JPS63113373A - ダイオ−ドの検査装置 - Google Patents

ダイオ−ドの検査装置

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Publication number
JPS63113373A
JPS63113373A JP25930186A JP25930186A JPS63113373A JP S63113373 A JPS63113373 A JP S63113373A JP 25930186 A JP25930186 A JP 25930186A JP 25930186 A JP25930186 A JP 25930186A JP S63113373 A JPS63113373 A JP S63113373A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clamp
drum
diode
mechanisms
scraper
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25930186A
Other languages
English (en)
Inventor
Junji Imai
淳史 今井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP25930186A priority Critical patent/JPS63113373A/ja
Publication of JPS63113373A publication Critical patent/JPS63113373A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、一対のデエメット線の先端間に挟んだダイオ
ードチップをガラス管にて密封して成るガラス封止型ダ
イオードの性能を検査するための装置に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
この種のガラス封止型ダイオード(以下単にダイオード
と称する)1は、第5図に示すようにガラス管2内に各
々リード線5,6を備えた一対のデュメフト線3.4を
相対向して挿入し、該両デュメット線3.4の先端面間
にダイオードチップ7を、所定の圧力をもって押圧した
状態で介挿したのち、前記ガラス管2を加熱して両デュ
メット線3.4の外周面に密着して封止するものであっ
て、この場合、前記ダイオードチップ7と両デュメソト
線3.4との接触状態は、両デュメット線3.4の外周
面に対するガラス管2の密着によって保持されるもので
あるが、両デュメット線3゜4の外周面に対するガラス
管2の密着にはバラ付きが存在するものである。
従って、このダイオードの性能を検査するには、両リー
ド線5.6に外力をかけない状態で、バッテリー8等の
電源にて一定の電流を印加して、その電流値を電流計9
にて測定し、次いで両リード線5,6を互いに離れるよ
うに所定の力Pで引っ張った状態でその間に流れる電流
値を測定し、この引張力を付与して測定した電流値と、
前記引張力を付与しないで測定した電流値とを比較する
ことによって行わなわれる。
そして、この検査を行う従来の装置は、このダイオード
を、間欠式のドラムの外周に当該ドラムの軸線と平行の
状態で一定間隔で供給して、ドラムの間欠回転によって
移送する途次において、ダイオードが、前記ドラムの左
右両側に配設した左右一対のクランプ機構の箇所に来る
と、両クランプ機構によりダイオードの両リード線をク
ランプし、このクランプ状態で両リード線間に流れる電
流を測定し、次いで両クランプ機構のうち一方のクラン
プ機構を、他方のクランプ機構から離れる方向に移動す
ることによって、両リード線に所定の引張力を付与して
、この状態で両リード線間に流れる電流を測定し、そし
て、両クランプ機構によるクランプを解除すれば、ドラ
ムが一ピッチ回転して、検査法のダイオードを両クラン
プ機構の箇所から取り出す一方、次に検査するダイオー
ドを両クランプ機構の箇所に送り込むようにしたもので
あった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、ダイオードにおける両リード線には、半田メッ
キが施されているから、前記両クランプ機構におけるク
ランプ部には、両リード線をクランプする度ごとにリー
ド線に施された半田が付着することになって、測定不良
が発生することになる。
そこで従来の検査装置では、クランプ機構におけるクラ
ンプ部に付着した半田を、清掃除去することを、適宜時
間の間隔又は適宜数量ごとに施工するようにしなければ
ならないから、これに可成りの手数を要すると共に、検
査の能率が低下し、検査に要するコストが増大するので
あった。
本発明は、このような検査装置において、そのクランプ
機構のクランプ部に対する半田の清掃除去する間隔を延
長することができる装置を提供するものである。
〔問題を解決するための手段〕
この目的を達成するため本発明は、外周面にダイオード
の供給部を円周方向に適宜間隔で設けた間欠回転式のド
ラムと、該ドラムの左右両側に位置し前記ダイオードに
おける両リード線をクランプして引っ張るようにした左
右一対のクランプ機構とから成るダイオードの検査装置
において、前記ドラムの外周面に、当該ドラムの回転に
伴って前記両クランプ機構におけるクランプ部を擦るよ
うにしたスクレーパを少なくとも一個設けた構成にした
ものである。
〔発明の作用・効果〕
このように構成すると、ダイオードの両リード線をクラ
ンプして引っ張るための両クランプ機構におけるクラン
プ部は、ドラムの一回転中に少なくとも一回だけ、スク
レーパにて擦られて、当該クランプ部に付着する半田が
前記スクレーパにより除去されることになる。
すなわち、クランプ機構におけるクランプ部における付
着半田を除去することが、ドラムが一回転するたびごと
に少なくとも一回だけ自動的に行なわれることになる。
その結果、検査を停止した状態で両クランプ機構を清掃
する間隔を、可成り延長することができるから、清掃の
手数を軽減できると共に検査の能率を向上できて、検査
に要するコストを低減できる効果を有する。
〔実施例〕
以下本発明の実施例を図面について説明すると、図にお
いて符号10は、外周面にダイオード1を保持するため
の切欠部11を円周方向に等間隔で備えたドラムを示し
、該ドラム10は、矢印A方向に前記切欠部11の間隔
で間欠的に回転されている。
このドラム10の一方には、その外周面における切欠部
11にダイオード1を一個づつ供給ための供給手段12
が、他方側には、検査法のダイオード1を前記切欠部1
1から取り出すための手段13が各々設けられている。
図中符号14.15は、前記ドラム10の軸方向の左右
両側に配設したクランプ機構を示し、該両クランプ機構
14.15は、前記ドラム10の回転停止中において前
記ダイオード1における両リード線5.6をクランプす
るためのクランプ部14a、14b、15a、15bを
各々備え、このクランプ部14a、14bとの間、及び
クランプ部15a、15bの間で両リード線5,6を各
々クランプして、両リード線5.6間に流れる電流値を
測定し、次いで前記のクランプの状態のまま互いに離れ
る方向に移動して両リード線5,6に所定の引張力を付
与しこの状態で両リード線5゜6間に流れる電流値を測
定し、これが終わると、両リード線5.6に対するクラ
ンプを解除するようにしたものである。
そして、ドラム10の外周面には、前記両クランプ機構
14.15におけるクランプ部14a。
14b、15a、15bが、鉄鋼型であるときには、黄
銅部にすると言うようにクランプ部の材質より軟らかい
材料製のスクレーパ16を取付けて、このスクレーパ1
6にて、前記各クランプ部14a、  14 b、 1
5 a、  15 bを擦るように構成する。
すると、両クランプ機構14.15における各クランプ
部14 a、  14 b、 15 a、  15 b
は、ドラム10が一回転するたびごとに一回前記スクレ
ーパ16にて擦られることになるから、各クランプ部1
4a、14b、15a、15bに付着する半田を除去す
ることができるのである。
なお、前記各クランプ部14a、14b、15a、15
bのうち下側のクランプ部14a、15aのみに半田が
付着する場合には、前記スクレーパ16は、当該下側の
クランプ部14a、15aのみを擦るようにすれば良く
、また、スクレーパ16としては、前記実施例の板状の
ものに限らず、ウェーブを有する弾性線材を複数本、ド
ラム10の軸線と平行に並べたものにしても良いのであ
り、更にまた、ドラム10に設けるスクレーパ16は一
個に限らず、複数個設ければより効果的である。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図は本発明の実施例を示し、第1図は正面
図、第2図は第1図のn−n視拡大断面図、第3図は第
1図のm−m視拡大断面図、第4図は第2図のIV−I
V視平面図、第5図はダイオードの縦断正面図である。 1・・・・ダイオード、2・・・・ガラス奮、5.6・
・・・リード線、10・・・・ドラム、11・・・・切
欠部、12・・・・ダイオードの供給手段、13・・・
・検査済ダイオードの取出手段、14.15・・・・ク
ランプ機構、14a、14b、15a、15b・・−・
クランプ部、16・・・・スクレーパ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、外周面にダイオードの供給部を円周方向に適宜
    間隔で設けた間欠回転式のドラムと、該ドラムの左右両
    側に位置し前記ダイオードにおける両リード線をクラン
    プして引っ張るようにした左右一対のクランプ機構とか
    ら成るダイオードの検査装置において、前記ドラムの外
    周面に、当該ドラムの回転に伴って前記両クランプ機構
    におけるクランプ部を擦るようにしたスクレーパを少な
    くとも一個設けたことを特徴とするダイオードの検査装
    置。
JP25930186A 1986-10-30 1986-10-30 ダイオ−ドの検査装置 Pending JPS63113373A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25930186A JPS63113373A (ja) 1986-10-30 1986-10-30 ダイオ−ドの検査装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP25930186A JPS63113373A (ja) 1986-10-30 1986-10-30 ダイオ−ドの検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63113373A true JPS63113373A (ja) 1988-05-18

Family

ID=17332175

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25930186A Pending JPS63113373A (ja) 1986-10-30 1986-10-30 ダイオ−ドの検査装置

Country Status (1)

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JP (1) JPS63113373A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6445836B1 (en) 1997-03-18 2002-09-03 Fujitsu Limited Image processing apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6445836B1 (en) 1997-03-18 2002-09-03 Fujitsu Limited Image processing apparatus

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