JPS63193607A - 信号のデユ−テイサイクルの検出回路 - Google Patents
信号のデユ−テイサイクルの検出回路Info
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- JPS63193607A JPS63193607A JP2510587A JP2510587A JPS63193607A JP S63193607 A JPS63193607 A JP S63193607A JP 2510587 A JP2510587 A JP 2510587A JP 2510587 A JP2510587 A JP 2510587A JP S63193607 A JPS63193607 A JP S63193607A
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- 101710112715 Endoribonuclease ZC3H12A Proteins 0.000 abstract 1
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Landscapes
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は通信系や記録再生系の信号に生じる信=3−
号の欠落や雑音の混入などによる信号の位相の不連続な
どによって生じる信号の異常状態を検出する信号のデユ
ーティサイクルの検出回路に関する。
どによって生じる信号の異常状態を検出する信号のデユ
ーティサイクルの検出回路に関する。
(従来の技術)
通信系や記録再生系の信号に生じる信号の欠落や雑音の
混入などによる信号の位相の不連続などによって生じる
信号の異常状態を検出するために用いられる信号のデユ
ーティサイクルの検出回路としては、従来から例えば欠
落信号の検出回路、その他、種々の構成形態のものが知
られている。
混入などによる信号の位相の不連続などによって生じる
信号の異常状態を検出するために用いられる信号のデユ
ーティサイクルの検出回路としては、従来から例えば欠
落信号の検出回路、その他、種々の構成形態のものが知
られている。
第4図は、本出願人会社が先に提案したデユーティサイ
クルの検出回路であり、この第4図示のデユーティサイ
クルの検出回路において、1はデユーティサイクルの検
出の対象とされている信号Si(例えば周波数変調波信
号)の入力端子であり、また、LMITはリミッタ、R
TMMIは前記したリミッタL M I Tからの出力
パルスPΩの前縁の時間位置でトリガされるとともに、
デユーティサイクルの検出の対象にされている信号Si
の正常な状態におl′jる信月の1周期の時間長の変化
範−4= 囲において最も短い時間長τ0よりも僅かに短い時定数
(時間長Tl)に設定された第1のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータであり、RTMM2は前記した第
1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMM
Iの出力パルスP1の前縁の時間位置でトリガされると
ともに、デユーティサイクルの検出の対象にされている
信号Siの正常な状態における信号の1周期の時間長τ
0の変化範囲において最も長い時間長τ0よりも僅かに
長い時定数(時間長T2)に設定された第2のリトリガ
ラブル単安定マルチバイブレータであり、さらに、PS
は前記した第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレ
ータRTMM2の出力パルスP2の後縁の時間位置から
所定のパルスrllToの出力パルスPo(判別信号)
を発生するパルス伸長回路(例えば、単安定マルチバイ
ブレータ)である。
クルの検出回路であり、この第4図示のデユーティサイ
クルの検出回路において、1はデユーティサイクルの検
出の対象とされている信号Si(例えば周波数変調波信
号)の入力端子であり、また、LMITはリミッタ、R
TMMIは前記したリミッタL M I Tからの出力
パルスPΩの前縁の時間位置でトリガされるとともに、
デユーティサイクルの検出の対象にされている信号Si
の正常な状態におl′jる信月の1周期の時間長の変化
範−4= 囲において最も短い時間長τ0よりも僅かに短い時定数
(時間長Tl)に設定された第1のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータであり、RTMM2は前記した第
1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMM
Iの出力パルスP1の前縁の時間位置でトリガされると
ともに、デユーティサイクルの検出の対象にされている
信号Siの正常な状態における信号の1周期の時間長τ
0の変化範囲において最も長い時間長τ0よりも僅かに
長い時定数(時間長T2)に設定された第2のリトリガ
ラブル単安定マルチバイブレータであり、さらに、PS
は前記した第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレ
ータRTMM2の出力パルスP2の後縁の時間位置から
所定のパルスrllToの出力パルスPo(判別信号)
を発生するパルス伸長回路(例えば、単安定マルチバイ
ブレータ)である。
第4図に示されている既提案の信号のデユーティサイク
ルの検出回路におけるリミッタLMITに対して入力端
子1を介して第5図の(a)に示されているようなデユ
ーティサイクルの検出の対象とされている信号Siが供
給されると、前記の入力信号Siが供給されたリミッタ
LMITからは、それに供給された信号Siと対応して
、第5図の(b)に示されているようなパルスPQが出
力される。
ルの検出回路におけるリミッタLMITに対して入力端
子1を介して第5図の(a)に示されているようなデユ
ーティサイクルの検出の対象とされている信号Siが供
給されると、前記の入力信号Siが供給されたリミッタ
LMITからは、それに供給された信号Siと対応して
、第5図の(b)に示されているようなパルスPQが出
力される。
第5図の(a)に例示した信号のデユーティサイクルの
検出回路の入力端子1に供給されるデユーティサイクル
の検出の対象とされている信号Siは、第5図巾の時刻
t1→t2の期間及び時刻t4→t5の期間では正常な
状態であるが、時刻t3付近に信号の欠落があり時刻t
2→t4の期間(Tl)の信号波形が異常なものになっ
ているとともに、時刻t6の部分に位相の不連続な部分
が生じていて時刻t5→t6の期間(T2)の信号波形
が異常なものになっている場合のものである。
検出回路の入力端子1に供給されるデユーティサイクル
の検出の対象とされている信号Siは、第5図巾の時刻
t1→t2の期間及び時刻t4→t5の期間では正常な
状態であるが、時刻t3付近に信号の欠落があり時刻t
2→t4の期間(Tl)の信号波形が異常なものになっ
ているとともに、時刻t6の部分に位相の不連続な部分
が生じていて時刻t5→t6の期間(T2)の信号波形
が異常なものになっている場合のものである。
さて、前記したリミッタLMITから出力された第5図
の(b)に示されているようなパルスPQが第1のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータRTMMIにトリ
ガパルスとして供給されると、前記の第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMMIは、前記した
リミッタLMITの出力パルスPQにおける前縁の時間
位置毎にトリガされてトリガの度毎に所定のパルス巾T
1の出力パルスを発生するような動作を行う。
の(b)に示されているようなパルスPQが第1のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータRTMMIにトリ
ガパルスとして供給されると、前記の第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMMIは、前記した
リミッタLMITの出力パルスPQにおける前縁の時間
位置毎にトリガされてトリガの度毎に所定のパルス巾T
1の出力パルスを発生するような動作を行う。
前記の第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータ
RTMMIは、既述したように入力端子1に供給される
デユーティサイクルの検出の対象とされている信号Si
が正常な状態における1周期の時間長をT0としたとき
に、T0に対してT0〉Tlの関係にある時間長T1の
時定数に設定されているから、この第1のリトリガラブ
ル単安定マルチバイブレータRTMMIから出力される
出力パルスPLは、第5図の(c)に示されているよう
に入力端子1へ供給されている信号Siの周期が第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMMIに
設定されている時定数TIよりも長い状態の場合には、
第5図の(c)の時刻t1→時刻t3までの期間、及び
時刻t4→時刻t5の期間、ならびに時刻t7以降の期
間などにそれぞれ示されているように、リミッタLMI
Tの出力パルスPΩ における前縁の時間位置からハイ
レベルの時間長がT1のパルスを発生し、また、入力端
子1へ供給されている信号S、iの周期が、第5図の(
c)の時刻t5→時刻t6までの期間のように、第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMMIに
設定されている時定数Tlよりも短い状態の期間におい
ては、時刻t5におけるリミッタLMITからの出力パ
ルスPQの前縁の時間位置で第1のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータRTMMIがトリガされることに
よって、出力パルスPlは前記した時刻t5からTlの
時間長にわたってハイレベルの状態になされるが、第1
のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMM1
からの出力パルスP1がハイレベルの状態になされてい
る期間巾の時刻t6に、第1のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータRTMMIはリミッタLMITからの
出力パルスPQの前縁の時間位置で再トリガされるため
に、第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータR
TMMIからの出力パルスP1は時刻t6から時間長T
1にわたってハイレベルの状態を続けて、時刻tcにロ
ーレベルの状態に変化し、次いで時刻t7におけるリミ
ッタLMITからの出力パルスPQの前縁の時間位置に
第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTM
MIがトリガされることにより、第1のリトリガラブル
単安定マルチバイブレータRTMMIからの出力パルス
P1は時刻t7からハイレベルの状態になされる。
RTMMIは、既述したように入力端子1に供給される
デユーティサイクルの検出の対象とされている信号Si
が正常な状態における1周期の時間長をT0としたとき
に、T0に対してT0〉Tlの関係にある時間長T1の
時定数に設定されているから、この第1のリトリガラブ
ル単安定マルチバイブレータRTMMIから出力される
出力パルスPLは、第5図の(c)に示されているよう
に入力端子1へ供給されている信号Siの周期が第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMMIに
設定されている時定数TIよりも長い状態の場合には、
第5図の(c)の時刻t1→時刻t3までの期間、及び
時刻t4→時刻t5の期間、ならびに時刻t7以降の期
間などにそれぞれ示されているように、リミッタLMI
Tの出力パルスPΩ における前縁の時間位置からハイ
レベルの時間長がT1のパルスを発生し、また、入力端
子1へ供給されている信号S、iの周期が、第5図の(
c)の時刻t5→時刻t6までの期間のように、第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMMIに
設定されている時定数Tlよりも短い状態の期間におい
ては、時刻t5におけるリミッタLMITからの出力パ
ルスPQの前縁の時間位置で第1のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータRTMMIがトリガされることに
よって、出力パルスPlは前記した時刻t5からTlの
時間長にわたってハイレベルの状態になされるが、第1
のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMM1
からの出力パルスP1がハイレベルの状態になされてい
る期間巾の時刻t6に、第1のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータRTMMIはリミッタLMITからの
出力パルスPQの前縁の時間位置で再トリガされるため
に、第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータR
TMMIからの出力パルスP1は時刻t6から時間長T
1にわたってハイレベルの状態を続けて、時刻tcにロ
ーレベルの状態に変化し、次いで時刻t7におけるリミ
ッタLMITからの出力パルスPQの前縁の時間位置に
第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTM
MIがトリガされることにより、第1のリトリガラブル
単安定マルチバイブレータRTMMIからの出力パルス
P1は時刻t7からハイレベルの状態になされる。
そして、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチバ
イブレータRTMMIからの出力パルスPiがトリガと
して供給される第2のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータRTMM2は、入力端子1に供給されるデユー
ティサイクルの検出の対象とされている信号Siが正常
な状態における1周期の時間長をT0としたときに、T
0に対してτo(T2の関係にある時間長T2の時定数
に設定されているから、この第2のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータRTMM2から出力される出力パ
ルスP2は、第5図の(d)に示されているように、前
記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータ
RTMMIからの出力パルスP1の前縁の時間位置の隣
り合う相互の時間々隔が時間長T2に比べて長い状態の
場合、すなわち、入力信号Si中に信号の欠落が生じて
第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTM
M2に設定されている時定数T2よりも長い時間巾にわ
たって第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータ
RTMMIがトリガされなかった状態のとき、及び、入
力信号Si中に信号の位相に不連続な状態が生じて、第
1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMM
Iからの出力パルスP1のパルス巾が、第2のリトリガ
ラブル単安定マルチバイブレータRTMM2に設定され
ている時定数T2よりも長い時間長になって、第2のリ
トリガラブル単安定マルチバイブレータRTMM2が前
記した時間長T2よりも長い時間にわたってトリガされ
なかった状態のときだけに、前記した第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMMIからの出力パ
ルスP1の前縁の時間位置によって、第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMM2が最後にトリ
ガされた時間位置(第5図の(d)の場合には時刻t2
及び時刻t5)から時間長T1を経過した時点(第5図
の(d)の場合には時刻ta及び時刻tb)にハイレベ
ルの状態からローレベルの状態に変化する。
イブレータRTMMIからの出力パルスPiがトリガと
して供給される第2のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータRTMM2は、入力端子1に供給されるデユー
ティサイクルの検出の対象とされている信号Siが正常
な状態における1周期の時間長をT0としたときに、T
0に対してτo(T2の関係にある時間長T2の時定数
に設定されているから、この第2のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータRTMM2から出力される出力パ
ルスP2は、第5図の(d)に示されているように、前
記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータ
RTMMIからの出力パルスP1の前縁の時間位置の隣
り合う相互の時間々隔が時間長T2に比べて長い状態の
場合、すなわち、入力信号Si中に信号の欠落が生じて
第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTM
M2に設定されている時定数T2よりも長い時間巾にわ
たって第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータ
RTMMIがトリガされなかった状態のとき、及び、入
力信号Si中に信号の位相に不連続な状態が生じて、第
1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRTMM
Iからの出力パルスP1のパルス巾が、第2のリトリガ
ラブル単安定マルチバイブレータRTMM2に設定され
ている時定数T2よりも長い時間長になって、第2のリ
トリガラブル単安定マルチバイブレータRTMM2が前
記した時間長T2よりも長い時間にわたってトリガされ
なかった状態のときだけに、前記した第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMMIからの出力パ
ルスP1の前縁の時間位置によって、第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMM2が最後にトリ
ガされた時間位置(第5図の(d)の場合には時刻t2
及び時刻t5)から時間長T1を経過した時点(第5図
の(d)の場合には時刻ta及び時刻tb)にハイレベ
ルの状態からローレベルの状態に変化する。
それで、前記した第2のリトリガラブル単安定マルチバ
イブレータRTMM2から出力された第5図の(d)に
示されているようなパルスP2が供給されるパルス伸長
回路PSでは、前記したパルスP2がハイレベルの状態
からローレベルの状態に変化した時刻ta、及び時刻t
bから、第5図の(、)に示されているように所定のパ
ルス巾Toを有するパルスPa(判別信号)を発生して
、それを出力端子2に送出する。
イブレータRTMM2から出力された第5図の(d)に
示されているようなパルスP2が供給されるパルス伸長
回路PSでは、前記したパルスP2がハイレベルの状態
からローレベルの状態に変化した時刻ta、及び時刻t
bから、第5図の(、)に示されているように所定のパ
ルス巾Toを有するパルスPa(判別信号)を発生して
、それを出力端子2に送出する。
このように、第4図に示されている既提案の信号のデユ
ーティサイクルの検出回路においては、第5図の(、)
〜(f)に示されているところから明らかなように、入
力端子1に供給された第5図の(a)に示されているよ
うなデユーティサイクルの検出の対象とされている信号
Si中に、信号の欠薄部分があったり、信号の位相の不
連続な部分があった場合には、それと対応して出力端子
2に判別信号POを送出することかできるのである。
ーティサイクルの検出回路においては、第5図の(、)
〜(f)に示されているところから明らかなように、入
力端子1に供給された第5図の(a)に示されているよ
うなデユーティサイクルの検出の対象とされている信号
Si中に、信号の欠薄部分があったり、信号の位相の不
連続な部分があった場合には、それと対応して出力端子
2に判別信号POを送出することかできるのである。
(発明が解決しようとする問題点)
第4図及び第5図を参照して説明した既提案の信号のデ
ユーティサイクルの検出回路では、信号の欠落部分があ
って、信号Siの周期がリトリガラブル単安定マルチバ
イブレータRTMMIに設定されている時定数T1より
も長くなった場合、及びデユーティサイクルの検出の対
象とされている信号Si中に位相の不連続部分があって
、信号Siの周期がリトリガラブル単安定マルチバイブ
レータRTMM2に設定されている時定数T2よりも短
くなった場合との何れの場合でも、その状態を良好に検
出して出力端子2から判別信号とされるパルスPoを送
出することかできる。
ユーティサイクルの検出回路では、信号の欠落部分があ
って、信号Siの周期がリトリガラブル単安定マルチバ
イブレータRTMMIに設定されている時定数T1より
も長くなった場合、及びデユーティサイクルの検出の対
象とされている信号Si中に位相の不連続部分があって
、信号Siの周期がリトリガラブル単安定マルチバイブ
レータRTMM2に設定されている時定数T2よりも短
くなった場合との何れの場合でも、その状態を良好に検
出して出力端子2から判別信号とされるパルスPoを送
出することかできる。
しかし、前記した既提案の信号のデユーティサイクルの
検出回路は、信号のデユーティサイクルの検出の対象に
されている信号の1周期の時間長が、予め定められた最
長値や最短値を越えたかどうかの判別を行う際に用いら
れる基準の時間長として、時定数の値が予め固定的な値
として設定されるようになされている第1.第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータRTMMI、RT
MM2における時定数が用いられているから、次のよう
な点が問題になった。
検出回路は、信号のデユーティサイクルの検出の対象に
されている信号の1周期の時間長が、予め定められた最
長値や最短値を越えたかどうかの判別を行う際に用いら
れる基準の時間長として、時定数の値が予め固定的な値
として設定されるようになされている第1.第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータRTMMI、RT
MM2における時定数が用いられているから、次のよう
な点が問題になった。
すなわち、前記した既提案の信号のデユーティサイクル
の検出回路における構成部分として用いられている第1
.第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
MMI、RTMM2の時定数回路は、通常、抵抗とコン
デンサなどの回路素子によって構成されるが、前記した
抵抗とコンデンサなどの回路素子における抵抗値や静電
容量値などの回路定数は周知のように必らず誤差を含ん
でいるものであり、また、回路定数は温度変化や経時変
化により変化することが避けられない。
の検出回路における構成部分として用いられている第1
.第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
MMI、RTMM2の時定数回路は、通常、抵抗とコン
デンサなどの回路素子によって構成されるが、前記した
抵抗とコンデンサなどの回路素子における抵抗値や静電
容量値などの回路定数は周知のように必らず誤差を含ん
でいるものであり、また、回路定数は温度変化や経時変
化により変化することが避けられない。
それで、前記のように信号のデユーティサイクルの検出
の対象にされている信号の1周期の時間長が、予め定め
られた最長値や最短値を越えたかどうかの判別を行う際
に用いられる基準の時間長として、抵抗値と静電容量値
とによって決定される時定数回路が用いられた場合には
、その時定数を所定の固定値に設定するのに調整が必要
とされ。
の対象にされている信号の1周期の時間長が、予め定め
られた最長値や最短値を越えたかどうかの判別を行う際
に用いられる基準の時間長として、抵抗値と静電容量値
とによって決定される時定数回路が用いられた場合には
、その時定数を所定の固定値に設定するのに調整が必要
とされ。
また、温度変化や経時変化による回路定数の変化によっ
て回路の安定性が損われるし、さらに、信号のデユーテ
ィサイクルの検出の対象にされるべき信号が、周波数を
異にするものとなされた場合には、信号のデユーティサ
イクルの検出回路における構成部分として用いられてい
る第1.第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレー
タRTMMl、RTMM2の時定数回路の構成に用いら
れている抵抗とコンデンサなどの回路定数値を変更して
調整し直したりすることが必要とされるなどの不都合が
生じるので、それの解善策が求められた。
て回路の安定性が損われるし、さらに、信号のデユーテ
ィサイクルの検出の対象にされるべき信号が、周波数を
異にするものとなされた場合には、信号のデユーティサ
イクルの検出回路における構成部分として用いられてい
る第1.第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレー
タRTMMl、RTMM2の時定数回路の構成に用いら
れている抵抗とコンデンサなどの回路定数値を変更して
調整し直したりすることが必要とされるなどの不都合が
生じるので、それの解善策が求められた。
(問題点を解決するための手段)
本発明は信号の1周期の時間長が、予め定められた最長
値及び最短値を越えた場合に判別信号を発生しうるよう
になされている信号のデユーティサイクルの検出回路で
あって、デユーティサイクルの検出の対象とされている
信号が供給されるリミッタと、前記したリミッタからの
出力パルスの前縁の時間位置でトリガされるとともに、
デユーティサイクルの検出の対象にされている信号の正
常な状態における信号の1周期の時間長の変化範囲にお
いて最も短い時間長よりも僅かに短い時定数に設定され
るべき第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータ
と、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブ
レータからの出力パルスにおける前縁の時間位置でトリ
ガされるとともに、デユーティサイクルの検出の対象に
されている信号の正常な状態における信号の1周期の時
間長の変化範囲において最も長い時間長よりも僅かに長
い時定数に設定されるべき第2のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータと、前記した第2のリトリガラブル
単安定マルチバイブレータの出力パルスの後縁の時間位
置から所定のパルス巾の出力パルスを発生するパルス伸
長回路とを備えてなる信号のデユーティサイクルの検出
回路において、前記した第1のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータとして、第1のトリガ回路と、制御電
流によって時定数が可変となされる第1のランプ電圧発
生回路と、所定の基準電圧が与えられている第1の電圧
比較器とによって構成されているものを用い、前記した
第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータにおけ
る第1の電圧比較器からの出力パルスを第1の積分回路
によって積分して得た電圧を所定の基準電圧が与えられ
ている第1の誤差増幅器に比較電圧として供給する手段
と、前記した第1の誤差増幅器の出力電圧を第1の電圧
電流変換器によって制御電流に変換して前記した第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータにおける第1
のランプ電圧発生回路に制御電流として供給する手段と
、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレ
ータからの出力パルスがトリガパルスとして供給される
第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータとして
、第2のトリガ回路と、制御電流によって時定数が可変
となされる第、2のランプ電圧発生回路と、前記した第
2のランプ電圧発生回路の出力電圧とそれぞれ所定の基
準電圧とが与えられている第2゜第3の電圧比較器とに
よって構成されているものを用い、前記した第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータにおける第2の電
圧比較器からの出力パルスを第2の積分回路によって積
分して得た電圧を所定の基準電圧が与えられている第2
の誤差増幅器に比較電圧として供給する手段と、前記し
た第2の誤差増幅器の出力電圧を第2の電圧電流変換器
によって制御電流に変換して前記した第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータにおける第2のランプ電
圧発生回路に制御電流として供給する手段と、前記した
第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータにおけ
る第3の電圧比較器の出力パルスを前記した第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータの出力パルスとす
る手段と、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチ
バイブレータがデユーティサイクルの検出の対象にされ
ている信号の平均的な周期に追従して、デユーティサイ
クルの検出の対象にされている信号の平均的な周期に比
較して予め定められた比率だけ短いパルス巾の出力パル
スを発生しうるようにする手段と、前記した第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータがデユーティサイ
クルの検出の対象にされている信号の平均的な周期に追
従して、デユーティサイクルの検出の対象にされている
信号の平均的な周期に比較して予め定められた比率だけ
長いパルス巾の出力パルスを発生しうるようにする手段
とを備えてなる信号のデユーティサイクルの検出回路を
提供するものである。
値及び最短値を越えた場合に判別信号を発生しうるよう
になされている信号のデユーティサイクルの検出回路で
あって、デユーティサイクルの検出の対象とされている
信号が供給されるリミッタと、前記したリミッタからの
出力パルスの前縁の時間位置でトリガされるとともに、
デユーティサイクルの検出の対象にされている信号の正
常な状態における信号の1周期の時間長の変化範囲にお
いて最も短い時間長よりも僅かに短い時定数に設定され
るべき第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータ
と、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブ
レータからの出力パルスにおける前縁の時間位置でトリ
ガされるとともに、デユーティサイクルの検出の対象に
されている信号の正常な状態における信号の1周期の時
間長の変化範囲において最も長い時間長よりも僅かに長
い時定数に設定されるべき第2のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータと、前記した第2のリトリガラブル
単安定マルチバイブレータの出力パルスの後縁の時間位
置から所定のパルス巾の出力パルスを発生するパルス伸
長回路とを備えてなる信号のデユーティサイクルの検出
回路において、前記した第1のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータとして、第1のトリガ回路と、制御電
流によって時定数が可変となされる第1のランプ電圧発
生回路と、所定の基準電圧が与えられている第1の電圧
比較器とによって構成されているものを用い、前記した
第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータにおけ
る第1の電圧比較器からの出力パルスを第1の積分回路
によって積分して得た電圧を所定の基準電圧が与えられ
ている第1の誤差増幅器に比較電圧として供給する手段
と、前記した第1の誤差増幅器の出力電圧を第1の電圧
電流変換器によって制御電流に変換して前記した第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータにおける第1
のランプ電圧発生回路に制御電流として供給する手段と
、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレ
ータからの出力パルスがトリガパルスとして供給される
第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータとして
、第2のトリガ回路と、制御電流によって時定数が可変
となされる第、2のランプ電圧発生回路と、前記した第
2のランプ電圧発生回路の出力電圧とそれぞれ所定の基
準電圧とが与えられている第2゜第3の電圧比較器とに
よって構成されているものを用い、前記した第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータにおける第2の電
圧比較器からの出力パルスを第2の積分回路によって積
分して得た電圧を所定の基準電圧が与えられている第2
の誤差増幅器に比較電圧として供給する手段と、前記し
た第2の誤差増幅器の出力電圧を第2の電圧電流変換器
によって制御電流に変換して前記した第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータにおける第2のランプ電
圧発生回路に制御電流として供給する手段と、前記した
第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータにおけ
る第3の電圧比較器の出力パルスを前記した第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータの出力パルスとす
る手段と、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチ
バイブレータがデユーティサイクルの検出の対象にされ
ている信号の平均的な周期に追従して、デユーティサイ
クルの検出の対象にされている信号の平均的な周期に比
較して予め定められた比率だけ短いパルス巾の出力パル
スを発生しうるようにする手段と、前記した第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータがデユーティサイ
クルの検出の対象にされている信号の平均的な周期に追
従して、デユーティサイクルの検出の対象にされている
信号の平均的な周期に比較して予め定められた比率だけ
長いパルス巾の出力パルスを発生しうるようにする手段
とを備えてなる信号のデユーティサイクルの検出回路を
提供するものである。
(実施例)
以下、添付図面を参照しながら本発明の信号のデユーテ
ィサイクルの検出回路の具体的な内容について詳細に説
明する。第1図は本発明の信号のデユーティサイクルの
検出回路の一実施例のブロック図であって、この第1図
において1はデユーティサイクルの検出の対象とされて
いる信号Si(例えば周波数変調波信号)の入力端子で
あり、また、L M 丁Tはリミッタ、RTMMlaは
前記したリミッタLMITからの出力パルスPQの前縁
の時間位置でトリガされたときに、デユーティサイクル
の検出の対象にされている信号の平均的な周期に追従し
て、デユーティサイクルの検出の対象にされている信号
の平均的な周期に比較して予め定められた比率だけ短い
パルス巾の出力パルスP1aを発生しつるように構成さ
れている第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレー
タであり、さらに、RT M M 2aは前記した第1
のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT M
M laの出力パルスPlaの前縁の時間位置でトリガ
されたときに、デユーティサイクルの検出の対象にされ
ている信号の平均的な周期に追従して、デユーティサイ
クルの検出の対象にされている信号の平均的な周期に比
較して予め定められた比率だけ長いパルス巾の出力パル
スP2aを発生しうるように構成されている第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータであって、前記し
た第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
M M laは、トリガ回路TRClと、制御電流の
供給によって時定数が可変に制御されるように構成され
ているランプ電圧発生回路REGIと、基準電圧Vsl
が与えられている電圧比較器COMPIとによって構成
されており、また、前記した第2のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータRT M M 2aは、トリガ回
路TRC2と、制御電流の供給によって時定数が可変に
制御されるように構成されているランプ電圧発生回路R
EG2と、基準電圧Vs2が与えられている電圧比較器
GOMP2と、基準電圧Vs3が与えられている電圧比
較器COMP3とによって構成されている。
ィサイクルの検出回路の具体的な内容について詳細に説
明する。第1図は本発明の信号のデユーティサイクルの
検出回路の一実施例のブロック図であって、この第1図
において1はデユーティサイクルの検出の対象とされて
いる信号Si(例えば周波数変調波信号)の入力端子で
あり、また、L M 丁Tはリミッタ、RTMMlaは
前記したリミッタLMITからの出力パルスPQの前縁
の時間位置でトリガされたときに、デユーティサイクル
の検出の対象にされている信号の平均的な周期に追従し
て、デユーティサイクルの検出の対象にされている信号
の平均的な周期に比較して予め定められた比率だけ短い
パルス巾の出力パルスP1aを発生しつるように構成さ
れている第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレー
タであり、さらに、RT M M 2aは前記した第1
のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT M
M laの出力パルスPlaの前縁の時間位置でトリガ
されたときに、デユーティサイクルの検出の対象にされ
ている信号の平均的な周期に追従して、デユーティサイ
クルの検出の対象にされている信号の平均的な周期に比
較して予め定められた比率だけ長いパルス巾の出力パル
スP2aを発生しうるように構成されている第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータであって、前記し
た第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
M M laは、トリガ回路TRClと、制御電流の
供給によって時定数が可変に制御されるように構成され
ているランプ電圧発生回路REGIと、基準電圧Vsl
が与えられている電圧比較器COMPIとによって構成
されており、また、前記した第2のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータRT M M 2aは、トリガ回
路TRC2と、制御電流の供給によって時定数が可変に
制御されるように構成されているランプ電圧発生回路R
EG2と、基準電圧Vs2が与えられている電圧比較器
GOMP2と、基準電圧Vs3が与えられている電圧比
較器COMP3とによって構成されている。
第1図においてPSは前記した第2のリトリガラブル単
安定マルチバイブレータRTM M 2aからの出力パ
ルスP2aの後縁の時間位置から所定のパルスrllT
oの出力パルスPo(判別信号)を発生するパルス伸長
回路(例えば、単安定マルチバイブレータ)であり、こ
のパルス伸長回路PSからの出力パルスPoは出力端子
2に送出される。
安定マルチバイブレータRTM M 2aからの出力パ
ルスP2aの後縁の時間位置から所定のパルスrllT
oの出力パルスPo(判別信号)を発生するパルス伸長
回路(例えば、単安定マルチバイブレータ)であり、こ
のパルス伸長回路PSからの出力パルスPoは出力端子
2に送出される。
第3図は、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチ
バイブレータRT M M laに設けられているラン
プ電圧発生回路REGlと、前記した第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMM2aに設けられ
ているランプ電圧発生回路REG2との具体的な構成例
を示す回路図である。
バイブレータRT M M laに設けられているラン
プ電圧発生回路REGlと、前記した第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMM2aに設けられ
ているランプ電圧発生回路REG2との具体的な構成例
を示す回路図である。
第3図において、aはトリガパルスの入力端子、bはラ
ンプ電圧の出力端子、Cは制御電流の入力端子であって
、この第3図巾の端子a、b、cは第1図中に示されて
いる第1.第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレ
ータRT M M 1 a 、 RTMM2a中に設け
られているランプ電圧発生回路REGI、REG2に表
記されている端子a、b、cに対応している。
ンプ電圧の出力端子、Cは制御電流の入力端子であって
、この第3図巾の端子a、b、cは第1図中に示されて
いる第1.第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレ
ータRT M M 1 a 、 RTMM2a中に設け
られているランプ電圧発生回路REGI、REG2に表
記されている端子a、b、cに対応している。
第3図に示されているランプ電圧発生回路において、ト
ランジスタQl、Q2と電流源■0とによって構成され
ている差動対におけるトランジスタQ2のベースには、
入力基準バイアス電圧Vblが与えられており、トラン
ジスタQ1のコレクタはトランジスタQ3のエミッタと
、1−ランジスタQ4のベースと、制御電流の入力端子
Cと、コンデンサ(時定数決定用のコンデンサ)Cの1
端とに接続されている。また、前記のコンデンサCの他
端は接地されており、また、前記したトランジスタQ2
゜Q3.Q4のコレクタは動作用電源Vccに接続され
ており、前記したトランジスタQ4のエミッタには電流
源Ieと出力端子すとが接続されている。
ランジスタQl、Q2と電流源■0とによって構成され
ている差動対におけるトランジスタQ2のベースには、
入力基準バイアス電圧Vblが与えられており、トラン
ジスタQ1のコレクタはトランジスタQ3のエミッタと
、1−ランジスタQ4のベースと、制御電流の入力端子
Cと、コンデンサ(時定数決定用のコンデンサ)Cの1
端とに接続されている。また、前記のコンデンサCの他
端は接地されており、また、前記したトランジスタQ2
゜Q3.Q4のコレクタは動作用電源Vccに接続され
ており、前記したトランジスタQ4のエミッタには電流
源Ieと出力端子すとが接続されている。
第3図に示されているランプ電圧発生回路において、ト
リガパルスの入力端子aを介してトランジスタQlのベ
ースにトリガパルスが供給されたときにトランジスタQ
1が導通し、それによりトランジスタQ1のコレクタと
接地間に接続されているコンデンサ(時定数決定用のコ
ンデンサ)Cに蓄積されている電荷が放電してコンデン
サCの端子間電圧が低下し、前記のコンデンサCの端子
電圧はトランジスタQ3のエミッタ電圧(トランジスタ
Q3のベース電圧Vb2よりもトランジスタQ3のベー
ス・エミッタ間電圧だけ低い電圧)に固定される。
リガパルスの入力端子aを介してトランジスタQlのベ
ースにトリガパルスが供給されたときにトランジスタQ
1が導通し、それによりトランジスタQ1のコレクタと
接地間に接続されているコンデンサ(時定数決定用のコ
ンデンサ)Cに蓄積されている電荷が放電してコンデン
サCの端子間電圧が低下し、前記のコンデンサCの端子
電圧はトランジスタQ3のエミッタ電圧(トランジスタ
Q3のベース電圧Vb2よりもトランジスタQ3のベー
ス・エミッタ間電圧だけ低い電圧)に固定される。
トランジスタQlはトリガパルスがローレベルの状態の
場合には非導通となり、時定数決定用のコンデンサCは
制御電流の入力端子Cに接続されている電流源Itから
流入する電流11によって充電されることにより、それ
の端子電圧は時間軸上で所定の傾斜を示して直線的に上
昇してランプ電圧波形を作る。前記のようにして発生さ
れるランプ電圧の時間軸上における傾斜の程度は、制御
電流の入力端子Cに供給される制御電流の大きさによっ
て変化されるのである。
場合には非導通となり、時定数決定用のコンデンサCは
制御電流の入力端子Cに接続されている電流源Itから
流入する電流11によって充電されることにより、それ
の端子電圧は時間軸上で所定の傾斜を示して直線的に上
昇してランプ電圧波形を作る。前記のようにして発生さ
れるランプ電圧の時間軸上における傾斜の程度は、制御
電流の入力端子Cに供給される制御電流の大きさによっ
て変化されるのである。
そして、前記したコンデンサCの端子電圧は、トランジ
スタQ4と電流源Ieとによって構成されているエミッ
タフォロア段を介し、ランプ電圧として出力端子すに送
出されるのである。
スタQ4と電流源Ieとによって構成されているエミッ
タフォロア段を介し、ランプ電圧として出力端子すに送
出されるのである。
前記した第1図に示されている本発明の信号のデユーテ
ィサイクルの検出回路の動作を、第2図に示す波形図を
参照して具体的に説明すると次のとおりである。第2図
の(a)は信号のデユーティサイクルの検出回路の入力
端子1に供給されたデユーティサイクルの検出の対象と
されている信号Siを例示したもので、第2図の(、)
に例示したデユーティサイクルの検出の対象とされてい
る信号Siは、第2図巾の時刻t l−+ t 2の期
間及び時刻t4→t5の期間では正常な状態であるが、
時刻t3付近に信号の欠落が生じていて時刻t2→t4
の期間(τ1)の信号波形が異常なものになっていると
ともに、時刻t6の部分に位相の不連続な部分が生じて
いて時刻t5→t6の期間(τ2)の信号波形が異常な
ものになっている場合を例示している。
ィサイクルの検出回路の動作を、第2図に示す波形図を
参照して具体的に説明すると次のとおりである。第2図
の(a)は信号のデユーティサイクルの検出回路の入力
端子1に供給されたデユーティサイクルの検出の対象と
されている信号Siを例示したもので、第2図の(、)
に例示したデユーティサイクルの検出の対象とされてい
る信号Siは、第2図巾の時刻t l−+ t 2の期
間及び時刻t4→t5の期間では正常な状態であるが、
時刻t3付近に信号の欠落が生じていて時刻t2→t4
の期間(τ1)の信号波形が異常なものになっていると
ともに、時刻t6の部分に位相の不連続な部分が生じて
いて時刻t5→t6の期間(τ2)の信号波形が異常な
ものになっている場合を例示している。
第1図に示されている本発明の信号のデユーティサイク
ルの検出回路におけるリミッタLMITに対して入力端
子1を介してデユーティサイクルの検出の対象とされて
いる信号Si(例えば、第2図の(a)に示されている
ような信号)が供給されると、前記の入力信号Siが供
給されたリミッタLMITからは、それに供給された信
号Siと対応する出力パルスPΩ(第2図の(b)参照
)が出力される。
ルの検出回路におけるリミッタLMITに対して入力端
子1を介してデユーティサイクルの検出の対象とされて
いる信号Si(例えば、第2図の(a)に示されている
ような信号)が供給されると、前記の入力信号Siが供
給されたリミッタLMITからは、それに供給された信
号Siと対応する出力パルスPΩ(第2図の(b)参照
)が出力される。
前記したリミッタLMITから出力された第2図の(b
)に示されているようなパルスPQが第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMM1aにトリガパ
ルスとして供給されると、前記の第1のリトリガラブル
単安定マルチバイブレータRT M M laにおける
第1のトリガ回路TRClは、前記したリミッタLMI
Tの出力パルスPQにおける前縁の時間位置毎に立上が
る如き第2図の(C)に示されているような狭巾のトリ
ガパルスPtlを発生して、それを第1のランプ電圧発
生回路REGlに供給する。
)に示されているようなパルスPQが第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMM1aにトリガパ
ルスとして供給されると、前記の第1のリトリガラブル
単安定マルチバイブレータRT M M laにおける
第1のトリガ回路TRClは、前記したリミッタLMI
Tの出力パルスPQにおける前縁の時間位置毎に立上が
る如き第2図の(C)に示されているような狭巾のトリ
ガパルスPtlを発生して、それを第1のランプ電圧発
生回路REGlに供給する。
前記した第1のランプ電圧発生回路REGIは、前記し
たトリガパルスPtlの印加の時点から、時間軸上で所
定の傾斜を示す第2図の(d)に示されているようなラ
ンプ電圧Vrlを発生して、それを第1の電圧比較器G
OMPIに供給するが、前記したランプ電圧の時間軸上
での傾斜の程度は、それの制御電流の入力端子Cに供給
される制御電流の大きさに応じて可変されるのである。
たトリガパルスPtlの印加の時点から、時間軸上で所
定の傾斜を示す第2図の(d)に示されているようなラ
ンプ電圧Vrlを発生して、それを第1の電圧比較器G
OMPIに供給するが、前記したランプ電圧の時間軸上
での傾斜の程度は、それの制御電流の入力端子Cに供給
される制御電流の大きさに応じて可変されるのである。
第1のランプ電圧発生回路RE 、G lの制御電流の
入力端子Cに供給される制御電流は、第1のランプ電圧
発生回路REGIから出力されたランプ電圧Vrlと、
基準電圧Vslとの電圧比較を行う第1の電圧比較器C
OMPIからの出力パルスPla(第2図の(e)参照
)、すなわち、第1のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータRTMM1aの出力パルスPlaを、第1の積
分回路INTCIによって積分した電圧Vintlと所
定の基準電圧Vraflとの差の電圧を増幅して出力す
る第1の誤差増幅器FAIからの出力電圧を、第1の電
圧電流変換回路VICIにより電圧電流変換することに
よって発生させたものである。
入力端子Cに供給される制御電流は、第1のランプ電圧
発生回路REGIから出力されたランプ電圧Vrlと、
基準電圧Vslとの電圧比較を行う第1の電圧比較器C
OMPIからの出力パルスPla(第2図の(e)参照
)、すなわち、第1のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータRTMM1aの出力パルスPlaを、第1の積
分回路INTCIによって積分した電圧Vintlと所
定の基準電圧Vraflとの差の電圧を増幅して出力す
る第1の誤差増幅器FAIからの出力電圧を、第1の電
圧電流変換回路VICIにより電圧電流変換することに
よって発生させたものである。
そして、前記した第1の電圧比較器GOMPIでは、第
1のランプ電圧発生回路REGIから供給されたランプ
電圧Vrlと、基準電圧Vslとの電圧比較を行って、
ランプ電圧Vrlが基準電圧Vslを越えている状態の
期間にはローレベルの電圧■Qになり、ランプ電圧Vr
lが基準電圧Vsl以下の状態の期間にはハイレベルの
電圧vhとなって、ハイレベルの期間のパルス巾がTl
aの出力パルスPla、すなわち、第1のリトリガラブ
ル単安定マルチバイブレータRT M M laの出力
パルスPla(第2図の(e)参照)を出力して、それ
を既述のように第2のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータRT M M 2aと第1の積分回路INTC
:1とに供給する。
1のランプ電圧発生回路REGIから供給されたランプ
電圧Vrlと、基準電圧Vslとの電圧比較を行って、
ランプ電圧Vrlが基準電圧Vslを越えている状態の
期間にはローレベルの電圧■Qになり、ランプ電圧Vr
lが基準電圧Vsl以下の状態の期間にはハイレベルの
電圧vhとなって、ハイレベルの期間のパルス巾がTl
aの出力パルスPla、すなわち、第1のリトリガラブ
ル単安定マルチバイブレータRT M M laの出力
パルスPla(第2図の(e)参照)を出力して、それ
を既述のように第2のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータRT M M 2aと第1の積分回路INTC
:1とに供給する。
さて、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータRT M M 1 aの出力パルスPla(第
2図の(e)参照)を積分する第1の積分回路INTC
Iからの出力電圧V int l(第2図の(e)中に
破線で示されている)は、第1のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータRTMMlaの出力パルスPlaの
1周期の期間の平均電圧と対応しているものであるが、
既述のように第1のリトリガラブル単安定マルチバイブ
レータRT M M laの出力パルスPlaのハイレ
ベルの期間Tlaがハイレベルの電圧vhであり、また
ローレベルの期間がローレベルの電圧VQであり、さら
にデユーティサイクルの検出の対象とされている信号の
1周期がτ0であるとすると、第1の積分回路INTC
Iがらの出力電圧Vintl(第2図の(e)中に破線
で示されている)は次の(1)式で示されるものになる
。
ブレータRT M M 1 aの出力パルスPla(第
2図の(e)参照)を積分する第1の積分回路INTC
Iからの出力電圧V int l(第2図の(e)中に
破線で示されている)は、第1のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータRTMMlaの出力パルスPlaの
1周期の期間の平均電圧と対応しているものであるが、
既述のように第1のリトリガラブル単安定マルチバイブ
レータRT M M laの出力パルスPlaのハイレ
ベルの期間Tlaがハイレベルの電圧vhであり、また
ローレベルの期間がローレベルの電圧VQであり、さら
にデユーティサイクルの検出の対象とされている信号の
1周期がτ0であるとすると、第1の積分回路INTC
Iがらの出力電圧Vintl(第2図の(e)中に破線
で示されている)は次の(1)式で示されるものになる
。
Vintl=(Tla/τo)・(V h −V Q)
+V Q =41)ところで、前記した第1の積分回路
INTCIの出力電圧Vintlは、第1の誤差増幅器
FAIにおいてそれに設定されている所定の基準電圧V
reflと比較されて、前記の両型圧の差の電圧が第1
の誤差増幅器FAIから出力され、前記の第1の誤差増
幅器FAI からの出力電圧が第1の電圧電流変換回路
V I C1によって電流に変換されて、それが第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータRT M M
laにおける第1のランプ電圧発生回路REGIに制
御電流として供給されているために、第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMM1aにおける第
1のランプ電圧発生回路REGI→第1の電圧比較器G
OMPI→第1の積分回路INTCI→第1の誤差増幅
器EAI→第1の電圧電流変換回路vIC1→第1のリ
トリガラブル単安定マルチバイブレータRT M M
1 aにおける第1のランプ電圧発生回路RE01→の
回路は、−巡の負帰還ループを構成しており、前記の一
巡の負帰還ルーの動作によって、前記した第1の積分回
路INTCIの出力電圧Vintlの電圧値は、次の(
2)式に示されるように、第1の誤差増幅器FAIに設
定されている所定の基準電圧Vref l値に略々等し
い電圧値となされる。
+V Q =41)ところで、前記した第1の積分回路
INTCIの出力電圧Vintlは、第1の誤差増幅器
FAIにおいてそれに設定されている所定の基準電圧V
reflと比較されて、前記の両型圧の差の電圧が第1
の誤差増幅器FAIから出力され、前記の第1の誤差増
幅器FAI からの出力電圧が第1の電圧電流変換回路
V I C1によって電流に変換されて、それが第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータRT M M
laにおける第1のランプ電圧発生回路REGIに制
御電流として供給されているために、第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTMM1aにおける第
1のランプ電圧発生回路REGI→第1の電圧比較器G
OMPI→第1の積分回路INTCI→第1の誤差増幅
器EAI→第1の電圧電流変換回路vIC1→第1のリ
トリガラブル単安定マルチバイブレータRT M M
1 aにおける第1のランプ電圧発生回路RE01→の
回路は、−巡の負帰還ループを構成しており、前記の一
巡の負帰還ルーの動作によって、前記した第1の積分回
路INTCIの出力電圧Vintlの電圧値は、次の(
2)式に示されるように、第1の誤差増幅器FAIに設
定されている所定の基準電圧Vref l値に略々等し
い電圧値となされる。
−28=
Vintl弁Vrefl−(2)
それで、前記した前記した第1のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータRT M M 1 aの出力パルス
Pla(第2図の(e)参照)におけるパルス巾Tla
は、前記した(]、)、(2)式より、次の(3)式で
表わされるものになる。
マルチバイブレータRT M M 1 aの出力パルス
Pla(第2図の(e)参照)におけるパルス巾Tla
は、前記した(]、)、(2)式より、次の(3)式で
表わされるものになる。
T1a=to(Vrefl−VQ)/(Vh VM)
−(3)前記の(3)式から明らかなように、前記した
第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
M M laの出力パルスPlaにおけるパルス巾Tl
aは、第1の誤差増幅器FAIに設定されている所定の
基準電圧Vreflの電圧値により、入力端子1を介し
てデユーティサイクルの検出の対象とされている信号S
iの平均周期τ0に対して一定の比率のものとすること
ができる。また、前記した一巡の負帰還ループ中には第
1の積分回路INTCIが含まれているから、入力信号
Si中に仮に第2図巾の時刻t2→t4の期間、時刻t
5→t6の期間に示されるような偶発的な異常があり、
それと対応してリミッタLIMITからの出力パルスP
Qの周期が第2図の(b)に示されているようにて1゜
τ2のように偶発的に変化しても、そのような変動には
応動することなく正常な回路動作が行われうるのである
。
−(3)前記の(3)式から明らかなように、前記した
第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
M M laの出力パルスPlaにおけるパルス巾Tl
aは、第1の誤差増幅器FAIに設定されている所定の
基準電圧Vreflの電圧値により、入力端子1を介し
てデユーティサイクルの検出の対象とされている信号S
iの平均周期τ0に対して一定の比率のものとすること
ができる。また、前記した一巡の負帰還ループ中には第
1の積分回路INTCIが含まれているから、入力信号
Si中に仮に第2図巾の時刻t2→t4の期間、時刻t
5→t6の期間に示されるような偶発的な異常があり、
それと対応してリミッタLIMITからの出力パルスP
Qの周期が第2図の(b)に示されているようにて1゜
τ2のように偶発的に変化しても、そのような変動には
応動することなく正常な回路動作が行われうるのである
。
次に、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータRT M M laの出力パルスPlaがトリ
ガパルスとして供給されている第2のリトリガラブル単
安定マルチバイブレータRT M M 2aは、それの
第2のトリガ回路TRC2が前記した第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTM M 1 aの出
力パルスPlaにおける前縁の時間位置毎に立上がる第
2図の(f)に示されているような狭巾のトリガパルス
Pt2を発生して、それを第2のランプ電圧発生回路R
EG2に供給する。
ブレータRT M M laの出力パルスPlaがトリ
ガパルスとして供給されている第2のリトリガラブル単
安定マルチバイブレータRT M M 2aは、それの
第2のトリガ回路TRC2が前記した第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータRTM M 1 aの出
力パルスPlaにおける前縁の時間位置毎に立上がる第
2図の(f)に示されているような狭巾のトリガパルス
Pt2を発生して、それを第2のランプ電圧発生回路R
EG2に供給する。
前記した第2のランプ電圧発生回路REG2は、前記し
た第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
MM1aの出力パルスPlaの印加の時点から時間軸上
で所定の傾斜を示す第2図の(g)に示されているよう
なランプ電圧Vr2を発生して、それを第2.第3の電
圧比較器GOMP2.COMP3に供給するが、前記し
たランプ電圧の時間軸上での傾斜の程度は、制御電流の
入力端子Cに供給される制御電流の大きさに応じて可変
されるのである。
た第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
MM1aの出力パルスPlaの印加の時点から時間軸上
で所定の傾斜を示す第2図の(g)に示されているよう
なランプ電圧Vr2を発生して、それを第2.第3の電
圧比較器GOMP2.COMP3に供給するが、前記し
たランプ電圧の時間軸上での傾斜の程度は、制御電流の
入力端子Cに供給される制御電流の大きさに応じて可変
されるのである。
第2のランプ電圧発生回路REG2の制御電流の入力端
子Cに供給される制御電流は、第2のランプ電圧発生回
路REG2から出力されたランプ電圧Vr2と、基準電
圧Vs2との電圧比較を行う第2の電圧比較器COMP
2からの出力パルスP2(第2図の(h)参照)を第2
の積分回路INTC2によって積分した電圧Vint2
と所定の基準電圧■ref 2との差の電圧を増幅して
出力する第2の誤差増幅器EA2からの出力電圧を第2
の電圧電流変換回路VIC2により電圧電流変換するこ
とによって発生させたものである。
子Cに供給される制御電流は、第2のランプ電圧発生回
路REG2から出力されたランプ電圧Vr2と、基準電
圧Vs2との電圧比較を行う第2の電圧比較器COMP
2からの出力パルスP2(第2図の(h)参照)を第2
の積分回路INTC2によって積分した電圧Vint2
と所定の基準電圧■ref 2との差の電圧を増幅して
出力する第2の誤差増幅器EA2からの出力電圧を第2
の電圧電流変換回路VIC2により電圧電流変換するこ
とによって発生させたものである。
前記した第2の電圧比較器GOMP2では、第2のラン
プ電圧発生回路REG2から供給されたランプ電圧Vr
2と、基準電圧Vs2との電圧比較を行って、ランプ電
圧Vr2が基準電圧Vs2を越えている状態の期間には
ローレベルの電圧VQになり、ランプ電圧Vrlが基準
電圧Vs2以下の状態の期間にはハイレベルの電圧vh
となって、ハイレベルの期間のパルス11がT2の出力
パルスP2(第2図の(h)参照)を出力して、それを
第2の積分回路INTC2に供給する。
プ電圧発生回路REG2から供給されたランプ電圧Vr
2と、基準電圧Vs2との電圧比較を行って、ランプ電
圧Vr2が基準電圧Vs2を越えている状態の期間には
ローレベルの電圧VQになり、ランプ電圧Vrlが基準
電圧Vs2以下の状態の期間にはハイレベルの電圧vh
となって、ハイレベルの期間のパルス11がT2の出力
パルスP2(第2図の(h)参照)を出力して、それを
第2の積分回路INTC2に供給する。
さて、前記した第2のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータRT M M 2 a の第2の電圧比較器
GOMP2の出力パルスP2(第2図の(h)参照)を
積分する第2の積分回路INTC2からの出力電圧Vi
nt2(第2図の(h)中に破線で示されている)は、
第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
M M 2aにおける第2の電圧比較器COMP2の出
力パルスP2の1周期の期間の平均電圧と対応している
ものであるが、既述のように第2のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータRT M M 2aにおける第2
の電圧比較器GOMP2の出力パルスP2のハイレベル
の期間T2がハイレベルの電圧vhであり、またローレ
ベルの期間がローレベルの電圧vQであり、さらにデユ
ーティサイクルの検出の対象とされている信号の1周期
がτ0であるとすると、第2の積分回路INTC2から
の出力電圧Vint2(第2図の(h)中に破線で示さ
れている)は次の(4)式で示されるものになる。
ブレータRT M M 2 a の第2の電圧比較器
GOMP2の出力パルスP2(第2図の(h)参照)を
積分する第2の積分回路INTC2からの出力電圧Vi
nt2(第2図の(h)中に破線で示されている)は、
第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレータRT
M M 2aにおける第2の電圧比較器COMP2の出
力パルスP2の1周期の期間の平均電圧と対応している
ものであるが、既述のように第2のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータRT M M 2aにおける第2
の電圧比較器GOMP2の出力パルスP2のハイレベル
の期間T2がハイレベルの電圧vhであり、またローレ
ベルの期間がローレベルの電圧vQであり、さらにデユ
ーティサイクルの検出の対象とされている信号の1周期
がτ0であるとすると、第2の積分回路INTC2から
の出力電圧Vint2(第2図の(h)中に破線で示さ
れている)は次の(4)式で示されるものになる。
Vint2=(T2/lo)・(V h−V Q)+V
Q−(4)ところで、前記した第2の積分回路INT
C2の出力電圧vint2は、第2の誤差増幅器EA2
においてそれに設定されている所定の基準電圧Vref
2と比較されて、前記の両型圧の差の電圧が第2の誤差
増幅器EA2から出力され、前記の第2の誤差増幅器E
A2からの出力電圧が第2の電圧電流変換回路VIC2
によって電流に変換されて、それが第2のリトリガラブ
ル単安定マルチバイブレータRT M M 2aにおけ
る第2のランプ電圧発生回路REG2に制御電流として
供給されているために、第2のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータRT M M 2aにおける第2のラ
ンプ電圧発生回路REG2→第2の電圧比較器COMP
2→第2の積分回路INTC2→第2の誤差増幅器EA
2→第2の電圧電流変換回路VIC2→第2のリトリガ
ラブル単安定マルチバイブレータRTMM2aにおける
第2のランプ電圧発生回路REG2→の回路は、−巡の
負帰還ループを構成しており、前記の一巡の負帰還ルー
の動作によって、前記した第2の積分回路INTC2の
出力電圧Vint2の電圧値は、次の(5)式に示され
るように、第2の誤差増幅器EA2に設定されている所
定の基準電圧Vref2値に略々等しい電圧値となされ
る。
Q−(4)ところで、前記した第2の積分回路INT
C2の出力電圧vint2は、第2の誤差増幅器EA2
においてそれに設定されている所定の基準電圧Vref
2と比較されて、前記の両型圧の差の電圧が第2の誤差
増幅器EA2から出力され、前記の第2の誤差増幅器E
A2からの出力電圧が第2の電圧電流変換回路VIC2
によって電流に変換されて、それが第2のリトリガラブ
ル単安定マルチバイブレータRT M M 2aにおけ
る第2のランプ電圧発生回路REG2に制御電流として
供給されているために、第2のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータRT M M 2aにおける第2のラ
ンプ電圧発生回路REG2→第2の電圧比較器COMP
2→第2の積分回路INTC2→第2の誤差増幅器EA
2→第2の電圧電流変換回路VIC2→第2のリトリガ
ラブル単安定マルチバイブレータRTMM2aにおける
第2のランプ電圧発生回路REG2→の回路は、−巡の
負帰還ループを構成しており、前記の一巡の負帰還ルー
の動作によって、前記した第2の積分回路INTC2の
出力電圧Vint2の電圧値は、次の(5)式に示され
るように、第2の誤差増幅器EA2に設定されている所
定の基準電圧Vref2値に略々等しい電圧値となされ
る。
Vi nt2弁Vref2− (5)
それで、前記した前記した第2のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータRT M M 2 aの第2の電圧
比較器GOMP2の出力パルスP2(第2図の(h)参
照)のパルス巾T2は、前記した(4)、(5)式より
、次の(6)式で表わされるものになる。
マルチバイブレータRT M M 2 aの第2の電圧
比較器GOMP2の出力パルスP2(第2図の(h)参
照)のパルス巾T2は、前記した(4)、(5)式より
、次の(6)式で表わされるものになる。
T2= τo(Vref2−V Q)/ (V h−V
Q) ・・・(6)ところで、前記した第2のランプ
電圧発生回路REG2の出力電圧Vr2は、基準電圧V
s2が与えられている第2の電圧比較器GOMP2に供
給されているとともに、前記の基準電圧Vs2に対して
Vi3 > Vi2の関係にある基準電圧Vs3が与え
られている第3の電圧比較器GOMP3にも供給されて
いて、第3の電圧比較器COMP3の出力パルスP2a
(第2図の(i)参照)が第2のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータRT M M 2 a の出力パ
ルスP2aとしてパルス伸長回路PSに供給される。
Q) ・・・(6)ところで、前記した第2のランプ
電圧発生回路REG2の出力電圧Vr2は、基準電圧V
s2が与えられている第2の電圧比較器GOMP2に供
給されているとともに、前記の基準電圧Vs2に対して
Vi3 > Vi2の関係にある基準電圧Vs3が与え
られている第3の電圧比較器GOMP3にも供給されて
いて、第3の電圧比較器COMP3の出力パルスP2a
(第2図の(i)参照)が第2のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータRT M M 2 a の出力パ
ルスP2aとしてパルス伸長回路PSに供給される。
前記したように第3の電圧比較器COMP3に与えられ
ている基準電圧Vs3と第2の電圧比較器GOMP2に
与えられている基準電圧Vs2との電圧値の大きさの関
係がVi3 ) Vi2となるようになされていること
は前述のとおりであり、前記した第3の電圧比較器CO
MP3の出力電圧は、第2のランプ電圧発生回路REG
2から出力されたランプ電圧Vr2が第3の電圧比較器
GOMP3に与えられている基準電圧Vs3を越えた時
点(第2図中では時刻t a、 t b)にハイレベル
の状態からローレベルの状態に変化するのであるが、前
記の第3の電圧比較器GOMP3に与えられるべき基準
電圧Vs3としては、入力端子1に供給されたデユーテ
ィサイクルの検出の対象とされている信号Siの平均周
期τ0よりも僅かだけ長い時間にわたって、前記の第3
の電圧比較器GOMP3からの出力電圧がハイレベルの
状態を続けつるような電圧値に設定されるのである。
ている基準電圧Vs3と第2の電圧比較器GOMP2に
与えられている基準電圧Vs2との電圧値の大きさの関
係がVi3 ) Vi2となるようになされていること
は前述のとおりであり、前記した第3の電圧比較器CO
MP3の出力電圧は、第2のランプ電圧発生回路REG
2から出力されたランプ電圧Vr2が第3の電圧比較器
GOMP3に与えられている基準電圧Vs3を越えた時
点(第2図中では時刻t a、 t b)にハイレベル
の状態からローレベルの状態に変化するのであるが、前
記の第3の電圧比較器GOMP3に与えられるべき基準
電圧Vs3としては、入力端子1に供給されたデユーテ
ィサイクルの検出の対象とされている信号Siの平均周
期τ0よりも僅かだけ長い時間にわたって、前記の第3
の電圧比較器GOMP3からの出力電圧がハイレベルの
状態を続けつるような電圧値に設定されるのである。
第2図示の数例においては、時刻t2からT2aの時間
が経過した時点ta及び時刻t5からT2aの時間が経
過した時点tbに、前記の第3の電圧比較器COMP3
からの出力電圧がハイレベルの状態からローレベルの状
態に変化する場合が示されている。
が経過した時点ta及び時刻t5からT2aの時間が経
過した時点tbに、前記の第3の電圧比較器COMP3
からの出力電圧がハイレベルの状態からローレベルの状
態に変化する場合が示されている。
そして、前記した第3の電圧比較器GOMP3の出力パ
ルスP2a(第2図の(i)参照)、すなわち、第2の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータRT M M
2 a の出力パルスP2aがハイレベルの状態か
らローレベルの状態に変化した時点から、パルス伸長回
路PSでは第2図の(j)に示されているように、パル
ス巾Toの判別信号POを出力端子2に送出するのであ
る。
ルスP2a(第2図の(i)参照)、すなわち、第2の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータRT M M
2 a の出力パルスP2aがハイレベルの状態か
らローレベルの状態に変化した時点から、パルス伸長回
路PSでは第2図の(j)に示されているように、パル
ス巾Toの判別信号POを出力端子2に送出するのであ
る。
前記した第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレー
タRTMM2aの出力パルスP2aの動作パルス巾T2
aは次の(7)式によって示される。
タRTMM2aの出力パルスP2aの動作パルス巾T2
aは次の(7)式によって示される。
T 2a= T 2(Vi3− Vbt)/(Vi2−
Vbt) −(7)前記した(6)、(7)式から、 T2a=(τo(Vref2−V Q )/ (V h
−V Q ))x ((VS3− Vbt)/(Vi
2− vbt)) −(8)前記の(8)式で示される
ものになる。
Vbt) −(7)前記した(6)、(7)式から、 T2a=(τo(Vref2−V Q )/ (V h
−V Q ))x ((VS3− Vbt)/(Vi
2− vbt)) −(8)前記の(8)式で示される
ものになる。
すなわち、第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレ
ータRT M M 2aの出力パルスPeaのパルス巾
T2aは、前記した基準電圧V r e f 2. V
i2゜Vi3.クランプ電圧の最低値vbtにより決定
されるので、前記の各電圧を所要のように設定すること
により、第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレー
タRT M M 2aの出力パルスP2aのパルス巾T
2aは入力端子1を介してデユーティサイクルの検出の
対象とされている信号Siの平均周期τ0に対して一定
の比率のものとすることができる。
ータRT M M 2aの出力パルスPeaのパルス巾
T2aは、前記した基準電圧V r e f 2. V
i2゜Vi3.クランプ電圧の最低値vbtにより決定
されるので、前記の各電圧を所要のように設定すること
により、第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレー
タRT M M 2aの出力パルスP2aのパルス巾T
2aは入力端子1を介してデユーティサイクルの検出の
対象とされている信号Siの平均周期τ0に対して一定
の比率のものとすることができる。
(発明の効果)
以」二、詳細に説明したところから明らかなように、本
発明の信号のデユーティサイクルの検出回路は信号の1
周期の時間長が、予め定められた最長値及び最短値を越
えた場合に判別信号を発生しうるようになされている信
号のデユーティサイクルの検出回路であって、デユーテ
ィサイクルの検出の対象とされている信号が供給される
リミッタと、前記したリミッタからの出力パルスの前縁
の時間位置でトリガされるとともに、デユーティサイク
ルの検出の対象にされている信号の正常な状態における
信号の1周期の時間長の変化範囲において最も短い時間
長よりも僅かに短い時定数に設定されるべき第1のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータと、前記した第1
のリトリガラブル単安定マルチバイブレータからの出力
パルスにおける前縁の時間位置でトリガされるとともに
、デユーティサイクルの検出の対象にされている信号の
正常な状態における信号の1周期の時間長の変化範囲に
おいて最も長い時間長よりも僅かに長い時定数に設定さ
れるべき第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレー
タと、前記した第2のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータの出力パルスの後縁の時間位置から所定のパル
ス巾の出力パルスを発生するパルス伸長回路とを備えて
なる信号のデユーティサイクルの検出回路において、前
記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータ
として、第1のトリガ回路と、制御電流によって時定数
が可変となされる第1のランプ電圧発生回路と、所定の
基準電圧が与えられている第1の電圧比較器とによって
構成されているものを用い、前記した第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータにおける第1の電圧比較
器からの出力パルスを第1の積分回路によって積分して
得た電圧を所定の基準電圧が与えられている第1の誤差
増幅器に比較電圧として供給する手段と、前記した第1
の誤差増幅器の出力電圧を第1の電圧電流変換器によっ
て制御電流に変換して前記した第1のリトリガラブル単
安定マルチバイブレータにおける第1のランプ電圧発生
回路に制御電流として供給する手段と、前記した第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータからの出力パ
ルスがトリガパルスとして供給される第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータとして、第2のトリガ回
路と、制御電流によって時定数が可変となされる第2の
ランプ電圧発生回路と、前記した第2のランプ電圧発生
回路の出力電圧とそれぞれ所定の基準電圧とが与えられ
ている第2.第3の電圧比較器とによって構成されてい
るものを用い、前記した第2のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータにおける第2の電圧比較器からの出力
パルスを第2の積分回路によって積分して得た電圧を所
定の基準電圧が与えられている第2の誤差増幅器に比較
電圧として供給する手段と、前記した第2の誤差増幅器
の出力電圧を第2の電圧電流変換器によって制御電流に
変換して前記した第2のリトリガラブル単安定マルチバ
イブレータにおける第2のランプ電圧発生回路に制御電
流として供給する手段と、前記した第2のリトリガラブ
ル単安定マルチバイブレータにおける第3の電圧比較器
の出力パルスを前記した第2のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータの出力パルスとする手段と、前記した
第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータがデユ
ーティサイクルの検出の対象にされている信号の平均的
な周期に追従して、デユーティサイクルの検出の対象に
されている信号の平均的な周期に比較して予め定められ
た比率だけ短いパルスtlJの出力パルスを発生しうる
ようにする手段と、前記した第2のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータがデユーティサイクルの検出の対
象にされている信号の平均的な周期に追従して、デユー
ティサイクルの検出の対象にされている信号の平均的な
周期に比較して予め定められた比率だけ長いパルス巾の
出力パルスを発生しうるようにする手段とを備えてなる
ものであるから、この本発明の信号のデユーティサイク
ルの検出回路では、第1.第2のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータの出力パルスのパルス巾のそれぞれ
のものを、入力端子1に供給されたデユーティサイクル
の検出の対象とされている信号Siの平均周期τ0に対
して一定の比率に設定して、前記した第1.第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータの出力パルス【(
1を、デユーティサイクルの検出の対象にされている信
号の周期の上限値と下限値にしているので、回路の構成
素子の回路定数が変化しても検出精度が劣化することが
なく、また、既述した(3)、(7)式から明らかなよ
うに、第1.第2のリトリガラブル単安定マルチバイブ
レータの動作パルス巾は、回路の時定数とは無関係に回
路に与える電圧比、すなわち、誤差増幅器に設定される
基準電圧と、第1〜第3の電圧比較器などに与えられる
基準電圧などによって決定されるとともに、デユーティ
サイクルの検出の対象にされている信号の周波数が変更
された場合でも支障なくデユーティサイクルの検出動作
が行われ得るのであり、この本発明回路によれば既述し
た従来回路での問題点は良好に解決することができるの
である。
発明の信号のデユーティサイクルの検出回路は信号の1
周期の時間長が、予め定められた最長値及び最短値を越
えた場合に判別信号を発生しうるようになされている信
号のデユーティサイクルの検出回路であって、デユーテ
ィサイクルの検出の対象とされている信号が供給される
リミッタと、前記したリミッタからの出力パルスの前縁
の時間位置でトリガされるとともに、デユーティサイク
ルの検出の対象にされている信号の正常な状態における
信号の1周期の時間長の変化範囲において最も短い時間
長よりも僅かに短い時定数に設定されるべき第1のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータと、前記した第1
のリトリガラブル単安定マルチバイブレータからの出力
パルスにおける前縁の時間位置でトリガされるとともに
、デユーティサイクルの検出の対象にされている信号の
正常な状態における信号の1周期の時間長の変化範囲に
おいて最も長い時間長よりも僅かに長い時定数に設定さ
れるべき第2のリトリガラブル単安定マルチバイブレー
タと、前記した第2のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータの出力パルスの後縁の時間位置から所定のパル
ス巾の出力パルスを発生するパルス伸長回路とを備えて
なる信号のデユーティサイクルの検出回路において、前
記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータ
として、第1のトリガ回路と、制御電流によって時定数
が可変となされる第1のランプ電圧発生回路と、所定の
基準電圧が与えられている第1の電圧比較器とによって
構成されているものを用い、前記した第1のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータにおける第1の電圧比較
器からの出力パルスを第1の積分回路によって積分して
得た電圧を所定の基準電圧が与えられている第1の誤差
増幅器に比較電圧として供給する手段と、前記した第1
の誤差増幅器の出力電圧を第1の電圧電流変換器によっ
て制御電流に変換して前記した第1のリトリガラブル単
安定マルチバイブレータにおける第1のランプ電圧発生
回路に制御電流として供給する手段と、前記した第1の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータからの出力パ
ルスがトリガパルスとして供給される第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータとして、第2のトリガ回
路と、制御電流によって時定数が可変となされる第2の
ランプ電圧発生回路と、前記した第2のランプ電圧発生
回路の出力電圧とそれぞれ所定の基準電圧とが与えられ
ている第2.第3の電圧比較器とによって構成されてい
るものを用い、前記した第2のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータにおける第2の電圧比較器からの出力
パルスを第2の積分回路によって積分して得た電圧を所
定の基準電圧が与えられている第2の誤差増幅器に比較
電圧として供給する手段と、前記した第2の誤差増幅器
の出力電圧を第2の電圧電流変換器によって制御電流に
変換して前記した第2のリトリガラブル単安定マルチバ
イブレータにおける第2のランプ電圧発生回路に制御電
流として供給する手段と、前記した第2のリトリガラブ
ル単安定マルチバイブレータにおける第3の電圧比較器
の出力パルスを前記した第2のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータの出力パルスとする手段と、前記した
第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータがデユ
ーティサイクルの検出の対象にされている信号の平均的
な周期に追従して、デユーティサイクルの検出の対象に
されている信号の平均的な周期に比較して予め定められ
た比率だけ短いパルスtlJの出力パルスを発生しうる
ようにする手段と、前記した第2のリトリガラブル単安
定マルチバイブレータがデユーティサイクルの検出の対
象にされている信号の平均的な周期に追従して、デユー
ティサイクルの検出の対象にされている信号の平均的な
周期に比較して予め定められた比率だけ長いパルス巾の
出力パルスを発生しうるようにする手段とを備えてなる
ものであるから、この本発明の信号のデユーティサイク
ルの検出回路では、第1.第2のリトリガラブル単安定
マルチバイブレータの出力パルスのパルス巾のそれぞれ
のものを、入力端子1に供給されたデユーティサイクル
の検出の対象とされている信号Siの平均周期τ0に対
して一定の比率に設定して、前記した第1.第2のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータの出力パルス【(
1を、デユーティサイクルの検出の対象にされている信
号の周期の上限値と下限値にしているので、回路の構成
素子の回路定数が変化しても検出精度が劣化することが
なく、また、既述した(3)、(7)式から明らかなよ
うに、第1.第2のリトリガラブル単安定マルチバイブ
レータの動作パルス巾は、回路の時定数とは無関係に回
路に与える電圧比、すなわち、誤差増幅器に設定される
基準電圧と、第1〜第3の電圧比較器などに与えられる
基準電圧などによって決定されるとともに、デユーティ
サイクルの検出の対象にされている信号の周波数が変更
された場合でも支障なくデユーティサイクルの検出動作
が行われ得るのであり、この本発明回路によれば既述し
た従来回路での問題点は良好に解決することができるの
である。
第1図は本発明の信号のデユーティサイクルの検出回路
の一実施例のブロック図、第2図は第1図示の本発明の
信号のデユーティサイクルの検出回路の動作を説明する
ための波形図、第3図はランプ電圧発生回路の一例構成
を示す回路図、第4図は既提案の信号のデユーティサイ
クルの検出口路のブロック図、第5図は第4図示の既提
案の信号のデユーティサイクルの検出回路の動作を説明
するための波形図である。 1・・・デユーティサイクルの検出の対象とされている
信号Siの入力端子、2・・・出力端子、LMIT ・
・・リミッタ、RTMMI、RTMMla−第1のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータ、RTMM2.R
TMM2a・・・第2のリトリガラブル単安定マルチバ
イブレータ、PS・・・所定のパルス巾TOの出力パル
スPa(判別信号)を発生するパルス伸長回路、TRC
l、TRC2・・・第1.第2のトリガ回路、RE G
l、 RE G2・・・ランプ電圧発生回路、COMP
I〜COMP3・・・第1〜第3の電圧比較器、INT
CI、INTC2・・・第1.第2の積分回路、FAI
、EA2−・・第1.第2の誤差増幅器、VICl、V
I C2・・・第1.第2の電圧電流変換回路、Q1
〜Q4・・・トランジスタ、
の一実施例のブロック図、第2図は第1図示の本発明の
信号のデユーティサイクルの検出回路の動作を説明する
ための波形図、第3図はランプ電圧発生回路の一例構成
を示す回路図、第4図は既提案の信号のデユーティサイ
クルの検出口路のブロック図、第5図は第4図示の既提
案の信号のデユーティサイクルの検出回路の動作を説明
するための波形図である。 1・・・デユーティサイクルの検出の対象とされている
信号Siの入力端子、2・・・出力端子、LMIT ・
・・リミッタ、RTMMI、RTMMla−第1のリト
リガラブル単安定マルチバイブレータ、RTMM2.R
TMM2a・・・第2のリトリガラブル単安定マルチバ
イブレータ、PS・・・所定のパルス巾TOの出力パル
スPa(判別信号)を発生するパルス伸長回路、TRC
l、TRC2・・・第1.第2のトリガ回路、RE G
l、 RE G2・・・ランプ電圧発生回路、COMP
I〜COMP3・・・第1〜第3の電圧比較器、INT
CI、INTC2・・・第1.第2の積分回路、FAI
、EA2−・・第1.第2の誤差増幅器、VICl、V
I C2・・・第1.第2の電圧電流変換回路、Q1
〜Q4・・・トランジスタ、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 信号の1周期の時間長が、予め定められた最長値及び最
短値を越えた場合に判別信号を発生しうるようになされ
ている信号のデューティサイクルの検出回路であって、
デューティサイクルの検出の対象とされている信号が供
給されるリミッタと、前記したリミッタからの出力パル
スの前縁の時間位置でトリガされるとともに、デューテ
ィサイクルの検出の対象にされている信号の正常な状態
における信号の1周期の時間長の変化範囲において最も
短い時間長よりも僅かに短い時定数に設定されるべき第
1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータと、前記
した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータか
らの出力パルスにおける前縁の時間位置でトリガされる
とともに、デューティサイクルの検出の対象にされてい
る信号の正常な状態における信号の1周期の時間長の変
化範囲において最も長い時間長よりも僅かに長い時定数
に設定されるべき第2のリトリガラブル単安定マルチバ
イブレータと、前記した第2のリトリガラブル単安定マ
ルチバイブレータの出力パルスの後縁の時間位置から所
定のパルス巾の出力パルスを発生するパルス伸長回路と
を備えてなる信号のデューティサイクルの検出回路にお
いて、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイ
ブレータとして、第1のトリガ回路と、制御電流によっ
て時定数が可変となされる第1のランプ電圧発生回路と
、所定の基準電圧が与えられている第1の電圧比較器と
によって構成されているものを用い、前記した第1のリ
トリガラブル単安定マルチバイブレータにおける第1の
電圧比較器からの出力パルスを第1の積分回路によって
積分して得た電圧を所定の基準電圧が与えられている第
1の誤差増幅器に比較電圧として供給する手段と、前記
した第1の誤差増幅器の出力電圧を第1の電圧電流変換
器によって制御電流に変換して前記した第1のリトリガ
ラブル単安定マルチバイブレータにおける第1のランプ
電圧発生回路に制御電流として供給する手段と、前記し
た第1のリトリガラブル単安定マルチバイブレータから
の出力パルスがトリガパルスとして供給される第2のリ
トリガラブル単安定マルチバイブレータとして、第2の
トリガ回路と、制御電流によって時定数が可変となされ
る第2のランプ電圧発生回路と、前記した第2のランプ
電圧発生回路の出力電圧とそれぞれ所定の基準電圧とが
与えられている第2、第3の電圧比較器とによって構成
されているものを用い、前記した第2のリトリガラ uル単安定マルチバイブレータにおける第2の電圧比較
器からの出力パルスを第2の積分回路によって積分して
得た電圧を所定の基準電圧が与えられている第2の誤差
増幅器に比較電圧として供給する手段と、前記した第2
の誤差増幅器の出力電圧を第2の電圧電流変換器によっ
て制御電流に変換して前記した第2のリトリガラブル単
安定マルチバイブレータにおける第2のランプ電圧発生
回路に制御電流として供給する手段と、前記した第2の
リトリガラブル単安定マルチバイブレータにおける第3
の電圧比較器の出力パルスを前記した第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータの出力パルスとする手段
と、前記した第1のリトリガラブル単安定マルチバイブ
レータがデューティサイクルの検出の対象にされている
信号の平均的な周期に追従して、デューティサイクルの
検出の対象にされている信号の平均的な周期に比較して
予め定められた比率だけ短いパルス巾の出力パルスを発
生しうるようにする手段と、前記した第2のリトリガラ
ブル単安定マルチバイブレータがデューティサイクルの
検出の対象にされている信号の平均的な周期に追従して
、デューティサイクルの検出の対象にされている信号の
平均的な周期に比較して予め定められた比率だけ長いパ
ルス巾の出力パルスを発生しうるようにする手段とを備
えてなる信号のデューティサイクルの検出回路
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2510587A JPS63193607A (ja) | 1987-02-05 | 1987-02-05 | 信号のデユ−テイサイクルの検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2510587A JPS63193607A (ja) | 1987-02-05 | 1987-02-05 | 信号のデユ−テイサイクルの検出回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63193607A true JPS63193607A (ja) | 1988-08-10 |
Family
ID=12156643
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2510587A Pending JPS63193607A (ja) | 1987-02-05 | 1987-02-05 | 信号のデユ−テイサイクルの検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63193607A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02266269A (ja) * | 1989-04-07 | 1990-10-31 | Toshiba Corp | 異常検出回路 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5592026A (en) * | 1978-12-29 | 1980-07-12 | Fujitsu Ltd | Pulse period monitor circuit |
-
1987
- 1987-02-05 JP JP2510587A patent/JPS63193607A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5592026A (en) * | 1978-12-29 | 1980-07-12 | Fujitsu Ltd | Pulse period monitor circuit |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02266269A (ja) * | 1989-04-07 | 1990-10-31 | Toshiba Corp | 異常検出回路 |
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