JPS6320089B2 - - Google Patents
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- JPS6320089B2 JPS6320089B2 JP56013023A JP1302381A JPS6320089B2 JP S6320089 B2 JPS6320089 B2 JP S6320089B2 JP 56013023 A JP56013023 A JP 56013023A JP 1302381 A JP1302381 A JP 1302381A JP S6320089 B2 JPS6320089 B2 JP S6320089B2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 70
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 101100522111 Oryza sativa subsp. japonica PHT1-11 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 208000032368 Device malfunction Diseases 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電力系統の周波変動を監視するため
の周波数リレーを自動点検する周波数リレーの点
検方式に関する。
の周波数リレーを自動点検する周波数リレーの点
検方式に関する。
トランジスタやIC等の半導体部品を主体に構
成した静止形保護リレーは、電磁形リレーに比べ
信頼度が低いために、特に誤不動作防止を目的に
一定時間周期で保護リレーの健否をチエツクする
方法が採られている。この場合、点検用の入力信
号には、本来の系統波形がアナログ波形であるた
めに、正弦波発振器（点検用電源）等の出力信号
をこの用途に用いるのが従来一般的であつた。
成した静止形保護リレーは、電磁形リレーに比べ
信頼度が低いために、特に誤不動作防止を目的に
一定時間周期で保護リレーの健否をチエツクする
方法が採られている。この場合、点検用の入力信
号には、本来の系統波形がアナログ波形であるた
めに、正弦波発振器（点検用電源）等の出力信号
をこの用途に用いるのが従来一般的であつた。
また最近では、記憶装置の一定エリアに格納さ
れたオリジナルの点検データを、被点検リレーの
整定値に応じて加工することにより、そのときの
被点検リレーの運用状態に適合した点検用の入力
信号を発生させることが出来る方式も考案さてい
る。この方式によれば、複数の異なつた入力信号
をもとに系統事故を検出する保護リレーの場合、
すなわち点検入力相互間に大きさや位相を変える
必要のあるものについても点検可能であり、点検
範囲の拡大、効果の増大をはかることが出来る。
れたオリジナルの点検データを、被点検リレーの
整定値に応じて加工することにより、そのときの
被点検リレーの運用状態に適合した点検用の入力
信号を発生させることが出来る方式も考案さてい
る。この方式によれば、複数の異なつた入力信号
をもとに系統事故を検出する保護リレーの場合、
すなわち点検入力相互間に大きさや位相を変える
必要のあるものについても点検可能であり、点検
範囲の拡大、効果の増大をはかることが出来る。
しかし、電力系統の周波数の上昇及び降下を検
出する周波数リレーの点検を行うとする場合、前
記した正弦波発振器を用いた点検方式では、周波
数を変化させて周波数リレーの動作を行わせるた
めには大きなハードを必要とするため、点検信号
としては正弦波発振器をそのまま用い、被点検リ
レー側で整定値を変化させてリレーを動作させ、
実運用状態とは異なつた形での簡易的な点検を行
つている。
出する周波数リレーの点検を行うとする場合、前
記した正弦波発振器を用いた点検方式では、周波
数を変化させて周波数リレーの動作を行わせるた
めには大きなハードを必要とするため、点検信号
としては正弦波発振器をそのまま用い、被点検リ
レー側で整定値を変化させてリレーを動作させ、
実運用状態とは異なつた形での簡易的な点検を行
つている。
次に、記憶装置の一定エリアにある点検データ
を用いて点検を行う方法では、オリジナル信号に
所定の係数を乗除したり、取り出し順序を変化さ
せたりして、大きさや複数の点検データ相互間の
位相を変化させるだけであり、点検データの周波
数を変化させる事は実現出来ない。
を用いて点検を行う方法では、オリジナル信号に
所定の係数を乗除したり、取り出し順序を変化さ
せたりして、大きさや複数の点検データ相互間の
位相を変化させるだけであり、点検データの周波
数を変化させる事は実現出来ない。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をな
くし、簡単な装置により実際に周波数変動を与え
た状態で点検を可能にした周波数リレーの点検方
式を提供するにある。
くし、簡単な装置により実際に周波数変動を与え
た状態で点検を可能にした周波数リレーの点検方
式を提供するにある。
本発明は、点検用のオリジナル信号を、系統か
らデータをサンプリングする間隔よりも極めて小
さな間隔の正弦波信号としてメモリーに記憶して
おき、この読み出しを制御することによつて系統
の周波数変動と同様の点検データを発生させるよ
うにしたことを特徴としている。
らデータをサンプリングする間隔よりも極めて小
さな間隔の正弦波信号としてメモリーに記憶して
おき、この読み出しを制御することによつて系統
の周波数変動と同様の点検データを発生させるよ
うにしたことを特徴としている。
以下図面を用いて本発明の実施例を示すが、こ
こではデイジタル形保護リレーへの適用例を説明
する。
こではデイジタル形保護リレーへの適用例を説明
する。
デイジタル保護リレーは、変圧器（PT）、変流
器（CT）を用いて導入される系統の電圧、電流
信号を、第１図に示すように、補助変成器部１の
補助PT１１、補助CT１２及び入力部２を介し
て、演算処理部３へ取込み、演算処理によつて系
統に発生する事故を検出する。
器（CT）を用いて導入される系統の電圧、電流
信号を、第１図に示すように、補助変成器部１の
補助PT１１、補助CT１２及び入力部２を介し
て、演算処理部３へ取込み、演算処理によつて系
統に発生する事故を検出する。
上記入力部２は、例えば文献１（電子科学昭和
52年８月号p18〜19）に示されているように、ロ
ーパスフイルタ２１Ｐ，２１Ｃ、サンプルホルダ
２２Ｐ，２２Ｃ、アナログマルチプレクサ２３、
AD変換器２４とタイミング発生回路２５で構成
される。ここで２６はサンプリング指令信号線、
２７は切換指令信号線、２８はAD変換指令信号
線、２９は入力要求信号線である。また演算処理
部３も公知のごとく、ベーシツクプロセツシング
ユニツト（BPU）３１、保護リレーの演算プロ
グラムを格納する例えばリードオンリ−メモリ
（ROM）３２、データメモリに用いるランダム
アクセスメモリ（RAM）３３、入出力回路３
４、及び整定回路３５等で構成される。
52年８月号p18〜19）に示されているように、ロ
ーパスフイルタ２１Ｐ，２１Ｃ、サンプルホルダ
２２Ｐ，２２Ｃ、アナログマルチプレクサ２３、
AD変換器２４とタイミング発生回路２５で構成
される。ここで２６はサンプリング指令信号線、
２７は切換指令信号線、２８はAD変換指令信号
線、２９は入力要求信号線である。また演算処理
部３も公知のごとく、ベーシツクプロセツシング
ユニツト（BPU）３１、保護リレーの演算プロ
グラムを格納する例えばリードオンリ−メモリ
（ROM）３２、データメモリに用いるランダム
アクセスメモリ（RAM）３３、入出力回路３
４、及び整定回路３５等で構成される。
演算処理部３の動作は、基本的には第２図の如
き保護リレータスクの各ステツプ51〜59に従つて
行われ、このフローを、毎サンプリングの入力デ
ータに対し繰り返し実行することにより事故を検
出する。もし、事故を検出したときには、信号線
３６を介して動作出力を発して、トリツプ回路４
の、平常時に開状態にある接点４１を閉状態に移
行させることにより、信号線４４と接続される図
示してないしや断器のトリツプコイルを付勢する
ように動作する。なお、本来、入力部２のタイミ
ング制御回路２５から信号線２９を介して一定周
期（例えばサンプリング周期）で演算処理部３の
BPU３１に与えられるデータ入力要求信号が、
装置不具合等の不都合で、BPU３１に上記の所
定周期で到達しないときには、その定周期性を判
断するステツプ（第２図の56）でこれを検出し、
次段のステツプ57で異常報知を行い、かつステツ
プ58の演算処理に従い入出力回路３４から信号線
３７を介して常時閉のトリツプロツク接点４２を
開状態に移行させることは云うまでもない。演算
処理部３は、接点４２と連動する接点４３の開閉
状態を信号線３８を介して入力し、監視すること
により、ステツプ59を用いトリツプロツクを確認
する。
き保護リレータスクの各ステツプ51〜59に従つて
行われ、このフローを、毎サンプリングの入力デ
ータに対し繰り返し実行することにより事故を検
出する。もし、事故を検出したときには、信号線
３６を介して動作出力を発して、トリツプ回路４
の、平常時に開状態にある接点４１を閉状態に移
行させることにより、信号線４４と接続される図
示してないしや断器のトリツプコイルを付勢する
ように動作する。なお、本来、入力部２のタイミ
ング制御回路２５から信号線２９を介して一定周
期（例えばサンプリング周期）で演算処理部３の
BPU３１に与えられるデータ入力要求信号が、
装置不具合等の不都合で、BPU３１に上記の所
定周期で到達しないときには、その定周期性を判
断するステツプ（第２図の56）でこれを検出し、
次段のステツプ57で異常報知を行い、かつステツ
プ58の演算処理に従い入出力回路３４から信号線
３７を介して常時閉のトリツプロツク接点４２を
開状態に移行させることは云うまでもない。演算
処理部３は、接点４２と連動する接点４３の開閉
状態を信号線３８を介して入力し、監視すること
により、ステツプ59を用いトリツプロツクを確認
する。
第３図は上記したデジタル形保護リレーへ、本
発明を適用したときのブロツク構成を示し、第１
図の構成に点検入力部７及び点検信号発生部８が
付加されている。
発明を適用したときのブロツク構成を示し、第１
図の構成に点検入力部７及び点検信号発生部８が
付加されている。
同図において、まず点検信号発生部８内の点検
用起動タイマ８１からの点検起動要求がない場合
は、タイミング制御回路２５から演算処理部３の
BPU３１に、入力部２のデータサンプリング系
と同期してデータ入力要求が与えられる。これ
は、演算処理部３の入出力回路３４から、信号４
５を通して０レベル信号（自動点検時には１レベ
ル信号となる）しか与えられず、したがつてタイ
ミング発生回路２５から信号線２９、アンドゲー
ト８２及びオアゲート８４を介してデータ入力要
求がBPU３１に到達するように構成しているか
らである。
用起動タイマ８１からの点検起動要求がない場合
は、タイミング制御回路２５から演算処理部３の
BPU３１に、入力部２のデータサンプリング系
と同期してデータ入力要求が与えられる。これ
は、演算処理部３の入出力回路３４から、信号４
５を通して０レベル信号（自動点検時には１レベ
ル信号となる）しか与えられず、したがつてタイ
ミング発生回路２５から信号線２９、アンドゲー
ト８２及びオアゲート８４を介してデータ入力要
求がBPU３１に到達するように構成しているか
らである。
次に、第４図のフローチヤートと合せて、点検
用起動タイマ８１が、BPU３１に対し、自動点
検開始の要求を行う場合について述べる。
用起動タイマ８１が、BPU３１に対し、自動点
検開始の要求を行う場合について述べる。
本発明実施例におけるROM３２には、第４図
（図中、２重枠で示すステツプが本発明実施のた
めに付加した処理ステツプである）の如きステツ
プ群より構成された演算処理タスクが具備されて
いるので、BPU３１は、ステツプ501で、点検起
動の要求があつたことを認識できる。この結果、
ありの場合には次のステツプ502で、入出力回路
３４から信号線３７を介してトリツプ回路４をロ
ツクする指令を接点４２に伝達し、かつステツプ
503で信号線３８を介してトリツプロツクの確認
を行う。ただしステツプ502の処理でトリツプロ
ツク出力を発してから、予定時間が経過しても常
時閉の接点４２が開状態に移行しないような場合
が生じても、このときにはステツプ503からステ
ツプ516に移り、ここでタイムオーバーが検出さ
れて前記従来技術の場合と同様の異常報知等の処
理がステツプ57以下によつて行われる。
（図中、２重枠で示すステツプが本発明実施のた
めに付加した処理ステツプである）の如きステツ
プ群より構成された演算処理タスクが具備されて
いるので、BPU３１は、ステツプ501で、点検起
動の要求があつたことを認識できる。この結果、
ありの場合には次のステツプ502で、入出力回路
３４から信号線３７を介してトリツプ回路４をロ
ツクする指令を接点４２に伝達し、かつステツプ
503で信号線３８を介してトリツプロツクの確認
を行う。ただしステツプ502の処理でトリツプロ
ツク出力を発してから、予定時間が経過しても常
時閉の接点４２が開状態に移行しないような場合
が生じても、このときにはステツプ503からステ
ツプ516に移り、ここでタイムオーバーが検出さ
れて前記従来技術の場合と同様の異常報知等の処
理がステツプ57以下によつて行われる。
一方、トリツプロツクOKがステツプ503で確
認されると、次段のステツプ504の処理に従つて
入力要求パルス阻止指令（１レベル）が入出力回
路３４から信号線４５を介して、アンドゲート８
２に与えられ、これまでタイミング制御回路２５
から信号線２９を介してBPU３１へ与えられて
いた系統からのデータ入力要求が阻止される。
認されると、次段のステツプ504の処理に従つて
入力要求パルス阻止指令（１レベル）が入出力回
路３４から信号線４５を介して、アンドゲート８
２に与えられ、これまでタイミング制御回路２５
から信号線２９を介してBPU３１へ与えられて
いた系統からのデータ入力要求が阻止される。
ステツプ505で、リレーに点検入力を加えるた
め接点７１，７２及び接点７４，７５の開閉を点
検状態に切換える。ここで、接点７１，７２及び
接点７４，７５は夫々対になつており、いつでも
逆の開閉状態をとり、同時に開閉制御される。そ
して接点７１，７４は補助PT１１，CT１２の出
力を短絡し、接点７２，７５は後述する点検信号
をリレーに導入するためのものである。
め接点７１，７２及び接点７４，７５の開閉を点
検状態に切換える。ここで、接点７１，７２及び
接点７４，７５は夫々対になつており、いつでも
逆の開閉状態をとり、同時に開閉制御される。そ
して接点７１，７４は補助PT１１，CT１２の出
力を短絡し、接点７２，７５は後述する点検信号
をリレーに導入するためのものである。
以上の入力切替ステツプ505を終了するとステ
ツプ5051により、次の演算サイクルで使用する点
検データが、点検用データの出力開始から第何番
目のものであるかをカウントして記憶する。
ツプ5051により、次の演算サイクルで使用する点
検データが、点検用データの出力開始から第何番
目のものであるかをカウントして記憶する。
さらにステツプ5052は本発明の特徴とする部分
で、ここでは少しずつ周波数のずれた点検用信号
を発生するためのデータが、先のカウンタステツ
プ5051のカウント値に応じて繰り返し読み出しさ
れる。この詳細を第５図、第６図及び第７図を用
いてここで説明する。
で、ここでは少しずつ周波数のずれた点検用信号
を発生するためのデータが、先のカウンタステツ
プ5051のカウント値に応じて繰り返し読み出しさ
れる。この詳細を第５図、第６図及び第７図を用
いてここで説明する。
第５図は上記点検データのROM３２内の所定
エリアへの既知の格納例を示す。すなわち、ｎ番
地からｎ＋11番地のそれぞれに夫々１ワードずつ
の点検データが格納された例で、ｎ番地にはＡな
る情報、ｎ＋１番地にはＢなる情報……ｎ＋11に
はＬなる情報が記憶されている。
エリアへの既知の格納例を示す。すなわち、ｎ番
地からｎ＋11番地のそれぞれに夫々１ワードずつ
の点検データが格納された例で、ｎ番地にはＡな
る情報、ｎ＋１番地にはＢなる情報……ｎ＋11に
はＬなる情報が記憶されている。
いま、この点検データＡ〜Ｌが、第６図ａに示
すように、正弦波での時間Ｔピツチごとの値を代
表するものとすれば、同図ｂの如く時間ｔでｎ番
地に格納されている点検情報Ａ、時間ｔ＋Ｔでｎ
＋１番地の点検情報Ｂ、……という風に順次イン
クリメントしたアドレスから点検情報を取り出
し、ラツチ回路の一方、例えば８５へ与えるもの
とすれば、該当のサンプルホルダ８９１からは同
図ａに階段状に示す波形が出力される。したがつ
て、その後段のローパスフイルタ８９３からは、
この階段状正弦波から高調波成分が除去された上
記正弦波ｖと相似の正弦波が出力できる。
すように、正弦波での時間Ｔピツチごとの値を代
表するものとすれば、同図ｂの如く時間ｔでｎ番
地に格納されている点検情報Ａ、時間ｔ＋Ｔでｎ
＋１番地の点検情報Ｂ、……という風に順次イン
クリメントしたアドレスから点検情報を取り出
し、ラツチ回路の一方、例えば８５へ与えるもの
とすれば、該当のサンプルホルダ８９１からは同
図ａに階段状に示す波形が出力される。したがつ
て、その後段のローパスフイルタ８９３からは、
この階段状正弦波から高調波成分が除去された上
記正弦波ｖと相似の正弦波が出力できる。
しかし、このままでは周波数変化を与えられな
いので、本発明の場合には、第５図に示す点検デ
ータの代りに第７図に示すように、＃ｎをさらに
細分化し、サンプリング周期Ｔより十分小さいピ
ツチΔTをとつて、この時間間隔ごとの正弦波の
値A1、A2、……Akを格納する。同様にして第５
図のＢ〜Ｌも細分化して、B1……Bk〜L1……Lk
というようにROM３２内の所定のエリアへ格納
しておく。そして第６図ａに示す時間ｔではnA番
地に格納されているデータＡをそのまま、時間ｔ
＋ＴではnB＋１番地からＢよりもΔTずれた点の
値B1、時間ｔ＋2TではnC＋２番地からＣよりも
2ΔTずれた点の値C2、……というように順次イ
ンクリメントしたアドレスからデータを取り出
す。
いので、本発明の場合には、第５図に示す点検デ
ータの代りに第７図に示すように、＃ｎをさらに
細分化し、サンプリング周期Ｔより十分小さいピ
ツチΔTをとつて、この時間間隔ごとの正弦波の
値A1、A2、……Akを格納する。同様にして第５
図のＢ〜Ｌも細分化して、B1……Bk〜L1……Lk
というようにROM３２内の所定のエリアへ格納
しておく。そして第６図ａに示す時間ｔではnA番
地に格納されているデータＡをそのまま、時間ｔ
＋ＴではnB＋１番地からＢよりもΔTずれた点の
値B1、時間ｔ＋2TではnC＋２番地からＣよりも
2ΔTずれた点の値C2、……というように順次イ
ンクリメントしたアドレスからデータを取り出
す。
ステツプ506では、ステツプ5052で取り出した
データを入出力回路３４を介して、点検信号発生
部８のラツチ回路８５，８６のうち該当の方へ与
える。例えば本実施例では２入力の保護リレーの
点検例を示していので、系統の電圧を模擬する点
検入力はラツチ回路８５へ、また、電流入力を模
擬する入力はラツチ回路８６へ与えられる。
データを入出力回路３４を介して、点検信号発生
部８のラツチ回路８５，８６のうち該当の方へ与
える。例えば本実施例では２入力の保護リレーの
点検例を示していので、系統の電圧を模擬する点
検入力はラツチ回路８５へ、また、電流入力を模
擬する入力はラツチ回路８６へ与えられる。
さらに、本実施例の如く、点検をアナログ入力
によつて行う場合、このラツチ回路８５，８６へ
与えられた点検データは、入出力回路３４の選択
指令に基づきセレクタゲート８７を介して１つず
つDA変換器８８へ与えられ、変換後の点検用ア
ナログ信号は夫々に該当のサンプルホルダ８９，
８９１で保持される。これは、次回の点検データ
が演算処理部３から点検信号発生部８へ与えられ
るまで保持される。したがつて、その後段のロー
パスフイルタ８９２または８９３からは、この階
段状正弦波から高調波成分が除去され、第６図ａ
のデータＡ，Ｂ，Ｃ，……より生成された正弦波
ｖとは周波数の異なる正弦波v1が出力できる。第
６図ｃはオリジナル信号から高い周波数を発生さ
せた場合を示し、低い周波数のデータを発生する
ときはB1の代りにAk、C2の代りにBk-1、D3の代
りにCk-2……というようにデータを取り出せばよ
い。また、１サンプルごとに±2ΔT、±3ΔTとい
うようにずらしていけば、より大きな周波数変化
をもつた点検信号をとり出せる。従つてこの方向
（＋、−）および幅をカウントステツプ5051のカウ
ント値に応じて変化させれば、種々の周波数によ
る点検が可能となる。
によつて行う場合、このラツチ回路８５，８６へ
与えられた点検データは、入出力回路３４の選択
指令に基づきセレクタゲート８７を介して１つず
つDA変換器８８へ与えられ、変換後の点検用ア
ナログ信号は夫々に該当のサンプルホルダ８９，
８９１で保持される。これは、次回の点検データ
が演算処理部３から点検信号発生部８へ与えられ
るまで保持される。したがつて、その後段のロー
パスフイルタ８９２または８９３からは、この階
段状正弦波から高調波成分が除去され、第６図ａ
のデータＡ，Ｂ，Ｃ，……より生成された正弦波
ｖとは周波数の異なる正弦波v1が出力できる。第
６図ｃはオリジナル信号から高い周波数を発生さ
せた場合を示し、低い周波数のデータを発生する
ときはB1の代りにAk、C2の代りにBk-1、D3の代
りにCk-2……というようにデータを取り出せばよ
い。また、１サンプルごとに±2ΔT、±3ΔTとい
うようにずらしていけば、より大きな周波数変化
をもつた点検信号をとり出せる。従つてこの方向
（＋、−）および幅をカウントステツプ5051のカウ
ント値に応じて変化させれば、種々の周波数によ
る点検が可能となる。
以上のようにして生成された点検用アナログ信
号は、夫々接点７２，７５を介して、入力部２の
該当端子Ｐ４，Ｃ４に与えられる。
号は、夫々接点７２，７５を介して、入力部２の
該当端子Ｐ４，Ｃ４に与えられる。
なお、このとき、夫々に該当の系統情報は、夫
夫補助PT１１、補助CT１２の出力側が図示の如
く接点７１，７４により通過を阻止されるので、
点検入力に対し影響を与えることはない。
夫補助PT１１、補助CT１２の出力側が図示の如
く接点７１，７４により通過を阻止されるので、
点検入力に対し影響を与えることはない。
そして、このステツプ506の終りの時点では、
信号線３９を介して１レベル信号が発生されるの
で、前記タイミング制御回路２５からのデータ入
力要求信号がアンドゲート８３、オアゲート８４
を経て、BPU３１へ与えられる。したがつて、
これら点検入力もサンプリングしAD変換された
後、続くステツプ51の処理により、平常時の系統
データと全く同様に演算処理部３へ取り込まれ
る。
信号線３９を介して１レベル信号が発生されるの
で、前記タイミング制御回路２５からのデータ入
力要求信号がアンドゲート８３、オアゲート８４
を経て、BPU３１へ与えられる。したがつて、
これら点検入力もサンプリングしAD変換された
後、続くステツプ51の処理により、平常時の系統
データと全く同様に演算処理部３へ取り込まれ
る。
続くステツプ52、53、54では、平常時のデータ
と同様に扱われ、ステツプ54の判定結果が「事故
あり」のときには、ステツプ507を介してステツ
プ509、511へ、また「事故なし」のときには、ス
テツプ508を介してステツプ510、512へと進み、
被点検部に不具合がない場合には、共にステツプ
513へと進む。
と同様に扱われ、ステツプ54の判定結果が「事故
あり」のときには、ステツプ507を介してステツ
プ509、511へ、また「事故なし」のときには、ス
テツプ508を介してステツプ510、512へと進み、
被点検部に不具合がない場合には、共にステツプ
513へと進む。
このステツプ513の処理で、点検の進度が調べ
られ、まだ残りの点検ステツプが残つているとき
には、ステツプ514へ移り、点検ステツプを１つ
歩進する処理を行い、再びステツプ505の点検信
号出力処理へと進む。
られ、まだ残りの点検ステツプが残つているとき
には、ステツプ514へ移り、点検ステツプを１つ
歩進する処理を行い、再びステツプ505の点検信
号出力処理へと進む。
一方、点検の全ステツプが終了したときには、
ステツプ515でトリツプロツク解除を出力し、さ
らにステツプ516でトリツプロツク解除OKが確
認されれば、次の点検入力用接点復帰処理ステツ
プ517により、接点７１，７２，７４，７５を点
検時の閉状態から平常時の開状態に復帰するため
の指令を出力し、また信号線３９を０レベルに復
帰すると共に、信号線４５への出力を０レベルに
復帰させる。
ステツプ515でトリツプロツク解除を出力し、さ
らにステツプ516でトリツプロツク解除OKが確
認されれば、次の点検入力用接点復帰処理ステツ
プ517により、接点７１，７２，７４，７５を点
検時の閉状態から平常時の開状態に復帰するため
の指令を出力し、また信号線３９を０レベルに復
帰すると共に、信号線４５への出力を０レベルに
復帰させる。
これによつて、点検から平常時のデータ入力に
よる系統事故検出へ戻ることができる。
よる系統事故検出へ戻ることができる。
なお、上記の点検過程で装置の不具合が発見さ
れた場合は、ステツプ５７でその旨が報知され、
ステツプ５８でトリツプロツクし、系統のしや断
を防止できることは云うまでもない。
れた場合は、ステツプ５７でその旨が報知され、
ステツプ５８でトリツプロツクし、系統のしや断
を防止できることは云うまでもない。
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、メモリおよび簡単な回路を付加することによ
り、周波数の異なつた点検信号を順次発生させて
周波数リレーの確実な点検を実施できるという効
果がある。
ば、メモリおよび簡単な回路を付加することによ
り、周波数の異なつた点検信号を順次発生させて
周波数リレーの確実な点検を実施できるという効
果がある。
第１図は従来のデイジタル保護リレーのシステ
ム構成図、第２図は従来の演算処理部の基本的処
理フロー図、第３図は本発明のデイジタル保護リ
レーのシステム構成図、第４図は本発明の演算処
理フロー図、第５図はROM内の既知の点検デー
タの配置例を示す図、第６図は同一の点検データ
から異なつた周波数の点検入力を再現する状態を
説明する波形図、第７図は本発明におけるROM
内の点検データの配置例を示す図である。 １……補助変成器部、２……入力部、３……演
算処理部、４……トリツプ回路、７……点検入力
部、８……点検信号発生部、３２……ROM。
ム構成図、第２図は従来の演算処理部の基本的処
理フロー図、第３図は本発明のデイジタル保護リ
レーのシステム構成図、第４図は本発明の演算処
理フロー図、第５図はROM内の既知の点検デー
タの配置例を示す図、第６図は同一の点検データ
から異なつた周波数の点検入力を再現する状態を
説明する波形図、第７図は本発明におけるROM
内の点検データの配置例を示す図である。 １……補助変成器部、２……入力部、３……演
算処理部、４……トリツプ回路、７……点検入力
部、８……点検信号発生部、３２……ROM。
Claims (1)
- １ 周波数リレーの入力端に常時与えられている
系統情報に代つて正絃波状の点検データを入力と
して与え、該入力に対する応動状況を調べること
により上記周波数リレーの健否を自動的に確認す
る手段を備えた周波数リレーの点検方式におい
て、上記系統情報をとり込む時のサンプリング周
期よりも十分小さく定められた時間幅ごとの基準
正絃波の振幅値を記憶するための記憶手段と、該
記憶された振幅値を上記基準正絃波の時間軸方向
の一定間隔で上記サンプリング周期ごとに読み出
しかつ該読み出した振幅値の系列から上記正弦波
点検データを発生する点検データ発生手段とを備
えるとともに、１回の上記点検データ発ごとに上
記一定間隔を変化させることによつて種々の周波
数を有する正弦波を用いた点検を行うるように構
成したことを特徴とする周波数リレーの点検方
式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56013023A JPS57129125A (en) | 1981-02-02 | 1981-02-02 | Method of inspecting frequency relay |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56013023A JPS57129125A (en) | 1981-02-02 | 1981-02-02 | Method of inspecting frequency relay |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57129125A JPS57129125A (en) | 1982-08-11 |
| JPS6320089B2 true JPS6320089B2 (ja) | 1988-04-26 |
Family
ID=11821538
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56013023A Granted JPS57129125A (en) | 1981-02-02 | 1981-02-02 | Method of inspecting frequency relay |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57129125A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2520713B2 (ja) * | 1988-11-05 | 1996-07-31 | 三菱電機株式会社 | デジタル保護継電器 |
| KR930702811A (ko) * | 1990-10-12 | 1993-09-09 | 죤 에버레트 벤슨 | 회로 보호 장치 및 유니트 |
| GB9100283D0 (en) * | 1991-01-07 | 1991-02-20 | Raychem Ltd | Overcurrent protection device |
| US5319515A (en) * | 1990-10-12 | 1994-06-07 | Raychem Limited | Circuit protection arrangement |
| TW214020B (ja) | 1990-10-12 | 1993-10-01 | Raychem Ltd |
-
1981
- 1981-02-02 JP JP56013023A patent/JPS57129125A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57129125A (en) | 1982-08-11 |
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