JPS63210729A - 変位計測装置 - Google Patents

変位計測装置

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Publication number
JPS63210729A
JPS63210729A JP4425387A JP4425387A JPS63210729A JP S63210729 A JPS63210729 A JP S63210729A JP 4425387 A JP4425387 A JP 4425387A JP 4425387 A JP4425387 A JP 4425387A JP S63210729 A JPS63210729 A JP S63210729A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
displacement
disk
amount
measuring instrument
Prior art date
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Pending
Application number
JP4425387A
Other languages
English (en)
Inventor
Akikazu Takada
高田 明和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Engineering Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Engineering Corp filed Critical Toshiba Engineering Corp
Priority to JP4425387A priority Critical patent/JPS63210729A/ja
Publication of JPS63210729A publication Critical patent/JPS63210729A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Level Indicators Using A Float (AREA)
  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ 。
(産業上の利用分野) 本発明は、直線運動又は回動(回転)運動によりあられ
される測定対象の変位量を計測する変位計測装置に関し
、特に、光を用いるようにした変位計測装置に関する。
(従来の技術) 従来のこの種の変位計測装置の一構成例を、第6図に示
す。第6図において、例えば、測定対象1の変位量が直
線的に変化するものをギヤ機構等により回動(回転)運
動に変換し、検出軸2に出力し、ギヤ機構3に取込む。
ギヤ機構3では、検出軸2の回動(回転)量を増幅又は
減衰して出力軸4に出力する。この出力軸4はポテンシ
ョメータ5に連結されており、ポテンショメータ5から
は、出力軸4の回動(回転)量に基づく電圧信号が出力
されるようになる。この電圧信号は信号ケーブル6によ
り信号変換器7に導びかれ、ここで、測定対象1の変位
量に対応した計測出力が得られるようになる。尚、ポテ
ンショメータ5及び信号変換器7の電源は、電源ケーブ
ル8に接続された電源ユニット9或いは図示しない外部
電源部から供給される。
このような構成では、変位量を回転電機であるポテンシ
ョメータ5にて検出するものであるため、長期の使用に
より、電気接触部の接触不良が発生し、検出値の精度低
下を招くことになった。
また、ポテンショメータ5からの信号ケーブル6の導出
や、電源ライン8の布設が必要であるので、これらケニ
ブル6.8には誘導サージ、ノイズが侵入し、やはり検
出値2精度低下さらには機器損傷を招くことがあった。
特に、屋外設置の場合には、誘導サージの浸入を防ぐた
めには、避雷機箱等の必要性から、設置作業が面倒にな
るという、問題点があった。
(発明が解決しようとする問題点) このように従来の技術においては、電気的検出手段を用
いていることにより、耐ノイズ性が低く、また、回転電
機を用いて検出するようにしているので、接触部の接触
不良が発生し、検出精度の低下を招いていた。
そこで本発明の目的は、耐ノイズ特性に優れ、且つ信頼
性の高い検出精度が保持し得る変位計測装置を提供する
ことにある。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は上記問題点を解決し且つ目的を達成するために
次のように構成する。すなわち、本発明による変位計測
装置は、透過光の光減衰量が周方向に沿って連続的に変
化するものであって測定対象の変位に基づく回動運動に
より回動駆動される連続可変型光減衰手段と、送光した
光を前記連続可変型光減衰手段に導いてその減衰光を受
光することにより前記送光と減衰光との光量差で示され
る前記測定対象の変位量を信号出力する信号処理手段と
を具備した構成にしである。
(作 用) このような構成によれば、II定対象の変位量は、送光
と減衰光との光量差で表われ、遠方に導出することがで
きるようになり、これは、光学方式であるため誘導サー
ジ、ノイズに影響されず、また、回転接触部が無いため
、長期にわたって検出値の高精度化が保持されることに
なる。
(実施例) 以下本発明にかかる変位計測装置の一実施例を図面を参
照して説明する。
第1図は水位計測に適用した本実施例装置の全体構成を
示す図、第2図は要部詳細図である。
第1図において、測定対象として水位変位により上昇下
降するフロート11はプーリ12に連設され、直線変位
を回動しく回転)変位に変換する。
つまり、例えば、フロート11の上昇によりプーリ12
は右回転し、フロート11の下降によりプーリ12は左
回転するようになっている。プーリ12の回転はギヤ機
構13により増加(又は減少)され、光減衰器14に取
込まれる。
ここで、光減衰器14は、第2図に示すように、回転軸
14aを有し、この回転軸14aには連続可変型光減衰
素子である金属膜可変型ディスク14bが設けられてい
る。このディスク14bは、円形の透明ガラス基板上に
、その周方向に沿ってつまり回転角に対応して厚さが連
続的に変化して金属膜を蒸着した構成となっている。そ
して、ディスク14bの径方向には互いに離間して光フ
ァイバ15a、15bの一方の送受先端部がレンズ14
c、14dを介してディスク14bを臨んで配置されて
いる。また、レンズ14c、14dと対向し且つディス
ク14bを介してプリズム14eが配置され、図示の矢
印方向に光が送光し、受光するようになっている。この
構成の光減衰器14では、光ファイバ15aを通ってき
た光をレンズ14cを介してディスク14bに送光する
と、ディスク14bの送光位置では、その回動(回転)
に伴なって、連続的に光減衰量が変化するので、プリズ
ム14eルンズ14dを介して光ファイバ15bに受光
される光量も減衰する。つまり、回転軸14a1デイス
ク14bの回動(転)変位量は、送光と減衰光との光量
差として現われるようになる。
光ファイバ15a、15bの他方の送受端部は、送光と
減衰光との光量差を電気信号にて信号出力するalll
定器16に導びかれている。この測定器16は、送光用
の光ファイバ15aが接続される電気/光信号変換器(
以下rE10−Clと称する。)と、受光用の光ファイ
バ15bが接続される光/電気信号変換器(以下ro/
E−Clと称する。)と、これらElo−CとO/E−
Cとの信号差を検出する比較器等から構成されている。
次に上記の如く構成された本実施例の作用について説明
する。すなわち、測定対象である水位が変化すると、フ
ロート11も変位(上昇又は下降)し、この直線変位量
は、プーリ12、ギヤ機構13を介して回動(回転)変
位量として光減衰器14に入力され、ディスク14bを
回動する。
一方、測定器16にて送光量を設定する電気信号に基づ
< Elo−Cからの送光は、光ファイバ15a、レン
ズ14cを通して前述のように回動(回転)したディス
ク14bを透光する。ここで、上記送先は、光ディスク
14bにより減衰され、プリズム14eルンズ14dを
通って光ファイバ15bに受光される。ここで、測定器
16のO/E−Cにて受光した光量に基づく電気信号が
得られ、この信号と前述のElo−Cで送光量を設定し
た電気信号とは比較器により比較され、水位変位に対応
し、さらにディスク14bの回動(回転)変位に対応し
た電気的な信号出力が得られる。
以上の如く本実施例によれば次のような作用を奏する。
すなわち、本実施例によれば、測定器16以外の要素で
は、電源を必要なく且つ信号伝送手段としての光ファイ
バ15a、15bを用いるので、ノイズの発生、誘導サ
ージの侵入等が無く、高い精度の検出値が得られる。こ
れにより、屋外まで計測する場合にあっても避雷機等の
保護機器が不要であり、有利である。
また、光方式であるため、接触部が無く、構成は簡単で
あり、長寿命化が図られている。
本発明は次のような他の実施態様がある。すなわち、第
3図は連続可変型光減衰素子として金属膜の厚さを一定
とし、ガラス基板の厚さを回転角に対応して連続的に変
化させたガラス基板可変型ディスク17である。
第4図及び第5図は金属膜を点状(第4図)の模様に形
成したものやスリット状(第5図)の模様に形成し、こ
の模様の密度を連続的に可変して、光減衰量を可変する
ディスク18.19として構成してもよい。
もちろん、水位の如く直線変位に限らず、回転変位であ
っても、ギヤ機構等を省略することで実施可能である。
この池水発明は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々
変形して実施できるものである。
[発明の効果] 以上の如く本発明は、透過光の光減衰量が周方向に沿っ
て連続的に変化するものであって測定対象の変位に基づ
く回動運動により回動駆動される連続可変型光減衰手段
と、送光した光を前記連続可変型光減衰手段に導いてそ
の減衰光を受光することにより前記送光と減衰光との光
量差で示される前記測定対象の変位量を信号出°力する
信号処理手段とを具備した構成としたので、測定対象の
変位量は、送光と減衰光との光量差で表われ、遠方に導
出することができるようになり、これは、光学方式であ
るため誘導サージ、ノイズ影響されず、また、回転接触
部が無いため、長期にわたって検出値の高精度化が保持
される、という効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる変位計測装置の一実施例の構成
を示す図、第2図は同実施例の要部である光減衰器の詳
細な構成を示す図、第3図〜第5図はそれぞれ本発明の
他の実施例の構成を示す斜視図、第6図は従来例の構成
を示す図である。 11・・・フロート、12・・・プーリ、13・・・ギ
ヤ機構、14・・・光減衰器、14b、17.18.1
9・・・ディスク、15・・・光ファイバ、16・・・
測定器。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第2図 第3図  第4図 第5図 日 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 透過光の光減衰量が周方向に沿って連続的に変化するも
    のであって測定対象の変位に基づく回動運動により回動
    駆動される連続可変型光減衰手段と、送光した光を前記
    連続可変型光減衰手段に導いてその減衰光を受光するこ
    とにより前記送光と減衰光との光量差で示される前記測
    定対象の変位量を信号出力する信号処理手段とを具備し
    たことを特徴とする変位計測装置。
JP4425387A 1987-02-27 1987-02-27 変位計測装置 Pending JPS63210729A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4425387A JPS63210729A (ja) 1987-02-27 1987-02-27 変位計測装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4425387A JPS63210729A (ja) 1987-02-27 1987-02-27 変位計測装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63210729A true JPS63210729A (ja) 1988-09-01

Family

ID=12686364

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JP4425387A Pending JPS63210729A (ja) 1987-02-27 1987-02-27 変位計測装置

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JP (1) JPS63210729A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5439159A (en) * 1977-09-02 1979-03-26 Toshiba Corp Liquid level meter
JPS6029240B2 (ja) * 1977-12-02 1985-07-09 富士通株式会社 セラミック回路基板の製法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5439159A (en) * 1977-09-02 1979-03-26 Toshiba Corp Liquid level meter
JPS6029240B2 (ja) * 1977-12-02 1985-07-09 富士通株式会社 セラミック回路基板の製法

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