JPS63205518A - 光学式ロ−タリ・エンコ−ダ - Google Patents

光学式ロ−タリ・エンコ−ダ

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JPS63205518A
JPS63205518A JP3731587A JP3731587A JPS63205518A JP S63205518 A JPS63205518 A JP S63205518A JP 3731587 A JP3731587 A JP 3731587A JP 3731587 A JP3731587 A JP 3731587A JP S63205518 A JPS63205518 A JP S63205518A
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JP
Japan
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slit
vernier
plate
main
output
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Pending
Application number
JP3731587A
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English (en)
Inventor
Kyoichi Tatsuno
恭市 辰野
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は高分解能で高速応答性に優れた光学式ロータリ
・エンコーダに関する。
(従来の技術) 各種の工作機械やロボット等においては、回転機構の位
置や角度を符号化するため光学式ロータリ・エンコーダ
が使用されている。
高分解能の光学式ロータリ・エンコーダとしては論文「
ダイレクト・ドライブロボット用高分解能ロータリエン
コーダ」 (第2コ 学会学術講演会予稿集第557頁〜第558頁、No.
3510 (1984年)参照)が知られている。
この光学式ロータリ・エンコーダは第10図に示すよう
にLEDからなる光源1、この光源からの光を透過させ
るメインスリット(スリット数1200)を透設した符
号板2、この符号板のメインスリットに対し、スリット
位置をズラせたスリットを透設した位相板3、この位相
板の通過光を検出する4分割フォトダイオード4、この
4分割フォトダイオードからの信号を走査し、符号板2
と位相板3の位相差を測定する低域フィルタ5から成る
。また、符号板2に透設した零点検出用スリット6の上
下には光源7と差動フォトダイオード8が対向して配設
されており、差動フォトダイオード8の出力は差動増幅
器9に導かれて零点信号を出力する。
上記において、位相板3に透設された位相検出用スリッ
トは、符号板2のメインスリットのピッチをPとすると
、O,P/4,P/2,3P/4の4群に分割されてお
り、従って4分割フォトダイオード4の出力は第11図
に示すようにP/4ずつずれた三角波となる。これらの
信号を電気的に90″ずつ位相のづれた4相クロツクf
s(−5、56KH2)に基づいてスイッチsw,〜S
W4により第12図に示すようにオン・オフ走査すると
、アンプ10の出力は第13図に示すようになる。第1
3図中、aは符号板2と位相板3の位相差が第11図中
の01のときであり、第10図すは同様に02のときで
ある。
従って、アンプ10の出力を低域フィルター1に通して
高調波成分を除去すれば、符号板2の回転角θで位相変
調された次式に示す正弦波信号f (t) f (t)=Asln  (2πf  t+1200θ
)但し、 A:定数 f :走査周波数[F2) 08回転角[rad] を得ることができる。それ故、正弦波信号f (t)を
測定することにより、符号板2の回転角θを検出するこ
とができる。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上述のように構成した従来の装置では第
10図に示す正弦波信号f (t)を得るための時間お
よび位相測定のために時間がかかり、高速応答性を要求
される台ボットアームの位置検出等には満足して使用す
ることはできない。また、符号板2のメインスリットの
幅を狭め、その数を増して分解能を向」ニさせようとす
ると、回折を生じるため第11図に示す三角波をS/N
比の良い状態で測定することが困難となり、正確な回転
角θの測定が不可能となる。
(発明の目的) 本発明は背景技術における上述のごとき欠点を除去すべ
くなされたもので、高速応答性を持ち、しかも回転位置
精度を上げるためにスリット幅を小さくした場合にも、
高分解能で回転位置を検出できる光学式ロータリ・エン
コーダを提供することを目的とするものである。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 」二連の目的を達成するため本発明の光学式ロータリ・
エンコーダは、メインスリットを備えた主尺用スリット
板と、前記メインスリットに対してバーニヤスリットを
形成する副尺用スリット板と、前記主尺用スリット板と
副尺用スリット板との間に介挿した平行光学系と、前記
副尺用スリット板のバーニヤスリットに対応して配列さ
れ、前記メインスリットとバーニヤスリットを通過した
光を検出する光電変換素子と、これらの光電変換素子の
出力に基づいて前記メインスリットおよびバーニヤスリ
ットの目盛を自動的に解読する信号処理回路とからなる
ことを特徴とする。
(作 用) 」二連のように構成した本発明装置においては、主尺用
スリット板のメインスリットと副尺用スリット板のスリ
ットはノギスの主尺と副尺と同様の関係に配置されてい
るので、副尺の目盛をマルチプレクサで読取ることによ
り高速にて副尺用スリット板の回転角θを検出すること
ができる。
また、高次の回折光は一対のレンズと、それらの間に配
置したピンホールにより平行光すなわち零次回折光とし
て副尺用スリット板のスリットに導かれるので回折の影
響を除去することができる。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図および第2図において、光源20から出た光はレ
ンズ21により平行光に変換され、主尺用スリット板2
2にピッチP刻みに配置されたメインスリット23を通
り、レンズ24.25およびこれらのレンズの間に配置
したピンホール板26からなる平行光学系27を経て高
次の回折光が除去され、零次回折光として副尺用スリッ
ト板28に照射される。
副尺用スリット板28の下面には、そこに透設した副尺
用スリット(目盛0.1,2.・・・9)に対応する位
置に副尺用スリット板28が配置されており、また、そ
の下面には副尺用スリット板28のバーニヤスリット2
8aを通過した光を検出するフォトダイオード等から成
る光電変換素子29が配列されており、これらの光電変
換索子29の出力は増幅器30で増幅および必要に応じ
てレベル調整をされる。各増幅器30は照射光の強度の
不均一やフォトダイオード29の感度のばらつきを補正
するため利得を制御できるよう構成されている。
゛   副尺用スリット板28に照射される光のパター
ン23aと副尺用スリット板28のバーニヤスリット2
8aの関係は第3図に例示するように光のパターンのピ
ッチを2T、それらのスリット幅をTとすると、副尺用
スリット板28のバーニヤスリット28aはピッチを1
.8T、スリット幅をTとされている。これは光のパタ
ーンを主尺、バーニヤスリットを副尺とするノギスにお
いて副尺により主尺の1目盛を1/10ずつ補間する場
合と同様の例を示すもので、主尺の1目盛を例えば1/
100ずつ補間する場合にはバーニヤスリット28aの
スリット幅をT1それらのピッチを1.98Tとしてお
けばよい。
再び第1図において、増幅器30には主尺および副尺を
解読してホールディングするための電気回路が付設され
ている。また、主尺用スリット板22には第2図に示す
ように零点検出用スリット31が透設されており、この
零点検出用スリットの下方には零点検出用のフォトダイ
オード32が配設されている。
主尺の解読は次のようにして行なわれる。すなわち、主
尺の06位置を示す零点検出用スリット31がフォトダ
イオード32の真上を通過した時の光をフォトダイオー
ド32で検出し、増幅器33で増幅した後、パルス成形
回路34に入力してパルスを成形し、このパルスにより
カウンタ35をリセットする。
一方、増幅器30の出力は横軸に主尺(光のパターン)
と副尺の目盛0との位相差をとると第4図に示すような
三角波が得られる。そこで、例えば副尺の目盛2と3に
注目し、これらの目盛2と3に対応する出力(第5図(
a)、  (b))を、スレッショルドψレベルLth
(この例では、第4図に示す三角波の最大値をL  と
すると、”Lb111X −0,06L   ’)と共に比較器36.37に入a
x 力すると、第5図(c)、(d)の信号が得られる。こ
れらの信号は主尺用スリット板22が正の回転(第2図
において反時計方向)をしているときは第6図(a)、
(b)の位相関係となる。従って、これらのパルスの立
ち上がり、立ち下がりで小幅のパルスを発生する単安定
マルチバイブレータ38.39の出力は第6図(c)、
(d)となる。
主尺と副尺の目盛が一致した時点は第6図(a)のパル
スが立ち上がる時点、すなわち第6図(C)中のハツチ
ングを施したパルスの発生時点であり、このパルスをU
P−DOWNカウンタ35に入力しUPカウントすれば
よい。
一方、主尺用スリット板22が負の回転をしている場合
は、比較器36.37の出力は第7図の(a)、  (
b)に示す位置関係となり、単安定マルチバイブレーク
38.39の出力は同図(C)。
(d)となるので、同図(C)中のハツチングを施した
パルスをUP−DOWNカウンタ35でDOWNカウン
トすればよい。
なお、単安定マルチバイブレーク38の出力のうち、カ
ウントしないパルスは比較器37がオンの間、UP−D
OWNカウンタ35をマスクすることにより計数しない
ようにする。
次に、U P −D OWNカウンタ35のUP−DO
WN制御の一例を説明する。状態変化フリップフロップ
回路40は単安定マルチバイブレータ38.39の出力
パルスが入力される度にオン・オフを繰返す。主尺用ス
リット板22が正の回転をしているときは第8図(C)
のようにオン・オフを繰返すので、この出力がオンのと
きD OWNカウント、オフのときUPカウントするよ
うにUP−DOWNカウンタ35を制御すれば、同図(
a)のハツチングを施したパルスが来たときにDOWN
カウントする。
ここで、第8図(a)の時点11で主尺用スリット板2
2の回転方向が逆転したとすると、UP−DOWNカウ
ンタ35がDOWN状態の時にハツチングを施したパル
スが入力されることになる。
時点t2ではUP−DOWNカウンタ35はUP状態で
あるが、第8図(b)のパルス■によりDOWN状態に
なるので、ハツチングを施したパルスが入力される時は
DOWN状態である。時点ta、t4で回転方向が逆に
なってもDOWNカウントする。
次に、副尺の目盛を読む場合には、主尺と副尺の一致し
た目盛に対応するフォトダイオード29の出力が最大に
なるので、このフォトダイオードのアドレスを探せばよ
い。従って、第1図に示すように増幅器30の出力をマ
ルチプレクサ411;よりバーニヤスリット28aの目
盛0〜9に対応して順次走査し、これをA/D変換器4
2によりディジタル信号に変換する。レジスタ43はマ
ルチプレクサ41が目盛Oをアクセスしたときに零にリ
セットし、比較器44でA/D変換器42の内容とレジ
スタ43の内容を比較し、A/D変換器42の方が大き
ければその内容をレジスタ46に移し、また、マルチプ
レクサ41のアドレスカウンタ45の内容をレジスタ4
6に移す。この動作をバーニヤスリット28aの目盛0
〜9まで行なうと、レジスタ46には最大値を示す目盛
が表示されることになる。
上述のように構成した本発明の光学式ロータリ・エンコ
ーダにおいては、マルチプレクサ41により副尺用スリ
ット板28のバーニヤスリット28aに対応するフォト
ダイオード29の出力を走査するのに要する時間だけ遅
れるだけであるので、従来装置に比して高速応答性を向
上させることができる。また、メインスリットの数を増
加させても・14行光学系により回折に伴う悪影響を除
去できるので、高分解能の光学式ロータリ・エンコーダ
を容易に構成することができる。
なお、以上の説明では光源20からの光をレンズ21を
通して直接主尺用スリット板22に透過させる例につき
述べたが、主尺用スリット板22におけるメインスリッ
ト23のスリット数が多(なり、IC製造技術を利用し
て製作する場合等には透過方式の採用が困難になるので
、第9図に示すようにハーフミラ−50を利用した反射
方式を採用することが望ましい。
〔発明の効果〕
上述の如く、本発明によれば高速応答性に優れ、しかも
高分解能の光学式ロータリ・エンコーダを容易に構成す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
j41図は本発明の光学式ロータリ・エンコーダの実施
例を示す光学系の概略構成と信号処理回路の説明図、第
2図は第1図における主尺用スリット板の平面図、第3
図は第1図の装置におけるメインスリットによる光のパ
ターンとバーニヤスリットとの関係を示す説明図、第4
図は第1図の装置におけるメインスリットによる光のパ
ターンとバーニヤスリットのアドレス0との位相差を示
すグラフ、第5図〜第8図は本発明装置の作動を説明す
るグラフ、第9図は本発明の他の実施例を示す光学系の
説明図、第10図は従来の光学式ロータリ・エンコーダ
を例示する説明図、第11図〜第13図は第10図の光
学式ロータリ・エンコーダの作動を説明するグラフであ
る。 1.7・・・光源、2・・・符号板、3・・・位相板、
4・・・4分割フォトダイオード、5・・・低域フィル
タ、6゜31・・・零点検出用スリット、8・・・差動
フォトダイオード、9・・・差動増幅器、10・・・ア
ンプ、11・・・低域フィルタ、22・・・主尺用スリ
ット板、23・・・メインスリット、24.25・・・
レンズ、26・・・ピンホール板、27・・・平行光学
系、28・・・副尺用スリット板、29.32・・・フ
ォトダイオード、3o。 33・・・増幅器、34・・・パルス成形回路、35・
・・UP−DOWNカウンタ、36.37・・・比較器
、38.39・・・単安定マルチバイブレータ、40・
・・状態変化フリップフロップ回路、41・・・マルチ
プレクサ、42・・・A/D変換器、43.46・・・
レジスタ、44・・・比較器、45・・・アドレスカウ
ンタ、50・・・ハーフミラ−0 出願人代理人  佐  藤  −雄 第2図 第3図 OT           2T 第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、メインスリットを備えた主尺用スリット板と、前記
    メインスリットに対してバーニヤスリットを形成する副
    尺用スリット板と、前記主尺用スリット板と副尺用スリ
    ット板との間に介挿した平行光学系と、前記副尺用スリ
    ット板のバーニヤスリットに対応して配列され、前記メ
    インスリットとバーニヤスリットを通過した光を検出す
    る光電変換素子と、これらの光電変換素子の出力に基づ
    いて前記メインスリットおよびバーニヤスリットの目盛
    を自動的に解読する信号処理回路とからなることを特徴
    とする光学式ロータリ・エンコーダ。 2、平行光学系が一対のレンズと、それらの間に介挿し
    たピンホール板からなることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の光学式ロータリ・エンコーダ。 3、信号処理回路が、各光電変換素子からの信号を増幅
    する増幅器と、これらの増幅器の内の2個の出力とシュ
    レッショルド値とをそれぞれ比較する2個の比較器と、
    これらの比較器の出力パルスの立ち上がりおよび立ち下
    がりに対応して小幅のパルスを発生する一対の単安定マ
    ルチバイブレータと、これらの単安定マルチバイブレー
    タからの出力に応じて作動する状態変化フリップフロッ
    プ回路と、零点検出用光電変換素子の出力によりリセッ
    トされ、前記状態変化フリップフロップ回路によりカウ
    ント状態を切替えられるUP−DOWNカウンタと、前
    記増幅器の出力を時系列信号に変換するマルチプレクサ
    と、このマルチプレクサの出力をディジタル信号に変換
    するA/D変換器と、前記マルチプレクサ中の最大値を
    更新して記憶するレジスタと、このレジスタおよび前記
    A/D変換器の出力を比較する比較器とを具備すること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光学式ロータ
    リ・エンコーダ。
JP3731587A 1987-02-20 1987-02-20 光学式ロ−タリ・エンコ−ダ Pending JPS63205518A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI725598B (zh) * 2018-11-05 2021-04-21 美商Tt電子公司 改善編碼器系統性能的方法及裝置

Cited By (2)

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