JPS63188756A - 超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷装置

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JPS63188756A
JPS63188756A JP62022125A JP2212587A JPS63188756A JP S63188756 A JPS63188756 A JP S63188756A JP 62022125 A JP62022125 A JP 62022125A JP 2212587 A JP2212587 A JP 2212587A JP S63188756 A JPS63188756 A JP S63188756A
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JP
Japan
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measured
circuit
processing circuit
signal
probe
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Pending
Application number
JP62022125A
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English (en)
Inventor
Akihiko Katamine
片峰 昭彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野1 本発明は超音波探傷装置に係り、特に、自己補償別面を
具えた超音波探傷装置に関する。
[従来技術およびその問題点1 超音波探傷装置は、非破壊、無接触で、材質、寸法ある
いは内部の欠陥状況等を検査できることから、広く用い
られている装置である。
従来、ポータプル探傷装置としては、米国特許第398
.5022号明細占、特開昭51−15116’O号、
特開昭58−24729号等に示されるように、第7図
にブロック図および第8図(a)乃至(e)に原理説明
図を示すような超音波厚み計測装置が代表的である。
この装置は、送信側および受信側の2振動子を具えてお
り、パルス発生器10oがら発生せしめられた超音波パ
ルスを送信部101を介して送信側の振動子102aに
送り、被測定物103がらのエコーを受信側の振動子1
02bを介して受信部104にとり出し、更に時間To
の間のみ聞くように構成されたゲート105を介して計
数部106にン呻くもので、t1数部ではクロック光振
器107からのクロックパルスの数によって−「○を算
出し、品速演粋部108においてこれを距離に換算づる
等の演算を行ない、表示部109で表示を行なうもので
ある。
第8図(b)は送受信波形を示すタイムチャートである
が、Sは表面エコー、Rは欠陥エコー、Bは底面エコー
、Kはケーブル外乱ノイズによるノイズエコーを示す。
第8図fc)はゲートパルス、第8図fd)はクロック
パルス、第8図[0)は計数部106の出力を示す。
このようなポータプルタイプのM3音波深傷装置では、
汎用の探傷装置のJζうに探伽波形をブラウン管オシロ
スコープに表示することはじず、通常はランプやブザー
で警報を出すがあるいはディジタル表示を行なうように
している。
従って、オシロスコープを用いた場合のように波形観察
により装置の異常を判断することはできない。このため
、上述のようなポータプルタイプの探傷装置では探触子
の異常やケーブル類の不良、さらには探触子と被測定物
との接触状況等を判断する機能を必要とし、装置の原理
を利用したいろいろな自己判断別面が開発されている。
その自己判断機能には、例えば、第9図(a)乃至fd
)に夫々そのフローチャートを示すような4つの自己判
断機能がある。
まず、第9図(a)に示すように表面エコーSが存在す
るか否か(vJ作201)によって、探触子、ケーブル
、本体のいずれにも不良がない(Yes202)かある
いは(No203)を判断している。
また、第9図(b)に示すように、底面エコーBを測定
する(6作301)ことにより、探触子と被測定物との
接触状態が良好である(Yes302)か否か(No3
03)を判断する。
更にまた、第9図(C)に示す如く、表面エコーSと底
面エコーBとの間で欠陥(R)を検出することにより(
動作401)、被測定物に欠陥がある(Yes402)
か否か(NO’103)を判断する。
また、第9図(d)に示す如く、ケーブル外乱ノイズに
の有無を検出しく動作501)、誤動作をしているか(
Yes502)、正常に動作しているか(No503)
を判断する。
ところで、このような2振動子タイプの超音波探傷装置
では、表面波を利用しているため、探傷面が粗面である
と乱反射が生じ、表面波との識別が困難となってしまう
という理由から、あらかじめ探1カ而を研磨して使用し
なければならないという問題がある。
そこで、本発明者は、複数の送信用超音波振動子および
111!Iの受信用超音波振動子を具えた探触子を用い
、送信用の各振動子から斜め方向に送出された超音波が
探触子に接する被測定物の表面から所定の距離dだけ離
れた位置で交差して合成されるようにし、この間にある
欠陥等被測定物の状態に起因するエコーを受信用超音波
探触子で検圧するマルチ探触子と槓杵する装置を提案し
く特願昭60−94633号)探傷物表面が粗面である
か否かにかかわらず、使用可能となった。
しかしながら、第10図に示すように送信側に2つ以上
の振動子1a、1bを用い、受信側の振動子1Cと合わ
せて3つの振動子を用いるようにしたマルチ探触子ユで
は表面エコーも底面エコーも存在しないため、表面エコ
ーおよび底面エコーを用いていた探触子、ケーブル、本
体のいずれも良好であるか否か、探触子と、被測定物1
6の接触状態が良好であるか否かの判断等ができず、従
来の2振動子タイプの超音波探傷装置で用いられる自己
判断機能をそのまま使用することはできないという問題
があった。
本発明は前記実情に鑑みてなされたもので、自己判断機
能を具えたマルチ探触子タイプの超音波探傷装置を提供
することを目的とする。
E問題点を解決するための手段] そこで本発明では、マルチ探触子を用いた超音波探傷装
置において、受信側の探触子の出力信号のレベルを、送
信パルスのレベルをLoとしたとき、0.ILo <L
l<  0.14 Lo 、および0.210 <12
 < 0.28 Loにあるしきい値レベルL1および
1−2で区分し、Llから12の範囲に出力信号がある
か否かを検出する判断回路を具備せしめるようにしてい
る。
また、本51明では、送信波のレベル低下を検出づる低
下判断回路を具備するようにしている。
[作用] すなわら、本発明では、神々の実験を重ねた結果、マル
チ探触子を用いた場合に特有の被測定物表面における超
音波の乱反射に起因するノイズエコーが、あるしきい値
レベルの範囲内に存在するという事実を発見し、この事
実に着目してなされたもので、装置自体に不良がなく、
探触子と被測定物表面との接触状態が良好である時に出
力されるレベルL1からレベルL2の範囲内にあるノイ
ズエコーの存在の有無を検出する判断回路を具備してい
る。
そして、0からレベルし1の範囲にノイズエコーが存在
するときは、接触状態は良好であるか又は装置自体に不
良があることを示すため、0からレベルL1の範囲にノ
イズエコーがあるか否かを検出することにより、探触子
、ケーブル、本体等の装置自体の不良をも検出可能であ
る。
さらには、ケーブルの不良あるいは高周波成分の外乱等
によるケーブルノイズは探触子によらず必ず発生する。
たとえば、2振動子タイプの探触子では第8図(b)に
示すように、送信パルス(To)と底面エコー(B)と
の間に光生ずるために、自己判tfIitv能がケーブ
ルノイズ′により誤動作し、機能しなくなる(時間とし
てはT3=15〜20μsec以降の時間で発生する。
なお送信パルス(To)を0μsecとする)。
マルチ探触子では、第5図に示すように、その1能から
、ケーブルのノイズの発生時間(T3≧15〜20μs
ec )内での信号(欠陥エコーや、接触状況を示すノ
イズエコーなど)を範囲として取扱うために、計測する
範囲を第5図中、T1 (≧2〜4μ5eC)〜T2(
<15〜20μ5eC)と設定することで上述のような
誤動作が回避できる。
また、T3≧15〜20μsec以降での信号を監視す
ることで、従来の装置では不可能だったケーブルの不良
等をチェックできる。
加えて、送信部への給電に用いられるバッテリが低下す
ると、1コーレベルも低下するため、バッテリ低下判断
回路を付加することにより誤動作を防ぐことが可能とな
る。
[実施例] 以下、本発明の実施例について、図面を参照しつつ詳細
に説明する。
第1図は、本発明実施例の超音波探傷装置のブロック図
、第2図は、マルチ探触子を示す図である。
この超音波探傷装置は、2つの送信用振動子ia、ib
と受信用振動子1Cとを具えたマルチ探触子ユと、パル
ス発生回路2によってトリガされ、マルチ探触子の送信
用振動子1a、1bに所定の超音波振動を付与する送信
部3と、受信用振動子1Cによって受信されたエコーを
増幅する受信部4と、前記パルス発生回路2によってト
リガされ所定の期間たけゲート信号を出力することによ
り受信部4からの信号をTの間だけ通過せしめるゲート
回路5と、ゲート回路5から出力されてくる信号レベル
が予め決められた信号レベルL1=  0.5V、L2
 =  1.OVに対してLlからL2の間にあるか、
0からLlの間にあるかL2よりも高いかの判断を行な
うど共に、欠陥深さを検知する信号判1!Ii処理回路
6と、表示部7と、送信部に給電するためのバッテリー
回路8と、バッテリー回路の出力の低下を判断する低下
判断回路9とから構成されている。
前記信号判断処理回路6は、送信パルスのレベルLo=
5Vとしたとき、第1のしきい値レベル1+ = 0.
5Vと第2のしきい値レベルL2=1゜OVとによって
、信号レベルを分割し、LlとL2の間に信号レベルが
あるか否かで被測定物とマルチ探触子との接触状態の可
否を判断するように構成されており、否であるときは表
示部7に警報が発生せしめられ、可であるときは、欠陥
エコーの右前を検出し、ある場合は出現時(ずなゎちし
きい値レベルL1との交差時)から欠陥の深さを等比す
るようにしたものである。
また、マルチ探触子1は、第2図に示す如く、ケース1
1の下部開口側に、アクリル樹脂がらなり互いに対称に
配置されたレンズ12a、12bとこれらのレンズ12
a、12bの外側面に形成された斜面S1.S2上に、
夫々配設せしめられた送信用の超音波振動子1a、1b
とレンズ12a、12bの間に防振材13を介してケー
ス11の中心1.jに合致するように配設された受信用
振動子1Cとから構成されている。14は吸音材、15
は高ダンピング材である。
また上記斜面81.82は、各送信用振動子1a、1b
の面に垂直な軸線がケース11の中心軸線lに対しそれ
ぞれ等しい角度θをなすように形成されており、各撮動
子から同時に超音波が送出された場合、これらの波は各
レンズ12a。
12bを介して受信用振動子1cの下方に位置する中心
軸線!上の点Oで交差し合成される。
次に、この超音波探傷装置の動作について説明する。
第2図に示す如く、被測定物16の表面にマルチ探触子
1を配置した状態でパルス発生回路2がら所定周期で同
期信号が出力されると、この同期信号によって送信部3
がトリガされる。
その結果、各送信用振動子1a、1bより所定周波数(
例えば5MH,z)の超音波が上記同期信号の周期で同
時に送出され、被測定物を伝搬する。
そして、被測定物16からのエコーを受信用振動子1C
を介してとり出し、受信部で層幅したのち、ゲート回路
に入力せしめる。
このゲート回路は、前記パルス発生回路2がらの同期信
号でトリガされてゲート信号を作成するように構成され
ており、ゲート信号の発生期間(T1〜T2 )中にお
いてのみ受信部の出力を通過させ、信号判断処理回路に
入力する。
ところで受信部の出力波形は第3図に示す如くであった
とする。
Paは送信パルス(5V)であり、Nはノイズエコー、
Rは欠陥エコーを示すものと考えられる。
時刻T1からT2の間の出力が入力される信号判断処理
回路では、第4図にフローチャートを示ずように、ノイ
ズエコーがレベルし1とL2の間にあるか否かを判断し
く動作001 )LlとL2の間にあれば(Y e s
 OO’2 ) IZ触子、ケーブル、本体および探触
子と被測定物との間の接触状態も良好であり、否(No
003)であれば、これらのいずれかに不良があると判
断する。またレベル上1以下であれば探触子、ケーブル
又は本体に不良があると判断する。
第3図に示すような出力波形を得た場合は、ノイズエコ
ーNのレベルLNはLl <LN <L2であるからす
べて良好であると判断され、判断処理回路では更に、欠
陥エコーRの有無を判断し、ある場合は位置を検出し、
表示部に出力せしめる。
一方、不良である場合は、表示部に警報が出ざれる。
また、バッテリが低下すればエコーレベルは低下するた
め誤動作を招き易い。従って低下判断回路で所定の電圧
以下になった場合に、警報を出すようにしている。
このようにして容易に自己判断がなされ、誤った表示が
なされるのを防止している。
ところで、ケーブルノイズKがあった場合は必ず、第5
図に示す如く、送信波の交差位置すなわち時間T3以降
に発生するため、第6図に示すように、信号処理判断回
路60の入力ではな、く出力にゲート判断回路50を接
続するようにし、ゲート判□断回路ではT1〜r2.T
3以降と2段階の信号抽出を行なうことによりケーブル
ノイズによる不良も検出可能である なお、実施例ではしきい値レベルL1,12を送信パル
スのし、ベルLo=5Vに対し夫々0.5V。
1、OVにとったが、送信パルスのレベルをLoとした
とき  0.ILo≦L1≦ 0.14 L。
O,2Lo≦L2≦0.28 L。
の2式を満たすようにすればよいことが実験結果かられ
かっている。
また、実施例では2つの送信側振動子および1つの受信
側振動子を用いた例について説明したが、夫々2つおよ
び1つに限定されることなく更に多数の振動子を用いる
ようにしてもよいことはいうまでもない。
[発明の効果] 以上説明してきたように、本発明によれば、ろマルチ探
触子を用いた超音波探1カ装置において、出力エコーの
信号レベルを所定のしきい値L1.L2  (送信パル
スのレベルをLoとしたとき0.110 <11 < 
0.141o 、  0.2Lo <L2< 0.28
 Lo )で区分し、Ll、L2の間にエコーレベルが
あるか否かを判断する判定手段を具備せしめているため
、装置自体および装置と被測定物との接触状態が良好で
あるか否かの自己判断が容易に可能であり、信頼性の高
い超音波探傷装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明実施例の超音波探傷装置のブロック図
、第2図は同装置で用いられるマルチ探触子を示す図、
第3図は受信部の出力波形を示す図、第4図は信号判断
処理回路のフローチャート図、第5図は、ケーブルノイ
ズのある場合の受信部の出力波形を示す図、第6図は、
本発明の変形例を示す図、第7図は、従来例のポータプ
ル探傷1jのブロック図、第8図(a)乃至[e)は、
同装置の原理説明図、第9図[a)乃至(d)は同装置
の自己判断動作のフローチャート、第10図は、マルチ
探触子を用いた従来の超音波探傷装置を示す図である。 1a、lb・・・送信用振動子、1C・・・受信用振動
子、ユ・・・マルチ探触子、2・・・パルス発生回路、
3・・・送信部、4・・・受信部、5・・・ゲート回路
、6・・・信号判l!Fi処理回路、7・・・表示部、
8・・・バッテリー回路、9・・・低下判断回路、11
・・・ケース、12a。 12b・・・レンズ、81.82・・・斜面、13・・
・防振材、14・・・吸音材、15・・・高ダンピング
材、16・・・被測定物、Pa・・・送信パルス、N・
・・ノイズエコー、R・・・欠陥エコー、K・・・ケー
ブルエコー、100・・・パルスTt、生器、101・
・・送信部、102・・・振vJ子、103・・・被測
定物、104・・・受信部、105・・・ゲート、10
6・・・計数部、107・・・クロック発振器、108
・・・高速演算部、109・・・表示部。 第1図 □時間 第3図 □時間 第5図 第6図 第7図 第8図(0) 第8図(b) 第8図(C) 第8図(d) 第8図(e) 第9図(0) 第9図(b) 第9図(C) 第9図(d)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定物内の所定深さ位置で互いに交差するよう
    に、被測定物に対して所定の角度を有して超音波を送信
    せしめる複数の送信用振動子と、被測定物からのエコー
    を受信する受信用振動子とを具えたマルチ探触子と、 該受信用振動子の出力から被測定物の欠陥を検出する処
    理回路と、 該処理回路の出力に基ずいて被測定物の欠陥位置を表示
    する表示部とを具えた超音波探傷装置において、 前記処理回路が、 受信用振動子の出力波を2つのしきい値L_1およびL
    _2(0.10L_0≦L_1≦0.14L_0、0.
    2L_0<L_2<0.28L_0、L_0:送信パル
    スレベル)によって区分し、L_1とL_2の間にエコ
    ーレベルが存在するか否かを判断し、装置および装置と
    被測定物との接触状況の良否を自己判断する判断回路を
    有することを特徴とする超音波探傷装置。
  2. (2)被測定物内の所定深さ位置で互いに交差するよう
    に、被測定物に対して所定の角度を有して超音波を送信
    せしめる複数の送信用振動子と、被測定物からのエコー
    を受信する受信用振動子とを具えたマルチ探触子と、 該受信用振動子の出力から被測定物の欠陥を検出する処
    理回路と、 該処理回路の出力に基ずいて被測定物の欠陥位置を表示
    する表示部とを具えた超音波探傷装置において、 前記処理回路が、 受信用振動子の出力波を所定のしきい値レベルによって
    区分し、その区分された領域のうちいかなる領域にエコ
    ーレベルが存在するかによって装置あるいは装置と被測
    定物との接触状況の良否を自己判断する判断回路と、 送信波のレベル低下を検出する低下判断回路とを有する
    ことを特徴とする超音波探傷装置。
JP62022125A 1987-02-02 1987-02-02 超音波探傷装置 Pending JPS63188756A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019008956A1 (ja) * 2017-07-07 2019-01-10 東京電力ホールディングス株式会社 2振動子探触子、測定検出システム、および測定検出方法

Cited By (2)

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