JPS63172982A - 散乱線補正装置 - Google Patents

散乱線補正装置

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JPS63172982A
JPS63172982A JP573987A JP573987A JPS63172982A JP S63172982 A JPS63172982 A JP S63172982A JP 573987 A JP573987 A JP 573987A JP 573987 A JP573987 A JP 573987A JP S63172982 A JPS63172982 A JP S63172982A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
energy spectrum
data
image
memory
gamma
Prior art date
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Pending
Application number
JP573987A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomohiko Kihara
朝彦 木原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP573987A priority Critical patent/JPS63172982A/ja
Publication of JPS63172982A publication Critical patent/JPS63172982A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、コンプトン散乱により本来ガンマ線源が存在
しない部分からあたかもガンマ線源が存在するごとく放
出される散乱線を補正する散乱線補正装置に関する。
(従来の技術) 核医学検査に用いられるガンマ線は、体内から放出され
る際に人体組織との相互を引き起こし、光電吸収、コン
プトン散乱、電子対Ω[生等の原因によって減衰する。
このうち通常の核医学検査で使用されるRI核種による
ガンマ線のエネルギーの範囲(100〜1000KeV
)では、コンプトン散乱による影響が最も大きい。第5
図はこのコンプトン散乱による影響の様子を示す概略図
で、2つの現象が観察される。その1つは本来存在する
R1分布が矢印1のように減衰するためにガンマ線がガ
ンマカメラ3に入射しないことである。
他の1つは本来は存在しない部分から、矢印2のように
あたかもガンマ線の放出があったかのごとくコリメータ
4を介して検出器(ガンマカメラ)3に入射することで
ある。このためコンプトン散乱は核医学画像の定損性を
劣化させる大ぎな原因となっている。これら2つの現象
のうち前者は吸収補正の問題として多くの解決策が講じ
られているが、後者については未だ有効な解決策は提案
されていない、1 第4図は従来のガンマカメラ装置を示すブロック図で、
ガンマカメラ(図示せず)で検出された被検体のR1分
布像に関して、各画素の位置を示trx、y位置データ
とこの画素において計数されたガンマ線のエネルギー強
度を示すデータZとが入力回路5に加えられる。これら
X、Y、Zデータはディジタルデータに変換された後、
X、Yデータは収集処理回路7に加えられ、Zデータは
波高弁別回路6へ加えられる。波高弁別回路6は加えら
れたガンマ線をエネルギーの大小によって弁別し、ウィ
ンドウ幅で規定される成るエネルギー範囲のもののみを
弁別して収集処理回路7へ加える。収集処理回路7から
出力されたX、Yデータは画像メモリ8に記録される。
必要に応じて画像メモリ8からX、Yデータを取り出す
ことにより、第6図のような二次元的なR1分布図を得
ることができる。
(発明が解決しようとする問題点) ところでこのような従来装置において、散乱体がある場
合のエネルギースペクトラムを見てみると、第7図のよ
うにRIA乃至CのうちRIA及びCからは減衰づるこ
となくガンマ線がガンマカメラ3のa及びb位置に入射
するが、b位置にはRIBが角度θで散乱されたものも
入射するようになる。このためa及びb位置におけるエ
ネルギースペクトラムは模式的に表現すると第8図(a
)、(b)のようになり、分布波形が異なってくるよう
になる。点線は散乱体がない場合のエネルギースペクト
ラムを示している。
従って散乱体の影響を受けて核医学画像を得る場合に定
♀性が劣化されるという問題がある。これを避けるため
には計数率を犠牲にして散乱の影響の少なくアッパウィ
ンドウ(LJ)でガンマ線の検出を行わねばならない。
本発明はこのような問題に対処してなされたもので、散
乱の影響を受けないで定量性に優れた核医学画像を得る
ことができる散乱線補正装置を捏供することを目的とす
るものである。
[発明の構成] (問題点を解決するだめの手段) 上記目的を達成するために本発明は、ガンマカメラから
検出されたガンマ線を画像として記録する画像メモリと
、画像を構成する各画素ごとのエネルギースペクトラム
を記録するエネルギースペクトラム用メモリ又はエネル
ギースペクトラムの内容から散乱成分を推定し前記両件
メモリの内容を補正する補正手段を備えたことを特徴と
している。
(作 用) 画像を構成する各画素でのエネルギースペクトラムを記
録し、このエネルギースペクトラムの形から予めわかっ
ている本来散乱体がない場合のエネルギースペクトラム
を減することにより、散乱線を除去することができる。
各画素のエネルギースペクトラムの平均値を用いる場合
には、散乱線の影響が最も表われる範囲をウィンドウ幅
に設定することにより、小さなメモリ容耐で目的を達成
することができる。
(実施例) 第1図は本発明の散乱線補正5A置の実施例を示すブロ
ック図で、ガンマカメラで検出されたX。
Y位置データとこの画素において計数されたガンマ線の
エネルギー強度を示すデータZとが入力回路15に加え
られる。これらX、Y、Zデータはディジタルデータに
変換された後、X、Y、Zデータは収集処理回路17に
加えられる共に、Zデータは波高弁別回路16へ加えら
れる。波高弁別回路16は加えられたガンマ線をウィン
ドウ幅で規定される成るエネルギー範囲のもののみを弁
別して収集処理回路17へ加える。
収集処理回路17から出力されたX、Yデータは両件メ
モリ18に記録される。
また画像を構成する各画素がX、Yデータによってアド
レスとして指定され、この各画素ごとのエネルギースペ
クトラムが7データとしてエネルギースペクトラム用メ
モリ19に記録される。これら画像メモリ18及びエネ
ルギースペクトラム用メモリ19に記録されるRI分布
状態を第2図に示す。前記エネルギースペクトラム用メ
モリ19には各画素ごとのエネルギースペクトラムその
ものでなく、この形の特徴的パラメータ例えば平均値を
記録しておいてもよい。これによりエネルギースペクト
ラム用メモリ19のメモリ容量を節約することができる
制御手段20はエネルギースペクトラム用メモリ19の
内容を読出すことにより散乱成分を推定し、この散乱成
分を補正(減する)するように画像メモリ19の内容を
補正する。この場合本来散乱体がない場合のエネルギー
スペクトラムは予めわかっているので、このエネルギー
スペクトラムから散乱成分を減するのは容易に行うこと
ができる。
またエネルギースペクトラムを平均値としてとらえる場
合には、第3図のようにエネルギースペクトラムに散乱
線の増加が平均値の変化に顕著に表われるようなウィン
ドウを設定するようにブる。
そしてこの「フィンドウ幅内に弁別されたガンマ線のエ
ネルギースペクトラムZを順次加算していき、Ia侵に
そのカウント数で7を除亦することにより平均値を求め
ることができる。散乱の程度により上記の値が平均値か
らどの程度変化するかということを予め計測しておけば
散乱成分を容易に除去覆ることができる。しかもこの場
合エネルギースペクトラム用メモリ19の容量を大幅に
小さく覆ることができる。
次に本実施例の作用を説明覆る。
制御手段20はエネルギースペクトラム用メモリ19内
の7データに基いたエネルギースペクトラムの形から散
乱成分を推定し、この散乱成分を減するように画像メモ
リ18の内容を補正する。
この場合画像を構成する各画素ごとのエネルギースペク
トラムを記録するエネルギースペクトラム用メモリ19
の容量は、必要に応じて平均値などの特徴的パラメータ
のみを記録づるようにすることができ、これによってメ
モリ容但を小さくすることができる。
これによって散乱の影響を受けないで定量性に優れた核
医学画像を得ることができる。
尚本文実施例では2次元画像で示したがこれに限ること
なく適用することができる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、画像を構成する各
画素ごとのエネルギースペクトラムを記録するようにし
たので、散乱線の影響を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の散乱線補正装置の実施例を示すブロッ
ク図、第2図は本実施例装置のメモリ内のRI力分布示
す概略図、第3図は本発明実施例の作用を説明するエネ
ルギースペクトラム、第4図は従来例を示すブロック図
、第5図及び第7図は従来例を示1模式図、第6図は従
来例を示すRI分布図、第8図(a)及び(b)は従来
例を示すエネルギースペクトラムである。 16・・・波高弁別回路、18・・・画像−メモリ、1
9・・・エネルギースペクトラム用メモリ、20・・・
制御手段。 第1図 Y 弔3図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ガンマカメラによって検出されるガンマ線のうち
    コンプトン散乱により本来ガンマ線源が存在しない部分
    からあたかもガンマ線源が存在するごとく放出される散
    乱線を補正する散乱線補正装置において、ガンマカメラ
    から検出されたガンマ線を画像として記録する画像メモ
    リと、画像を構成する各画素ごとのエネルギースペクト
    ラムを記録するエネルギースペクトラム用メモリと、エ
    ネルギースペクトラムの内容から散乱成分を推定し前記
    画像メモリの内容を補正する補正手段とを備えたことを
    特徴とする散乱線補正装置。
  2. (2)前記エネルギースペクトラム用メモリがエネルギ
    ースペクトラムの特徴的パラメータを記録している特許
    請求の範囲第1項記載の散乱線補正装置。
  3. (3)前記特徴的パラメータが平均値である特許請求の
    範囲第2項記載の散乱線補正装置。
JP573987A 1987-01-12 1987-01-12 散乱線補正装置 Pending JPS63172982A (ja)

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JP573987A JPS63172982A (ja) 1987-01-12 1987-01-12 散乱線補正装置

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JP573987A JPS63172982A (ja) 1987-01-12 1987-01-12 散乱線補正装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63172982A true JPS63172982A (ja) 1988-07-16

Family

ID=11619470

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP573987A Pending JPS63172982A (ja) 1987-01-12 1987-01-12 散乱線補正装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0775922A3 (en) * 1995-11-22 1999-08-18 Picker International, Inc. Scatter correction for use with a gamma camera

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61226676A (ja) * 1985-03-30 1986-10-08 Shimadzu Corp 放射線位置検出装置の散乱線補正方法

Patent Citations (1)

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