JPS6316850B2 - - Google Patents
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- JPS6316850B2 JPS6316850B2 JP292779A JP292779A JPS6316850B2 JP S6316850 B2 JPS6316850 B2 JP S6316850B2 JP 292779 A JP292779 A JP 292779A JP 292779 A JP292779 A JP 292779A JP S6316850 B2 JPS6316850 B2 JP S6316850B2
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- cathode
- electron
- gun
- distance
- emitting surface
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
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- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子銃の組立方法及びその装置に係
り、特に電子銃の陰極の電子放射面とこれに対設
する格子電極の電子ビーム通過孔部近傍とを所定
間隔に設定する新規な電子銃の組立方法及びその
装置に関するものである。
り、特に電子銃の陰極の電子放射面とこれに対設
する格子電極の電子ビーム通過孔部近傍とを所定
間隔に設定する新規な電子銃の組立方法及びその
装置に関するものである。
例えばカラー受像管などに内装する電子銃の要
部は第１図の様に構成されている。
部は第１図の様に構成されている。
即ち１対のビードガラスなどからなる絶縁支持
棒１に格子電極支持体２2を介して植設された格
子電極２と最終的に陰極３を支持する陰極支持体
４よりなり、前記格子電極２には銃軸を中心とす
る電子ビーム通過孔部２1が突設されており、陰
極３は外筒３1支持帯３2、陰極スリーブ３3及び
この陰極スリーブ３3の一端部に基体金属３4を介
して電子放射物質層３5が塗布形成してあり、前
記陰極スリーブ３3内にはヒータ５が挿入されて
いる、そして前記ヒータ５の点火により、前記電
子放射物質層３5の電子放射面６から放出される
熱電子が前記陰極３と格子電極２及び図示しない
他の格子電極に印加される電圧により前記熱電子
を電子ビームとして発射し、この電子ビームの変
調は主として前記陰極３と格子電極２と相対電位
差によつて決定されるため、前記電子放射面６と
電子ビーム通過孔部２1近傍との間隔を所定値に
するよう相対位置を設定することは電子銃の製造
方法に於て極めて重要な作業である。
棒１に格子電極支持体２2を介して植設された格
子電極２と最終的に陰極３を支持する陰極支持体
４よりなり、前記格子電極２には銃軸を中心とす
る電子ビーム通過孔部２1が突設されており、陰
極３は外筒３1支持帯３2、陰極スリーブ３3及び
この陰極スリーブ３3の一端部に基体金属３4を介
して電子放射物質層３5が塗布形成してあり、前
記陰極スリーブ３3内にはヒータ５が挿入されて
いる、そして前記ヒータ５の点火により、前記電
子放射物質層３5の電子放射面６から放出される
熱電子が前記陰極３と格子電極２及び図示しない
他の格子電極に印加される電圧により前記熱電子
を電子ビームとして発射し、この電子ビームの変
調は主として前記陰極３と格子電極２と相対電位
差によつて決定されるため、前記電子放射面６と
電子ビーム通過孔部２1近傍との間隔を所定値に
するよう相対位置を設定することは電子銃の製造
方法に於て極めて重要な作業である。
この相対位置を設定する方法としては種々提案
されているが、次に第２図によりエアーマイクロ
メータを使用する方法を説明する。
されているが、次に第２図によりエアーマイクロ
メータを使用する方法を説明する。
即ち測定ノズル１１を格子電極２の電子ビーム
通過孔部２1に挿入し、この測定ノズル１１に管
１２を介して連接されたエアーマイクロメータ用
流量計１３及びこの流量計１３に管１４を介して
一定圧のエアーを送入する圧力弁１５が連接され
ており、前記測定ノズル１１の先端１１1を基台
１６に銃軸Ｚ方向に摺動自在に取着された摺動体
１７の爪部１８により外筒３1内壁を支持された
陰極３を前記測定ノズル１１方向に近接させ前記
陰極３の電子放射面６と前記測定ノズル１１の先
端１１1との間隔を前記エアーマイクロメータ用
流量計１３に示されるノズル１１からの流量値変
化を予め定められた値とした時に第１図に示した
陰極支持体４に陰極外筒３1を溶着し、格子電極
２と陰極３との相対位置を設定する。
通過孔部２1に挿入し、この測定ノズル１１に管
１２を介して連接されたエアーマイクロメータ用
流量計１３及びこの流量計１３に管１４を介して
一定圧のエアーを送入する圧力弁１５が連接され
ており、前記測定ノズル１１の先端１１1を基台
１６に銃軸Ｚ方向に摺動自在に取着された摺動体
１７の爪部１８により外筒３1内壁を支持された
陰極３を前記測定ノズル１１方向に近接させ前記
陰極３の電子放射面６と前記測定ノズル１１の先
端１１1との間隔を前記エアーマイクロメータ用
流量計１３に示されるノズル１１からの流量値変
化を予め定められた値とした時に第１図に示した
陰極支持体４に陰極外筒３1を溶着し、格子電極
２と陰極３との相対位置を設定する。
しかるに、前述した様なエアーマイクロメータ
による方法に於ては外囲気の温度や湿度の変化に
より流量計１３が同じ流量値を示していてもノズ
ル１１の先端１１1と、電子放射面６との間隔に
誤差を生じたり、また、ノズル１１の挿入角度、
挿入位置、電子放射面６の状態や陰極３の多少の
曲りによつても誤測定となるし、またノズル１１
からエアーを吹きつけるので、通常陰極３の熱容
量を小さくするのに極めて細く形成している支持
帯３2の弾性により見掛け上の間隔が測定後に狂
つた値になり易い。この現象は図示しないが特に
リボン状フイラメント上に直接または間接に電子
放射物質を塗布した所謂直熱形の場合に於て、は
なはだしい。更にこのエアーマイクロメータ方法
は流量計１３が安定する迄数秒間かかるし、更に
活性化前の電子放射物質３5に含まれるニトロセ
ルローズなどを吹きとぱしてしまい、活性化の良
好なエミツシヨン特性を確保することが困難であ
るなどの種々な欠点がある。
による方法に於ては外囲気の温度や湿度の変化に
より流量計１３が同じ流量値を示していてもノズ
ル１１の先端１１1と、電子放射面６との間隔に
誤差を生じたり、また、ノズル１１の挿入角度、
挿入位置、電子放射面６の状態や陰極３の多少の
曲りによつても誤測定となるし、またノズル１１
からエアーを吹きつけるので、通常陰極３の熱容
量を小さくするのに極めて細く形成している支持
帯３2の弾性により見掛け上の間隔が測定後に狂
つた値になり易い。この現象は図示しないが特に
リボン状フイラメント上に直接または間接に電子
放射物質を塗布した所謂直熱形の場合に於て、は
なはだしい。更にこのエアーマイクロメータ方法
は流量計１３が安定する迄数秒間かかるし、更に
活性化前の電子放射物質３5に含まれるニトロセ
ルローズなどを吹きとぱしてしまい、活性化の良
好なエミツシヨン特性を確保することが困難であ
るなどの種々な欠点がある。
本発明は前記従来の欠点に鑑みなされたもので
あり、格子電極と陰極との相対位置を正確に、か
つ極めて単時間に測定することが可能な電子銃の
製造方法及びその装置を提供することを目的とし
ている。
あり、格子電極と陰極との相対位置を正確に、か
つ極めて単時間に測定することが可能な電子銃の
製造方法及びその装置を提供することを目的とし
ている。
次に第３図及び第４図によつて本発明の一実施
例を説明する。図中第１図及び第２図と同一符号
は同一部分を示す。
例を説明する。図中第１図及び第２図と同一符号
は同一部分を示す。
即ち１対（図ではその内１本を示す）のビード
ガラスなどからなる絶縁支持棒１に格子電極支持
体２2を介して植設された格子電極２と、最終的
に陰極３を支持する陰極支持体４よりなり、前記
格子電極２には銃軸Ｚを中心とする電子ビーム通
過孔部２1が穿設れており、前記電子ビーム通過
孔部２1に対設するように電子放射面６が形成さ
れた陰極３は基台１６に銃軸Ｚ方向に摺動自在に
取着された摺動体１７の爪部１８により後述する
外筒３1内壁を支持されている。即ちこの状態で
は図示しない固定治具に固定された絶縁支持棒
１、格子電極２及び陰極支持体４とこの陰極支持
体４に銃軸Ｚに沿つて移動する陰極３とからな
る。
ガラスなどからなる絶縁支持棒１に格子電極支持
体２2を介して植設された格子電極２と、最終的
に陰極３を支持する陰極支持体４よりなり、前記
格子電極２には銃軸Ｚを中心とする電子ビーム通
過孔部２1が穿設れており、前記電子ビーム通過
孔部２1に対設するように電子放射面６が形成さ
れた陰極３は基台１６に銃軸Ｚ方向に摺動自在に
取着された摺動体１７の爪部１８により後述する
外筒３1内壁を支持されている。即ちこの状態で
は図示しない固定治具に固定された絶縁支持棒
１、格子電極２及び陰極支持体４とこの陰極支持
体４に銃軸Ｚに沿つて移動する陰極３とからな
る。
前記陰極３は外筒３1支持帯３2陰極スリーブ３
３及びこの陰極スリーブ３3の一端部に基体金属３
４を介して電子放射物質層３5が塗布形成してあ
り、前記陰極スリーブ３3内には図示しないヒー
タが陰極３を固定後、挿入固定され、前記ヒータ
を加熱することにより前記電子放射物質層３5の
電子放射面６が熱電子が放出されることになる。
３及びこの陰極スリーブ３3の一端部に基体金属３
４を介して電子放射物質層３5が塗布形成してあ
り、前記陰極スリーブ３3内には図示しないヒー
タが陰極３を固定後、挿入固定され、前記ヒータ
を加熱することにより前記電子放射物質層３5の
電子放射面６が熱電子が放出されることになる。
次に前記格子電極２及び前記電子放射面６にス
リツト光線を射突させる第１の光学系２１につい
て説明すると、光源２２より発射された光の第１
の光軸Ｘは略前記電子放射面６の中心を通る銃軸
Ｚに所定の傾斜角θを持つ様に設定されており、
第１の凸レンズ２３により平行光線に変えられ、
次にスリツト２４により帯状光線（スリツト光
線）になり、更に第２の凸レンズ２５によつて収
束され、前記第１の光軸Ｘを含む面に沿つたスリ
ツト光線が前記格子電極２の電子ビーム通過孔部
２1の穿設された主面及び前記電子ビーム通過孔
部２1を介して前記電子放射面６上にそれぞれ２
つのスリツト像２６，２７を結ぶことになる。
リツト光線を射突させる第１の光学系２１につい
て説明すると、光源２２より発射された光の第１
の光軸Ｘは略前記電子放射面６の中心を通る銃軸
Ｚに所定の傾斜角θを持つ様に設定されており、
第１の凸レンズ２３により平行光線に変えられ、
次にスリツト２４により帯状光線（スリツト光
線）になり、更に第２の凸レンズ２５によつて収
束され、前記第１の光軸Ｘを含む面に沿つたスリ
ツト光線が前記格子電極２の電子ビーム通過孔部
２1の穿設された主面及び前記電子ビーム通過孔
部２1を介して前記電子放射面６上にそれぞれ２
つのスリツト像２６，２７を結ぶことになる。
次にこの２つのスリツト像２６，２７間の間隔
Ｄを読み取る第２の光学系３１について説明する
と、この光学系３１の第２の光軸Ｙは前記銃軸Ｚ
を挾んで、前記第１の光軸Ｘとほぼ同じ傾斜角
θ′をもつように形成され、１対のレンズ３２から
なり、クロス目盛３３，３４を内装する60倍乃至
100倍の拡大レンズを介して作業者の眼３５に入
る。第４図はこの図形を示している。即ち格子電
極２の主面上のスリツト像は３６の線を通り電子
放射面６からのスリツト像は３７の線を通つて眼
３５に入ることになる。作業者は前述した２つの
スリツト像２６と２７の間隔Ｄを目盛３３により
読み取り、予めこの間隔Ｄを前記電子放射面６と
格子電極２の前記電子放射面６との距離に換算し
ておき前記間隔Ｄを所望値にするよう摺動体１７
を移動して爪部１８に支持された陰極外筒３1を
陰極支持体４に図示しない溶接装置で溶接し作業
を終了する。
Ｄを読み取る第２の光学系３１について説明する
と、この光学系３１の第２の光軸Ｙは前記銃軸Ｚ
を挾んで、前記第１の光軸Ｘとほぼ同じ傾斜角
θ′をもつように形成され、１対のレンズ３２から
なり、クロス目盛３３，３４を内装する60倍乃至
100倍の拡大レンズを介して作業者の眼３５に入
る。第４図はこの図形を示している。即ち格子電
極２の主面上のスリツト像は３６の線を通り電子
放射面６からのスリツト像は３７の線を通つて眼
３５に入ることになる。作業者は前述した２つの
スリツト像２６と２７の間隔Ｄを目盛３３により
読み取り、予めこの間隔Ｄを前記電子放射面６と
格子電極２の前記電子放射面６との距離に換算し
ておき前記間隔Ｄを所望値にするよう摺動体１７
を移動して爪部１８に支持された陰極外筒３1を
陰極支持体４に図示しない溶接装置で溶接し作業
を終了する。
前記実施例に於て、間隔Ｄは第１の光軸Ｘと第
２の光軸Ｙの傾斜及び拡大レンズの倍率を大とす
れば、より正確に精度良く測定することが可能と
なることは説明する迄もない。測定の結果によれ
ば間隔Ｄから換算した電子放射面６と格子電極の
距離即ち位置ぎめの誤差を0.003mm以下に押える
ことが可能であり、装置として充分な精度を得る
ことが出来た。
２の光軸Ｙの傾斜及び拡大レンズの倍率を大とす
れば、より正確に精度良く測定することが可能と
なることは説明する迄もない。測定の結果によれ
ば間隔Ｄから換算した電子放射面６と格子電極の
距離即ち位置ぎめの誤差を0.003mm以下に押える
ことが可能であり、装置として充分な精度を得る
ことが出来た。
前述のように本発明の電子銃の組立方法及びそ
の装置によれば従来のエアーマイクロメータや電
気マイクロメータなどを使用した場合に比較し、
空気圧による陰極の変形や、誤測定を防止し、実
質的に熱電子を放射する電子放射面と格子電極と
の距離を測定することが可能となり、この方法は
特にリボン状フイラメントに基体金属及び電子放
射層を設けた直熱形陰極の様に、少量のエアーの
当接によつても機械的に移動しやすいものに於て
特に顕著である。
の装置によれば従来のエアーマイクロメータや電
気マイクロメータなどを使用した場合に比較し、
空気圧による陰極の変形や、誤測定を防止し、実
質的に熱電子を放射する電子放射面と格子電極と
の距離を測定することが可能となり、この方法は
特にリボン状フイラメントに基体金属及び電子放
射層を設けた直熱形陰極の様に、少量のエアーの
当接によつても機械的に移動しやすいものに於て
特に顕著である。
前述した如く本発明は光学的に電子銃に於て重
要な陰極の電子放射面と格子電極間の距離を測定
するものであり、第４図に示す２つのスリツト像
２６，２７の間隔を第２の光学系を介して作業者
が眼で見ていたが、これに限定されるものではな
く、フオトダイオードとの組合せにより自動的に
測定したり、またモニターテレビにうつし出すこ
とも可能であり、更に数値表示装置を利用して間
隔Ｄを直接表示してもよい。これらも含めて本発
明に於ては第２の光学系と総称する。
要な陰極の電子放射面と格子電極間の距離を測定
するものであり、第４図に示す２つのスリツト像
２６，２７の間隔を第２の光学系を介して作業者
が眼で見ていたが、これに限定されるものではな
く、フオトダイオードとの組合せにより自動的に
測定したり、またモニターテレビにうつし出すこ
とも可能であり、更に数値表示装置を利用して間
隔Ｄを直接表示してもよい。これらも含めて本発
明に於ては第２の光学系と総称する。
また前記第２の光学系と連動して摺動体を自動
的に移動し、更にこの移動と、陰極と陰極支持体
との溶接も自動化することが可能であり、その工
業的価値は極めて大である。
的に移動し、更にこの移動と、陰極と陰極支持体
との溶接も自動化することが可能であり、その工
業的価値は極めて大である。
第１図は電子銃の１例を示す要部断面図、第２
図はエアーマイクロメータによる格子電極と電子
放射面との距離を測定する方法を示す説明図、第
３図は本発明の１実施例の説明図、第４図は第３
図の第２の光学系による拡大像を示す図である。 ２…格子電極、３…陰極、４…陰極支持体、６
…電子放射面、１６…基台、１７…摺動体、１８
…爪部、２１…第１の光学系、３１…第２の光学
系。
図はエアーマイクロメータによる格子電極と電子
放射面との距離を測定する方法を示す説明図、第
３図は本発明の１実施例の説明図、第４図は第３
図の第２の光学系による拡大像を示す図である。 ２…格子電極、３…陰極、４…陰極支持体、６
…電子放射面、１６…基台、１７…摺動体、１８
…爪部、２１…第１の光学系、３１…第２の光学
系。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 少なくとも電子放射面を有する陰極と、前記
電子放射面に所定間隔をもつて対設し、銃軸を中
心とする電子ビーム通過孔部が穿設された格子電
極がそれぞれの支持体を介して絶縁支持棒に植設
されてなる電子銃の組立方法に於て、第１の光学
系を介して前記格子電極の主面及び前記電子ビー
ム通過孔部を通り前記電子放射面に前記銃軸に対
して傾斜した面上にあるスリツト光線を射突させ
てスリツト像を形成し、前記格子電極の主面及び
前記電子放射面上の２つのスリツト像間の間隔を
第２の光学系を介して拡大検出し、前記間隔によ
り、前記電子放射面と前記格子電極間の距離を求
め、この距離が所望値となつた時点で前記陰極を
前記陰極支持体に固着することを特徴とする電子
銃の組立方法。 ２ 絶縁支持体に支持体を介を介して植設された
格子電極及び陰極支持体を固定する手段と、前記
陰極支持体に摺動させながら電子放射面を有する
陰極を銃軸に沿つて移動する手段と、前記格子電
極の銃軸を中心とする電子ビーム通過孔部の穿設
された主面及び前記電子放射面に前記銃軸に傾斜
した面上にあるスリツト光線を射突する第１の光
学系と、前記スリツト光線によつて形成された前
記電子放射面及び前記格子電極の主面上のスリツ
ト像の間隔を拡大検出する第２の光学系と、前記
間隔を前記電子放射面と前記格子電極間の距離に
換算し、前記距離が所望値となるより前記陰極を
前記銃軸に設つて移動したのち、前記陰極と前記
陰極支持体とを固着する手段とからなることを特
徴とする電子銃の組立装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP292779A JPS5596533A (en) | 1979-01-17 | 1979-01-17 | Assembling method and device of electron gun |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP292779A JPS5596533A (en) | 1979-01-17 | 1979-01-17 | Assembling method and device of electron gun |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5596533A JPS5596533A (en) | 1980-07-22 |
| JPS6316850B2 true JPS6316850B2 (ja) | 1988-04-11 |
Family
ID=11542965
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP292779A Granted JPS5596533A (en) | 1979-01-17 | 1979-01-17 | Assembling method and device of electron gun |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5596533A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02129267U (ja) * | 1989-04-03 | 1990-10-24 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0514445Y2 (ja) * | 1984-10-25 | 1993-04-16 | ||
| JPS6298530A (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-08 | Mitsubishi Electric Corp | 電子銃組立装置 |
| JPS6351027A (ja) * | 1986-08-19 | 1988-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | 電子銃のカソ−ド組立装置 |
-
1979
- 1979-01-17 JP JP292779A patent/JPS5596533A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02129267U (ja) * | 1989-04-03 | 1990-10-24 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5596533A (en) | 1980-07-22 |
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