JPS63132645A - 被検体の一部分の核磁化分布を測定する装置 - Google Patents

被検体の一部分の核磁化分布を測定する装置

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JPS63132645A
JPS63132645A JP62280330A JP28033087A JPS63132645A JP S63132645 A JPS63132645 A JP S63132645A JP 62280330 A JP62280330 A JP 62280330A JP 28033087 A JP28033087 A JP 28033087A JP S63132645 A JPS63132645 A JP S63132645A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は表面コイルを用いて第１群の共鳴信号を検出し
、かつ、ボディコイルを用いて第２群の共鳴信号を検出
して共鳴信号を発生する被検体の一部分の核磁化分布を
測定する方法に関するものである。
更に、本発明は第１群の共鳴信号を検出する表面コイル
と、少なくともこの第１群の共鳴信号の再構成手段と、
前記第１群の共鳴信号から核磁化分布を決める処理手段
と、第２群の共鳴信号を検出するボディコイルと、前記
第２群の共鳴信号の再構成手段とを具える被検体の一部
分の核磁化分布を測定する装置に関するものである。
例えば、患者のＭＲＩ（磁気共鳴信号像）による磁気共
鳴信号を検出する受信コイルとしては、ボディコイル（
即ち患者の身体全体を囲む受信コイル又は頭全体を囲む
受信コイル）及び表面コイル（即ち身体の所定部分、例
えば眼球、膝、頚部及び背骨の一部分の撮像に用いられ
る局部コイル）が用いられている。
ヨーロッパ特許明細書ＥＰＯ１８７３８９号には、ボデ
ィコイル及び表面コイルの双方によって身体の一部分に
発生した磁気共鳴信号を検出し、この磁気共鳴信号から
の像をその受信器で得るために、ボディコイルの磁気共
鳴信号と表面コイルの磁気共鳴信号とを切換えて身体の
所定部分の局部像及びグローバル像をそれぞれ得るよう
にした配置が記載されている。又、ボディコイル及び表
面コイルのそれぞれに発生した磁気共鳴信号、即ちボデ
ィコイル及び表面コイルの双方に発生した磁気共鳴信号
を選択的に利用し得ることも、受信器を経て行われ、こ
れから更に像を再生する信号の信号対雑音比をも増大す
るようになる。
磁気共鳴信号が表面コイルから発生する場合には磁気共
鳴信号から再構成する像は表面コイル近゛くで励起され
たスピンから例えば発生する像の値と表面コイルから離
れた位置で励起されたスピンから例えば発生する像の値
との強度差が著しくなる欠点がある。その理由は表面コ
イルの感度が測定すべき身体全体に亘り不均一に分布す
るからである。ボディコイルの磁気共鳴信号から再構成
する像はかかる効果を呈さない。その理由はボディコイ
ルは測定すべき身体に対する感度が極めて均一であるか
らである。
本発明の目的は表面コイルの磁気共鳴信号から発生する
像が表面コイルの不均一感度の為もはや殆ど強度差を呈
さないようにした被検体の一部分の核磁化分布を測定す
る方法及び装置を提供せんとするにある。
本発明方法は　表面コイルを用いて第１群の共鳴信号を
検出し、かつ、ボディコイルを用いて第２群の共鳴信号
を検出して共鳴信号を発生する被検体の一部分の核磁化
分布を測定するに当り、前記第１群の共鳴信号から取り
出したデータを前記第２群の共鳴信号から得た情報によ
り補正するようにしたことを特徴とする。
また、本発明は第１群の共鳴信号を検出する表面コイル
と、少なくともこの第１群の共鳴信号の再構成手段と、
前記第１群の共鳴信号から核磁化分布を決める処理手段
と、第２群の共鳴信号を検出するボディコイルと、前記
第２群の共鳴信号の再構成手段とを具える被検体の一部
分の核磁化分布を測定する装置において、前記処理手段
は前記第１群の共鳴信号から取り出したデータを前記第
２群の共鳴信号から得た情報により補正するプログラム
された手段を具えることを特徴とする。
本発明においては、関連する領域全体に亘る不均一感度
の欠点を有する表面コイルがボディコイルに対しては一
般にボディコイルよりも著しく大きな信号対雑音比の利
点を有し、かつ小さな信号対雑音比の欠点を有するボデ
ィコイルが表面コイルに対しては関連する領域全体に亘
りほぼ均一な感度を有すると言う事実を用いる。この場
合の補正には、ボディコイル像及び表面コイル像の双方
からの磁気共鳴信号からの情報を用いることによりボデ
ィコイル及び表面コイルの利点を利用し、この際表面コ
イルは検査すべき患者に対し所定の形状を有すると共に
所定の位置を占める必要はない。この際、患者に対し表
面コイルが所定の形状を有しかつ所定の位置を占める場
合には表面コイルの不均一性は何等問題なく補正するこ
とができる。その理由はこの際の補正コイルの既知の不
均一な形状を利用し、従って感度によって磁気共鳴信号
から得られた値の像の値をこの形状からの関連する値で
除算することにより均一とすることができるからである
。これは特にＳＭＲＭ４　　（１９８５年）第２０６頁
から既知である。しかし、本発明はかかる推定及び融通
性のある位置決めに起因せず又可撓性コイルを用いるこ
とも必要であるが、不均一な補正に対しては既知の技術
を用いない。
本発明方法の一例では、前記補正を夫々前記第１群及び
第２群の共鳴信号から、夫々表面コイル像及びボディコ
イル像の再構成後に行い得るようにする。補正を行う前
には多次元フーリエ変換によってボディコイル及び表面
コイルからの磁気共鳴信号から第１の像を再現すること
ができる。
本発明方法の他の例では表面コイル像のある位置におけ
る検値を第１の位置に依存する補正係数により補正し、
この補正係数は表面コイル像のこの位置の検値及びその
すぐ近くの検値並びにボディコイル像の関連する検値か
ら決め得るようにする。像素子当りボディコイル像の像
素子及び像点に関連する表面コイル像の像素子並びにこ
れら像点のすぐ近くの像点情報を用いる補正係数を決め
る場合及び表面コイル像をこの補正係数によって補正す
る場合には表面コイルの不均一性をボディコイル像の均
一性に一致させることができる。
本発明の他の例では第１の補正係数は加重平均局部表面
コイル像値及び関連する加重平均局部ボディコイル検値
の商から決め得るようにする。実際上ボディコイル像及
び表面コイル像からの加重平均局部検値の商は像素子当
りの不均一変化を双方の像から推定して決める。加重平
均局部検値を選定する場合には例えば算術平均値を選定
する場合よりも一層満足な結果が得られる。この推定に
おいて重み付けを適当に選定することにより局部像点か
ら十分に離間された加重像点に対してよりも関連する局
部素子のすぐ近くの像素子に対して大きな重みを割り当
てるようにする。
本発明方法のさらに他の例では第１の補正係数は加重平
均局部表面コイル像値及び定数の和と関連する加重平均
局部ボディコイル検値及び定数の和との商から決め得る
ようにする。分子及び分母め加重平均局部検値の和に対
して、身体が存在しない像の部分から発生する加重平均
局部検値からの標準偏差の例えば４倍の定数を加える場
合には加重平均局部ボディコイル検値及び加重平均局部
表面コイル像値の双方が上記定数に対して極めて小さく
なる領域では補正係数はほぼ１となることを確かめた。
これがため像の背景は定数を使用する場合を規定する補
正によっては強調されない。
本発明の他の例では補正された検値は補正すべき局部表
面コイル像値及び第１の補正係数の商から決め得るよう
にする。これがため表面コイル像の各検値が補正される
ようになる。この場合かかるイメイジング法に限定され
るものではなく、他の既知の方法を用いることも出来る
。しかし、像の解像度が必ずしも等しくはないが、等価
のパルス列を用いて像を得るのが好適である。
本発明の他の例では補正された像の局部検値は局部表面
コイル像値及び関連する局部ボディコイル検値の組み合
せから形成し得るようにする。これがため、ボディコイ
ルの信号対雑音比が表面コイルの信号対雑音比と同程度
となるように表面コイルの感度が低い像の所定領域では
、両コイルの局部検値の組み合わせを選択することによ
り補正された像のこれら領域の信号対雑音比に従って各
検値を強調することができる。ボディコイルの信号対雑
音比が表面コイルの信号対雑音比よりも著しく大きな極
端な場合には表面コイル像の補正された検値がボディコ
イルの局部検値に等しくなる。
本発明の他の例では補正された像の局部検値は第１の補
正係数及び局部表面コイル検値の積と第２の補正係数の
二乗値及び関連する局部ボディコイル検値の積との和を
第２の補正係数の二乗値及び第１の補正係数の二乗値の
和で除算することにより形成し得るようにする。これが
ためかかる組み合わせは直線性組み合わせとなり、その
結果各信号対雑音比に依存し、ボディコイル像からの関
連する像素子に等しい補正された像素子に対する第１補
正係数のみを有する方法に従って補正された像素子から
平滑な変位を得ることができる。
本発明の他の例では第２の補正係数は表面コイル像の雑
音レベルとボディコイル像の雑音レベルとの商から形成
し得るようにする。第２補正係数をかように選択するこ
とにより、補正された像の最小の雑音の観点から最適と
なる直線性の組み合わせを得ることができる。
本発明のさらに他の例ではボディコイル像を表面コイル
像よりも著しく低い解像度で感知し得るようにする。こ
れがため全体の測定及び処理時間を短縮することができ
る。
本発明のさらに他の例では第１の補正係数は低い解像度
で測定されたボディコイル像の局部検値と補正された表
面コイル像よりも著しく低い解像度で感知された追加の
表面タイル像の局部検値とから決め得るようにする。こ
れがため全体の測定及び処理時間をさらに短縮すること
ができる。この場合には例えば比較的低い解像度で感知
された像に対しては例えばＦＦＥ　（高速フィールドエ
コー）法を用いるのが有利である。このＦＦＥ法とはパ
ルス角の小さなスピンワープ法である。
本発明のさらに他の例ではあらかじめ既知の形状の表面
コイルを用いて表面コイル像及びボディコイル像を用い
るパターン認識による所定値から決まる第３の補正係数
によって表面タイル像の種々の位置における検値を補正
することにより前記補正を行い得るようにする。これが
ため表面コイルの形状が既知でありかつコイルの方位が
未知である場合でもコイルの既知の特性をできるだけ用
いることができる。
本装置のさらに他の例では第１群の共鳴信号から得た表
面コイル像を記憶する記憶手段と、第２群の共鳴信号か
ら得たボディコイル像を記憶する記憶手段とを具え、更
に前記表面コイル像から関連する加重平均局部検値及び
前記ボディコイル像からの関連する加重平均局部検値の
商から形成された第１の補正係数を決めると共にこの既
知の第１の補正係数によって前記表面コイル像を補正す
るようにしたプログラムされた手段を設は得るようにす
る。
本装置のさらに他の例では第１群の共鳴信号から得た表
面コイル像を記憶する記憶手段と、第２′群の共鳴信号
から得たボディコイル像を記憶する記憶手段とを具え、
更に前記表面コイル像からの加重平均局部検値及び定数
の和と前記ボディコイル像からの関連する加重平均局部
検値及び定数の和との商から得た他の第１群の補正係数
を決めるようにしたプログラムされた手段を設は得るよ
うにする。
本装置のさらに他の例では第１群の共鳴信号から得た表
面コイル像を記憶する記憶手段き、第２群の共鳴信号か
ら得たボディコイルを記憶する記憶手段とを具え、更に
前記表面コイル検値及び関連するボディコイル検値の組
み合せから第１の補正係数を計算するプログラムされた
手段を設は得るようにする。
本装置のさらに他の例では更に表面コイル像及びボディ
コイル像からの関連する加重平均局部検値から得た第１
の補正係数を決め、被検体が存在しない領域から決めた
前記表面コイル像及びボディコイル像からの核雑音レベ
ルの商から形成した第２の補正係数を決め、かつ加重係
数としての第１及び第２の補正係数により表面コイル検
値及びボディコイル検値の加重和から補正された像を計
算するプログラムされた手段を設は得るようにする。
また、ボディコイル像を用いることによる表面コイル像
の補正は不均一補正に限定する必要はない。例えば、表
面コイルによって生じる位相誤差も補正することができ
る。
図面につき本発明を説明する。
第１ａ図に線図的に示す本発明配置は直流電圧供給源４
により給電され均一静磁界Ｂ。を発生する磁気コイル２
と、傾斜コイル６と、核磁気共鳴信号を励起する送信器
コイル８と、ＭＲ倍信号測定するボディコイル１０と、
ＭＲ倍信号測定する表面コイル１２とを具える。これら
コイルは遮蔽部材１４内に配置する。傾斜コイル制御装
置１６により駆動される傾斜コイル６によって傾斜磁界
を発生させるようにする。更に、本発明配置は基準信号
発生器２０により駆動される高周波発生器１８を具える
。この高周波発生器１８によって発生ずる信号１９を高
周波出力増幅器２２により増幅する。送信器コイル８を
高周波出力増幅器２２の出力信号２３により附勢する。
検査すべき患者゛が装置内に存在し特に送信器コイル８
を附勢する場合には患者内にＭＲ倍信号発生する。ボデ
ィコイル１０及び表面コイル１２により受信したＭＲ信
号２５を受信器２４で検出する。データ捕捉兼処理装置
３０　（アナログ及びディジタルインターフェースｌｉ
ｔを具えるコンピュータシステム）によりデータ捕捉処
理を行う。このデータ捕捉は装置３０内で検出された信
号２９の信号サンプリング後に行う。この装置３０はＭ
Ｒ像を得るために更にデータ処理をも行うと共に像に対
し再構成されたＭＲ信号２５及び２７を記憶する記憶装
置３２を具える。特に表示装置３４によって得られた像
を表示する。データ捕捉処理装置３０に双方向接続され
た制御兼タイミング装置３６によって所定プログラムに
従って傾斜コイル制御装置１６及び高周波発生器１８の
切換えを行う。
第１ｂ図には磁気コイル及びボディコイル１０を断面で
示すと共に表面コイル１２をも示す。本例では表面コイ
ル１２を円形表面コイルとして示すがその形状は任意と
することができる。例えば表面コイルの形状は適宜選定
してＭＲ像を発生するボディの一部分にこのコイルを出
来るだけ一致させるようにすることができる。ボディコ
イル１０及び表面コイル１２は双方ともＭＲ像の受信を
行う。
更に、第２〜３図につき説明を行う前に、受信コイルの
２つの重要なパラメータであるＱ及びフィリング係数に
ついて説明する。コンデンサと直列共鳴をなすコイルの
Ｑはω。Ｌ／Ｒとして規定され、ここにω。は共鳴回路
の共鳴角周波数、Ｌはコイルの自己誘導係数、Ｒはコイ
ルのオーム抵抗損である。また、フィリング係数は信号
を受信する量とコイルに結合された量の部分との商であ
る。コイルが小さければ小さい程フィリング係数は大き
くなる。表面コイルはそのフィリング係数が大きく、従
って励起されたスピンの所定ｌから発生する共鳴信号は
ボディコイルが受けた励起されたスピンの同一量よりも
太き（なる。これがため表面コイルの信号対雑音比は一
層満足するようになる。患者がコイル内又はその近くに
いる場合にはコイルのＱは著しく減少する。殆どの場合
、表面コイルによって共鳴信号を測定し、これら共鳴信
号から像を再構成するのが有利である。
第２ａ図は検査すべき患者に対して用いる円形表面コイ
ル４０を示し、軸線Ｉ−Ｉは断面で示されるコイル４０
の導体４２及び４４を通る軸を示し、軸線ｙはコイル４
０が位置する面に対し直角をなす軸を示す。患者はｘ−
ｙ−ｚ直交座標系に対し線図的に示す。
第２ｂ図はコイルの面に直交する断面Ｉ−Ｉにおけるコ
イルの感度曲線５０を示す。コイル断面Ｉ−Ｉに沿う単
位は距離を示し、この断面におけるコイルの感度は距離
に対し軸線ｙに沿ってプロットする。従って第２ｂ図か
ら明らかなようにこの感度は距離に対し不均一に変化す
る。表面コイル１２の不均一感度は表面コイル１２によ
って感知された共鳴信号２５から再構成された像におい
て現れ、この再構成は装置３０に設けられた再構成装置
によって行う。例えばサンプリングされた共鳴信号の多
次元フーリエ変換による再構成は再構成装置３０にも配
置されたプログラムされた手段によって行う。この像は
ＭＲ倍信号発生するボディの一部分の核磁化分布を灰色
値で示す。患者が存在する場合には比較的低い感度の区
域で比較的小さな信号を受ける。感度曲線５０のダイナ
ミック範囲では比較的低い感度でしかも比較的多数の励
起されたスピンを有する区域から発生する信号は比較的
少数の励起されたスピンが存在する像において例えば暗
領域として現れるようになる。
データ捕捉兼処理装置３０のプログラムされた手段によ
って、ボディコイル１０により感知された共鳴信号から
再構成された像を用いて表面コイル１２により感知され
た共鳴信号から再構成された像を補正して実際上表面コ
イル１２の不均一性をボディコイルＩＯの均一性にし得
るようにする。
この目的のため、表面コイル像の不均一パターンをボデ
ィコイル像及び表面コイル像から推定する。
不均一性パターンを有する表面コイル像を補正すること
によりボディコイルの均−性及び表面コイルの信号対雑
音比を有する補正された像を得ることができる。任意の
型及び寸法の表面コイルにより感知された像の不均一パ
ターンにおいて及び検査すべき患者に対する任意の位置
においては第１の補正係数Ｆが各局部像素子に関連する
。補正された像は次式に示すように表面コイル像の各像
素子を不均一パターンからの関連する補正係数Ｆにより
除算することにより決まる： ５Ｃｃ＝ＳＣ／Ｆ　　　　（１） ここにＳＣは局部像素子の値、Ｆは関連する第１補正係
数、及びＳＣｃは局部像素子の補正された値である。各
係数Ｆは局部表面コイル検値、関連する局部ボディコイ
ル検値及び局部像素子のすぐ近くの像素子の値から推定
される。係数Ｆは次式検値ＢＣの平滑値である。この“
平滑”処理は以下に詳細に説明する。
第３ａ図は７×７像素子６０の２次元ラスターを線図的
に示し、図中１個の局部像素子を６２で示し、残りの４
８個の局部像素子６４は局部像素子６２のすぐそばにこ
れを囲んで示す。使用する“平滑”法によれば、４回の
均一平滑操作を行う。
例えばまず最初均一な７×７“平滑″処理を行う。
これは像の各像点を第３ａ図に示すように、処理すべき
局部像素子を中央に配列する４９個の像点の周囲の算術
平均値によって置換する。同様にして、９Ｘ９平滑処理
、ＩＩＸＩＩ平滑処理、及び１３Ｘ１３平滑処理を順次
に行う。これら順次の４回の平滑操作の順序も相違する
。これら４回の平滑操作の効果も３７Ｘ３７像素子の平
方の平均値の加重決定の効果に等しくなることは明らか
である。加重平均局部検値を用いる場合には局部像素子
に比較的近く配置された像素子の値は比較的長い位置に
ある像素子よりも大きな重みを有する。
本発明方法の好適な例ではＭＲ倍信号発生せず、像に属
さない領域の雑音が不所望に増幅されるのを防止し得る
ようにする。この目的のため、前述めで小さい（＜〈δ
）領域では係数Ｆはほぼ１に等しくなる。これがためこ
の領域では雑音は不必要に増幅されない。
本発明方法の更に好適な例を次に示す。表面コイルの感
度が低くボディコイルの信号対雑音比が表面コイルの信
号対雑音比よりも大きな所定領域では補正係数Ｆ及び局
部検値ＳＣＯ外に第２補正係数ｒ２が補正に関連するよ
うになる。これがため次式で示す補正の組み合わせが得
られる。
ＳＣｃ　＝　（Ｆ　ＸＳＣ＋　ｒ２ｘ８Ｃ）／（Ｆ２＋
ｒ２）　　（４）ここにｒはボディコイル像の雑音レベ
ルにより除算された表面コイル像の雑音レベルである。
これがため低感度の表面コイルををする領域に対しては
５Ｃｃ−：ＢＣとなり、しかも像素子はボディコイルに
よって実際上完全に推測されるようになる。
ｒ２を第２補正係数として選択することが補正された像
の雑音を最小化する上で最適であることは明らかである
。表面コイルの感度が低い場合にはｒの他のべき数によ
ってもＳＣｏをほぼＢＣに等しくするが、これは雑音の
観点からは最適ではない。第２の補正係数ｒ２を決める
手段を以下に示す。また被検体が存在する（信号の雑音
に対する雑音）領域よりも低い変数を“ザ　エア″が常
時有する像の領域が存在する。更に像の４つの角度点の
少なくとも１つからの像素子の多数の検値が雑音からの
み発生することも推測される。４つの角度点の各々の変
数は角度点のすぐ近（の多数の像素子（例えば２０Ｘ２
０像素子）から決まる。
かくして得た４つの変数から最小のものを選択する。最
小の変数を有する角度点には雑音のみが存在することは
明らかである。この角度点ではｒは次式に示すように推
測される。
ここにＶＳＣはこの角度点の変数であり、Ｖｂｅはボデ
ィコイル像の関連する角度点である。
本発明方法の特定の例を説明する。第１補正係数はボデ
ィコイル像及び表面コイル像の加重平均局部検値から形
成し、その後局部表面コイル検値のみを用いて補正され
た像を決めるが、局部ボディコイル検値はもはや何の役
にも立たない。係数Ｆを形成する場合には低解像度のボ
ディコイル像を容易に感知しながら平均像値を用いる。
これがため少数のシーケンスのみで像を形成し、従って
時間を節約することができる。例えばヒンジヨウ及びレ
ントの論文に記載されているようなフーリエイメージン
グ法により１次元の像を同相で符号化するための傾度Ｇ
Ｙの多くのステップを取ることにより例えば１次元の像
で低い解像度が得られる。低い解像度の像に対して共鳴
信号を感知した後上述したような“平滑″処理を行う。
第３ｂ図は比較的低い解像度及び比較的高い解像度の像
の周波数内容を線図的に示す。この周波数内容を周波数
に対してプロットする。この周波数内容７０には比較的
高い解像度で感知した像が保持され、周波数内容７１に
は比較的低い解像度で感知された像が保持される。この
場合にはほぼ等しい周波数内容を２部分に与えることが
できる。
実際上、例えば周波数帯の逆フーリエ範囲のコンボリュ
ーションによってフィルタ操作を行う。
他の特定の例を次に説明する。この場合に低解像度の追
加の表面コイル像を測定する。不均一性は低解像度の２
つの像から計算する。この不均一性は例えばＦＦＥ　（
高速フィールドエコー）法を用いて数秒で推定する。次
いで高解像度で感知した表面コイル像をかくして決定し
た不均一性により補正する。
上述した所は特定の例を説明した。表面コイルが既知の
場合にはその内容を装置３０の記憶手段３２に記憶する
。測定前にこの表面コイルを用いる場合及びコイルのデ
ータが論理的な計算に基づく感度又は所定の方向のあら
かじめ測定したダイアダラムから既知である場合にはこ
のデータを記憶装置３２に記憶する。表面コイル１２が
所定の方向にある場合には表面コイル及びボディコイル
によって測定されたデータに対してパターン認識を行う
。従って最も正確な関連する感度のパターンを用いて任
意の方向でコイルの感度を特徴付け、従って表面コイル
の不均一性を補正することができる。表面コイル像の規
格化は前述したようにして行う。
【図面の簡単な説明】
第１ａ図は本発明装置の構成を示すブロック図、第１ｂ
図は静磁界コイル及び受信コイルの構成を示す断面図、 第２ａ図は検査すべき患者に対する円形表面コイルを示
す説明図、 第２ｂ図は円形表面コイルの感度曲線を示す特性図、 第３ａ図は１個の局部像素子及びその周囲の像点を示す
説明図、 第３ｂ図は比較的低い解像度及び比較的高い解像度で感
知された像の周波数内容を示す特性図である。 ２・・・磁気コイル　　　　４・・・直流電源６・・・
傾斜コイル　　　　訃・・送信コイル１０・・・ボディ
コイル　　　１２・・・表面コイル１４・・・遮蔽部材 １６・・・傾斜コイル制御装置 １８・・・高周波発生器　　　１９・・・信号２２・・
・高周波電力増幅器　２３・・・出力信号２４・・・受
信器　　　　　　２５．２７・・・ＭＲ信号３０・・・
データ捕捉兼処理装置 特許出願人　　　エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン 代理人弁理士　　杉　　村　　暁　　秀同　　　弁理士
　　　杉　　　村　　　興　　　作ＦｌＧ、１ａ ＦｌＧ、１ｂ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、表面コイルを用いて第１群の共鳴信号を検出し、か
    つ、ボディコイルを用いて第２群の共鳴信号を検出して
    共鳴信号を発生する被検体の一部分の核磁化分布を測定
    するに当り、前記第１群の共鳴信号から取り出したデー タを前記第２群の共鳴信号から得た情報により補正する
    ようにしたことを特徴とする被検体の一部分の核磁化分
    布を測定する方法。 ２、前記補正を夫々前記第１群及び第２群の共鳴信号か
    ら、夫々表面コイル像及びボディコイル像の再構成後に
    行うようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第１項
    に記載の被検体の一部分の核磁化分布を測定する方法。 ３、表面コイル像のある位置における像値を第１の位置
    に依存する補正係数により補正し、この補正係数は表面
    コイル像のこの位置の像値及びそのすぐ近くの像値並び
    にボディコイル像の関連する像値から決めるようにした
    ことを特徴とする特許請求の範囲第２項に記載の被検体
    の一部分の核磁化分布を測定する方法。 ４、第１の補正係数は加重平均局部表面コイル像値及び
    関連する加重平均局部ボディコイル像値の商から決める
    ようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第３項に記
    載の被検体の一部分の核磁化分布を測定する方法。 ５、第１の補正係数は加重平均局部表面コイル像値及び
    定数の和と関連する加重平均局部ボディコイル像値及び
    定数の和との商から決めるようにしたことを特徴とする
    特許請求の範囲第３項に記載の被検体の一部分の核磁化
    分布を測定する方法。 ６、補正された像値は補正すべき局部表面コイル像値及
    び第１の補正係数の商から決めるようにしたことを特徴
    とする特許請求の範囲第３、４又は５項に記載の被検体
    の一部分の核磁化分布を測定する方法。 ７、補正された像の局部像値は局部表面コイル像値及び
    関連する局部ボディコイル像値の組み合せから形成する
    ようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第３、４又
    は５項に記載の被検体の一部分の核磁化分布を測定する
    方法。 ８、補正された像の局部像値は第１の補正係数及び局部
    表面コイル像値の積と第２の補正係数の二乗値及び関連
    する局部ボディコイル像値の積との和を第２の補正係数
    の二乗値及び第１の補正係数の二乗値の和で除算するこ
    とにより形成するようにしたことを特徴とする特許請求
    の範囲第７項に記載の被検体の一部分の核磁化分布を測
    定する方法。 ９、第２の補正係数は表面コイル像の雑音レベルとボデ
    ィコイル像の雑音レベルとの商から形成するようにした
    ことを特徴とする特許請求の範囲第８項に記載の被検体
    の一部分の核磁化分布を測定する方法。 １０、ボディコイル像を表面コイル像よりも著しく低い
    解像度で感知するようにしたことを特徴とする特許請求
    の範囲第３項乃至第９項のいずれかの項に記載の被検体
    の一部分の核磁化分布を測定する方法。 １１、第１の補正係数は低い解像度で測定されたボディ
    コイル像の局部像値と補正された表面コイル像よりも著
    しく低い解像度で感知された追加の表面コイル像の局部
    像値とから決めるようにしたことを特徴とする特許請求
    の範囲第１０項に記載の被検体の一部分の核磁化分布を
    測定する方法。 １２、あらかじめ既知の形状の表面コイルを用いて表面
    コイル像及びボディコイル像を用いるパターン認識によ
    る所定値から決まる第３の補正係数によって表面タイル
    像の種々の位置における像値を補正することにより前記
    補正を行うようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
    第２項に記載の被検体の一部分の核磁化分布を測定する
    方法。 １３、第１群の共鳴信号を検出する表面コイルと、少な
    くともこの第１群の共鳴信号の再構成手段と、前記第１
    群の共鳴信号から核磁化分布を決める処理手段と、第２
    群の共鳴信号を検出するボディコイルと、前記第２群の
    共鳴信号の再構成手段とを具える被検体の一部分の核磁
    化分布を測定する装置において、前記処理手段は前記第
    １群の共鳴信号から取り出したデータを前記第２群の共
    鳴信号から得た情報により補正するプログラムされた手
    段を具えることを特徴とする被検体の一部分の核磁化分
    布を測定する装置。 １４、第１群の共鳴信号から得た表面コイル像を記憶す
    る記憶手段と、第２群の共鳴信号から得たボディコイル
    像を記憶する記憶手段とを具え、更に前記表面コイル像
    から関連する加重平均局部像値及び前記ボディコイル像
    からの関連する加重平均局部像値の商から形成された第
    １の補正係数を決めると共にこの既知の第１の補正係数
    によって前記表面コイル像を補正するようにしたプログ
    ラムされた手段を設けたことを特徴とする特許請求の範
    囲第１３項に記載の被検体の一部分の核磁化分布を測定
    する装置。 １５、第１群の共鳴信号から得た表面コイル像を記憶す
    る記憶手段と、第２群の共鳴信号から得たボディコイル
    像を記憶する記憶手段とを具え、更に前記表面コイル像
    からの加重平均局部像値及び定数の和と前記ボディコイ
    ル像からの関連する加重平均局部像値及び定数の和との
    商から得た他の第１群の補正係数を決めるようにしたプ
    ログラムされた手段を設けたことを特徴とする特許請求
    の範囲第１３項に記載の被検体の一部分の核磁化分布を
    測定する装置。 １６、第１群の共鳴信号から得た表面コイル像を記憶す
    る記憶手段と、第２群の共鳴信号から得たボディコイル
    を記憶する記憶手段とを具え、更に前記表面コイル像値
    及び関連するボディコイル像値の組み合せから第１の補
    正係数を計算するプログラムされた手段を設けたことを
    特徴とする特許請求の範囲第１３項に記載の被検体の一
    部分の核磁化分布を測定する装置。 １７、更に表面コイル像及びボディコイル像からの関連
    する加重平均局部像値から得た第１の補正係数を決め、
    被検体が存在しない領域から決めた前記表面コイル像及
    びボディコイル像からの核雑音レベルの商から形成した
    第２の補正係数を決め、かつ加重係数としての第１及び
    第２の補正係数により表面コイル像値及びボディコイル
    像値の加重和から補正された像を計算するプログラムさ
    れた手段を設けるようにしたことを特徴とする特許請求
    の範囲第１６項に記載の被検体の一部分の核磁化分布を
    測定する装置。
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