JPS63142767U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS63142767U JPS63142767U JP3496587U JP3496587U JPS63142767U JP S63142767 U JPS63142767 U JP S63142767U JP 3496587 U JP3496587 U JP 3496587U JP 3496587 U JP3496587 U JP 3496587U JP S63142767 U JPS63142767 U JP S63142767U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor devices
- side pins
- attached
- jig
- electronic components
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案による半導体素子の信頼性評価
試験用治具の平面図、第２図従来の試験用治具の
平面図である。 １…エージング基板、２…試験半導体素子、３
…エージング基板パターン、４…試験半導体素子
のリード、５，７…外付け電子部品、６…エージ
ング基板端子部。
試験用治具の平面図、第２図従来の試験用治具の
平面図である。 １…エージング基板、２…試験半導体素子、３
…エージング基板パターン、４…試験半導体素子
のリード、５，７…外付け電子部品、６…エージ
ング基板端子部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (a) 複数の試験半導体素子が取り付けられるエ
ージング基板、および、 (b) 入力側ピンおよび出力側ピンの少なくとも
一方の全部に装着された外付け電子部品 を含むことを特徴とする半導体素子の信頼性評価
試験用治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3496587U JPS63142767U (ja) | 1987-03-10 | 1987-03-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3496587U JPS63142767U (ja) | 1987-03-10 | 1987-03-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63142767U true JPS63142767U (ja) | 1988-09-20 |
Family
ID=30844015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3496587U Pending JPS63142767U (ja) | 1987-03-10 | 1987-03-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63142767U (ja) |
-
1987
- 1987-03-10 JP JP3496587U patent/JPS63142767U/ja active Pending