JPS6318940Y2 - - Google Patents

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JPS6318940Y2
JPS6318940Y2 JP14967681U JP14967681U JPS6318940Y2 JP S6318940 Y2 JPS6318940 Y2 JP S6318940Y2 JP 14967681 U JP14967681 U JP 14967681U JP 14967681 U JP14967681 U JP 14967681U JP S6318940 Y2 JPS6318940 Y2 JP S6318940Y2
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JP
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magnetic flux
flux density
magnet
plate
positioning metal
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JP14967681U
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JPS5854574U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案は円板、角板等の板状マグネツトから
なる被測定物の外部磁束密度分布を測定する時に
この測定器の検出部分と被測定物との相対位置を
正確に決定するようにした磁束密度測定装置に関
する。
一般に、磁束密度測定器(以下ガウスメータと
いう)を用いてマグネツトの外部磁束密度を測定
する場合、このガウスメータのホール効果を利用
した磁束密度検出部分(以下プローブという)と
マグネツトとの相対位置を正確に再現性よく設定
でき、かつこの操作が簡単に行なえることが望ま
れる。
このために本願の考案者は、第1図の磁束密度
測定装置を提案している(実願昭55−143099)。
図において、1は先端部10に検出素子であるホ
ール素子を設けたガウスメータのプローブ、2は
被測定物のマグネツト、3は筐体、4は位置決め
金具、5はスペーサ、6はマイクロメータヘツ
ド、7は位置調整金具である。この構成によりガ
ウスメータのプローブ1とマグネツト2の相対位
置を定めている位置決め金具4の中央には、その
マグネツト2を収容するためマグネツト2と同一
形状の貫通穴が設けてある。また、スペーサ5は
位置決め金具4と同一の外形寸法の形状を有して
おり、その板厚を選択することにより、ガウスメ
ータのプローブ1とマグネツト2間の垂直方向の
相対位置を必要な距離に設定できる。次に、マイ
クロメータのヘツド6を回転すると、先端部6′
が前後に動く様に筐体3に取付けられており、か
つマグネツト2とガウスメータのプローブ1との
水平方向の相対位置を必要な距離に設定できる位
置調整金具7は、位置決め金具4とスペーサ5を
同時に動かす役割を果し、押え板8はガウスメー
タのプローブ1の先端部10を筐体3に固定する
ためのもので非磁性体物質で構成されている。
以上の構造により、ガウスメータプローブ1と
マグネツト2の水平方向相対位置はマイクロメー
タヘツド6により正確に設定でき、また垂直方向
はスペーサ5の板厚を選択することにより正確に
設定できる。この磁束密度測定装置を使用するこ
とにより、マグネツトの着磁状態の評価を中心軸
延長上所定位置における値のみでなく最近のマイ
クロ波回路集積化と共に必要とされてきた磁束密
度分布により評価することができる。すなわち、
マイクロ波回路の集積化に伴い、マイクロ波帯の
非可逆回路素子であるサーキユレータやアイソレ
ータもフエライト基板上にマイクロストリツプ回
路のパターンを形成し、この回路面と反対の面に
直接マグネツトを置く様な簡単でかつ小形な構造
となつてきた。このためフエライト基板とマグネ
ツト間の距離が従来のサーキユレータに比較し近
くなり、これによりマグネツトの着磁不均一によ
る外部磁束密度分布の乱れが顕著に現われ、これ
がサキユレータの特性を劣化させる大きな原因と
なつてきたためである。
この測定装置を使用するには、最初に較正を行
う必要がある。まず、ガウスメータの指示値を標
準磁束密度値を有するマグネツトで較正してお
き、この後この磁束密度測定装置にガウスメータ
プローブ1を組込む。次に、ガウスメータプロー
ブ1の磁束密度検出部分と前記位置決め金具4、
すなわち被測定マグネツトとの相対位置を、マイ
クロメータの読みから決定できるように較正を行
う。この較正方法としては、ガウスメータプロー
ブと測定装置との位置関係と各部の寸法とから計
算によつて行うものがあるが、さらに較正の精度
を上げる方法として、適当なマグネツトの磁束密
度分布を測定し、この磁束密度分布上の特定の位
置とマグネツトの位置との対応関係を事前に決定
しておくことによりその測定値から較正を行うと
いうものがある。
本考案の目的は、以上の考察にもとづいて、マ
グネツトの外部磁束密度を測定する際、測定点と
マグネツトとの相対位置を正確に較正できる磁束
密度測定装置を提供することにある。
本考案の構成は、板状磁性体の被測定物をその
板面に平行に保持する位置決め金具と、この位置
決め金具を一定方向に摺動できるように支持する
筐体と、この筐体と前記位置決め金具との間に挿
入されてその位置決め金具の高さを調整するスペ
ーサと、前記筐体に保持されて前記位置決め金具
の一定方向の移動を調整する位置調整機構と、前
記筐体に固定され被測定物の磁束密度を検出する
磁束密度検出手段と、前記位置決め金具の外形と
同じ長さおよび幅を有する被磁性体の板状体から
なりこの位置決め金具および前記スペーサと置換
えて前記筐体に支持されかつこの被磁性板状体の
中心近傍に設けた小孔に小形柱状マグネツトを挿
入した位置設定板とを備え、前記位置設定板によ
り前記被測定物の磁界密度分布を較正することを
特徴とする。
以下本考案を図面により詳細に説明する。
第2図はこの考案の一実施例の斜視図であり、
第1図と同じ番号は同じ構成要素を示す。ここで
11は本考案により追加される較正用位置設定板
で、第1図の位置決め金具4と外形寸法が同一な
非磁性体の板状体13の中央部に穴をあけてマグ
ネツト12を収容したものである。第2図におい
て、マイクロメータヘツド6を回転させて位置設
定板11を水平方向に移動させることができる。
第3図はこの位置設定板11を移動させ、マイク
ロメータ6の読みに対するガウスメータの指示値
の関係を示したグラフである。この図からマグネ
ツト12の中心軸延長上とガウスメータプローブ
の磁束密度検出部分とが一致するのは、マイクロ
メータの読みが20mmの時であると決定できる。こ
の判断は正確な円断面を有する円柱マグネツトの
軸方向に一様に磁化したとき、円の直径に対しマ
グネツトと測定点との相対距離が大きければ、そ
の磁束密度分布のピークの位置とマグネツトの中
心軸とは一致するという事実に基づいている。こ
のため第1図の測定装置でマイクロメータの読み
が20mmであれば、その時の磁束密度測定位置は前
記位置設定板11のマグネツト12挿入位置に対
応することになる。第3図に示す磁束密度分布曲
線は直径0.5mm、長さ1mmの円柱状のサマリウム
コバルトマグネツトをマグネツト面と磁束密度検
出部分との垂直方向相対距離を1mmとして測定し
たものである。第4図は、同様な測定を直径11
mm、厚さ2mmのサマリウムコバルトを用いて垂直
方向の相対距離1.5mmで行つたグラフである。こ
れら図より明らかなごとく、位置設定板11に使
用するマグネツト12の直径を小さくした方が測
定点の位置決定精度が高くなる。
以上説明したように、本考案の磁束密度測定装
置を用いることにより磁束分布状態を正確に、か
つ容易に測定でき、これにより板状マグネツトを
使用したサーキユレータ、アイソレータの製造品
質の維持に大きく貢献できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本願考案者の提案した磁束密度測定装
置の斜視図、第2図はこの考案の実施例の斜視
図、第3図、第4図は第2図の実施例により測定
した磁束密度分布図である。図において、 1……ガウスメータのプローブ、2……マグネ
ツト、3……筐体、4……位置決め金具、5……
スペーサ、6……マイクロメータヘツド、6′…
…ヘツド先端部、7……位置調整金具、8……押
え板、10……プローブ先端部、11……位置設
定板、12……柱状マグネツト、13……板状の
非磁性体である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 板状磁性体の被測定物をその板面に平行に保持
    する位置決め金具と、この位置決め金具を一定方
    向に摺動できるように支持する筐体と、この筐体
    と前記位置決め金具との間に挿入されてその位置
    決め金具の高さを調整するスペーサと、前記筐体
    に保持されて前記位置決め金具の一定方向の移動
    を調整する位置調整機構と、前記筐体に固定され
    被測定物の磁束密度を検出する磁束密度検出手段
    と、前記位置決め金具の外形と同じ長さおよび幅
    を有する被磁性体の板状体からなりこの位置決め
    金具および前記スペーサと置換えて前記筐体に支
    持されかつこの被磁性板状体の中心近傍に設けた
    小孔に小形柱状マグネツトを挿入した位置設定板
    とを備え、前記位置設定板により前記被測定物の
    磁界密度分布を較正することを特徴とする磁束密
    度測定装置。
JP14967681U 1981-10-08 1981-10-08 磁束密度測定装置 Granted JPS5854574U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14967681U JPS5854574U (ja) 1981-10-08 1981-10-08 磁束密度測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14967681U JPS5854574U (ja) 1981-10-08 1981-10-08 磁束密度測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5854574U JPS5854574U (ja) 1983-04-13
JPS6318940Y2 true JPS6318940Y2 (ja) 1988-05-27

Family

ID=29942437

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14967681U Granted JPS5854574U (ja) 1981-10-08 1981-10-08 磁束密度測定装置

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JPS5854574U (ja) 1983-04-13

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