JPS6313667A - プラズマジエツト装置 - Google Patents
プラズマジエツト装置Info
- Publication number
- JPS6313667A JPS6313667A JP15542986A JP15542986A JPS6313667A JP S6313667 A JPS6313667 A JP S6313667A JP 15542986 A JP15542986 A JP 15542986A JP 15542986 A JP15542986 A JP 15542986A JP S6313667 A JPS6313667 A JP S6313667A
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- Japan
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- plasma jet
- detection plate
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- current
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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Landscapes
- Arc Welding In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野」
不発明はトーチの一憔棒とそれ金囲む外套との間にプラ
ズマジェットに発生せしめ、該プラズマジェットにより
被加工材uk加工するプラズマジェット装置に関する。
ズマジェットに発生せしめ、該プラズマジェットにより
被加工材uk加工するプラズマジェット装置に関する。
オフ1社従来のプラズマジェット装置′に示す図である
。同図において、1は陰懐棒(タングステン偉)、2は
挟挿ノズル6を有する外套、4はプラズマガス通路、5
はプラズマジェット、6は直流電源、7は被加工材料で
ある。不活性のアルゴンガスAr kプラズマガスとし
てプラズマガス通路4に流し、直流電@6によ#)電圧
を蛎極棒1と外套2との間に印加してプラズマジェット
5を発生させ、そのプラズマジェットにより被加工材料
7會加工する。
。同図において、1は陰懐棒(タングステン偉)、2は
挟挿ノズル6を有する外套、4はプラズマガス通路、5
はプラズマジェット、6は直流電源、7は被加工材料で
ある。不活性のアルゴンガスAr kプラズマガスとし
てプラズマガス通路4に流し、直流電@6によ#)電圧
を蛎極棒1と外套2との間に印加してプラズマジェット
5を発生させ、そのプラズマジェットにより被加工材料
7會加工する。
しかし、従来の7゛ラズマジエツト装置、特に挟挿ノズ
ル3の径が0.31111以下で、プラズマジェット1
!流l、が数A以下のマイクロプラズマジェット装置に
めっては、プラズマジェットの状態が不安定になり易く
、不良品ができて初め−(プラズマジェットの加工能力
の低下を知ることが多く、41前にプラズマジェットの
加工能力の低下を確認することができないという欠点が
めった。
ル3の径が0.31111以下で、プラズマジェット1
!流l、が数A以下のマイクロプラズマジェット装置に
めっては、プラズマジェットの状態が不安定になり易く
、不良品ができて初め−(プラズマジェットの加工能力
の低下を知ることが多く、41前にプラズマジェットの
加工能力の低下を確認することができないという欠点が
めった。
本発明は以上の問題点全解決するために、トーチの陰極
棒とそれケ囲む外套との間にプラズマジェット全発生せ
しめ、該プラズマジェットにより被加工材料全加工する
プラズマジェット装置において、上記被加工材料の位置
に導電性検出板8間股して、上lIi′:!鴎撓棒と導
電性検出板間の電圧或は陰極棒と導電性検出板間を通流
する゛電流を検出することによりプラズマジェットの状
態全確認すること1F−%徴とするプラズマジェット装
置?提供するものである) 〔作 用〕 本発明は上記のような構成になっているので、プラズマ
ジェットの状態からプラズマジェットの加工能力の低下
ケ確認することができ、不良品の発生全事前に防止する
ことができる。
棒とそれケ囲む外套との間にプラズマジェット全発生せ
しめ、該プラズマジェットにより被加工材料全加工する
プラズマジェット装置において、上記被加工材料の位置
に導電性検出板8間股して、上lIi′:!鴎撓棒と導
電性検出板間の電圧或は陰極棒と導電性検出板間を通流
する゛電流を検出することによりプラズマジェットの状
態全確認すること1F−%徴とするプラズマジェット装
置?提供するものである) 〔作 用〕 本発明は上記のような構成になっているので、プラズマ
ジェットの状態からプラズマジェットの加工能力の低下
ケ確認することができ、不良品の発生全事前に防止する
ことができる。
第1図及び第2図をゴ杢発明の一実施例を説明するため
の図でおる。第1図において、8は導電性検出板、9は
電流検出器、10はフィルタ回路、11は増幅回路、1
2は比較回路、13は設定(ロ)路、14はA/D変換
回路である。オフ図に示すようにして被加工材料7に加
工を施しているプラズマジェット装置において、プラズ
マジェットの状態を確認する必要が生じた場合には、被
加工材料7t−除去すると共に、被加工材料7のあつ′
fc位置に導電性検出板8を配設して、第1図に示すよ
うな回路とする。すると、直流電源6→プラズマジエツ
ト5→導電性検出板8→′#L@検出器9→直流電源6
の径路で検出電流Iが流れる。挟挿ノズル6と導電性検
出板8間の距離Hと検出電流工との関係は第2図に示す
ようになる。その検出電流I’にフィルタ回路10、増
幅回路11を介して比較回路12で予め設定回路16で
設定されている設定値と比較する。七の比較値が成る値
葡越えた時に比較回路12#′i領号’kA/D変換回
路14に送出し、A/D変換回路は出力信号S’lk送
出して、警報?発するか、費累(ガス圧ツバ流菫、アー
ク電流)を司変し、プラズマジェット5を適正な状態に
制御するか、或はプラズマジェット5の発生?停止する
かする。このようにして、プラズマジェットの加工能力
の低下?確認することにより不良品の発生全防止するこ
とができる。
の図でおる。第1図において、8は導電性検出板、9は
電流検出器、10はフィルタ回路、11は増幅回路、1
2は比較回路、13は設定(ロ)路、14はA/D変換
回路である。オフ図に示すようにして被加工材料7に加
工を施しているプラズマジェット装置において、プラズ
マジェットの状態を確認する必要が生じた場合には、被
加工材料7t−除去すると共に、被加工材料7のあつ′
fc位置に導電性検出板8を配設して、第1図に示すよ
うな回路とする。すると、直流電源6→プラズマジエツ
ト5→導電性検出板8→′#L@検出器9→直流電源6
の径路で検出電流Iが流れる。挟挿ノズル6と導電性検
出板8間の距離Hと検出電流工との関係は第2図に示す
ようになる。その検出電流I’にフィルタ回路10、増
幅回路11を介して比較回路12で予め設定回路16で
設定されている設定値と比較する。七の比較値が成る値
葡越えた時に比較回路12#′i領号’kA/D変換回
路14に送出し、A/D変換回路は出力信号S’lk送
出して、警報?発するか、費累(ガス圧ツバ流菫、アー
ク電流)を司変し、プラズマジェット5を適正な状態に
制御するか、或はプラズマジェット5の発生?停止する
かする。このようにして、プラズマジェットの加工能力
の低下?確認することにより不良品の発生全防止するこ
とができる。
第6図は不発すjの他の一実施例を説明する九めの図で
ある。この実施例は外套2と導電性検出板8間の電圧?
f−検出することによりプラズマジェットの加工能力の
低下荀確認するものである。その他は第1図の実施例で
説明したのとほぼ同様であり、同様の効果が得られる。
ある。この実施例は外套2と導電性検出板8間の電圧?
f−検出することによりプラズマジェットの加工能力の
低下荀確認するものである。その他は第1図の実施例で
説明したのとほぼ同様であり、同様の効果が得られる。
第4図は本発明の他の一実施例を説明するための図であ
る。この実施例は第1図の回路において、@流電源15
會電流検出器9に直列接続したものであり、第1図の実
施例と#1ぼ同様の効果が得られる。尚、第6図の実施
例のように外套2と導電性検出板8間の′電圧を検出し
てもよい。
る。この実施例は第1図の回路において、@流電源15
會電流検出器9に直列接続したものであり、第1図の実
施例と#1ぼ同様の効果が得られる。尚、第6図の実施
例のように外套2と導電性検出板8間の′電圧を検出し
てもよい。
第5図は本発明の他の一夾施例′lir:説明する九め
の図である。この実施例は第1図の回路において、′に
光検出器9會外套2と導電性検出板8間に接続したもの
であシ、第1図の実施例とほぼ同様の効果が得られる。
の図である。この実施例は第1図の回路において、′に
光検出器9會外套2と導電性検出板8間に接続したもの
であシ、第1図の実施例とほぼ同様の効果が得られる。
尚、第6図の実施例のように外套2と導電性検出板8間
の電圧を検出してもよい。
の電圧を検出してもよい。
第6図は不発明の他の一実施例ケ説明するための図であ
る。この実施例は第5図の回路におい工、@m電源15
會電流検出器9に直列接続したものであシ、第1図の実
施例とはぼ同様の効果が得られる。尚、第6図の実施例
のように外套2と導電性検出板8間の電圧全検出しても
よい。 ノ以上
の実施例は被加工材料7が非導電性である場合について
述べたが、被加工材料7が導電性である場合には、被加
工材料7が電流検出板8を兼ねることができる。この場
合にはプラズマジェットの状態勿常時確認することがで
きる。
る。この実施例は第5図の回路におい工、@m電源15
會電流検出器9に直列接続したものであシ、第1図の実
施例とはぼ同様の効果が得られる。尚、第6図の実施例
のように外套2と導電性検出板8間の電圧全検出しても
よい。 ノ以上
の実施例は被加工材料7が非導電性である場合について
述べたが、被加工材料7が導電性である場合には、被加
工材料7が電流検出板8を兼ねることができる。この場
合にはプラズマジェットの状態勿常時確認することがで
きる。
以上述べたように本発明は、トーチの陰極棒とそれ?囲
む外套との間にプラズマ91214発生せしめ、該プラ
ズマジェットニより被加工材料全加工するプラズマジェ
ット装置において、上記被加工材料のts’L置に導電
性検出板を配設して、上記隙他柿と導電性検出板間の電
圧或は陽極棒と導電性検出板間を通流する電流を検出す
ることによりプラズマジェットの状態全確認すること全
特徴と1−るプラズマジェット装置である。本発明はこ
のような特徴を有するので、事前にプラズマジェットの
加工能力の低下全確認することにより不良品の発生音防
止することができ、能率的であると共に、経済的である
。特にプラズマジェットの状態が不安定になり易い挟挿
ノズルの径が0.3a以下でプラズマジェット電流が数
A以下のマイクロプラズマジェット装置に適用して有用
でおる。
む外套との間にプラズマ91214発生せしめ、該プラ
ズマジェットニより被加工材料全加工するプラズマジェ
ット装置において、上記被加工材料のts’L置に導電
性検出板を配設して、上記隙他柿と導電性検出板間の電
圧或は陽極棒と導電性検出板間を通流する電流を検出す
ることによりプラズマジェットの状態全確認すること全
特徴と1−るプラズマジェット装置である。本発明はこ
のような特徴を有するので、事前にプラズマジェットの
加工能力の低下全確認することにより不良品の発生音防
止することができ、能率的であると共に、経済的である
。特にプラズマジェットの状態が不安定になり易い挟挿
ノズルの径が0.3a以下でプラズマジェット電流が数
A以下のマイクロプラズマジェット装置に適用して有用
でおる。
第1図及び第2図を1本発明の一実施例を説明する丸め
の図、16図乃至16図は夫々本発明の仙の一夾hil
i?llt睨明するための図、オフ図は従来のプラズマ
ジェット装置全説明するための図である。 1・・・陽極棒 2・・・外套6・・・挟
挿ノズル 4・・・グ2ズマガス通路5・・
・プラズマジェット 6.15・・・直流電源7・・
・被加工材料 8・・・導電性検出板9・・・
′電流検出器 10・・・フィルタ回路11・・
・増mh路 12・・・比較回路16・・・設定
回路 14・・・A/D変換l1g1路特許出願
人 オリジン電気株式会社 H□ 52 図 ¥ 3 図 つ午図
の図、16図乃至16図は夫々本発明の仙の一夾hil
i?llt睨明するための図、オフ図は従来のプラズマ
ジェット装置全説明するための図である。 1・・・陽極棒 2・・・外套6・・・挟
挿ノズル 4・・・グ2ズマガス通路5・・
・プラズマジェット 6.15・・・直流電源7・・
・被加工材料 8・・・導電性検出板9・・・
′電流検出器 10・・・フィルタ回路11・・
・増mh路 12・・・比較回路16・・・設定
回路 14・・・A/D変換l1g1路特許出願
人 オリジン電気株式会社 H□ 52 図 ¥ 3 図 つ午図
Claims (2)
- (1)トーチの陰極棒とそれを囲む外套との間にプラズ
マジェットを発生せしめ、該プラズマジェットにより被
加工材料を加工するプラズマジェット装置において、上
記被加工材料の位置に導電性検出板を配設して、上記陰
極棒と導電性検出板間の電圧或は陰極棒と導電性検出板
間を通流する電流に検出することにより、プラズマジェ
ットの状態を確認することを特徴とするプラズマジェッ
ト装置。 - (2)上記被加工材料と導電性検出板とが同一のもので
あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のプラ
ズマジェット装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15542986A JPS6313667A (ja) | 1986-07-02 | 1986-07-02 | プラズマジエツト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15542986A JPS6313667A (ja) | 1986-07-02 | 1986-07-02 | プラズマジエツト装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6313667A true JPS6313667A (ja) | 1988-01-20 |
Family
ID=15605819
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15542986A Pending JPS6313667A (ja) | 1986-07-02 | 1986-07-02 | プラズマジエツト装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6313667A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5148137A (en) * | 1974-10-24 | 1976-04-24 | Fuji Electric Co Ltd | Tasosenrono genryusochi |
-
1986
- 1986-07-02 JP JP15542986A patent/JPS6313667A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5148137A (en) * | 1974-10-24 | 1976-04-24 | Fuji Electric Co Ltd | Tasosenrono genryusochi |
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