JPS6322358B2

JPS6322358B2 -

Info

Publication number: JPS6322358B2
Application number: JP57112218A
Authority: JP
Inventors: Shunji Matsuno; Hiroshi Asai; Hiroyuki Izumisawa; Katsuaki Oowada; Seiichiro Kinoshita
Original assignee: Nippon Electric Co Ltd
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1982-06-29
Filing date: 1982-06-29
Publication date: 1988-05-11
Also published as: JPS592184A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は指紋照合装置に関し、特に指紋をその
紋様中の隆線の端の点（端点）および隆線の分岐
または合流する点（分岐点）を特徴点として、そ
れらの座標上の位置や座標軸に対する隆線の方向
を比較することによつて照合を行う指紋照合装置
に関する。

指紋を機械的に照合するための方法として第１
図に示すように指紋紋様を特徴づけている隆線の
端点や分岐点（以下これらを総称して特徴点とい
う）のうち任意の１個の特徴点M₀について、指
紋紋様の中心点（指紋紋様を構成する最も内側の
隆線の頂上点をもつて中心点とする場合が多い）
を原点として適宜に定めた直交座標Ｘ，Ｙ（以下
これを主座標という。座標軸の方向は指紋紋様全
体の隆線の流れ方向から指の先端の方向を判断
し、中心点からこの指の先端の方向をＹ軸正方向
と定める場合が多い）上の位置データX₀，Y₀と、
その特徴点M₀を始点とする隆線のＸ軸に対する
方向データD₀とを、特徴点種類等の他のデータ
と共に特徴点M₀の特徴点データとし、更に特徴
点M₀を原点として、特徴点M₀を始点とする隆線
の方向をｙ軸正方向とする直交座標ｘ，ｙ（以下
これを局所座標という）を画いたとき、この座標
軸ｘおよびｙによつて分割される４個の区域内に
ある他の特徴点のうち特徴点M₀に最も近い位置
にある特徴点m₀，m₁，m₂，m₃（以下これらを最
近傍特徴点という）の局所座標における位置デー
タx₀，y₀；x₁，y₁；x₂，y₂；x₃，y₃と特徴点m₀，
m₁，m₂，m₃を始点とする隆線の方向のｘ軸に対
する方向データd₀，d₁，d₂，d₃と最近傍特徴点
m₀，m₁，m₂，m₃と特徴点M₀との間にある隆線
数（以下これをリレーシヨンという）r₀，r₁，r₂，
r₃とを特徴点M₀のリレーシヨン連結データとし、
探索すべき指紋（以下探索指紋という）のすべて
の特徴点と照合すべき指紋として保存されている
指紋（以下フアイル指紋という）のすべての特徴
点とをそれらの特徴点データおよびリレーシヨン
連結データ（以下１個の特徴点に対する特徴点デ
ータとリレーシヨン連結データを総称するときは
総連結データといゝこれに対して１個の特徴点に
対する特徴点データとその特徴点に関する最近傍
特徴点のリレーシヨンデータ（最近傍特徴点の特
徴点番号とそのリレーシヨンとをリレーシヨンデ
ータという）とを総称するときは総特徴点データ
といゝ、１個の指紋に対するすべての総連結デー
タまたは総特徴点データを総称するときは指紋デ
ータという）を比較することによつて照合すると
いう方法が用いられている。（最近傍特徴点は特
徴点M₀を中心として例えばx₀軸から60゜ずつ６等
分して、この６個の区域について求める等任意の
数に分割してそれらについて求めることができる
が、ｘ軸およびｙ軸による４分割が最も一般的で
ありかつ便宜であるので以下の説明は４分割の場
合によりこれらを代表して説明する。）上記の如き主座標または局所座標の座標の中心
およびそれらの座標軸の方向は、探索指紋とフア
イル指紋との間で一致していることが必要である
が、実際には設定作業上において多少の誤差が生
ずるのを避けることは不可能である。

これらの誤差のうち座標の中心位置の設定誤差
による影響は、座標の中心に近い中心部にある特
徴点に対しても座標の中心から遠い周辺部にある
特徴点に対しても同じであるが、座標軸の方向の
設定誤差による影響は、特徴点の座標の中心から
の距離に比例して大きくなる。

従来の指紋照合装置においては、探索指紋とフ
アイル指紋の指紋データの比較を行うときのしき
い値は、特徴点の座標中心からの距離に無関係に
一定であり、従つて周辺部にある特徴点の比較一
致度を高めるためにしきい値を大きくすると、中
心部では本来異つている特徴点を誤つて比較一致
と判断して「対」とする場合が多くなり、反対に
中心部の比較一致度を高めるためにしきい値を小
さくすると周辺部の特徴点のうち本来「対」とな
るべきものも比較一致しないとして「対」から除
外する場合が多くなり、いずれの場合にも照合の
精度が低下する。（「対」とは、探索指紋のすべて
の特徴点のおのおのに対して、それらの総特徴点
データまたは総連結データとフアイル指紋の各特
徴点の総特徴点データまたは総連結データが一致
する特徴点の組合せをいう。当初の比較一致判断
のときは探索指紋の１個の特徴点に対してフアイ
ル指紋の複数の特徴点が比較一致と判断されて
１：ｎ（ｎ≧２）の組合せとなる場合がある。こ
の１：ｎの組合せは更に処理を施され（詳細説明
は省略）で１：１の「対」となるが、以下の説明
の説明では１：ｎの組合せについても「対」とい
う。）第５図は、上述のような従来の指紋照合装置の
「対」検出部の一例を示すブロツク図である（特
開昭56−24675号参照）。

第５図の「対」検出部は、制御回路７００と、
絶対値減算器７０１Ｒおよび７０１Ｘおよび７０
１Ｙおよび７０１Ｄと、比較器７０２Ｒおよび７
０２Ｘおよび７０２Ｙおよび７０２Ｄおよび７０
８と、閾値発生器７０３と、隆線数コード検出器
７０４と、カウンタ７０５および７０７と、アン
ドゲート７０６とを有して構成されており、次の
ような動作を行う。

リレーシヨン連結部からの動作終了信号４０を
制御回路７００が受けとると、ただちにアドレス
信号７３および７４をそれぞれ探索特徴記憶部お
よびフアイル特徴記憶部に出力し、第１の特徴点
データを探索特徴記憶部およびフアイル特徴記憶
部からそれぞれ信号５１および６１を介して読出
し、絶対値減算器７０１Ｒおよび７０１Ｘおよび
７０１Ｙおよび７０１Ｄならびに比較器７０２Ｒ
および７０２Ｘおよび７０２Ｙおよび７０２Ｄに
よつて｜C^S−C^F｜≦T_C，｜X^S−X^F｜≦T_X，｜Y^S−Y^F｜≦T_Y，｜D^S−D^F｜≦T_D （Ｓは探索特徴記憶出力、Ｆはフアイル特徴記
憶出力を表わす）が検査され、その比較出力がアンドゲート７０６
に供給される。このときの比較の閾値T_Cおよび
T_XおよびT_YおよびT_Dは、しきい値発生器７０３
から供給される。上記のすべての比較が真のとき
のみ、アンドゲート７０６の出力７０６０が“オ
ン”となり、制御回路７００は、次に述べるリレ
ーシヨン比較動作に入る。もし出力７０６０が
“オフ”のときは、次のフアイル特徴点の読出し
を行う。リレーシヨン比較動作を行う場合には、
制御回路７００は、リセツト信号７００１を出力
してカウンタ７０５および７０７を初期化すると
ともに、アドレス信号７３および７４を変更し
て、探索特徴記憶部およびフアイル特徴記憶部か
ら第一のリレーシヨンr₀，x₀，y₀，d₀を読出し、
上記と同様に絶対値減算器７０１Ｒおよび７０１
Ｘおよび７０１Ｙおよび７０１Ｄならびに比較器
７０２Ｒおよび７０２Ｘおよび７０２Ｙおよび７
０２Ｄによつて｜r^S−r^F｜≦T_r，｜x^S−x^F｜≦T_x，｜y^S−y^F｜≦T_y，｜d^S−d^F｜≦T_d を検査する。これらのすべての比較が真のとき
は、アンドゲート７０６は“オン”信号７０６０
を出力し、制御回路７００は、カウント信号７０
０２を出力してカウンタ７０７を更新する。

ただし、上記の比較判定に先だつて、r^S，r^Fが
読出された時点において、隆線数コード検出器７
０４は、r^S，r^Fのいづれかにリレーシヨンが存在
しない場合に設定されているコードを検出し、も
し不在リレーシヨン（不在リレーシヨンとは一つ
の特徴点を原点とする直交座標ｘ，ｙによつて分
割した４個の領域の中に最近傍特徴点が存在しな
い領域の数のことをいう）がr^Sまたはr^Fのいづれ
かに検出された場合は、その結果を信号７０４０
を介して制御回路７００に出力するとともに、カ
ウンタ７５を更新する。この場合、制御回路７０
０は先の比較判定の結果には拘束されず、カウン
ト信号７００２を出力しない。以上の動作を第二
〜第四のリレーシヨン・データについて繰返え
す。第四のリレーシヨン・データの処理が終了す
ると、制御回路７００はカウンタ７００の出力を
カウンタ７０５の出力すなわち不在リレーシヨン
数によつて決定されるしきい値７０３０と比較器
７０８で比較し、その出力７０８０が“オン”の
とき内部保持している探索特徴点番号M^Sおよび
フアイル特徴点番号M^Fを信号７１を介して「対」
特徴記憶部にアドレス信号７２とともに出力す
る。一対の特徴点の処理が終了すると、制御回路
７００はアドレス信号７４を更新して、次のフア
イル特徴点を読出し、またすべてのフアイル特徴
点の読出しが終了すると、アドレス信号７３を更
新して次の探索特徴点を読出し、上記の処理をす
べての探索特徴点およびフアイル特徴点の「対」
に対して行う。以上の結果として「対」特徴記憶
部の内容が完成する。

しきい値発生器７０３は、上記の動作において
比較に必要なしきい値を必要な時点で制御回路７
００からの制御信号７００３によつて出力するも
のであり、コード発生器例えばROM等のコード
発生器でよい。また隆線数コード発生器７０４
は、単純な一致比較回路を組合せたものでよい。

本発明の目的は、上記の欠点を除去して、照合
判定すべき総連結データの座標中心に対する距離
に対応してしきい値をかえてすべての特徴点に適
切なしきい値を与えることにより照合の精度が高
く従つて照合効率の高い指紋照合装置を提供する
ことにある。

本発明の指絞照合装置は、指紋の紋様中に適宜
に定めた点を原点とする直交座標に基づく前記指
紋中の複数の特徴点の位置データにより２個の指
紋の照合を行う指紋照合装置において、探索指紋
およびフアイル指紋に関する指紋データを記憶し
て保存する指紋データ記憶手段と、前記指紋デー
タ記憶手段から読出した前記指紋データの中の各
特徴点の基本リレーシヨンデータ中の最近傍特徴
点の特徴点番号をその特徴点に関する局所座標の
位置データおよび方向データに変換してリレーシ
ヨン連結データを生成して送出するリレーシヨン
連結部と、前記リレーシヨン連結部から前記探索
指紋の前記特徴点データおよび前記リレーシヨン
連結データで構成される総連結データを入力して
格納する探索特徴点記憶部と、前記リレーシヨン
連結部から前記フアイル指紋の総連結データを入
力して格納するフアイル特徴点記憶部と、前記探
索特徴点記憶部および前記フアイル特徴点記憶部
からそれぞれ１個の総連結データを入力してそれ
らのうちの位置データの差の絶対値を算出する少
くとも１個の減算手段と、前記探索特徴点記憶部
および前記フアイル特徴点記憶部から前記位置デ
ータを入力してその座標の中心に対する距離に対
応してもあらかじめ設定されている複数個のしき
い値のうちから該当する１個のしきい値を選択し
て出力するしきい値供給手段と、前記減算手段か
らの出力と前記しきい値供給手段からのしきい値
とを入力してそれらを比較してその結果を後段の
判定手段に出力する少くとも１個の比較手段とを
有する「対」検出部とを備えている。

以下、本発明について図面を参照して詳細に説
明する。

本発明の一実施例をブロツク図で示す第２図を
参照すると、フアイル装置１は探索指紋およびフ
アイル指紋に関する指紋データを記憶保存する記
憶装置であり、フアイル読取部２はフアイル装置
１に記憶している指紋データを１指紋分ずつ読出
して一時記憶部３に格納するように結合されてい
る。

リレーシヨン連結部４は、一時記憶部３に格納
された指紋データの各特徴点のリレーシヨンデー
タを、その中に含まれる最近傍特徴点の特徴点番
号をその特徴点に関する局所座標の位置データお
よび方向データに変換したリレーシヨン連結デー
タに変換し、他のデータと共に探索特徴点記憶部
５またはフアイル特徴点記憶部６へ送つて格納す
るように結合されている。

「対」検出部７は探索特徴点記憶部５およびフ
アイル特徴点記憶部６からそれぞれ１個の総連結
データを取出して「対」となるべき特徴点を検出
する役割を荷つており、この「対」検出部で検出
された「対」の特徴点番号の組合せは、「対」特
徴記憶部８に送られて格納される。照合判定部９
はこれらの特徴点番号の組合せにより探索特徴点
記憶部５およびフアイル特徴点記憶部６から必要
なデータを読出して照合判定を行う役割を受持つ
ている。

上記のように構成された指紋照合装置は、次の
ように動作する。すなわち、外部の特徴抽出装置
（図示せず）から送られてフアイル装置１に一時
記憶された探索指紋に関する指紋データは、デー
タ信号１２によつてフアイル読取部２に読取られ
アドレス信号２２によつて番地指定されて特徴点
番号順に一時記憶部３にデータ信号２１によつて
格納される。このとき一時記憶部３に格納される
指紋データのうち指紋登録番号や特徴点数等を示
す記述的データ３０１はデータ信号３３によつて
照合判定部９に送出され、照合判定部９はこれを
入力して探索指紋の記述的データ３０１を後述の
照合結果出力のために保持する。

一方、一時記憶部３に格納されるデータは、１
個の特徴点に関してその特徴点種別Ｑ、集密量
Ｃ、位置データＸ，Ｙ、方向データＤおよび最近
傍特徴点のすべてのリレーシヨンデータを１組と
した総特徴点データの１指紋分の集りであり、こ
れらはデータ信号３１によつてリレーシヨン連結
部４に順次出力される。

リレーシヨン連結部４は、アドレス信号４４に
よつて一時記憶部３からリレーシヨンデータを読
出すと、このリレーシヨンデータ中に含まれる最
近傍特徴点の特徴点番号をその特徴点に関する局
所座標による位置データおよび方向データに変換
してリレーシヨンと共にリレーシヨン連結データ
を構成し、特徴点データと共に総連結データとし
てデータ信号４１によつて探索特徴記憶部５に送
出し、探索特徴記憶部５は、このデータ信号４１
を受けてアドレス信号４２によつて指定された番
地に格納する。

上記の動作を繰返して１個の探索指紋に関する
すべての特徴点の総連結データの格納が終了する
と、フアイル読取部２はフアイル指紋の指紋デー
タをアドレス信号２３の指定によつて順次読出し
てリレーシヨン連結部４に送出し、リレーシヨン
連結部４は探索指紋の場合と同様にリレーシヨン
連結動作を行つて総連結データをデータ信号４１
によつてフアイル特徴点記憶部６に出力する。フ
アイル特徴点記憶部６はアドレス信号４３の指定
に従つてこの総連結データを指定の番地に格納
し、この動作を繰返してフアイル指紋のすべての
特徹点の総連結データを格納する。

探索特徴点記憶部５およびフアイル特徴点記憶
部６に格納された指紋データは、その詳細を後述
する「対」検出部７においてそれらの特徴点のす
べての組合せについて「対」関係の有無が検査さ
れ、探索指紋の特徴点の総連結データとフアイル
指紋の特徴点の総連結データとが所定のしきい値
内で一致するとき、それらの特徴点番号の組合せ
はデータ信号７１によつて「対」特徴記憶部８に
送られ、アドレス信号７２に指定された番地に格
納される。

照合判定部９はアドレス信号９１を「対」特徴
記憶部８に送出してデータ信号８１によつて
「対」となつた特徴点番号の組合せの送出を受け
ると、これに基ずいてアドレス信号９２および９
３を探索特徴点記憶部５およびフアイル特徴点記
憶部６に送出し、それぞれの特徴点の必要なデー
タをデータ信号５１および６１によつて読出し、
この２個の特徴点が一致するかどうかを判定す
る。これを「対」特徴記憶部８に格納されている
すべての「対」について行うことによつて探索指
紋とフアイル指紋の一致性の照合判定を行う。

このようにして１個のフアイル指紋の照合判定
が終了すると、照合判定部９は指令信号９０を送
出してフアイル読取部２を動作させてフアイル装
置１から次のフアイル指紋の指紋データを読出し
て上述の照合判定動作を行い、これを繰返して全
フアイル指紋について照合判定を行うことによつ
て１個の探索指紋に対する照合判定を完了し、そ
の結果を記述的データ３０１と共に出力装置に出
力する。

第３図は上記の「対」検出部のうち主座標また
は局所座標の位置データX₀，Y₀またはx₀，y₀〜
x₃，y₃について比較を行う部分の詳細を示すブロ
ツク図であり、選択回路７ａおよび７ｃならびに
減算回路７ｄおよび絶対値回路７ｅは、第５図の
減算器７０１Ｘおよび７０１Ｙに対応する（第５
図の例は位置データＸおよびＹを並列に処理する
ように減算器および比較器を２個並例に配設した
ものであり、第３図の例は、位置データＸおよび
Ｙを１個の減算器と１個の比較器とを処理するよ
うにしたもので、このため探索特徴点とフアイル
特徴点の互に対応する位置データＸまたはＹを選
択するための選択回路７ａおよび７ｃを設けてい
る。また、第３図の絶対値回路７ｅは、第５図の
例においては減算器７０１Ｘおよび７０１Ｙの中
に含まれているものであつて、比較器の７０２Ｘ
または７０２Ｙに入力される値は正の値でなけれ
ばなりないから、減算器での減算結果は当然に絶
対値化回路によつてその絶対値をとつて出力され
なければならない）。

また第３図のしきい値選択回路７ｂは、第５図
のしきい値発生器７０３に対応する回路であり、
第５図の例の場合は、不在リレーシヨンの数に対
応するしきい値を出力するROM等の単純なコー
ド発生器であるが、第３図のしきい値選択回路は
第４図に示すような構成のものであり、しきい値
記憶回路７ｂ―５は、記憶している複数個のしい
き値の中から、同一特徴点の位置データＸまたは
Ｙのうち選択回路７ｂ―４で選択されたその絶対
値の大きい方の値に対応するしきい値を選択して
データ信号７０１として送出するものである。

第３図の比較器７ｆは、第５図の比較器７０２
Ｘおよび７０２Ｙに対応するもので、その出力信
号は、第５図のアンドゲート７０６に対応するア
ンドゲートに入力されて制御回路を含む後段の総
合判定回路に送られる。第３図に示すように、探
索特徴点記憶部５から探索指紋の総連結データ中
の位置データX₀，Y₀またはx₀，y₀〜x₃，y₃（以下
X₀，Y₀またはx₀，y₀〜x₃，y₃を代表してＸ，Ｙ
と表現する）がデータ信号５１ａおよび５１ｂに
よつて選択回路７ａおよびしきい値選択回路７ｂ
に送られると、制御回路（図示せず）の指令によ
つて選択回路７ａはＸまたはＹのいずれか一方例
えばＸを選択してそれを減算回路７ｄに出力す
る。

しきい値選択回路７ｂにおいては第４図の詳細
ブロツク図に示すように、位置データＸ，Ｙはそ
れぞれ絶対値化回路７ｂ―１および７ｂ―２にお
いてそれぞれ絶対値に変換されて比較回路７ｂ―
３および選択回路７ｂ―４に送られる。比較回路
７ｂ―３は位置データＸまたはＹの絶対値の大小
を判定してその結果を選択回路７ｂ―４に送るの
で、選択回路７ｂ―４はＸまたはＹの絶対値の大
きい方の値を選択してしきい値記憶回路７ｂ―５
に送出し、しきい値記憶回路７ｂ―５はこの選択
回路７ｂ―４からのデータを読出し番号としてし
きい値を読出し、ＸまたはＹの絶対値のうちその
大きい方に対応するしきい値をデータ信号７０１
として比較回路７ｆに送出する。

一方フアイル特徴点記憶部６からフアイル指紋
の位置データX′，Y′が選択回路７ｃに送られて
くると（第３図参照）、選択回路７ｃは制御回路
の指令によつて探索指紋においてＸが選択された
ときはこれに対応するX′を選択してこれを減算
回路７ｄに出力する。

減算回路７ｄは選択回路７ａおよび７ｃから位
置データＸおよびX′を入力するとそれらの差を
計算してその値を絶対値化回路７ｅに送り、絶対
値化回路７ｅはこれを絶対値に変換して比較回路
７ｆに送る。比較回路７ｆはこのＸとX′との差
の絶対値としきい値選択回路７ｂから送られてく
るしきい値とを比較して判定信号７０２を総合判
定回路（図示せず）に送出する。

ＸおよびX′に関する判定が終了すると選択回
路７ａおよび７ｃは制御回路の指令によつてＹお
よびY′を選択し、前記の場合と同様にそれらの
差の絶対値としきい値選択回路７ｂから与えられ
るしきい値とを比較回路７ｆで比較してその結果
を判定信号７０２として前述の総合判定回路に送
出する。

総合判定回路は上記の位置データＸ，Ｙの他に
方向データＤおよびリレーシヨン（これらのしき
い値は一定である）についての比較判定結果も入
力して探索指紋とフアイル指紋の総連結データが
比較一致したとき制御回路を介してそれらの特徴
点番号の組合せをデータ信号７１によつて「対」
特徴記憶部８に送り、アドレス信号７２によつて
所定の番地に格納する。

上述の実施例において、「対」検出部７におけ
る位置データＸおよびＹに関する比較判定は、選
択回路７ａおよび７ｃを設けて位置データＸまた
はＹのいずれか一方を選択してこれに対する比較
判定を行つたのち他の一方について同一減算回
路，絶対値化回路および比較回路により比較判定
を行うように構成されているが、減算回路，絶対
値化回路および比較回路をそれぞれ２個ずつ設
け、選択回路を設けないでＸおよびＹについて独
立に比較判定を行うように構成することもでき
る。（この場合しきい値選択回路は位置データＸ
およびＹについて共通に１個でよい。）また上述の実施例において、しきい値選択回路
７ｂは、回路の簡易化を図るため、位置データＸ
またはＹの大きい方の値に対してしきい値を設定
するように構成してあるが、主座標または局所座
標の中心からの距離（√²＋²）を計算し、こ
れによつてしきい値を設定するように構成しても
よい。

なお上述の実施例の説明は指紋の照合の場合に
ついて行つたが、本発明の指紋照合装置は、上述
の説明から明らかなように指紋と同様な縞状図形
で構成される紋様図形、例えば魚鱗状図形等の照
合にも用いることも可能である。

以上詳細に説明したように、本発明の指紋照合
装置を用いることにより、照合判定すべき総特徴
点データのうち位置データについて座標中心に対
する距離に対応するしきい値を設定してすべての
特徴点に対して適切なしきい値を与えることがで
きるので、照合の精度が高く従つて照合効率の高
い指紋照合装置が得られるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の指紋照合装置によつて照合さ
れる指紋の指紋紋様の部分拡大図、第２図は本発
明の一実施例のブロツク図、第３図は第２図の
「対」検出部の主要部の詳細ブロツク図、第４図
は第３図のしきい値選択回路の詳細ブロツク図、
第５図は従来の指紋照合装置の「対」検出部の一
例を示すブロツク図である。図において、１…フアイル装置、２…フアイル
読取部、３…一時記憶部、４…リレーシヨン連結
部、５…探索特徴点記憶部、６…フアイル特徴点
記憶部、７…「対」検出部、８…「対」特徴点記
憶部、９…照合判定部、７ａ…選択回路、７ｂ…
しきい値選択回路、７ｃ…選択回路、７ｄ…減算
回路、７ｅ…絶対値化回路、７ｆ…比較回路、７
ｂ―１，７ｂ―２…絶対値化回路、７ｂ―３…比
較回路、７ｂ―４…選択回路、７ｂ―５…しきい
値記憶回路。

Claims

【特許請求の範囲】１指紋の紋様中に適宜に定めた点を原点とする
直交座標に基づく前記指紋中の複数の特徴点の位
置データにより２個の指紋の照合を行う指紋照合
装置において、探索指紋およびフアイル指紋に関する指紋デー
タを記憶して保存する指紋データ記憶手段と、前記指紋データ記憶手段から読出した前記指紋
データの中の各特徴点の基本リレーシヨンデータ
中の最近傍特徴点の特徴点番号をその特徴点に関
する局所座標の位置データおよび方向データに変
換してリレーシヨン連結データを生成して送出す
るリレーシヨン連結部と、前記リレーシヨン連結部から前記探索指紋の前
記特徴点データおよび前記リレーシヨン連結デー
タで構成される総連結データを入力して格納する
探索特徴点記憶部と、前記リレーシヨン連結部から前記フアイル指紋
の総連結データを入力して格納するフアイル特徴
点記憶部と、前記探索特徴点記憶部および前記フアイル特徴
点記憶部からそれぞれ１個の総連結データを入力
してそれらのうちの位置データの差の絶対値を算
出する少くとも１個の減算手段と、前記探索特徴
点記憶部および前記フアイル特徴点記憶部から前
記位置データを入力してその座標の中心に対する
距離に対応してあらかじめ設定されている複数個
のしきい値のうちから該当する１個のしきい値を
選択して出力するしきい値供給手段と、前記減算
手段からの出力と前記しきい値供給手段からのし
きい値とを入力してそれらを比較してその結果を
後段の判定手段に出力する少くとも１個の比較手
段とを有する「対」検出部とを備えることを特徴とする指紋照合装置。