JPS63141452U - - Google Patents

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JPS63141452U
JPS63141452U JP3271087U JP3271087U JPS63141452U JP S63141452 U JPS63141452 U JP S63141452U JP 3271087 U JP3271087 U JP 3271087U JP 3271087 U JP3271087 U JP 3271087U JP S63141452 U JPS63141452 U JP S63141452U
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JP
Japan
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defect
section
flaw detection
inspected
signal
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JP3271087U
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の一実施例を示す超音波探傷
装置の構成図、第２図および第３図はこの考案の
一実施例の動作を説明するための図、第４図は従
来の超音波探傷装置を示す図、第５図は従来の超
音波探傷装置の動作を示す図、第６図は従来の超
音波探傷装置の被検査物と探触子との関係を示す
図、第７図は被検査物の実際の欠陥位置と探傷出
力された欠陥の位置との関係を示す図である。 図において、１は同期部、２は送受信部、３は
探触子、４は追従機構部、５は被検査物、６はパ
ルス発生器、７は探傷反射信号、８はゲート設定
部、９は欠陥ゲート信号、１０はゲート回路部、
１１は欠陥検出信号、１２は判定回路部、１３は
欠陥出力信号、１４は判定レベル設定部、１５は
判定レベル信号、１６は測長計数部、１７は表示
器、１８は探傷ケーブル、１９は欠陥位置ゲート
設定部、２０は欠陥位置ゲート信号、２１は同期
表示部、２２は試験片、である。なお、各図中同
一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 超音波を用いて被検査物の欠陥を探傷する装置
    において、あらかじめ決めた位置に欠陥を設けた
    試験片と、装置の時間系を制御する同期部と、送
    信信号の発生及び探触子よりの探傷信号を増巾識
    別する送受信部と、超音波を発生する探触子と、
    上記探触子を保持し被検査物に追従させるための
    追従機構部と、被検査物の移動距離に対応したパ
    ルスを発生するためのパルス発生器と、被検査物
    の探傷範囲を設定するゲート設定部と、上記ゲー
    ト設定部で設定した探傷範囲内の欠陥検出信号を
    判別するゲート回路部と、上記欠陥検出信号より
    欠陥出力信号を判別する判定回路部と、欠陥を判
    定するための判定レベル信号を設定する判定レベ
    ル設定部と、上記パルス発生器よりのパルス出力
    信号によつて被検査物の長さを計測するための測
    長計数部と、被検査物の位置に対応した欠陥を表
    示するための表示器と、送受信部と探触子とを接
    続する探傷ケーブルと、試験片の欠陥位置に対応
    した欠陥位置ゲート信号を出力するための欠陥位
    置ゲート設定部と、上記試験片を超音波探傷する
    ことによつて得られた欠陥出力信号を、欠陥位置
    ゲート信号によつて判別表示するための同期表示
    部とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置。
JP3271087U 1987-03-06 1987-03-06 Pending JPS63141452U (ja)

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JP3271087U JPS63141452U (ja) 1987-03-06 1987-03-06

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JPS63141452U true JPS63141452U (ja) 1988-09-19

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