JPS6316204A - マツハ・ツエンダ−形光干渉計 - Google Patents

マツハ・ツエンダ−形光干渉計

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JPS6316204A
JPS6316204A JP61159549A JP15954986A JPS6316204A JP S6316204 A JPS6316204 A JP S6316204A JP 61159549 A JP61159549 A JP 61159549A JP 15954986 A JP15954986 A JP 15954986A JP S6316204 A JPS6316204 A JP S6316204A
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optical
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optical interferometer
interferometer
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河内 正夫
Norio Takato
高戸 範夫
Mitsuho Yasu
安 光保
Kaname Jinguji
神宮寺 要
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はマッハ・ツェンダー形光干渉計に関するもので
、さらに詳しくは入射光の偏光方向にかかわらず安定動
作の可能なマッハ・ツェンダー形光干渉計に関するもの
である。
(従来の技術) 2個の光結合器、例えば方向性結合器を2本の光導波路
で連結して構成される光干渉計はマッハ・ツェンダー形
光干渉計と呼ばれ、光スィッチや光センサ、さらに最近
では周波数多重光通信合分波器に使用されている。この
光干渉計はその構成により、(1)バルク形、(2)フ
ァイバ形、(3)導波形の3種類に分類できるが、信頼
性、生産性及び小型軽量性等の理由から、平面基板上に
構成する導波形のものが最有望視されている。
また光干渉計は、光路構成面から、(al対称形と(b
l非対称形に分類することもできる。対称形は2個の光
結合器を連結する2本の光導波路の長さがほぼ等しいも
のであり、非対称形は故意にそれ等の長さに差を与えた
ものである。
第5図は、温度センサへの応用を目的として構成された
従来の非対称導波形光干渉8Iの構成の説明図である。
MFil上に形成された方向性結合器2.3は近接した
2本の光導波路からなり、その粘合率はいずれも50%
になるように設定されている。また方向性結合器2.3
の間を連結する2木の光導波路4.5は長さがしたけ異
なっている。
入カポ−)1aから入射された光は、光路長差nL(こ
こでnは導波路の実効屈折率である)が光波長λの整数
倍Nλ(ここでNは零を除く整数である)に等しい場合
には出力ポート2bから出射されるが、光路長差nLが
(Nλ+λ/2)に等しい場合には出力ポート1bから
出射される。
もし光路長差nLが熱光学効果により変化すると、例え
ば出力ポート1b、2bの出力光強度は相補的に強くな
ったり零になったりする状態を繰り返して振動、すなわ
ち干渉する。従って出力光強度をモニターすることによ
り温度センサとして機能させることができる。
しかし、この従来の導波形光干渉計では以下のような問
題点があった。すなわち、基板1上に形成された光導波
路4.5は基板からの応力などに起因する複屈折性を有
し、実効屈折率nが入射光の偏光方向により僅か異なる
ため、上述の干渉条件が基板に垂直な偏光方向を有する
入射光(T M波)と水平な偏光方向を有する入射光(
TE波)とでは異なり、入射光の偏光方向をいずれか一
方に合わせておかないと温度センサとしてのSN比が劣
化し、場合によっては全く動作不能になるという問題が
あった。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、従来の導波形光干渉計の上述の欠点を解決し
、入射光の偏光方向に依存しない光干渉計を提供するこ
とにある。
(問題点を解決するための手段) 上述の従来技術の問題点を解決する方法としては、光導
波路の複屈折を雰にすることがまず考えられるが、平面
基板上に形成される光導波路において複屈折を零にする
ことは作製上極めて困難である。本発明はむしろ光4波
路の複屈折を積極的に活用して、実効的に光干渉計の偏
光依存性を解消するものである。
TM波とTE波の実効屈折率の差を複屈折値Bとすると
、偏光方向に依る光路長差はBLで与えられる。本発明
はBLが使用光の波長の整数値になるように、あらかじ
めBあるいはLを(あるいはその双方共に)設定してお
(ことを最大の特徴としている。すなわち、光波長λの
整数倍の光位相差は光干渉計では識別できないことから
、見掛は上TM波の干渉条件とTE波の干渉条件が一致
することに着目したものである。
このような設定により、従来問題であったTM波の干渉
条件とTE波の干渉条件のずれは解消し、光干渉計は入
射波の偏光状態に依らず同一の動作をすることができる
(実施例) 以下、本発明の具体例を図面を参照し、実施例によって
詳細に説明する。同じ符号によって図中に示された要素
は同じものを表している。
実上斑上 第1図は、本発明の第1の実施例を説明する図であって
、シリコン基板21上に2本の石英系ガラス単一モード
光専波路24.25が形成され、これに方向性結合器(
結合比50%)2.3を連結した非対称形光干渉計を構
成している。
第2図(al、(′b)は、それぞれ第1図の破線A−
A’B−B’に対応する部分の拡大断面図である。第2
図に示すように、基板21上に石英系ガラスクラッド層
22が形成されており、そのクラッド[22の中に形成
された2本の石英系ガラスコア部が2本の光導波路24
.25を構成している。第1図および第2図(blにお
いて、これら2本の石英系ガラス光導波路24.25は
エバネソセント結合するよう近接して方向性結合器2,
3を形成している。
光導波路24.25の断面寸法は光干渉計に接続すべき
単一モード光ファイバのコア径にあわせて約8μm程度
に設定されており、クラッド層22の厚さは数10μm
である。このような石英系単一モード光導波路は、5I
C14,TiCIa等の原料ガスの火炎加水分解反応に
よるガラス膜の堆積技術と反応性イオンエツチング技術
との組合わせによる周知の方法で作製できる。
石英系ガラス単一モード光導波路2.i、 25には、
シリコン基板と石英ガラスの熱膨張係数差に起因する強
い残留応力が作用しており、この応力を主要因として誘
起される複屈折値はB=2.5 Xl0−’と実測され
た。
入カポ−)1aに入射される光は、ここでは波長λ=1
.52μmのHe N eレーザ光である。光導波路2
4と25の長さの差しは、BL積がλの4倍となるよう
L=2.43cmに設定した。
第3図は温度と相対光出力の関係を示す図であり、第3
図(a)は上記の光干渉計を恒温槽に入れて周囲温度を
変化させた場合の出力ポート1bの相対光出力の強度を
プ四ノ1−シたものである。相対光出力強度は、TM入
射波、TE入射波いずれも同一の温度依存性を示し、偏
光依存性は観察されなかった。比較のために、上述のB
L値とλとの整合条件を考慮せずに作製した光干渉計の
特性を第3図(blに示したが、TM波とTE波とは、
ずれた温度依存性を示し、温度センサとして使用するた
めには入射偏光方向の精密な制御の必要なことが分かっ
た。
BL積がλの整数値であれば上述の実施例のように偏光
依存性は解消できるが、BLがλの3倍、2倍、1倍と
小さくなるにつれてLが小さくなるので、温度センサと
しての温度敏感性はゆるくなる。逆にBLがλの5倍、
6倍、7倍・・・・・・と大きくなると温度敏感性は高
まるが、BL値をλの整数値に正確に設定するにはBあ
るいはLの設定要求精度がきびしくなることに注意すべ
きである。
BL値をλの整数倍に設定するに際して、実際には作製
上の原因に基づく設定誤差を伴うが、通常の光干渉計の
応用では数%の誤差は1ffl常許容される。
ス五〇生側 第4図は、本発明の第2の実施例を説明する図であって
、これは周波数多重光通信用合分波器に用いるものであ
る。シリコン基板21上に石英系ガラス単一モード光導
波路24.25により光干渉計が構成されていることは
実施例1と同様である。光導波路24の一部には、上面
に位相制御用に発熱体26が装荷され、この発熱体は例
えばニクロム金属膜からなっている。
入カポ−Zaから入射した2つの信号光はそれぞれ周波
数f、、 f2を有し、その差Δf=f+fzは例えば
20GHzであるとする。この2つの信号光は発熱体2
6により光導波路24の実効的光路長を光波長の数分の
1のオーダーで調節することにより、出力ポートlb、
2bに分離されて出射する。
周波数り、fzの2つの信号光は波長1.52μm帯の
DFBレーザに精密な周波数制御を施して得ている。方
向性結合器2,3を連結する光導波路24゜路の複屈折
値Bは、シリコン基板上の石英系光導波路の場合、その
ガラス組成により0.5 Xl0−’〜4X10−’程
度の範囲で調節可能であり、BL=λとなるようB =
 2.98 X 10− ’に2周nNされている。こ
のようなり値の調節は石英系ガラス単一モード光五波路
を構成する石英系ガラス材料の組成調節によって行った
が、6+Hの厚さやクラッド層の厚さを変えることによ
ってもB値の微細調整を行うことが可能である。
BL=λの整合条件を満足する上記の光干渉計は、周波
数f、、 f2の信号光の入射偏光方向に存在しないで
周波数分離作用を行うことができる。第4図において信
号光を逆方向に進行させれば、合波作用を行うこともで
きることは言うまでもない。
Δf =10GHzの場合には、L = 1.02(J
lとする必要があるが、この場合にはB値の選択により
BL=λ (B = 1.49 X 10−’ )とす
るか、BL=2λ(B = 2.98 X 10− ’
)にするかの任意性がある。しかし、Δf =20Gt
lzとΔf=10GHzの光干渉計を同一基板上に集積
して構成するにはB値を共通に選ぶことが望ましく、B
 = 2.98 X 10−’に統一しておく必要があ
る。同一基板上にさらにΔf=5GHzの光干渉計を構
成するには、B = 2.98 X 10− ’として
、BL=4λの整合条件を満足させることができる。こ
のようにして、Δf = 5Gtlz 、10GIIz
 。
20GHzの光干渉計を適正に連結すると、周波数間隔
5 GHzで8波の信号光の合分波作用を、信号光の偏
光方向にかかわらず行わせることもできる。
以上の実施例ではシリコン基板を用いた場合について説
明したが、整合上より小さいB値が望ましい場合には、
石英ガラス基板上に光干渉計を構成することもできる。
またより大きいB値を所望する場合には、窒化シリコン
(SiJ4)基板等の石英ガラスとの熱膨張係数差の大
きい基板を用いる必要がある。
なおり値を所望の値に調節するために、光導波路の上面
に応力調節用の異種材料膜、例えば金属膜を芸着する等
の手段で装荷しておくこともできる。また機械的な圧力
を外部から与える等の方法も有効であるが、この際、P
ZT仮のような圧電体を貼り付けて電圧を印加すること
により圧力を与える等の方法を採用してもよい。
本発明は石英系単一モード光導波路のみに限定されるも
のでなく、複屈折性を有するLiNbO3系光ぷ波路や
イオン拡散ガラス光導波路等の他の材料の光導波路を用
いた光干渉計にも同様に適用できる。また光導波路とし
て複屈折性単一モード光ファイバを用いた光干渉計にも
適用できる。
これまでの実施例ではB値が光導波路に沿って一定であ
る場合を扱ってきたが、光結合器を結ぶ2木の光導波路
間で異なる場合や、光導波路の長手方向に沿って変化す
る場合には、2木の光導波の差が光波長の整数倍になる
ように設定すればよい。ここで1.、I12はそれぞれ
2木の光導波路に沿う線座標である。
また以上の実施例では、光結合器として方向性結合器を
用いた場合について述べたが、光結合器としてY分岐形
結合器等を用いる場合についても本発明を適用できるこ
とはもちろんである。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明では光導波路の複屈折性か
ら生じる非対称形光干渉計の偏光方向依存性を、特徴的
な整合条件を満足させることにより解消できるので、偏
光方向によらない安定な光干渉動作が達成できる。また
従来、光干渉計の前段に設置する必要のあった偏波面コ
ントローラが全く省略できるので、光センサや光通信シ
ステムの構成を簡略化でき、光技術の応用面の拡大に効
果が大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例である温度センサ用光干
渉計の構成図、 第2図(a)は第1図のA−A ’における拡大断面図
、 第2図(blは第1図のB−B ’における拡大断面図
、 第3図(a)は第1の実施例の光干渉計の温度特性図、 第3図fblは従来の光干渉計の温度特性の1例を示す
図、 第4図は本発明の第2の実施例である周波数多重光通信
用合分波器としての光干渉計の構成図、第5図は従来の
非対称形光干渉計の構成図である。 1・・・基板        1a、2a・・・入力ボ
ートlb、2b・・・出力ボート 2,3・・・方向性
結合器4.5・・・光導波路    21・・・シリコ
ン基板22・・・クラフト層 24、25・・・石英系ガラス単一モード光4波路26
・・・発熱体 特許出願人 日本電信電話株式会社 第1図 第3図 (aン

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、2個の光結合器を長さの異なる2本の光導波路で連
    結してなるマッハ・ツェンダー形光干渉計において、2
    本の該光導波路間の長さの差Lと、該光導波路の複屈折
    値Bとの積BLが、使用光波長λの整数倍(零を除く)
    にほぼ等しいことを特徴とするマッハ・ツェンダー形光
    干渉計。 2、該光導波路が基板上に設けられた複屈折性単一モー
    ド光導波路であることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項に記載のマッハ・ツェンダー形光干渉計。
JP61159549A 1986-07-09 1986-07-09 マツハ・ツエンダ−形光干渉計 Expired - Lifetime JPH0660803B2 (ja)

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JP61159549A JPH0660803B2 (ja) 1986-07-09 1986-07-09 マツハ・ツエンダ−形光干渉計

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JPH0660803B2 JPH0660803B2 (ja) 1994-08-10

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JP (1) JPH0660803B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5451438A (en) * 1992-10-28 1995-09-19 Biomaterial Research Institute Co., Ltd. Acylamidomethylated polysulfone and process for production thereof
US6081335A (en) * 1997-06-25 2000-06-27 Nec Corporation Phase difference measuring device with visible light source for providing easy alignment of optical axes and method therefor
US7431404B2 (en) 2005-08-05 2008-10-07 Shimano Inc. Bicycle having annular sealing member
US9067465B2 (en) 2010-02-25 2015-06-30 Harley-Davidson Motor Company Group, LLC Tubeless rim seal for a laced wheel

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US7431404B2 (en) 2005-08-05 2008-10-07 Shimano Inc. Bicycle having annular sealing member
US9067465B2 (en) 2010-02-25 2015-06-30 Harley-Davidson Motor Company Group, LLC Tubeless rim seal for a laced wheel

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