＬが表示された後（第７図（ｄ））、計算
結果が、メモリに格納されるとともに校正モードと共に
表示される（第７図（ｒ））。なお、上記ステップ（へ
）でＦキーか押されていて正、ステップ（ト）で正と判
定されて第７図（Ｃ）の状態となった後、Ｆキー。

Ｌ／Ｃキーが共に離されると、ステップ（チ）で否、ス
テップ（す）で否となって、計算ステップ（ル）へ移る
。また、上記ステップ（す）でＦキーが押されていて正
、ステップ（ヌ）で正と判定されて第７図（ａ）の状態
に戻った後、両キーが離されると、ステップ（ロ）で否
、ステップ（ハ）で否となって、同じく計算ステップ（
ル）に移るのである。

第９図は、校正モードＬＵＭ１．で校正基準値を設定す
る場合の説明図である。設定に先立ち、校正スイッチ３
５をＰＲＥＳＥＴに、測定モードスイッチ３６をＡＢＳ
　　にし、測定ボタン２４（第２図参照）を押して測定
を行ない、測定値を（ａ）の如くホールドする。次に、
校正スイッチを（ｂ）の如＜　ＶＡＲＩ　　にセットし
た後、校正モードｈ＜ＬＵＭｌ、てない場合は、第７図
で既述の方法でＬＵＭｒ、に設定する。Ｒ／△キー４２
を一度押すと、（Ｃ）の如く前回設定値が４個のへマー
クと共に表示され、校正基準値の設定が可能になる。な
お、図では前回設定値がないため、０で表示されている
。Ｒ／△キーをもう一度押すと、（ｄ）の如く△マーク
が２個点灯し、小数点の位置設定力く可能になったこと
を示す。Ｆキーを押しなから↑キーを一度ずつ押すか、
押し続けると、（ｅ）°の如く小数点（下位の０し含む
）か順次右へ移動する。例えばＦキーを押しなから↑キ
ーを３回押し、両キーを離すと、小数点は（ｅ）の如き
位置になる。

ここで、Ｒ／△キーを一度押すと、（ｆ）の如く△マー
クが最上桁の下に点灯し、この桁の数値設定が可能にな
ったことを示す。次に、Ｆキーを押しなから↑キーを一
度ずつ押すか、押し続けると、数値がインクリメントし
て循環し、希望の数値で両キーを離すと、その数値が（
ｇ）の如く置数される。Ｒ／△キーを再び押すと、（ｈ
）の如（△マークが次の桁に移動し、この桁の置数が可
能になる。

前述と同様な操作を繰返し、（ｉ）〜（ｍ）の如く４桁
全ての数値（校正基準値）の設定を終える。なお、この
状態でＲ／△キーを押すたびに、（ｎ）〜（ｓ）で示す
ように△マークが順次循環移動し、△マークの桁の数値
を重連と同様な操作で変更することができる。最後に、
Ｆキーを押しながら校正スイッチをＶＡＲＩ　、からＰ
ＲＥＳＥＴに、続いてＰＲＥＳＥＴからＶＡｒ（ｒ、に
動かした後、Ｆキーを離す。これによって、上記設定さ
れた校正基準値および校正係数（校正基準値／測定値）
が、府回データに替わる新たなデータとして不揮発性Ｒ
ＡＭ１１（第１図参照）に格納されるとともに、測定値
に上記校正係数を乗じる補正が行なわれ、表示は（ｔ）
の如く一瞬の間ＣＡＬとなった後、（ｕ）の如く補正さ
れた測定値が校正モード表示Ｌ　ＵＭ　Ｉ　、と共に表
示される。この設定後、ＶＡＲｌ、（ＬＵＭｌ、）モー
ドで測定を行なうと、液晶表示装置は、測定値に上記校
正係数を乗じた値を表示することになる。

上述の校正基準値の設定を、第１０図のフローチャート
に即して説明する。第９図（ａ）の如く測定値がホール
ドされているので、ステ・ｙプ（イ）で正と判定され、
次に第９図（ｂ）の如く校正スイッチがＰＲＥＳＥＴか
らＶＡＲｌ、ｌ：切換わると、ステップ（ロ）で正と判
定され、次のステップ（）ｈ）に進む。このステップ（
ハ）では、Ｒ／△キーが第９図（Ｃ）の如く押されてい
るか否かを判定し、押されているとき、選ばれた校正モ
ードＬＵＭＩ。

に対応する前回設定値即ち前回校正基亭値を不揮発性Ｒ
ＡＭＩＩ（第１図参照）から読み出す処理ｌが行なわれ
、ステップ（ニ）で上記前回設定値が表示される。Ｒ／
△キーが第９図（Ｃ）の状態で離されると、ステップ（
ホ）で否、ステ・ツブ（へ）で否と判定され、次いで第
９図（ｄ）の如＜Ｉｔ／△キーが再び押されると、ステ
ップ（ト）で正と判定され、ステップ（チ）の処理２に
進む。この処理２は、初回が小数点の位置設定開始、２
回目以降が数値設定時の桁移動の処理であり、前者の処
理後ステップ（ニ）に戻ると、表示装置は第９図（ｄ）
のように小数点の位置設定が可能になったことを知らせ
る。

次に、第９図（ｄ）の状態でＲ／△キーが離され、第９
図（ｅ）の如くＦキーと↑キーが同時に押されると、順
にステップ（ホ）で否、ステップ（へ）で正。

ステップ（す）で正、ステップ（ヌ）で正と判定され、
ステップ（ル）の処理３に移る。この処理３は、初回か
小数点移動、２回目以降が置数インクリメントの処理で
あり、小数点移動および置数インクリメントは、↑キー
が０．５秒以上押し続けられる場合は、０．５秒毎に１
つ移動または増加する一方、↑キーの押し時間か０．５
秒未満なら１つたけ移動または増加する。従って、第９
図（ｅ）°の如くＦキーを押し続けなから↑キーを押す
たびに小数点は１つずつ右へ移動し、↑キーを３回押せ
ば第９図（ｅ）の如くなる。そして、第９図（ｅ）の状
態でＦキーと↑キーを共に離すと、ステップ（ヲ）で否
と判定され、ステップ（へ）に戻る。

ここで、第９図（Ｄの如＜Ｒ／△キーを一度押すと、ス
テップ（ト）で正とされ、ステップ（チ）の処理２か行
なわれて、置数位置を示す△マークが最上桁に点灯し、
続いてステップ（ホ）で否とされステップ（へ）進む。

次に、第９図（ｇ）の如くＦキーを押しつつ↑キーを２
回押すと、ステップ（へ）からステップ（す）、（ヌ）
、（ル）、（ヲ）を経てステップ（へ）に戻るループが
２回実行され、最上桁に「２」が置数される。さらに、
第９図（ｈ）の如＜Ｒ／△キーを再び押すと、ステップ
（へ）で否、ステップ（ト）で正とされ、ステップ（チ
）の処理２により△マークが次の桁に移動せしめられる
。この桁の置数および以下の桁の移動と置数も上述と同
様に行なわれ、第９図（ｍ）の状態に至る。なお、この
状態でＲ／△キーを第９図（ｎ）〜（Ｓ）の如く押すた
びに、ステップ（ホ）で否、ステップ（ト）で正とされ
るステップ（ニ）〜（チ）を回るループが実行され、処
理２の桁移動がなされることになる。最後に、第９図（
１）の如くＦキーを押しながら校正スイッチを一度ＰＲ
ＥＳＥＴにしてからＰＲＥＳＥＴからＶＡＲＩ　、に動
かすと、ステップ（へ）で正、ステップ（ワ）で否、ス
テップ（ワ）で正と判定され、ステップ（力）の計算処
理等が開始される。即ち、設定された校正基準値と校正
係数が前回データに替わる新たなデータとしてメモリに
格納され、測定値に上記校正係数を乗じる補正がなされ
、補正された測定値が第９図（ｕ）の如く表示されるの
である。

第［１図は、校正モードＣ，Ｃ，Ｆ　で補正係数を設定
する場合の説明図である。この設定手順は、第９図で述
べた校正基亭値（ＬＵＭｌ、）の設定手順と本質的に何
ら異ならず、同じ内容の操作には同一の記号（ａ）　〜
（ｃ）、（ｆ’）−（ｒ）、（ｔ）、（ｕ）を付して説
明を省略する。ただ、これらの操作で第９図と異なる点
は、（ｂ）で校正モードかＣ，Ｃ，Ｆ、に選択され、（
ｃ）で前回Ｃ，Ｃ，Ｐ’、設定値が１０であり、小数点
移動がなく、Ｃｆ）〜（ｍ）でこの設定値が０．９８７
に設定し直され、（ｔ）で新たな設定値（０，９８７）
が前回設定値に替わってメモリに補正係数として格納さ
れ、かつこの補正係数が測定値に乗じられ、（Ｌｌ）て
補正された測定値が校正モード表示Ｃ，Ｃ，Ｆ。

と共に表示されることである。係数入力であるので、測
定値がなくても係数を入力することができる。

第１２図は、上述の補正係数設定操作のフローチャート
であり、このフローチャートら、第１０図で述べたもの
と本質的に差異はなく、同じ内容のステップには同一の
記号（ロ）〜（力）を付して説明を省略する。ただ、こ
れらのステップで第１０図と異なる点は、ステップ（ハ
）の処理１でメモリから面目補正係数（Ｃ，Ｃ，Ｆ、）
が読み出され、ステップ（チ）の処理２で初回の小数点
の位置設定開始がなく直ちに２回目以降の桁移動処理か
なされ、ステップ（ル）の処理３で初回の小数点移動処
理がなく直ちに２回目以降の置数インクリメント処理が
なされ、ステップ（力）の計算処理等が設定された補正
係数に基づいて行なわれることである。

以上のようにして、第９図の如く校正基♀値（２４３６
）と第１ｆ図の如く補正係数（０、ｇ８７）が設定され
た後、校正スイッチ（第３図中３５参照）をＶＡＲｌ、
にし、ＦキーとＬ／Ｃキー（第３図中３８゜３９参照）
によって校正モードをＬ　Ｕ　Ｍ　Ｉ　　十ＣＣ，Ｆ’
、として、測定を行う。そうすると、液晶表示装置は、
ＰＲＥＳＥＴでの測定値に 校正係数（□）×補正係数（０，９８７）すなわち係数
１．００５５７６を乗じた値を表示するのである。

第１３図（ａ）〜（Ｃ）は測定値を％基め値として設定
する場合の説明図であり、第１　＝１図はその場合のフ
ローチャートである。まず、測定モードスイッチ（第３
図中３６参照）をＡＢＳ。にし、測定ボタン（第２図中
２４参照）を押して測定を行なうと、測定値が第１３図
（ａ）の如くホールドされ、第１４図のステップ（イ）
で正と判定される。次に、Ｆキーを押しながら上記測定
モードスイッヂをＡＢＳ、から％に動かす。そうすると
、第１４図のステップ（ロ）で正、ステップ（ハ）で正
と判定され、ステップ（ニ）の計算処理等が始まる。即
ち、表示は第１３図（ｂ）の如く一瞬の間“ＣＡＬ”と
なり、上記測定値か新たな％基準値として前回の値に替
わってメモリ（第２図中２４参照）に格納され、この％
基準値に対する上記測定値の％比率（この場合１００％
）が計算され、その結果が第１３図（Ｃ）の如く表示さ
れる。一方、こうして記憶された％基準値は、第１３図
（ｄ）〜（ｇ）に示すように、測定モードスイッチを％
にしてＲ／Ｃキーを押すと、上記％基め値にそのときの
校正モードに応じた補正を施した値で表示される。即ち
、ＰＲＥＳＥＴなら（ｄ）の如くそのままの％基準値が
、Ｌ　ＵＭ　Ｉ　、なら（ｅ）の如く校正係数を乗じた
値か、Ｃ，Ｃ，Ｐ　なら補正係数を乗じた値が、ＬＵＭ
Ｉ　、＋Ｃ，Ｃ，Ｆなら両係数を乗じた値が夫々表示さ
れる。

第１５図は、数値データを％居や値として設定する場合
の処理の流れを示すフローチャートである。この場合の
キー操作は、初めの測定モードスイッチを％にセットす
る点および終わりのＦキーを押しながら測定モードスイ
ッチを％−ＡＢＳ。

−％と動かす点を除いて、第９図で述べた校正基■値（
ＬＵＭｒ、）の設定の場合と内容的に同一である。従っ
て、第１５図のフローチャートら、第１Ｏ図のフローチ
ャートと本質的に異ならず、内容の同じステップには同
一の記号（ロ）〜（力）を付して説明を省略する。補足
すれば、最終のステップ（力）で、それまでで設定され
た設定値が新たな％基部値としてメモリに記憶し直され
、この％基準値に対する上記設定値の％比率（この場合
１００％）が計算され、表示されるのである。

第１６図はＦキーとＰ／Ｃキー（第３図中３８゜４０参
照）を用いてＰＥＡＫ（最大値）とＣ０ＮＴ。

（瞬時値）の選択をする場合の説明図、第１７図はその
場合のフローチャートである。この場合のキー操作は、
Ｆキーを押し続けなからＰ／Ｃキーを断続して押す点お
よび選択されるモードが２種である点を除いて、第７図
で述べた校正モード選択の場合と本質的には異ならず、
同じ内容の操作には同一の記号（ａ）　、　（ｂ）　、
　（ｄ）〜（ｆ）、（ｈ）を付して説明を省略する。ま
た、処理の流れも、モード選択のための判定が２段であ
る点および処理が係数による測定値の補正でなく最大値
あるいは瞬時値の演算である点を除いて、第８図で述べ
たフローと異ならず、同じ内容のステップには同一の記
号（ロ）〜（１−）、（ル）を付して説明を省略する。

キー操作部（第３図２７参照）によるモード設定と数値
設定は以上のとおりである。最後に、輝度計（第２〜４
図参照）の使用方法の概略を述べる。

まず、電源スィッチ２５をオンにすると、校正スイッチ
３５．測定モードスイツチ３６．輝度単位スイッチ（図
示せず）、Ｐ／Ｃキー４０の状態に応じて、液晶表示装
置２８が点灯する。即ち、校正スイッチが、ＶＡＲｌ、
ならメモリに記憶された前回の校正モードに応じて第４
図のＬＵＭｌ、。

Ｃ，Ｃ，Ｐ　のいずれか一方または双方が点灯し、ＰＲ
ＥＳＥＴなら消灯する。また、測定モードスイッチ３６
が％のとき％が点灯し、輝度単位に応じてｆＬまたはｃ
ｄ／ｍ２のいずれか一方が点灯し、メモリに記憶された
前回のＰ／Ｃキーの状態かＰ側のときＰＥＡＫが点灯す
る。次に、測定ボタン２４を押すと、測定が始まり、押
している間は測定値あるいは校正モードに応じて補正さ
せた測定値が定時間間隔で液晶表示装置に表示され、測
定ボタンを離すと、離す直前の測定値の表示かホールド
される。測定値は、輝度単位に応じた値で表示され、％
のときは％基準値に対する百分率で表示される。なお、
測定中は、校正スイッチ、測定モードスイッチ、輝度単
位スイッチおよび応答速度スイッチ（第３図３７参照）
のみが有効となり、ホールド中は、応答速度スイッチ以
外は全て有効となる。記憶されているデータをリコール
する場合は、％基準値以外なら、測定モードスイッチ３
６をＡＢＳ、に、校正スイッチ３５をＶＡＲＴ、に夫々
セットし、Ｆキー３８とＬ　／　Ｃキー３９で所望の校
正モードを選択した後、Ｒ／△キー４２を押せば、校正
モードに応じて校正基準値（ＬＵＭＩ　）または補正係
数（Ｃ、ＣＦ、）が表示される。

また、％基部値のときは、測定モードスイッチを％にし
、Ｒ／△キーを押せば、％基ｗ値が表示される。この場
合ら、輝度単位に応じた表示値になる。

上記実施例では、校正基県値および／または補正係数に
よる測定値の補正機能のほか、（モはの測定値または設
定値に対する測定値の％比率や測定時の最大値または瞬
時値を選択的に算出１表示する機能を備えているので、
輝度測定が一層便利になるという利点がある。また、オ
ーバー判定回路５をＣＰＵ９の外部に設けているので、
オーバー判定か迅速に行なえる。

なお、本発明が実施例の輝度計に限らず照度計等にも適
用できることはいうまでもない。

〈発明の効果〉 以上の説明で明らかなように、本発明の光測定装置は、
光電変換部を介して電気信号として入力される入射光量
の測定値を算出し、この測定値に含まれる内部部品によ
る固有の誤差と分光感度などの誤差のいずれか一方また
は双方を、校正基準値入力手段から入力されろ校正基準
値と補正係数入力手段から入力される補正係数に基づい
て、第１補正手段や第２補正手段によって、補正するよ
うにしているので、光測定装置相互間の器差の補正と理
想的分光感度に対する分光感度の誤差の補正を選択的あ
るいは同時に行なうことができ、複数の光測定装置を同
時使用する場合、正確な測定値が迅速に得られ、光測定
装置を用いた品質管理　　　　゛等の能率化に大きく貢
献する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例である輝度計のブロック図、
第２図は上記輝度計の外観側面図、第３図。 第４図は夫々第２図のキー操作部および液晶表示装置の
拡大図、第５図はキー操作の判定処理を示すフローチャ
ニド、第６図は入射光量の測定処理を示すフローチャー
ト、第７図、第８図は校正モードの設定手順を示す夫々
説明図およびフローチャート、第９図、第１０図は校正
基準値の設定手順を示す夫々説明図およびフローチャー
ト、第１１図、第１２図は補正係数の設定手順を示す夫
々説明図およびフローチャート、第１３図、第１４図は
測定値を％基準値として設定する手順を示す夫々説明図
およびフローチャート、第１５図は数値データを％基準
値として設定する手順を示すフローチャート、第１６図
、第１７図は最大値と瞬時値の選択手順を示す夫々説明
図およびフローチャート、第１８図は漂早比視感度と輝
度計の実際の分光感度を示す図である。 Ｉ・・・光電変換回路、２・・・フォトダイオード、３
・・フィルタ、４・・Ａ／Ｄ変換回路、６・・・キー操
作部、８−選択回路、９・・・ＣＰＵ、１０・・測定ス
イッチ、１１・・不揮発性ＲＡＭ。 １３・・・外部表示装置。 特　許　出　願　人　　ミノルタカメラ株式会社代　理
　人　弁理士　　青　山　葆ほか２名篤２７ 第３ズ ｆ 第４１ 第１３図 第１６図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）入射する光の量を電気信号に変換する光電変換部
   と、内部部品による固有の誤差を含んだ測定値に対する
   校正基準値を入力する校正基準値入力手段と、光源の色
   温度に応じて生じる分光感度の誤差を補正する色補正係
   数などの補正係数を入力する補正係数入力手段と、上記
   光電変換部から入力される電気信号を上記校正基準値を
   用いて補正する第１補正手段および上記電気信号を上記
   補正係数を用いて補正する第２補正手段を有する演算処
   理部とを備えて、上記校正基準値または補正係数、ある
   いは上記校正基準値および補正係数を用いて測定値を補
   正するようにしたことを特徴とする光測定装置。
2. （２）上記特許請求の範囲第１項に記載の光測定装置に
   おいて、上記演算処理部は、ある測定値または任意の設
   定値に対する測定値の％比率を算出するようになってい
   ることを特徴とする光測定装置。
3. （３）上記特許請求の範囲第１項または第２項に記載の
   光測定装置において、上記演算処理部は、測定値または
   補正された測定値の所定時間内の最大値あるいは瞬時値
   を選択的に算出するようになっていることを特徴とする
   光測定装置。