JPS6313397A - Thick film circuit board with built-in capacitor - Google Patents

Thick film circuit board with built-in capacitor

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JPS6313397A
JPS6313397A JP61156997A JP15699786A JPS6313397A JP S6313397 A JPS6313397 A JP S6313397A JP 61156997 A JP61156997 A JP 61156997A JP 15699786 A JP15699786 A JP 15699786A JP S6313397 A JPS6313397 A JP S6313397A
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JP
Japan
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glass layer
layer
capacitor
thick film
built
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JP61156997A
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Japanese (ja)
Inventor
一夫 大石
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、絶縁基板上に形成した導体層上に誘電体ガラ
ス層を形成し、さらにこの誘電体ガラス層上に上部導体
層を形成してなるコンデンサ内蔵厚膜回路基板に関する
ものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention comprises forming a dielectric glass layer on a conductor layer formed on an insulating substrate, and further forming an upper conductor layer on the dielectric glass layer. This invention relates to a thick film circuit board with a built-in capacitor.

従来の技術 近年、電子機器の小型化の有効な手段として。Conventional technology In recent years, it has become an effective means of downsizing electronic devices.

゛各種電子回路のハイブリッドIC化が非常に活溌化し
ており、厚膜技術を応用した受動部品(抵抗、コンデン
サ、コイルなど)を内蔵するための研究開発が盛んであ
る。その中でコンデンサ内蔵厚膜回路基板については、
今後一層の進展と応用が期待される。
``Hybrid ICs for various electronic circuits are becoming very active, and research and development into incorporating passive components (resistors, capacitors, coils, etc.) using thick film technology is active. Among them, regarding thick film circuit boards with built-in capacitors,
Further progress and applications are expected in the future.

以下上述したような従来のコンデンサ内蔵厚膜回路基板
について説明する。第5図は従来のコンデンサ内蔵厚膜
回路基板の一例を示す。第5図において、1は絶縁基板
、2は絶縁基板上に形成された下部導体層である。3は
絶縁ガラス層で、誘電率8〜12程度の結晶化ガラスを
使用したものが一般的である。4は誘電体ガラス層で、
必要とする容量値範囲により誘電率8〜1000程度の
種々の結晶質を添加させた結晶化ガラスが使用されてい
る。5は絶縁ガラス層3および誘電体ガラス層4上に形
成された上部導体層で、絶縁ガラス層3部′においては
クロスオーバー構造を形成し、誘電体ガラス層4部にお
いては、下部導体層2、誘電体ガラス層4、上部導体層
5のサンドイッチ構造によりコンデンサを形成している
。6は下部導体層5と上部導体層2を電気的に接続する
コンタクト部である。第6図は第5図の断面を示したも
のである。第3図において、7は耐湿性向上のためのオ
ーバーコートガラス層であり、軟化点450〜550℃
程度の低融点ガラスを使用することが一般的である。ま
た第5図および第6図において、クロスオーバー構造を
含んだコンデンサ内蔵厚膜回路基板を示したが、絶縁ガ
ラス層3、すなわちクロスオーバー構造を含まないコン
デンサ内蔵厚膜回路基板の場合もある。
The conventional thick film circuit board with a built-in capacitor as described above will be explained below. FIG. 5 shows an example of a conventional thick film circuit board with a built-in capacitor. In FIG. 5, 1 is an insulating substrate, and 2 is a lower conductor layer formed on the insulating substrate. 3 is an insulating glass layer, which is generally made of crystallized glass having a dielectric constant of about 8 to 12. 4 is a dielectric glass layer;
Crystallized glass doped with various crystalline materials having a dielectric constant of about 8 to 1000 is used depending on the required capacitance value range. Reference numeral 5 denotes an upper conductor layer formed on the insulating glass layer 3 and the dielectric glass layer 4, forming a cross-over structure in the insulating glass layer 3', and forming a cross-over structure on the dielectric glass layer 4, the lower conductor layer 2 , a dielectric glass layer 4, and an upper conductor layer 5 forming a sandwich structure to form a capacitor. Reference numeral 6 denotes a contact portion that electrically connects the lower conductor layer 5 and the upper conductor layer 2. FIG. 6 shows a cross section of FIG. 5. In Fig. 3, 7 is an overcoat glass layer for improving moisture resistance, and has a softening point of 450 to 550°C.
It is common to use glass with a low melting point. Although FIGS. 5 and 6 show a thick film circuit board with a built-in capacitor that includes a crossover structure, there is also a case where the thick film circuit board with a built-in capacitor does not include the insulating glass layer 3, that is, a crossover structure.

以上のように構成されたコンデンサ内蔵厚膜回路基板は
、一般的に次のごとき順序により形成される。すなわち
第1に絶縁基板1上に下部導体層2を印刷、焼成し、第
2に絶縁ガラス層3を印刷、焼成する。第3に誘電体ガ
ラスM4を印刷、焼成する。第4に前記絶縁ガラスM3
および誘電体ガラス層4上に上部導体層5を印刷、焼成
して、コンデンサおよびクロスオーバー構造を形成する
The thick film circuit board with a built-in capacitor constructed as described above is generally formed in the following order. That is, firstly, the lower conductor layer 2 is printed and fired on the insulating substrate 1, and secondly, the insulating glass layer 3 is printed and fired. Third, dielectric glass M4 is printed and fired. Fourthly, the insulating glass M3
Then, an upper conductor layer 5 is printed and fired on the dielectric glass layer 4 to form a capacitor and a crossover structure.

また抵抗素子を内蔵する回路においては、第5として抵
抗体層を印刷、焼成して、最後にオーバーコートガラス
層7を印刷、焼成する。
Further, in a circuit incorporating a resistor element, a resistor layer is printed and fired as a fifth step, and finally an overcoat glass layer 7 is printed and fired.

発明が解決しようとする問題点 上記のように構成されたコンデンサ内蔵厚膜回路基板は
、第6図に示したような誘電体ガラス層4の膜厚が40
〜50μm程度で設計されることが一般的である。上記
膜厚はコンデンサの初期絶縁特性、耐圧などを確保する
ために必要な膜厚であり、コンデンサの性能を決定する
重要な要因である。
Problems to be Solved by the Invention In the thick film circuit board with a built-in capacitor constructed as described above, the thickness of the dielectric glass layer 4 is 40 mm as shown in FIG.
It is generally designed to have a thickness of about 50 μm. The above-mentioned film thickness is the film thickness necessary to ensure the initial insulation characteristics, withstand voltage, etc. of the capacitor, and is an important factor determining the performance of the capacitor.

しかしながら、前記誘電体ガラス層4の膜厚差により、
オーバーコートガラス層7の印刷時に均一な膜厚が得ら
れず、特に誘電体ガラス層4のパターンエツジ部の垂直
に切り立った部分では、ピンホール、印刷かすれなどの
欠陥が生じやすく、オーバーコートガラス層7の耐湿効
果が充分に得られていない。
However, due to the difference in film thickness of the dielectric glass layer 4,
When printing the overcoat glass layer 7, a uniform film thickness cannot be obtained, and defects such as pinholes and print blurring are likely to occur, especially in the vertically steep portions of the pattern edges of the dielectric glass layer 4. The moisture resistance effect of layer 7 is not sufficiently obtained.

一般的に、クロスオーバーなどに使用する誘電率8〜1
2程度の絶縁用結晶質ガラス材料は膜断面が非常に緻密
で、オーバーコートガラスを施さなくても耐湿性能が優
れているため、上部導体層と下部導体層間でのマイグレ
ーションによる絶縁劣化、短絡不良はほとんど発生しな
い、それに対し、誘電体ガラスの中でも、特に高誘電率
系のチタン酸バリウムなどを結晶質成分とする誘電体ガ
ラス材料は膜断面が非常にポーラスで、ボイド、ピンホ
ールなどが多く発生するため、吸湿により容易に上下導
体層間でのマイグレーションが進行し、絶縁劣化、短絡
不良を発生する。
Generally, dielectric constant 8 to 1 used for crossover etc.
Insulating crystalline glass materials with grade 2 have a very dense film cross section and have excellent moisture resistance even without overcoat glass, so they are susceptible to insulation deterioration and short circuits due to migration between the upper and lower conductor layers. On the other hand, among dielectric glasses, dielectric glass materials that have a crystalline component such as barium titanate, which has a high dielectric constant, have a very porous film cross section and many voids and pinholes. As a result, migration easily progresses between the upper and lower conductor layers due to moisture absorption, resulting in insulation deterioration and short circuit failure.

このように厚膜回路基板中の内蔵コンデンサの信頼性を
確保するためには、オーバーコートガラスによる。均一
で欠陥のないコーテイング膜を形成することが重要であ
る。
In order to ensure the reliability of the built-in capacitors in thick film circuit boards, overcoat glass is used. It is important to form a coating that is uniform and free of defects.

しかしながら、第6図に示した断面構造では、前述した
ように誘電体ガラス層の膜厚差のために、均一で欠陥の
ないオーバーコートガラス層を形成することは非常に困
難である。
However, in the cross-sectional structure shown in FIG. 6, it is very difficult to form a uniform and defect-free overcoat glass layer due to the difference in the thickness of the dielectric glass layer as described above.

以上のような理由により、従来のコンデンサ内蔵厚膜回
路基板は、コンデンサの信頼性、特に耐湿負荷特性が不
充分であるため、その有用性にもかかわらず、応用範囲
は一部の電子機器に限定されていた。
For the above reasons, conventional thick film circuit boards with built-in capacitors have insufficient capacitor reliability, especially moisture load resistance, so despite their usefulness, their application range is limited to some electronic devices. It was limited.

本発明はかかる問題点を解決するもので、耐湿負荷特性
を大幅に向上させたコンデンサ内蔵厚膜回路基板を提供
することを目的としている。
The present invention is intended to solve these problems, and aims to provide a thick film circuit board with a built-in capacitor that has significantly improved moisture resistance and load characteristics.

問題点を解決するための手段 本発明は上記問題点を解決するために、絶縁基板上に形
成された下部導体層と、前記絶縁基板および下部導体層
を覆い、かつ前記下部導体層上の一部に開口部が設けら
れた絶縁ガラス層と、前記絶縁ガラス層中の開口部に充
填された誘電体ガラス層と、前記絶縁ガラス層および誘
電体ガラス層上に形成された上部導体層と、全体を覆う
オーバーコートガラス層とを備えた構成にしたものであ
る。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention includes a lower conductor layer formed on an insulating substrate, a layer covering the insulating substrate and the lower conductor layer, and a layer on the lower conductor layer. an insulating glass layer provided with an opening in the insulating glass layer, a dielectric glass layer filled in the opening in the insulating glass layer, and an upper conductor layer formed on the insulating glass layer and the dielectric glass layer; The structure includes an overcoat glass layer that covers the entire surface.

作用 上記構成により、誘電体ガラス層のパターンエツジ部が
、緻密で耐湿性に優れた絶縁ガラス層と密着した形態と
なり、コンデンサ断面に対して横方向からの吸湿が無く
なる。さらに誘電体ガラス層は絶縁ガラス層中の開口部
に充填される形で印刷が行わ九るため、誘電体ガラス層
膜厚と絶縁ガラス層膜厚をほぼ等しい膜厚に制御するこ
とができ、したがってコンデンサ形成部周辺での基板表
面の平滑性が得られるために、オーバーコートガラス層
は均一で欠陥の少ない機能で膜形成が行われることとな
り、コンデンサ断面に対して垂直方向からの吸湿につい
ても大幅に改善されることになる。
Effect: With the above structure, the pattern edge portion of the dielectric glass layer is in close contact with the dense and moisture-resistant insulating glass layer, and moisture absorption from the lateral direction with respect to the cross section of the capacitor is eliminated. Furthermore, since the dielectric glass layer is printed so as to fill the openings in the insulating glass layer, the thickness of the dielectric glass layer and the insulating glass layer can be controlled to be approximately equal. Therefore, since the surface of the substrate around the capacitor formation area is smooth, the overcoat glass layer is formed with a uniform function with few defects, and moisture absorption from the direction perpendicular to the capacitor cross section is prevented. It will be significantly improved.

実施例 以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。第1
図は本発明の一実施例のコンデンサ内蔵厚膜回路基板の
断面を示したものである。第1図において、8は絶縁基
板、9はこの絶縁基板8上に形成された下部導体層、1
0は前記絶縁基板8および下部導体層9を覆い、かつ下
部導体層9上の一部に開口部を設けた絶縁ガラス層であ
る。11は絶縁ガラス層10中の開口部に印刷によって
充填された誘電体ガラス層、12は絶縁ガラス層10お
よび誘電体ガラスJ’1511上に形成された上部導体
層、13は下部導体層9と上部導体層12を電気的に接
続するコンタクト部、14はこれら全体を覆うオーバー
コートガラス層である。
EXAMPLE An example of the present invention will be described below based on the drawings. 1st
The figure shows a cross section of a thick film circuit board with a built-in capacitor according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, 8 is an insulating substrate, 9 is a lower conductor layer formed on this insulating substrate 8, and 1
0 is an insulating glass layer that covers the insulating substrate 8 and the lower conductor layer 9 and has an opening in a part of the lower conductor layer 9. 11 is a dielectric glass layer filled in the opening in the insulating glass layer 10 by printing, 12 is an upper conductor layer formed on the insulating glass layer 10 and dielectric glass J'1511, and 13 is a lower conductor layer 9. The contact portion 14 that electrically connects the upper conductor layer 12 is an overcoat glass layer that covers the entire contact portion.

本実施例のコンデンサ内蔵厚膜回路基板は、誘電体ガラ
スff1lのパターンエツジ部が絶縁ガラス[12で防
御される形態となり、さらに誘電体ガラス層11と絶縁
ガラス層10の膜厚がほぼ等しくなるために、これらの
上部のオーバーコートガラス層14が均一かつ欠陥の少
ない状態で膜形成されることになり、耐湿性が大幅に向
上されている。
In the thick film circuit board with a built-in capacitor of this embodiment, the pattern edge portion of the dielectric glass ff1l is protected by the insulating glass [12], and the film thicknesses of the dielectric glass layer 11 and the insulating glass layer 10 are approximately equal. Therefore, the upper overcoat glass layer 14 is formed uniformly and with few defects, and the moisture resistance is greatly improved.

第2@は1本発明において絶縁ガラス層10をコンデン
サ形成部の周囲のみに限定した実施例を示。
The second @ shows an embodiment in which the insulating glass layer 10 is limited only to the periphery of the capacitor forming part in the first invention.

し、第1図の実施例と同様の効果を持つものである。第
3図は第2図の断面を示す。
However, it has the same effect as the embodiment shown in FIG. FIG. 3 shows a cross section of FIG.

第4図は厚膜多層回路基板における本発明の他の実施例
の断面図である。第4図において、15は絶縁基板、1
6は第1導体層、17は第1導体層16上の一部に開口
部を設けた第1絶縁ガラス層、18は前記開口部に充填
された誘電体ガラス層、19は第2導体層であり、ここ
までは第1図の実施例と同様な構成である。本実施例で
は、第2導体層19上に第2絶縁ガラス層20を形成し
、この第2絶縁ガラス層20上に第3導体層21を設け
、さらに、第3導体層21間に抵抗体層23を設け、こ
れら全面を覆うオーバーコートガラス層24を形成して
いる。なお、22aと22bは第2導体層と第3導体層
21の間のコンタクト部である。
FIG. 4 is a sectional view of another embodiment of the present invention in a thick film multilayer circuit board. In FIG. 4, 15 is an insulating substrate;
6 is a first conductor layer, 17 is a first insulating glass layer with an opening formed in a part of the first conductor layer 16, 18 is a dielectric glass layer filled in the opening, and 19 is a second conductor layer. Up to this point, the configuration is similar to that of the embodiment shown in FIG. In this embodiment, a second insulating glass layer 20 is formed on the second conductor layer 19, a third conductor layer 21 is provided on the second insulating glass layer 20, and a resistor is provided between the third conductor layers 21. A layer 23 is provided, and an overcoat glass layer 24 covering the entire surface thereof is formed. Note that 22a and 22b are contact portions between the second conductor layer and the third conductor layer 21.

本実施例は、絶縁ガラス層を2層化することにより、誘
電体ガラス層の上部をオーバーコートガラス層の代わり
に絶縁ガラス層で覆う形態となり、第1図の実施例の効
果と同等、もしくはそれ以上に耐湿性を向上させている
In this embodiment, by forming the insulating glass layer into two layers, the upper part of the dielectric glass layer is covered with an insulating glass layer instead of the overcoat glass layer, and the effect is equivalent to that of the embodiment shown in FIG. It also improves moisture resistance.

発明の効果 以上本発明によれば、絶縁ガラス層中の開口部に誘電体
ガラス層を充填形成することにより、横方向からの湿気
の侵入を防ぐとともに、オーA −コートガラスの均一
な膜形成が容易となり、縦方向からの湿気の侵入をも防
ぐことができる。この効果によって、比較的ポーラスな
誘電体ガラス材料を使用した厚膜コンデンサにおいても
、マイグレーションによる絶縁劣化、短絡不良を防止し
て、耐湿負荷特性の優れたコンデンサ内蔵厚膜回路基板
を得ることができ、その実用的効果は大なるものがある
Effects of the Invention According to the present invention, by filling the openings in the insulating glass layer with a dielectric glass layer, it is possible to prevent moisture from entering from the lateral direction and to form a uniform film of O-A-coated glass. This makes it easier to prevent moisture from entering from the vertical direction. This effect prevents insulation deterioration and short circuit failure due to migration even in thick film capacitors using relatively porous dielectric glass materials, making it possible to obtain a capacitor-embedded thick film circuit board with excellent moisture load resistance. , its practical effects are great.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例のコンデンサ内蔵厚膜回路基
板の断面図、第2図は本発明の他の実施例のコンデンサ
内蔵厚膜回路基板の平面図、第3図は同基板の断面図、
第4図は本発明の厚膜多層基板におけるさらに他の実施
例の断面図、第5図は従来のコンデンサ内蔵厚膜回路基
板の平面図、第6図は同基板の断面図である。 8.15・・・絶縁基板、9・・・下部導体層、10・
・・絶縁ガラス層、11.18・・・誘電体ガラス層、
12・・・上部導体層、 13.22a、 22b−コ
ンタクト部、 14.24−・・オーバーコートガラス
層、16・・・第1導体層、17・・・第1絶縁ガラス
層、19・・・第2導体層、20・・・第2絶縁ガラス
層、21・・・第33体層、23・・・抵抗体層代理人
   森  本  義  弘 第1図 メー梗悸墓級 デー・下部導ヰ漫 /θ−−−す乞へに力“2ス層 11 −一−ψプ1慣宅珠力”う不ノー/2 ++ 1
−即舶砕・“・ /3−−−コングツト部 /4− オーバー)−)77”う入層 @2図 第S図 第4図 is−、、zQ4墓よ 222.2与02.コンダクト套シ 23−抛1 24−X−ノぐ−〕−トカ″ヲi 第5図 第2図
FIG. 1 is a cross-sectional view of a thick film circuit board with a built-in capacitor according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a thick film circuit board with a built-in capacitor according to another embodiment of the present invention, and FIG. cross section,
FIG. 4 is a sectional view of still another embodiment of the thick film multilayer board of the present invention, FIG. 5 is a plan view of a conventional thick film circuit board with a built-in capacitor, and FIG. 6 is a sectional view of the same board. 8.15... Insulating substrate, 9... Lower conductor layer, 10.
...Insulating glass layer, 11.18...Dielectric glass layer,
12... Upper conductor layer, 13.22a, 22b--contact part, 14.24-... Overcoat glass layer, 16... First conductor layer, 17... First insulating glass layer, 19...・Second conductor layer, 20...Second insulating glass layer, 21...33rd body layer, 23...Resistance layer agentヰman / θ - - Power to ask "2nd layer 11 -1 - ψ pu 1 habitual force" Uno / 2 ++ 1
-Immediate ship crushing /3---Congut section/4-over)-) 77" intrusion layer @2 Figure S Figure 4 is-,, zQ4 grave 222.2 and 02. Conductive Mantle 23-Pull 1 24-X-Nogu-〕-Toka''woi Fig. 5 Fig. 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、絶縁基板上に形成された下部導体層と、前記絶縁基
板および下部導体層を覆い、かつ前記下部導体層上の一
部に開口部が設けられた絶縁ガラス層と、前記絶縁ガラ
ス層中の開口部に充填された誘電体ガラス層と、前記絶
縁ガラス層および誘電体ガラス層上に形成された上部導
体層と、全体を覆うオーバーコートガラス層とを備えた
コンデンサ内蔵厚膜回路基板。
1. a lower conductor layer formed on an insulating substrate; an insulating glass layer covering the insulating substrate and the lower conductor layer and having an opening in a part of the lower conductor layer; A thick film circuit board with a built-in capacitor, comprising: a dielectric glass layer filled in an opening of the insulating glass layer, an upper conductor layer formed on the insulating glass layer and the dielectric glass layer, and an overcoat glass layer covering the entirety.
JP61156997A 1986-07-03 1986-07-03 Thick film circuit board with built-in capacitor Pending JPS6313397A (en)

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