JPS63146135A - Self-diagnostic system for circuit - Google Patents

Self-diagnostic system for circuit

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JPS63146135A
JPS63146135A JP29414486A JP29414486A JPS63146135A JP S63146135 A JPS63146135 A JP S63146135A JP 29414486 A JP29414486 A JP 29414486A JP 29414486 A JP29414486 A JP 29414486A JP S63146135 A JPS63146135 A JP S63146135A
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JP
Japan
Prior art keywords
circuit
voltage
power supply
test
self
Prior art date
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Pending
Application number
JP29414486A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Niwada
剛 庭田
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS63146135A publication Critical patent/JPS63146135A/en
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Abstract

PURPOSE:To detect the abnormality of a circuit in its early state by providing a power supply part whose output voltage is varied with a control signal and self-diagnosing the circuit with the voltage changed from a fundamental voltage. CONSTITUTION:A power supply part 2 of a device 1 is so constituted that its output can be varied to the fundamental voltage and - or + alpha% fundamental voltage, and the initial test for power rise and the operation test for maintenance are performed with not only the fundamental voltage (for example, +5V) but also + or -alpha% fundamental voltage (for example, +5.25V and +4.75V). Thus, the test for the variation of power is performed in the user side also, and a circuit, a device, or the like which is ready to be faulty or is suspicious is detected in the early stage.

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術(第4図) 発明が解決しようとする問題点 問題点を解決するための手段(第1図)作用 実施例(第2図、第3図) 発明の効果 〔概要〕 本発明は回路自己診断方式において、例えば端末装置の
回路部品の長時間使用による劣化や不良品を早期検出す
るためまたは電圧変動に耐え得るかをチェックするため
、電圧を例えば士・5%の範囲で自動的に切換えて回路
の動作試験を行うようにしたものである。
[Detailed description of the invention] [Table of contents] Overview Industrial field of application Prior art (Figure 4) Problems to be solved by the invention Means for solving the problems (Figure 1) Working examples (Figure 1) (Figures 2 and 3) Effects of the Invention [Summary] The present invention is a circuit self-diagnosis system that is used to detect deterioration or defective products due to long-term use of circuit components of terminal devices, or to check whether they can withstand voltage fluctuations. For checking, the circuit is tested by automatically switching the voltage within a range of, for example, 5%.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は回路自己診断方式に係り、特に装置のメンテナ
ンスの試験に関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a circuit self-diagnosis method, and more particularly to a test for maintenance of equipment.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のデータ処理装置例えば端末装置は、第4図に示す
如く、本体装置1として、電源部2、プロセッサ3、R
OM (Read 0nly Memory)  4 
a’、RA M (Random Access Me
mory)  4 b 、フロッピィディスク部4C1
回線制御部4d、キーボード制御部4e、表示制御部4
f、プリンタ制御部4g等を具備し、外部装置としてキ
ーボード4h、表示部41、プリンタ4j等を具備して
いる。
A conventional data processing device, for example, a terminal device, as shown in FIG.
OM (Read Only Memory) 4
a', RAM (Random Access Me)
mory) 4 b, floppy disk section 4C1
Line control section 4d, keyboard control section 4e, display control section 4
f, a printer control section 4g, etc., and includes a keyboard 4h, a display section 41, a printer 4j, etc. as external devices.

装置を工場で出荷するとき、不良品を検出するためのテ
ストの1つとして電源電圧を規定の±5%変動させた状
態で動作試験を行うが、一旦ユーザが購入後は、電源電
圧を基本電圧にして回路チェックを行っている。
When a device is shipped from the factory, an operation test is performed with the power supply voltage fluctuating by ±5% of the specified value as one of the tests to detect defective products. I'm checking the circuit using voltage.

この回路チェック方法としては、ROMパリティ・チェ
ック、RAMR/Wチェック、フロッピィディスクR/
Wチェック、キーボード試験、表示部表示試験、プリン
タ印字試験等を行っている。
This circuit check method includes ROM parity check, RAMR/W check, floppy disk R/W check,
We conduct W checks, keyboard tests, display tests, printer printing tests, etc.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

このように従来の回路チェック方式では、基本電圧にお
いて動作させており電圧変動に対する試験は行っていな
かった。そのため少し劣化進行中の部品を検出すること
ができず、装置運用中に生ずる少しの電圧変動で誤動作
を起こしたり、ハードエラーを発生して障害を引き起こ
すことがしばしばあった。
As described above, in the conventional circuit check method, the circuit is operated at the basic voltage, and tests for voltage fluctuations are not performed. As a result, it is not possible to detect components that are in the process of deterioration, and small voltage fluctuations that occur during device operation often cause malfunctions or hardware errors that cause failures.

そのため装置の回路異常を早期に検出してこれを正常の
ものに交換することが要求されている。
Therefore, it is required to detect abnormality in the circuit of the device at an early stage and replace it with a normal one.

そしてそのための試験方法が要求されている。A test method for this purpose is required.

本発明の目的は、このような回路異常を早期に検出する
ための回路自己診断方式を提供することである。
An object of the present invention is to provide a circuit self-diagnosis method for early detection of such circuit abnormalities.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

前記目的を達成するため、本発明では、第1図に示す如
く、装置1の電源部2の出力を基本電圧およびその±α
%(例えばα=5)に変動可能に構成しておき、電源立
上時のイニシャル試験のときおよび保守時の動作試験に
基本電圧(例えば+5V)のみならず±α%の電圧(例
えば+5.25V及び+4.75V)でもテストを行う
In order to achieve the above object, in the present invention, as shown in FIG.
% (for example, α=5), and not only the basic voltage (for example, +5V) but also a voltage of ±α% (for example, +5V) is used for initial tests at power-on and operation tests during maintenance. 25V and +4.75V).

〔作用〕[Effect]

基本電圧の外に±α%の電圧でもテストを行うので、不
良部品を早期に検出することが可能となる。
In addition to the basic voltage, tests are also performed at voltages of ±α%, making it possible to detect defective components at an early stage.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の一実施例を第2図及び第3図にもとづき、他国
を参照して説明する。
An embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 2 and 3 with reference to other countries.

第2図は本発明の一実施例構成を示し、同(a)は回路
構成図、同(b)は電源部への制御信号説明図、また第
3図は本発明の動作説明図である。
FIG. 2 shows the configuration of an embodiment of the present invention; FIG. 2(a) is a circuit configuration diagram, FIG. 2(b) is an explanatory diagram of control signals to the power supply section, and FIG. 3 is an explanatory diagram of the operation of the present invention. .

第2図において他と同−符号部は同一部分を示し、5は
セレクタ、6はディップスイッチである。
In FIG. 2, the same reference numerals as the others indicate the same parts, 5 is a selector, and 6 is a dip switch.

電源部2は、基本電圧が+5vの装置では、この基本電
圧+5vの外にその±5%変動した+5゜25V及び+
4.75Vの出力を発生しており、制御信号SLO及び
SLIの状態に応じて前記電圧を選択的に出力するもの
である。そして第2図(b)に示す如く、制御信号SL
OがrlJのとき通常モードで動作し、+5Vを出力す
るが、制御信号SLOが「0」のとき電圧変動モードで
動作し、このとき制御信号SLIが更にrlJであれば
+5%の状態の+5.25Vを出力し、制御信号SLI
が更に「0」であれば−5%の状態の+4.75Vを出
力する。
In a device with a basic voltage of +5V, the power supply unit 2 has voltages of +5°25V and +5%, which vary by ±5%, in addition to this basic voltage +5V
It generates an output of 4.75V, and selectively outputs the voltage according to the states of control signals SLO and SLI. As shown in FIG. 2(b), the control signal SL
When O is rlJ, it operates in normal mode and outputs +5V, but when control signal SLO is "0", it operates in voltage fluctuation mode, and if control signal SLI is further rlJ, it outputs +5V of +5%. Outputs .25V and outputs control signal SLI
If is further "0", +4.75V, which is a -5% state, is output.

プロセッサ3は、電源立上時のイニシャル試験のとき及
び保守時の動作試験のときに制御信号5LO1SLIが
「1」、「0」になるように選択的に制御信号を出力す
るものであり、またチップセレクト信号C8O〜C32
や、リードライト信号R/W等を出力するものである。
The processor 3 selectively outputs a control signal so that the control signal 5LO1SLI becomes "1" or "0" during an initial test at power-on and an operation test during maintenance. Chip select signal C8O-C32
It outputs a read/write signal R/W, etc.

ROM4aには装置1を制御するための制御用プログラ
ムが保持されており、イニシャル試験用のプログラムや
保守時の動作試験用プログラムもこれまた保持されてい
る。
The ROM 4a holds a control program for controlling the device 1, and also holds an initial test program and an operation test program during maintenance.

RAM4bは試験用のデータがリード・ライトされるも
のである。
The RAM 4b is used to read and write test data.

セレクタ5は、プロセッサ3の制御にもとづき電源部2
に対し制御信号5LO1SLIを「1」、「0」に選択
制御するものである。
The selector 5 selects the power supply section 2 based on the control of the processor 3.
In contrast, the control signal 5LO1SLI is selectively controlled to be "1" or "0".

ディップスイッチ6は保守時の動作試験の設定スイッチ
であり、通常はオフ、つまり「0」状態にするが、保守
時にこれを、電源変化を示すオンにして電源を入れると
、プロセッサ3がこれをみて+5v、+4.75V、 
+5.25Vに電源部2の出力を順次切換え制御するも
のである。
The DIP switch 6 is a setting switch for operation tests during maintenance, and is normally turned off, that is, in the "0" state, but when it is turned on during maintenance to indicate a change in the power supply and the power is turned on, the processor 3 turns it on. Look +5v, +4.75V,
The output of the power supply unit 2 is sequentially switched and controlled to +5.25V.

次に本発明の動作について第3図のフローチャートにし
たがって、−日の初めに行われる電源仕上げ時のイニシ
ャル試験の例について説明する。
Next, the operation of the present invention will be described with reference to the flowchart in FIG. 3, with reference to an example of an initial test performed at the beginning of the - day when finishing the power supply.

■ まず電源のパワースイッチをオンにすると、プリセ
ッサ3はROM4aに保持されているイニシャル試験用
のプログラムにもとづき制御を行う。
(2) First, when the power switch of the power supply is turned on, the precessor 3 performs control based on the initial test program held in the ROM 4a.

そしてこのプログラムにもとづき、まず制御信号SLO
を「1」にする。
Based on this program, first the control signal SLO
Set to "1".

■ この制御信号SLOrlJにより電源部2は基本電
圧+5vを出力し、装置1はこれにより動作することに
なる。それからプロセッサ3はROM4aから読み出し
たイニシャル試験用プログラムにもとづき、RAMライ
ドリード試験、タイマ試験等の自己診断テストを行う、
この第1回目のテストがもしも異常であれば、例えばア
ラームや表示部41に対する表示等により異常であるこ
とを通知し、障害の探索を行うことになる。
(2) This control signal SLOrlJ causes the power supply unit 2 to output a basic voltage of +5V, and the device 1 operates accordingly. Then, the processor 3 performs self-diagnosis tests such as a RAM ride read test and a timer test based on the initial test program read from the ROM 4a.
If this first test is abnormal, the abnormality is notified by, for example, an alarm or a display on the display unit 41, and a search for the failure is performed.

■ 前記第1回目の自己診断が正常であれば、プロセッ
サ3は、プログラムにもとづき、制御信号SLOを「0
」、SLlをrlJにする。これにより電源部2は+5
.25Vを装置1の各部に出力し、この状態でイニシャ
ル試験用プログラムによる第2回目の自己診断テストが
行われる。この第2回目のテストがもしも異常であれば
、前記の場合と同様な手段でこれを通知する。
■ If the first self-diagnosis is normal, the processor 3 sets the control signal SLO to "0" based on the program.
”, set SLl to rlJ. As a result, the power supply section 2 becomes +5
.. 25V is output to each part of the device 1, and in this state a second self-diagnosis test is performed using the initial test program. If this second test is abnormal, this will be notified by the same means as in the case described above.

■ 前記第2回目の自己診断が正常であれば、プロセッ
サ3は制御信号SLOをrOJ、SLIを「0」にする
。これにより電源部2は+4.75Vを装置1の各部に
出力し、この状態でイニシャル試験用プログラムによる
第3回目の自己診断テストが行われる。この第3回目の
テストがもしも異常であれば、前記の場合と同様にこれ
を報告する。
(2) If the second self-diagnosis is normal, the processor 3 sets the control signals SLO to rOJ and SLI to "0". As a result, the power supply section 2 outputs +4.75V to each section of the device 1, and in this state, the third self-diagnosis test is performed using the initial test program. If this third test is abnormal, this will be reported as in the previous case.

■ 前記第3回目の自己診断が正常であれば、プロセッ
サ3は制御信号SLOを再び「1」にする。
(2) If the third self-diagnosis is normal, the processor 3 sets the control signal SLO to "1" again.

これにより電源部2は再び基本電圧+5vを装置lの各
部に出力し、それから運用プログラムがスタートされる
ことになる。
As a result, the power supply unit 2 again outputs the basic voltage +5V to each part of the device 1, and then the operation program is started.

なお、保守時の動作試験を行う場合には、オペレータは
ディップスイッチ6を、電源変化のところを示すオンの
状態にして電源を入れる。これによりプロセッサ3は、
ディップスイッチ6の状態を読み、電源変化を示すビッ
トがオンつまりディップスイッチ6がオンであれば、前
記第3図の場合と同様に電源部2の出力を+5v、+5
.25V。
In addition, when performing an operation test during maintenance, the operator turns on the power by turning the dip switch 6 to the on state indicating the point where the power is changed. As a result, processor 3
Read the state of the dip switch 6, and if the bit indicating the power supply change is on, that is, the dip switch 6 is on, the output of the power supply section 2 is set to +5V, +5V, as in the case of FIG.
.. 25V.

+4.75Vに一定時間間隔で順次切換え、その各々の
状態で保守時の動作試験、例えば表示試験、メモリ試験
、フロッピィディスク試験、キーボード試験等各動作部
分のテストを行い障害の有無をチェックする。
+4.75V is sequentially switched at regular time intervals, and in each state, operation tests during maintenance, such as display tests, memory tests, floppy disk tests, keyboard tests, etc., are performed on each operating part to check for failures.

なお前記説明では装置として端末装置の例について説明
したが勿論本発明はこれのみに限定されるものではなく
、変動幅も±5%に限定されることなく適宜選択可能で
ある。
In the above description, an example of a terminal device was explained as the device, but the present invention is of course not limited to this, and the fluctuation range is not limited to ±5% and can be appropriately selected.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、電源電圧を自動的に切換えることによ
り、電源変動に対する試験をもユーザ側で行うことがで
きるので、故障寸前の回路、または疑わしい回路、装置
等を早期に検出することができ、高信軌性を得るものと
なる。
According to the present invention, by automatically switching the power supply voltage, it is possible for the user to test against power supply fluctuations, so circuits on the verge of failure or suspicious circuits, devices, etc. can be detected at an early stage. , high reliability can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の原理説明図、 第2図(a)は本発明の一実施例回路構成図、同(b)
は電源部への制御信号説明図、第3図は本発明の動作説
明図、 第4図は従来の端末装置の1例を示す。 1−・・装置   、  2−・電源部3− プロセッ
サ  5−・・セレクタ6− ディップスイッチ
Figure 1 is a diagram explaining the principle of the present invention, Figure 2 (a) is a circuit configuration diagram of an embodiment of the present invention, and Figure 2 (b) is a diagram explaining the principle of the present invention.
3 is an explanatory diagram of the control signal to the power supply unit, FIG. 3 is an explanatory diagram of the operation of the present invention, and FIG. 4 is an example of a conventional terminal device. 1--Device, 2--Power supply section 3--Processor 5--Selector 6--DIP switch

Claims (1)

【特許請求の範囲】 プロセッサを具備し、自己診断を行うデータ処理装置に
おいて、 出力電圧が制御信号により変化可能な電源部(2)を設
け、 電圧を基本電圧より変化させた状態で自己診断を行うよ
うにしたことを特徴とする回路自己診断方式。
[Claims] A data processing device that is equipped with a processor and that performs self-diagnosis is provided with a power supply unit (2) whose output voltage can be changed by a control signal, and that performs self-diagnosis while the voltage is changed from the basic voltage. A circuit self-diagnosis method characterized by:
JP29414486A 1986-12-10 1986-12-10 Self-diagnostic system for circuit Pending JPS63146135A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29414486A JPS63146135A (en) 1986-12-10 1986-12-10 Self-diagnostic system for circuit

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JPS63146135A true JPS63146135A (en) 1988-06-18

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61112249A (en) * 1984-11-06 1986-05-30 Nec Corp Diagnosis system for data processor

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61112249A (en) * 1984-11-06 1986-05-30 Nec Corp Diagnosis system for data processor

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