JPS63108349A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents

Electrophotographic sensitive body

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JPS63108349A
JPS63108349A JP25426486A JP25426486A JPS63108349A JP S63108349 A JPS63108349 A JP S63108349A JP 25426486 A JP25426486 A JP 25426486A JP 25426486 A JP25426486 A JP 25426486A JP S63108349 A JPS63108349 A JP S63108349A
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layer
region
photoreceptor
gas
photosensitivity
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JP25426486A
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Japanese (ja)
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Takao Kawamura
河村 孝夫
Naooki Miyamoto
宮本 直興
Hitoshi Takemura
仁志 竹村
Akira Watanabe
暁 渡辺
Kokichi Ishiki
石櫃 鴻吉
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
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    • G03G5/08221Silicon-based comprising one or two silicon based layers
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Abstract

PURPOSE:To enhance dark resistivity and photosensitivity of a photosensitive body in the near infrared region by incorporating Ge and a specified amount of an element of group Va of the periodic table in an amorphous silicon carbide layer. CONSTITUTION:The layer 5a made of amorphous silicon carbide (a-SiC) is formed on a substrate 1, and it is composed of a layer region 6a containing Ge uniformly or not uniformly in the layer thickness direction and the element of group Va, preferably, more than a layer region 7a, and the layer region 7a containing said element in an amount of 0-10,000ppm. C is contained uniformly in both layer regions, or more in either layer regions than the other, thus permitting the obtained photosensitive body to be enhanced in dark resistivity and photosensitivity characteristics, both of a surface layer and a barrier layer to be made substantially unnecessary, and carrier generation efficiency to be also enhanced in the near infrared region.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光導電性アモルファスシリコンカーバイド層か
ら成る電子写真感光体に関し、特に負極性に帯電可能な
電子写真感光体に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor comprising a photoconductive amorphous silicon carbide layer, and particularly to an electrophotographic photoreceptor that can be charged to a negative polarity.

〔従来技術及びその問題点〕[Prior art and its problems]

近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、感光体を搭
載する複写機やプリンター等の開発に伴って感光体自体
にも種々の特性が要求されている。
In recent years, progress in electrophotographic photoreceptors has been remarkable, and with the development of copying machines, printers, etc. equipped with photoreceptors, various characteristics are required of the photoreceptors themselves.

この要求に対してアモルファスシリコン層が耐熱性、耐
摩耗性、無公害性並びに光感度特性等に優れているとい
う理由から注目されている。
In response to this demand, amorphous silicon layers are attracting attention because they have excellent heat resistance, wear resistance, non-pollution properties, and photosensitivity characteristics.

しかし乍ら、アモルファスシリコン(以下、a−3iと
略す)層は、゛それに何ら不純物元素をドーピングしな
いと約109Ω・cmの暗抵抗率しか得られず、これを
電子写真用感光体に用いる場合には10I2Ω・cm以
上の暗抵抗率にして電荷保持能力を高める必要がある。
However, the amorphous silicon (hereinafter abbreviated as a-3i) layer only has a dark resistivity of about 109 Ωcm unless it is doped with any impurity element, and when used in an electrophotographic photoreceptor. To achieve this, it is necessary to increase the charge retention ability by increasing the dark resistivity to 10I2Ω·cm or more.

そのために酸素や窒素などの元素を微少量ドーピングし
て高抵抗化にし得るが、その反面、光導電性が低下する
という問題がある。
For this purpose, it is possible to increase the resistance by doping a small amount of elements such as oxygen or nitrogen, but on the other hand, there is a problem that the photoconductivity decreases.

また、ホウ素などを添加しても高抵抗化が期待できるが
、十分に満足し得るような暗抵抗率が得られず約IQI
IΩ・CII+程度にすぎない。
In addition, high resistance can be expected by adding boron, etc., but a sufficiently satisfactory dark resistivity cannot be obtained and the IQI
It is only about IΩ・CII+.

一方、上記の如きドーピング剤の開発と共に、a−5i
光導電層に別の非光導電層を積層して成る積層型感光体
が提案されている。
On the other hand, along with the development of doping agents as mentioned above, a-5i
A laminated photoreceptor has been proposed in which a photoconductive layer is laminated with another non-photoconductive layer.

例えば、第2図はこの積層型感光体であり、基板(1)
の上にキャリア注入阻止層(2) 、a−5t光導電層
(3)及び表面保護層(4)が順次積層されている。
For example, Figure 2 shows this laminated photoreceptor, with the substrate (1)
A carrier injection blocking layer (2), an a-5t photoconductive layer (3) and a surface protection layer (4) are sequentially laminated thereon.

この積層型光体によれば、キャリア注入阻止層(2)は
基板(1)からのキャリアの注入を阻止するものであり
、表面保護J!1(4)はa−Si光導電N(3)を保
護して耐湿性等を向上させるものであるが、両者の層(
2)及び(4) ともに感光体の暗抵抗率を大きくして
帯電能を高めることが目的であり、そのためにこれらの
層を光導電性にする必要はない。
According to this laminated light body, the carrier injection blocking layer (2) prevents injection of carriers from the substrate (1), and provides surface protection J! 1(4) protects the a-Si photoconductive N(3) and improves moisture resistance, etc., but both layers (
The purpose of both 2) and (4) is to increase the dark resistivity of the photoreceptor to increase the charging ability, and for this purpose, it is not necessary to make these layers photoconductive.

このように従来周知のa−Si電子写真感光体は光キヤ
リア発生層をa−Si光導電層により形成させた点に大
きな特徴があり、これによって耐熱性、耐久性及び光感
度特性などに優れた長所を有している反面、暗抵抗率が
不十分であるためにドーピング剤を用いたり、更に積層
型感光体にすることで暗抵抗率を大きくしている。即ち
、積層型感光体に形成されるキャリア注入阻止3I(2
)及び表面保護層(4)はa−5i光導電層自体が有す
る欠点を補完するものであり、a−9t光導電層(3)
−と実買上区別し得る層と言える。
As described above, the conventionally well-known a-Si electrophotographic photoreceptor has a major feature in that the photocarrier generation layer is formed of an a-Si photoconductive layer, and as a result, it has excellent heat resistance, durability, and photosensitivity characteristics. However, since the dark resistivity is insufficient, the dark resistivity is increased by using doping agents or by making the photoreceptor a laminated type. That is, carrier injection prevention 3I (2
) and the surface protective layer (4) complement the defects of the a-5i photoconductive layer itself, and the a-9t photoconductive layer (3)
- can be said to be a group that can be distinguished from the actual purchasers.

本発明者等は上記事情に鑑みて、既にアモルファスシリ
コンカーバイド(以下、a−3iCと略す)は光導電性
を有すると共に暗抵抗率がドーピング剤の有無と無関係
に容易に1013Ω・co+以上になり、更にドーピン
グ剤の選択によって負極性に帯電可能な電子写真感光体
と成り得ることを見い出した。
In view of the above circumstances, the present inventors have already discovered that amorphous silicon carbide (hereinafter abbreviated as a-3iC) has photoconductivity and has a dark resistivity of 1013 Ω·co+ or more regardless of the presence or absence of a doping agent. Furthermore, they have found that by selecting a doping agent, it is possible to obtain an electrophotographic photoreceptor that can be charged to a negative polarity.

上記a−SiC75が電子写真感光体と成り得た理由は
、その層が大きなキャリア移動度をもち、更に1G−”
 (Ω・cm)−’以下の暗導電率であり、これによっ
て大きな帯電能が得られたためである。
The reason why the above a-SiC75 could be used as an electrophotographic photoreceptor is that its layer has a high carrier mobility, and also 1G-"
This is because the dark conductivity was less than (Ω·cm)−′, and a large charging ability was thereby obtained.

しかしながら、このように大きな帯電能が得られたa−
3iC感光体であっても、光源の波長によっては未だ満
足し得る電子写真特性が得られていない0例えば、光源
が長波長側に至まで発光し得るようなものを用いた場合
、この光導電性a−5iCliに対して光感度特性は未
だ十分に満足し得ない点があり、a−SiC@で十分に
吸収されないでキャリアの発生効率を低減させるという
問題が生じる。
However, a-
Even with a 3iC photoconductor, satisfactory electrophotographic properties have not yet been obtained depending on the wavelength of the light source.For example, if a light source that can emit light at long wavelengths is used, The photosensitivity characteristics are still not fully satisfactory compared to a-5iCli, and there is a problem that carrier generation efficiency is reduced due to insufficient absorption by a-SiC@.

また、高速印字ができるレーザービームプリンターの開
発に伴ってレーザー光源に小型且つ高信頼性の半導体レ
ーザーが用いられようになってきたが、その反面、この
レーザー光の発振波長が近赤外付近にあるために上記し
たような問題が生じ易い、更にこのレーザー光を投光し
た場合、基板に到達した光が反射され、これにより、画
像に干渉縞が生じ易いという問題がある。
In addition, with the development of laser beam printers capable of high-speed printing, compact and highly reliable semiconductor lasers have come to be used as laser light sources, but on the other hand, the oscillation wavelength of this laser light has shifted to near infrared. Because of this, the above-mentioned problems tend to occur.Furthermore, when this laser light is projected, the light that reaches the substrate is reflected, which tends to cause interference fringes in the image.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は畝上に鑑みて案出されたものであり、その目的
は表面保護層及びキャリア注入阻止層を実質上不要とし
、全層に亘って光導電性a−SiCと成し、且つ長波長
側の光感度特性を大きくして半導体レーザービームプリ
ンタに適した電子写真感光体を提供することにある。
The present invention was devised in view of the problem of ridges, and its purpose is to substantially eliminate the need for a surface protection layer and a carrier injection blocking layer, to make the entire layer made of photoconductive a-SiC, and to provide a long structure. An object of the present invention is to provide an electrophotographic photoreceptor suitable for a semiconductor laser beam printer by increasing the photosensitivity characteristic on the wavelength side.

本発明の更に二他の目的は画像に干渉縞が生じないよう
にした電子写真感光体を提供することにある。 本発明
の他の目的は負極性に帯電可能な電子写真感光体を提供
することにある。
A second object of the present invention is to provide an electrophotographic photoreceptor in which interference fringes do not occur in images. Another object of the present invention is to provide an electrophotographic photoreceptor that can be negatively charged.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明によれば、基板上にゲルマニウム及び0乃至10
.0OOppn+の周期律表第Va族元素を含有した光
導電性a−5iCFiを形成したことを特徴とする負極
性に帯電可能な電子写真感光体が提供される。
According to the present invention, germanium and 0 to 10
.. An electrophotographic photoreceptor capable of being charged to a negative polarity is provided, which is characterized by forming a photoconductive a-5iCFi containing a group Va element of the periodic table of 0OOppn+.

以下、本発明の詳細な説明する。The present invention will be explained in detail below.

本発明の電子写真感光体は光導電性a−5iC層にゲル
マウムを含有させることを特徴とするものであり、また
、この光導電性a−5iC層についてはVa族元素を含
有させて負極性に帯電させた感光体と成り得ることは既
に本発明者等が提案した通りである。
The electrophotographic photoreceptor of the present invention is characterized in that the photoconductive a-5iC layer contains germium, and the photoconductive a-5iC layer contains a Va group element to provide negative polarity. As already proposed by the present inventors, it can be a photoreceptor charged to .

即ち、第1図によれば導電性基板(1)上に、例えばグ
ロー放電分解法によって光導電性a−3tC層(5)を
形成したものであり、この層厚方向に亘って炭素とVa
族元素をそれぞれ同一含有比率で含有させている。これ
によって暗抵抗率が10′3Ω・cm以上となると共に
明抵抗率に比べて1000倍以−ヒとなることを見い出
し、この知見に基づく後述する実施例から明らかな通り
、この単一組成の層だけで十分に実用性のあるa−5i
C感光体と成り得たことは予想外の成果であった。
That is, according to FIG. 1, a photoconductive a-3tC layer (5) is formed on a conductive substrate (1) by, for example, a glow discharge decomposition method, and carbon and Va are formed over the thickness direction of this layer.
Each group element is contained in the same content ratio. It was discovered that this resulted in a dark resistivity of 10'3 Ω・cm or more, which was also 1000 times higher than the bright resistivity. The a-5i is practical enough with just the layers.
The fact that it became a C photoreceptor was an unexpected result.

更に本発明者等はこのa−SiC感光体を正極性又は負
極性に帯電させて両者の帯電性能を比較した場合、この
a−5iCN(5)にVa族元素を0乃至10.000
ppmの範囲、好適には0乃至11000ppの範囲内
でドーピングすると負極性で有利に帯電能を高めること
ができることも見い出した。
Furthermore, when the present inventors charged this a-SiC photoreceptor to positive or negative polarity and compared the charging performance of the two, the Va group element was added to this a-5iCN (5) at a concentration of 0 to 10.000.
It has also been found that doping in the ppm range, preferably in the range from 0 to 11000 ppm, can advantageously increase the chargeability with negative polarity.

このようにVa族元素のドーピングによって負極性に帯
電し易くなる点については、未だ解明されておらず、推
論の域を脱し得ないが、a−SiC層が負電荷を保持す
るのに十分に高い抵抗率をもち、また、基板からの正電
荷の注入を防ぐ効果にも優れ、更に負電荷に対する電荷
移動度が優れている等の理由によると考えられる。
The reason why doping with Va group elements makes it easier to be negatively charged has not yet been elucidated and is still in the realm of speculation, but it is clear that the a-SiC layer is not sufficiently charged to retain negative charges. This is thought to be due to the fact that it has high resistivity, is excellent in preventing injection of positive charges from the substrate, and has excellent charge mobility with respect to negative charges.

また、このVa族元素としてはN、 P、^s、sb、
Bi等があるが、就中、Pが共有結合性に優れて半導体
特性を敏感に変え得る点で望ましい。
In addition, the Va group elements include N, P, ^s, sb,
Among them, P is preferable because it has excellent covalent bonding properties and can sensitively change semiconductor characteristics.

本発明のa−3iCjigが光導電性を有するようにな
った点については、アモルファス化したケイ素と炭素を
不可欠な構成元素とし、更にそのダングリングボンドを
終端させるべく水素元素(H)やハロゲン元素を所要の
範囲内で含有させることによって光導電性が生じるもの
と考えられる0本発明者等が炭素の含有比率を幾通りに
も変えて光導電性の有無を確かめる実験を行ったところ
、a−SiCM(5)中に炭素を1乃至90原子χ、好
適には5乃至50原子χの範囲内で含有させるとよく、
或いはこの範囲内で層厚方向に亘って炭素含有量を変え
てもよい。
The reason why the a-3iCjig of the present invention has photoconductivity is that amorphous silicon and carbon are essential constituent elements, and hydrogen element (H) and halogen element are further added to terminate the dangling bonds. It is thought that photoconductivity is produced by containing carbon within the required range.The present inventors conducted experiments to confirm the presence or absence of photoconductivity by varying the content ratio of carbon, and found that a. -SiCM (5) preferably contains carbon in the range of 1 to 90 atoms χ, preferably 5 to 50 atoms χ,
Alternatively, the carbon content may be varied within this range over the layer thickness direction.

また、水素元素(H)やハロゲン元素の含有量は5乃至
50原子χ、好適には5乃至40原子χ、最適には10
乃至30原子χがよく、通常、H元素が用いられている
Further, the content of hydrogen element (H) and halogen element is 5 to 50 atoms χ, preferably 5 to 40 atoms χ, optimally 10
It is preferable to have χ to 30 atoms, and H element is usually used.

本発明のよれば、上記のような光導電性a−3iC層に
Ge元素を含有させた点が特徴であり、これによって長
波長側の光感度が大きくなり、その結果、半導体レーザ
ービームプリンタ用の長波長光源を用いることができる
。更に、半導体レーザーを光源に用いても基板にまで到
達する光量が著しく低下するか、或いは皆無となり、こ
れによって基板からの反射光がなくなり、画像の干渉縞
発生を防ぐ。
According to the present invention, the feature is that the photoconductive a-3iC layer as described above contains Ge element, which increases the photosensitivity on the long wavelength side, and as a result, it is suitable for semiconductor laser beam printers. A long wavelength light source can be used. Furthermore, even if a semiconductor laser is used as a light source, the amount of light reaching the substrate is significantly reduced or completely eliminated, thereby eliminating light reflected from the substrate and preventing the occurrence of interference fringes in the image.

このようなa−SiC層については層厚方向に亘って全
域にGeを含有させればよく、或いは、局部的にGeを
偏在させてもよいが、本発明者等の繰り返し行った実験
によれば、Geを含有させる領域においてStに対する
Geの含有比率を所定の範囲内に設定するとよい。
For such an a-SiC layer, Ge may be contained throughout the layer thickness direction, or Ge may be locally unevenly distributed, but based on repeated experiments conducted by the present inventors, For example, in the region containing Ge, the content ratio of Ge to St may be set within a predetermined range.

即ち、このa−SiC層はSiとGeの原子組成比がl
=1乃至19:1、好適には2:1乃至10:lの範囲
内に設定するとよく、これによって約780nmの発振
波長をもつ半導体レーザー光に対する光感度特性が顕著
に向上する。
That is, in this a-SiC layer, the atomic composition ratio of Si and Ge is l.
=1 to 19:1, preferably within the range of 2:1 to 10:1, and thereby the photosensitivity characteristics for semiconductor laser light having an oscillation wavelength of about 780 nm are significantly improved.

更に本発明によれば、前述のダングリングボンド終端用
元素にフッ素(F)を用いてもよく、このFを5X10
−’乃至25原子χ、好適には5X10−’乃至10原
子2の範囲内で膜中に含有させると原子構造が安定化し
、耐久性及び耐熱性が向上する。
Furthermore, according to the present invention, fluorine (F) may be used as the element for terminating dangling bonds, and this F is
-' to 25 atoms χ, preferably 5X10-' to 10 atoms 2, stabilizes the atomic structure and improves durability and heat resistance.

ダングリングボンド終端用元素にFを含有させるに当た
っては、通常、SiH,やC,H,などのH含有ガスを
a−3iC生成用ガスに用いるためにHによっても終端
される。このHは他の一価元素と比べてもダングリング
ボンドの終端に取り込まれ易いのでバンドギャップ中の
局在準位密度を低減化させ、これによって不純物元素の
ドーピング効率が高くなって価電子制御が容易になるい
とう点で望ましいと言える。
When F is included in the element for terminating dangling bonds, the dangling bond is normally terminated with H since SiH, C, H, or other H-containing gas is used as the a-3iC generation gas. Compared to other monovalent elements, this H is easily incorporated into the terminals of dangling bonds, so it reduces the localized level density in the band gap, thereby increasing the doping efficiency of impurity elements and controlling valence electrons. This is desirable because it makes it easier.

このようにFを含有させた場合には付随的にHも含有さ
れる傾向にあるが、FとHが共存するとStとHSGe
とH又はCとHの結合状態がより安定化し、これにより
、不純物元素のドーピング効率及び価電子制御が一層向
上する。
When F is contained in this way, H tends to be contained incidentally, but when F and H coexist, St and HSGe
The bonding state between and H or C and H becomes more stable, thereby further improving the doping efficiency of the impurity element and the control of valence electrons.

そして、HとFを併せて含有させた場合、これらの合計
した含有量は5乃至50原子χ、好適には5乃至40で
原子χ、最適にはlO乃至30原子2がよく、5原子%
未満であれば、ダングリングボンドを十分に終端させる
ことができなくなって帯電能及び光感度特性が低下し、
50原子χを超えるとSi、C或いはGeの鎖状構造が
増加して膜構造が緻密でなくなり、欠陥が生じて光感度
が低下する。
When H and F are contained together, their total content is 5 to 50 atoms χ, preferably 5 to 40 atoms χ, optimally 10 to 30 atoms 2, and 5 at%%.
If it is less than that, dangling bonds cannot be sufficiently terminated, and the charging ability and photosensitivity characteristics decrease.
If it exceeds 50 atoms χ, the chain structure of Si, C or Ge increases, the film structure becomes less dense, defects occur and the photosensitivity decreases.

上記の如き光導電性a−5iCN(5)の厚みは、少な
くとも5μm以上あればよく、これによって表面電位が
一200V以上となり、更に画像の分解能及び画像流れ
が生じない範囲内でその上限が適宜選ばれており、本発
明者等の実験によれば、5乃至100μm、好適には1
0乃至50μ−の範囲内に設定するとよい。
The thickness of the photoconductive a-5iCN (5) as described above should be at least 5 μm or more, so that the surface potential is 1200 V or more, and the upper limit is set as appropriate within the range of image resolution and image blurring. According to experiments conducted by the present inventors, the thickness is 5 to 100 μm, preferably 1 μm.
It is preferable to set it within the range of 0 to 50μ.

更に、このa−5iC層の暗減衰曲線及び光減衰曲線を
求めたところ、高い表面電位をもつと共に優れた光感度
特性を有し、また、残留電位が小さくなっていることを
確かめた。
Furthermore, when the dark decay curve and light decay curve of this a-5iC layer were determined, it was confirmed that it had a high surface potential, excellent photosensitivity characteristics, and a small residual potential.

かくしてNw一方向に亘って単一組成の光導電性a−S
iC層だけで半導体レーザービームプリンタ用の感光体
として十分に実用と成り、更にFを含有させた場合には
高耐久性且つ高耐熱性の電子写真感光体と成る。
Thus, Nw has a single composition of photoconductivity a-S in one direction.
The iC layer alone is sufficient for practical use as a photoreceptor for semiconductor laser beam printers, and when F is further added, the electrophotographic photoreceptor becomes highly durable and highly heat resistant.

そこで、本発明者等は上記の結果を踏まえて、更に鋭意
研究に努めたところ、この単一組成の層内部に種々の1
1! fin域を生成させることによって電子写真特性
を更に向上し得ることを見い出した。
Therefore, based on the above results, the present inventors made further efforts in research, and found that various compounds were found inside this single composition layer.
1! It has been found that the electrophotographic properties can be further improved by creating a fin region.

即ち、本発明によれば、構成元素の含有比率を層厚方向
に亘って変化させ、これによって連続的に含有比率を変
えたり、或いは複数のN領域を生成させ、これに対応し
て下記の第1の態様及び第2の態様の電子写真感光体が
得られる。
That is, according to the present invention, the content ratio of the constituent elements is changed over the layer thickness direction, thereby continuously changing the content ratio, or creating a plurality of N regions, and correspondingly, the following Electrophotographic photoreceptors of the first aspect and the second aspect are obtained.

以下、本発明に係る電子写真感光体の各種態様を詳細に
説明する。
Hereinafter, various aspects of the electrophotographic photoreceptor according to the present invention will be explained in detail.

呈上生前様 第1の態様によれば、基板上に光導電性a−3iC層を
形成した電子写真感光体であって、前記a−3iCNは
少なくとも第1の層領域及び第2の層領域を具備し、第
1の)I領域は第2のWA層領域り基板側に配置され且
つGeを含有すると共に第2の層領域は0乃至1000
0pp−のVa族元素が含まれていることを特徴とする
負極性に帯電可能な電子写真感光体が提供される。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an electrophotographic photoreceptor in which a photoconductive a-3iC layer is formed on a substrate, wherein the a-3iCN has at least a first layer region and a second layer region. The first (1) I region is disposed on the substrate side of the second WA layer region and contains Ge, and the second layer region has a
Provided is an electrophotographic photoreceptor that can be charged to a negative polarity and is characterized in that it contains 0 pp- of a Va group element.

この第1の態様によれば、第1図に示した単一組成の光
導電性a−5iCJiに対して層厚方向に亘り原子組成
比を変えることによって少なくとも第1のJBI領域及
び第2のN領域を生成させるものであり、この態様を第
3図並びに第5図乃至第12図により説明する。
According to this first aspect, at least the first JBI region and the second This is to generate N areas, and this aspect will be explained with reference to FIG. 3 and FIGS. 5 to 12.

第3図においては導電性基板(1)に第1の層領域(6
a)及び第2の層領域(7a)を順次形成し、両者の層
領域が一体化した光導電性のa−5iC層(5a)から
成っており、これらの層領域はSiとC−の組成比、S
iとGeの組成比、Va族元素の含有量などを変えるこ
とによって決められるが、この態様によれば、第1の1
!領域(6a)にはGeを含有し、且つ第2のN g域
(7a)にはO乃至110000ppのVa族元素を含
有していることが重要である。
In FIG. 3, a first layer region (6) is formed on a conductive substrate (1).
a) and a second layer region (7a) are formed in sequence, and both layer regions consist of an integrated photoconductive a-5iC layer (5a), and these layer regions are composed of Si and C-. Composition ratio, S
Although it is determined by changing the composition ratio of i and Ge, the content of Va group elements, etc., according to this embodiment, the first
! It is important that the region (6a) contains Ge, and the second Ng region (7a) contains O to 110,000 pp of Va group elements.

第2の層領域(7a)はVa族元素の含有量が0乃至1
10000ppの範囲内で、好適には0乃至11000
ppの範囲内で適宜法められ、これによって負極性に帯
電すると共に表面電位、光感度特性等の所要な電子写真
特性が得られる。そして、このN’pM域よりもVa族
元素を多く含有した第1の層領域(6a)を形成した場
合、光導電性a−SiC層(5a)の基板側領域で導電
率が大きくなり、これにより、基板側からのキャリアの
注入が阻止されると共にa−5iC層の全領域で発生し
た光キャリアが基板側へ円滑に流れ、その結果、表面電
位が大きくなると共に光感度特性が向上するという点で
望ましい。
The second layer region (7a) has a Va group element content of 0 to 1.
Within the range of 10,000 pp, preferably 0 to 11,000
It is suitably controlled within the range of pp, and as a result, it is charged to a negative polarity and required electrophotographic properties such as surface potential and photosensitivity properties are obtained. When the first layer region (6a) containing more Va group elements than this N'pM region is formed, the conductivity increases in the substrate side region of the photoconductive a-SiC layer (5a), This prevents carrier injection from the substrate side and allows photocarriers generated in the entire area of the a-5iC layer to smoothly flow toward the substrate side, resulting in an increase in surface potential and improved photosensitivity characteristics. It is desirable in that sense.

第1の層領域(6a)にGeを含有させると第2の層領
域(7a)にて吸収されなかった長波長領域の光が吸収
され、これによって光感度が一段と高くなる。
When the first layer region (6a) contains Ge, light in the long wavelength region that is not absorbed in the second layer region (7a) is absorbed, thereby further increasing the photosensitivity.

このGe含有量については、SiとGeの原子組成比を
1:1乃至19:1.好適には2:1乃至10:1の範
囲内に設定するとよく、これによって約780nmの発
振波長をもつ半導体レーザー光に対する光感度特性が顕
著に向上する。
Regarding this Ge content, the atomic composition ratio of Si and Ge is 1:1 to 19:1. It is preferable to set the ratio within the range of 2:1 to 10:1, thereby significantly improving the photosensitivity to semiconductor laser light having an oscillation wavelength of about 780 nm.

更に第1の層領域を生成させるとレーザー光の光源に対
して基板に到達する光量を著しく低下させ、これにより
、基板からの反射光がなくなって画像に干渉縞が生じな
くなる。
Further, the generation of the first layer region significantly reduces the amount of light reaching the substrate relative to the laser light source, thereby eliminating reflected light from the substrate and eliminating interference fringes in the image.

また、この第1のN fil域(6a)はその領域全体
に亘って光導電性を有しており、これによって第2図に
示した従来のa−5t電子写真感光体のキャリア注入阻
止N(2)と区別し得る。
Further, this first N fil region (6a) has photoconductivity over its entire region, thereby preventing carrier injection of the conventional A-5T electrophotographic photoreceptor shown in FIG. It can be distinguished from (2).

更に、従来のa−Si電子写真感光体によれば、前記キ
ャリア注入阻止11 (2)の層厚をa−Si  光導
電M(3)に対して115倍以下に設定するのに対して
、本発明の電子写真感光体によれば、第1の層領域(6
a)の層厚は第2のN領域(7a)に比べし1倍以下で
あっても十分に残留電位を小さくして光感度特性を向上
させることができ、その好適な層厚比は1/2以下、最
適には1/4以下に設定するのがよい。
Furthermore, according to the conventional a-Si electrophotographic photoreceptor, the layer thickness of the carrier injection blocking layer 11 (2) is set to be 115 times or less that of the a-Si photoconductive layer M (3). According to the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the first layer region (6
Even if the layer thickness of a) is less than 1 times that of the second N region (7a), the residual potential can be sufficiently reduced and the photosensitivity characteristics can be improved, and the preferred layer thickness ratio is 1. It is best to set it to /2 or less, and optimally to 1/4 or less.

この第1の態様によれば、第1のN領域(6a)にGe
を含有させる場合、層厚方向に亘って均一な含有比率で
含有すればよく、或いは第5図及び第6図のように不均
一な含有比率で含有させてもよい。
According to this first aspect, Ge is present in the first N region (6a).
When it is contained, it may be contained at a uniform content ratio over the layer thickness direction, or it may be contained at a non-uniform content ratio as shown in FIGS. 5 and 6.

これらの図において、横軸は基板から感光体表面に至る
層厚を示し、縦軸はGe含有量を示している。尚、この
横軸において、(6a)、(7a)に示すそれぞれの範
囲は第1の層領域及び第2の層領域を表している。
In these figures, the horizontal axis represents the layer thickness from the substrate to the surface of the photoreceptor, and the vertical axis represents the Ge content. In addition, on this horizontal axis, the respective ranges shown in (6a) and (7a) represent the first layer region and the second layer region.

第5図及び第6図によれば、第1の層領域(6a)と第
2の層領域(7a)の界面に含有比率の段差をつくらず
、これによって界面でキャリアがトラップされなくなっ
て残留電位が小さくなる。
According to FIGS. 5 and 6, no step in the content ratio is created at the interface between the first layer region (6a) and the second layer region (7a), so that carriers are no longer trapped at the interface and remain. The potential becomes smaller.

また、炭素含有量を第7図乃至第12図に示す通りに設
定してもよい。これらの図において、横軸は基板から感
光体表面に至る層厚を示し、縦軸は炭素含有量を示して
いる。尚、この横軸において(6a)、(7a)に示す
それぞれの範囲は第1のNTd域及び第2の層領域を表
している。
Further, the carbon content may be set as shown in FIGS. 7 to 12. In these figures, the horizontal axis represents the layer thickness from the substrate to the surface of the photoreceptor, and the vertical axis represents the carbon content. Note that the ranges shown in (6a) and (7a) on this horizontal axis represent the first NTd region and the second layer region.

第7図は炭素含有比率が全層に亘って一定であり、或い
は第8図は第1の層領域で炭素含有量を少なくしており
、これに対して第9図乃至第12図は第1の層領域が第
2の層領域に比べて炭素が多く含有されていることを示
すものであり、これによって表面電位が一段と高くなっ
て光感度特性が向上する。また、第10図乃至第12図
のように炭素の含有量を層厚方向に亘って漸次変えると
表面電位及び光感度を一層高め且つ残留電位が小さくな
る。
In Fig. 7, the carbon content ratio is constant throughout the entire layer, or in Fig. 8, the carbon content is reduced in the first layer region, whereas in Figs. This indicates that the first layer region contains more carbon than the second layer region, which further increases the surface potential and improves the photosensitivity characteristics. Further, if the carbon content is gradually changed in the layer thickness direction as shown in FIGS. 10 to 12, the surface potential and photosensitivity are further increased and the residual potential is reduced.

かくして第1の態様の感光体によれば、第1図に示した
単一組成のa−SiC層(5)に比べてキャリア発生効
率が広範な波長領域に亘って高くなり、特に、近赤外領
域で一段と優れている。
Thus, according to the photoreceptor of the first aspect, the carrier generation efficiency is higher over a wide wavelength range than that of the single composition a-SiC layer (5) shown in FIG. He's even better in the outside world.

員り立腹様 第2の態様によれば、基板上に光導電性a−SiC層を
形成した電子写真感光体であって、前記a−SiC層は
少なくとも第1の層領域及び第2の層領域を具備し、第
1のN領域は第2のN領域より基板側に配置され且つ0
乃至10000ppn+のVa族元素を含有すると共に
第2の層領域にGeが含まれていることを特徴とする負
極性に帯電可能な電子写真感光体が提供される。
According to a second aspect of the invention, there is provided an electrophotographic photoreceptor in which a photoconductive a-SiC layer is formed on a substrate, wherein the a-SiC layer covers at least a first layer region and a second layer region. the first N region is disposed closer to the substrate than the second N region, and the first N region is arranged closer to the substrate than the second N region;
Provided is an electrophotographic photoreceptor capable of being charged to a negative polarity, which contains a Va group element of 10,000 ppn+ and also contains Ge in the second layer region.

この第2の態様によれば第1図に示した単一組成の光導
電性a−5iC層に対して層厚方向に亘って原子組成比
を変えることによって少なくとも第1の層領域及び第2
の層領域を生成させるものであり、この態様を第4図並
びに第13図乃至第20図により説明する。
According to this second aspect, by changing the atomic composition ratio in the layer thickness direction with respect to the photoconductive a-5iC layer having a single composition shown in FIG.
This method will be explained with reference to FIG. 4 and FIGS. 13 to 20.

第4図においては導電性基板(1)上に第1の層領域(
6b)及び第2の層領域(7b)を順次形成し、両者の
N領域が一体化した光風電性a−SiC層(5b)から
成っており、これらの層領域はStとCの組成比、Si
とGeの組成比、Va族元素の含有量などを変えること
によって決められる、この態様によれば、第1の層領域
(6b)には0乃至110000ppのVa族元素を含
有し、且つ第2のN w4域(7b)にはGeを含有し
ていることが重要である。
In FIG. 4, a first layer region (
6b) and a second layer region (7b) are sequentially formed, and the N regions of both layers are integrated into a photowind-resistant a-SiC layer (5b), and these layer regions have a composition ratio of St and C. , Si
According to this embodiment, the first layer region (6b) contains 0 to 110,000 pp of Va group elements, and the second layer region (6b) is determined by changing the composition ratio of Ge and the Va group element content. It is important that the Nw4 region (7b) contains Ge.

即ち、第1の層領域(6b)はVa族元素の含有量が0
乃至110000ppの範囲内で、好適にはO乃至10
00pp+mの範囲内で適宜法められ、これによって負
極性に帯電すると共に表面電位、光感度特性等の所要な
電子写真特性が得られる。
That is, the first layer region (6b) has a Va group element content of 0.
Within the range of 110,000 pp, preferably 0 to 10
00 pp+m, and as a result, it is charged to a negative polarity and required electrophotographic properties such as surface potential and photosensitivity properties are obtained.

第2の層領域(7b)にGeを含有させると分光感度特
性が長波長側ヘシフトし、その波長領域での光感度が高
くなる。そのためGe含有量はSiとGeの原子組成比
を1:1乃至19:1、好適には2:1乃至10:1の
範囲内に設定するとよく、これによって約78on−の
発振波長をもつ半導体レーザー光に対する光感度特性が
顕著に向上する。
When Ge is contained in the second layer region (7b), the spectral sensitivity characteristics shift to the longer wavelength side, and the photosensitivity in that wavelength region becomes higher. Therefore, the Ge content should be set so that the atomic composition ratio of Si and Ge is within the range of 1:1 to 19:1, preferably 2:1 to 10:1. The photosensitivity to laser light is significantly improved.

この第2のNTi1域(7b)にGeを含有させる場合
、層厚方向に亘って均一な含有比率で含有すればよいが
、或いは第13図及び第14図のように不均一な含有比
率で含有させてもよい、これらの図において、横軸は基
板から感光体表面に至る層厚を示し、縦軸はGe含有量
を示している。尚、横軸において(6b)、(7b)に
示すそれぞれの範囲は第1のW!J領域及び第2の層領
域を表している。
When Ge is contained in this second NTi1 region (7b), it may be contained at a uniform content ratio over the layer thickness direction, or it may be contained at a non-uniform content ratio as shown in Figs. 13 and 14. In these figures, the horizontal axis indicates the layer thickness from the substrate to the surface of the photoreceptor, and the vertical axis indicates the Ge content. In addition, each range shown in (6b) and (7b) on the horizontal axis is the first W! It represents the J area and the second layer area.

第13図及び第14図によれば、第1ON領域(6b)
と第2の層領域(7b)の界面に含有比率の段差を作ら
ず、これによってキャリアがトラップされなくなって残
留電位が小さくなる。
According to FIGS. 13 and 14, the first ON region (6b)
No difference in content ratio is created at the interface between the first and second layer regions (7b), and as a result, carriers are no longer trapped and the residual potential is reduced.

この第2の態様によれば、炭素含有量を第15図乃至第
20図に示す通りに設定してもよい。これらの図におい
て、横軸は基板から感光体表面に至る層厚を示し、縦軸
は炭素含有量を示している。尚、この横軸において、(
6b)、(7b)に示すそれぞれの範囲は第1の層領域
及び第2の層領域を表している。
According to this second aspect, the carbon content may be set as shown in FIGS. 15 to 20. In these figures, the horizontal axis represents the layer thickness from the substrate to the surface of the photoreceptor, and the vertical axis represents the carbon content. Furthermore, on this horizontal axis, (
The respective ranges shown in 6b) and (7b) represent the first layer region and the second layer region.

第15図によれば、炭素含有比率が全層に亘って一定で
あり、或いは第16図においては第2の層領域で炭素含
有量を少なくしており、これに対して第17図乃至第2
0図は第2の層領域が第1の層領域に比べて炭素が多く
含有されていることを示すものであり、これによって表
面電位が一段と高くなって光感度特性が向上する。また
、第18図乃至第26図のように炭素の含有量を層厚方
向に亘って漸次変えると表面電位及び光感度を一層高め
且つ残留電位が小さくなる。
According to FIG. 15, the carbon content ratio is constant throughout the entire layer, or in FIG. 16, the carbon content is reduced in the second layer region, whereas in FIGS. 2
Figure 0 shows that the second layer region contains more carbon than the first layer region, which further increases the surface potential and improves the photosensitivity. Further, if the carbon content is gradually changed in the layer thickness direction as shown in FIGS. 18 to 26, the surface potential and photosensitivity are further increased and the residual potential is reduced.

また、第2の態様によれば、第2の層領域(6b)は、
それ自体高い抵抗率を有しており、これにより、基板(
1)と第1の層領域(6b)との間に基板(1)からの
キャリア注入を阻止するための別の層を介在させなくて
も大きな表面電位が得られるという利点がある。
Further, according to the second aspect, the second layer region (6b) is
It itself has a high resistivity, which makes the substrate (
There is an advantage that a large surface potential can be obtained without intervening another layer for blocking carrier injection from the substrate (1) between the substrate (1) and the first layer region (6b).

このようにして得られた第2の態様の感光体によれば、
第1図に示した単一組成のa−3iC層(5)に比べて
表面電位を有利に向上させることができる。
According to the photoreceptor of the second aspect obtained in this way,
The surface potential can be advantageously improved compared to the single composition a-3iC layer (5) shown in FIG.

かくして第1の態様及び第2の態様によれば、分光感度
ピークが長波長側ヘシフトし、更に第1図に示した単一
組成のa−5iC感光体に比べて光感度、表面電位等が
向上した電子写真感光体が提供される。
Thus, according to the first aspect and the second aspect, the spectral sensitivity peak is shifted to the longer wavelength side, and the photosensitivity, surface potential, etc. are improved compared to the single composition a-5iC photoreceptor shown in FIG. An improved electrophotographic photoreceptor is provided.

また、本発明によれば、上述した両者の態様における第
1の層領域(6a) (6b)に対して酸素又は窒素の
少なくとも一種を0.01乃至60原子χ、好適には0
.1乃至30原子χの範囲内で含有させるとよく、これ
によってa−SiCFiの基板に対する密着性が向上す
る。
Further, according to the present invention, 0.01 to 60 atoms χ, preferably 0.
.. The content is preferably in the range of 1 to 30 atoms χ, which improves the adhesion of a-SiCFi to the substrate.

更に本発明によれば、単一組成のa−SiCFi並びに
第1の態様及び第2の態様のa−3iCNは、いずれも
光導電性a−3iCliiから成り、これによって十分
実用的な電子写真特性が得られるが、これらのa−Si
C層の表面上に従来周知の表面保護層を形成してもよい
Furthermore, according to the present invention, the single composition a-SiCFi and the a-3iCN of the first and second embodiments are both composed of photoconductive a-3iClii, thereby providing sufficient practical electrophotographic properties. are obtained, but these a-Si
A conventionally known surface protective layer may be formed on the surface of the C layer.

この表面保護層にはそれ自体高絶縁性、高耐食性及び高
硬度特性を有するものであれば種々の材料を用いること
ができ、例えばポリイミド樹脂などの有機材料、a−3
iC+ 5iOz、SiO+ Al zest stc
、 Si3N+、 a−3i、 a−St:H,a−5
i:F、 a−SiC:H,a−5iC:Fなどの無機
材料を用いることができる。
Various materials can be used for this surface protective layer as long as they themselves have high insulation properties, high corrosion resistance, and high hardness characteristics, such as organic materials such as polyimide resin, a-3
iC+ 5iOz, SiO+ Al zest stc
, Si3N+, a-3i, a-St:H, a-5
Inorganic materials such as i:F, a-SiC:H, and a-5iC:F can be used.

更に、第1の態様及び第2の態様に対して所要に応じて
Fを含有させてもよい。
Furthermore, F may be contained in the first aspect and the second aspect as required.

即ち、第1の態様にて述べた第1の層領域(6a)に5
X10−’乃至25原子χ、好適には5 Xl0−’乃
至10原子χのFを含有させればよく、これにより、高
耐久性且つ高耐熱性となる。
That is, in the first layer region (6a) described in the first embodiment, 5
It is sufficient to contain F of X10-' to 25 atoms χ, preferably 5 Xl0-' to 10 atoms χ, thereby providing high durability and high heat resistance.

また、第2の態様にて述べた第2の層領域(7b)に5
×10−%乃至25原子2、好適には5×10−%乃至
10原子χのFを含有させてもよく、これによって光キ
ャリアの発生効率が高くなって光感度が向上し、更に膜
自体の耐久性及び耐熱性が向上し、特にコロナ放電に対
して優れ、又、耐湿性が向上する。
Further, in the second layer region (7b) described in the second embodiment, 5
×10-% to 25 atoms 2, preferably 5 × 10-% to 10 atoms χ of F may be included, which increases the photocarrier generation efficiency and improves the photosensitivity, and further improves the film itself. The durability and heat resistance of the material are improved, particularly against corona discharge, and the moisture resistance is improved.

次に本発明の電子写真感光体の製法を述べる。Next, a method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor of the present invention will be described.

本発明に係るa−3iC層を形成するに当たってグロー
放電分解法、イオンブレーティング法、反応性スパッタ
リング法、真空蒸着法、CVD法などの薄膜生成技術を
用いることができ、また、これに用いられる原料には固
体、液体、気体のいずれでもよい。
In forming the a-3iC layer according to the present invention, thin film production techniques such as glow discharge decomposition method, ion blating method, reactive sputtering method, vacuum evaporation method, and CVD method can be used, and The raw material may be solid, liquid, or gas.

以下、本発明の電子写真感光体をグロー放電分解法によ
り製作する場合を例にとって説明する。
Hereinafter, an example in which the electrophotographic photoreceptor of the present invention is manufactured by a glow discharge decomposition method will be explained.

a−SiC生成用ガスはSi含有ガス及びC含有ガスを
含み、必要に応じて■2、不活性ガス(He、 Arな
ど)をキャリアーガスとして含有させる。このSi含有
ガスには5tH4,5iJth+SsJ++ などがあ
り、C含有ガスにはCHt、CJh、CJ4.CJ□C
3H5などがあり、或いは5t−C結合をもつSt (
CH3) aガス′などを用いてもよい。
The a-SiC generating gas contains a Si-containing gas and a C-containing gas, and if necessary, (2) contains an inert gas (He, Ar, etc.) as a carrier gas. This Si-containing gas includes 5tH4, 5iJth+SsJ++, etc., and the C-containing gas includes CHt, CJh, CJ4. CJ□C
3H5, etc., or St (
CH3) a gas' etc. may be used.

a−5iC生成用ガスにGeを含有させる場合、このガ
スにGe含有ガスを導入すればよ(、このGe含有ガス
としてはGeHa、 Ge2H6,GeJs等がある。
When the a-5iC generation gas contains Ge, a Ge-containing gas may be introduced into the gas (Ge-containing gases include GeHa, Ge2H6, GeJs, etc.).

また、a−3iC生成用ガス中のGe含有ガス比率はガ
スの種類に関連するが、Si含有ガスとGe含有ガスは
1:l乃至30:1、好適には2:1乃至15:1の範
囲内に設定するとよい。
Furthermore, the ratio of Ge-containing gas in the a-3iC generation gas is related to the type of gas, but the ratio of Si-containing gas to Ge-containing gas is 1:1 to 30:1, preferably 2:1 to 15:1. It is best to set it within the range.

また、a−SiC層にVa族元素を0乃至10.000
pp−の範囲内で含有させるためにはa−5iC生成用
ガスに0乃至1モルχ、好適にはO乃至0.1モルχの
Va族元素含有ガスを含有させればよく、このドーピン
グ用ガスには!b、NHs、PHs、^’iPs+5b
83等がある。
In addition, 0 to 10.000 of Va group elements are added to the a-SiC layer.
In order to make the content within the range of pp-, the a-5iC generation gas may contain 0 to 1 mol χ, preferably O to 0.1 mol χ, of the Va group element-containing gas; For gas! b, NHs, PHs, ^'iPs+5b
There is 83 mag.

このようなa−3iC生成用ガスに更にFを含有させる
場合、上記Si含有ガス又はC含有ガスに一価元素とし
て結合させればよく、例えばS iF a、S iHF
 31SiHzFz、 5iHJ、 Cl3F、C)1
2Fz、CHF3.CF4がある。また、このa−5i
C生成用ガス或いはグロー放電領域に不純物として又は
不可避的にFが混入され、これによって成膜過程でFを
含有させてもよい。例えばIPはグロー放電分解用反応
容器の洗浄剤として用いられるが、残存してa−SiC
Ii!生成中に混入してもよい。
When F is further contained in such a-3iC generation gas, it may be bonded to the Si-containing gas or C-containing gas as a monovalent element, for example, SiFa, SiHF.
31SiHzFz, 5iHJ, Cl3F, C)1
2Fz, CHF3. There is CF4. Also, this a-5i
F may be mixed into the C generation gas or the glow discharge region as an impurity or unavoidably, thereby causing F to be included in the film forming process. For example, IP is used as a cleaning agent for reaction vessels for glow discharge decomposition, but it remains and a-SiC
Ii! May be mixed during production.

本発明の電子写真感光体を製作するに当たっては、グロ
ー放電分解法によってSi含有ガス及びアセチレン(C
Jt)ガスの混合ガスよりa−SiCを形成させた場合
、著しく大きな高速成膜性が達成できる点で、望ましい
In manufacturing the electrophotographic photoreceptor of the present invention, Si-containing gas and acetylene (C
It is desirable to form a-SiC using a mixed gas of Jt) gas, since it is possible to achieve a significantly high rate of film formation.

本発明者等が繰り返し行った実験によれば、このSi含
有ガスとして前述した種々のSt系ガスを用いることが
できるが、例えばSiH4ガス及びCJzガスを用いた
場合、5乃至20μIm1時の成膜速度が得られた。因
にSiH*ガスとCH4ガスを用いてa−SiC膜を生
成した場合、その成膜速度は約0.3乃至1μm/時で
ある。
According to experiments repeatedly conducted by the present inventors, various St-based gases mentioned above can be used as the Si-containing gas. Got the speed. Incidentally, when an a-SiC film is produced using SiH* gas and CH4 gas, the film formation rate is about 0.3 to 1 μm/hour.

更に本発明に係る製法によれば、CJzとSi含有ガス
をグロー放電領域に導入するに当たってこのガス組成比
を0.01:1乃至3:1の範囲内に、好適には0.0
5:1乃至1:11最適には0.05:1乃至0.3:
1の範囲内に設定すればよ< 、0.01:1の比率か
ら外れた場合には暗抵抗率が101Ω・cow以下とな
って電荷保持力が十分でなく、大きな帯電電位を得るこ
とができなくなり、3:1の比率から外れた場合には膜
中のダングリングボンドが増加して暗抵抗率が10”Ω
・c11以下となる。
Furthermore, according to the manufacturing method of the present invention, when introducing the CJz and Si-containing gas into the glow discharge region, the gas composition ratio is within the range of 0.01:1 to 3:1, preferably 0.0.
5:1 to 1:11 optimally 0.05:1 to 0.3:
If the ratio is outside the 0.01:1 ratio, the dark resistivity will be less than 101Ω・cow, and the charge retention will not be sufficient, making it difficult to obtain a large charged potential. If the ratio is deviated from 3:1, the number of dangling bonds in the film increases and the dark resistivity decreases to 10”Ω.
・C11 or less.

本発明に係る製法によれば、上述した通りの製造条件に
よってa−3iC層を生成するに当たっては、グロー放
電用の高周波電力、反応室内部のガス圧及び基板温度を
次の通りに設定するのがよい。
According to the manufacturing method of the present invention, when producing the a-3iC layer under the manufacturing conditions described above, the high-frequency power for glow discharge, the gas pressure inside the reaction chamber, and the substrate temperature are set as follows. Good.

即ち、高周波電力は0.05乃至0.5W/cm”の範
囲に設定すればよ< 、0.05W/cm″未満である
と成膜速度が小さくなり、0.釦へIIzを超えるとプ
ラズマダメージによって膜質が低下してキャリア移動度
が小さくなる。また、ガス圧は0.1乃至2.0Tor
rの範囲内に設定すればよ< 、0.ITorr未満で
あると成膜速度が小さくなり、 2.QTorrを超え
ると放電が不安定となる。更に、基板温度はa−St:
H膜の成膜形成に比べて30乃至80℃位高くするのが
よく、望ましくは200乃至400℃の範囲がよい。こ
の基板温度が200℃未満であればSiとCのネットワ
ーク化が阻害され400℃を超えると水素の脱離が著し
くなって暗抵抗率が小さくなる。
That is, the high frequency power should be set in the range of 0.05 to 0.5 W/cm''; if it is less than 0.05 W/cm, the film formation rate will be low; When the temperature exceeds IIz, the film quality deteriorates due to plasma damage and the carrier mobility decreases. In addition, the gas pressure is 0.1 to 2.0 Torr.
Just set it within the range of r<, 0. If it is less than ITorr, the film formation rate will be low; 2. If QTorr is exceeded, the discharge becomes unstable. Furthermore, the substrate temperature is a-St:
The temperature is preferably about 30 to 80° C. higher than that of the H film, preferably in the range of 200 to 400° C. If the substrate temperature is less than 200° C., network formation of Si and C is inhibited, and if it exceeds 400° C., hydrogen desorption becomes significant and the dark resistivity decreases.

次に本発明の電子写真感光体に係る前述した第1の態様
及び第2の態様に対する製法を下記に列記する。いずれ
の製法においてもC含有ガスとしてC2H2を用いて成
膜速度を高めている。
Next, the manufacturing methods for the above-described first and second aspects of the electrophotographic photoreceptor of the present invention are listed below. In both manufacturing methods, C2H2 is used as the C-containing gas to increase the film formation rate.

筆上皇皿様二製基 第1の態様の製法によれば、a−SiC生成用ガスをグ
ロー放電分解して負極性に帯電可能な光導電性a−Si
CNを基板上に形成した電子写真感光体の製法であって
、前記ガスはC2H,及びSi含有ガスから成り、成膜
中にガス組成比を変えて前記a−SiC層に少な(とも
第1の層領域及び第2のN Sr1域を具備させ、第1
のN領域は第2の層領域より基板側に配置され、且つ第
1のN領域の形成時にa−SiC生成用ガスにGeを含
むと共に第2の層領域の形成時にa−SiC生成用ガス
に0乃至1モルχのVa族元素含有ガスが含有している
ことを特徴とする電子写真感光体の製法が提供される。
According to the manufacturing method of the first aspect, a photoconductive a-Si that can be charged to a negative polarity is produced by glow discharge decomposition of an a-SiC generation gas.
A method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor in which CN is formed on a substrate, wherein the gas is composed of C2H and Si-containing gas, and the gas composition ratio is changed during film formation to form a small amount (both first and second) in the a-SiC layer. layer region and a second N Sr1 region, the first
The N region is disposed closer to the substrate than the second layer region, and contains Ge in the a-SiC generation gas when forming the first N region, and contains Ge in the a-SiC generation gas when forming the second layer region. Provided is a method for producing an electrophotographic photoreceptor, characterized in that the electrophotographic photoreceptor contains 0 to 1 mole χ of a Va group element-containing gas.

第2(7)皿檄公盟灰 第2の態様の製法によれば、a−5iC生成用ガスをグ
ロー放電分解して負極性に帯電可能な光導電性a−5i
CNを基板上に形成した電子写真感光体の製法であって
、前記ガスはCJlt及びSi含有ガスから成り、成膜
中にガス組成比を変えて前記a−3iC層に少なくとも
第1のN 914域及び第2の層領域を具備させ、第1
の層領域は第2のN領域より基板側に配置され、且つ第
1の層領域の形成時にa−3iC生成用ガスに0乃至1
モルχのVa族元素含有ガスを含有すると共に第2のN
 fiJl域の形成時にa−3iC生成用ガスにGeを
含むことを特徴とする電子写真感光体の製法が提供され
る。
According to the manufacturing method of the second aspect, the a-5iC generating gas is decomposed by glow discharge to produce a photoconductive a-5i that can be charged to a negative polarity.
A method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor in which CN is formed on a substrate, wherein the gas is composed of CJlt and Si-containing gas, and the gas composition ratio is changed during film formation to inject at least a first N 914 into the a-3iC layer. a first layer region and a second layer region;
The layer region is disposed closer to the substrate than the second N region, and when forming the first layer region, the a-3iC generation gas is exposed to a concentration of 0 to 1.
mol χ of Va group element-containing gas and a second N
A method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor is provided, which is characterized in that Ge is included in the a-3iC generation gas when forming the fiJl region.

次に本発明の実施例に用いられる容量結合型グロー放電
分解装置を第21図により説明する。
Next, a capacitively coupled glow discharge decomposition device used in an embodiment of the present invention will be explained with reference to FIG.

図中、第1.第2.第3.第4.第5タンク(8) (
9) (10) (11) (12)には、それぞれ5
iHa+CtHz+GeHa、PIIs(H2ガス希釈
で33ppm含有)、Hlが密封されており、hはキャ
リアーガスとしても用いられる。これらのガスは対応す
る第1.第2.第3.第4.第5,11整弁(13) 
(14) (15) (16) (17)を開放するこ
とにより放出され、その流量がマスフローコントローラ
(1B) (19)(20) (21) (22)によ
り制御され、第1.第2.第3.第4゜第5タンク(8
) (9) (10) (11) (12)からのガス
は主管(23)へ送られる。尚、(24)は止め弁であ
る。主管(23)を通じて流れるガスは反応管(25)
へと送り込まれるが、この反応管(25)の内部には容
量結合型放電用電極(26)が設置されており、それに
印加される高周波電力は5〇−乃至3■が、また周波数
はI MHz乃至50Hzが適当である0反応管(25
)の内部には、アルミニウムから成る筒状の成膜基板(
27)が試料保持台(28)の上に載置されており、こ
の保持台(28)はモーター(29)により回転駆動さ
れるようになっており、そして、基板(27)は適当な
加熱手段により、約200乃至400℃好ましくは約2
00乃至350℃の温度に均一に加熱される。更に、反
応管(25)の内部はa−3iCli影形成時高度の真
空状態(放電圧0.1乃至2.0Torr)を必要とす
ることにより回転ポンプ(30)と拡散ポンプ(31)
に連結されている。
In the figure, 1st. Second. Third. 4th. 5th tank (8) (
9) (10) (11) (12) are each 5
iHa+CtHz+GeHa, PIIs (contains 33 ppm when diluted with H2 gas), and Hl are sealed, and h is also used as a carrier gas. These gases correspond to the first. Second. Third. 4th. 5th and 11th valve adjustment (13)
(14) (15) (16) It is released by opening (17), and its flow rate is controlled by the mass flow controller (1B) (19) (20) (21) (22). Second. Third. 4th ° 5th tank (8
) (9) (10) (11) The gas from (12) is sent to the main pipe (23). Note that (24) is a stop valve. The gas flowing through the main pipe (23) flows through the reaction pipe (25)
A capacitively coupled discharge electrode (26) is installed inside this reaction tube (25), and the high frequency power applied to it is 50 to 3 cm, and the frequency is I 0 reaction tube (25 MHz to 50 Hz is suitable)
) has a cylindrical film-forming substrate made of aluminum (
27) is placed on a sample holder (28), and this holder (28) is rotated by a motor (29), and the substrate (27) is heated appropriately. by means of about 200 to 400°C, preferably about 2
It is uniformly heated to a temperature of 00 to 350°C. Furthermore, the interior of the reaction tube (25) requires a high vacuum state (discharge voltage 0.1 to 2.0 Torr) during a-3iCli shadow formation, so a rotary pump (30) and a diffusion pump (31) are required.
is connected to.

以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えば、a−3iC膜(Geを含有する)を基板(27
)上に形成する場合には、第1.第2.第3.第5゜調
整弁(13) (14) (15) (17)を開いて
それぞれより5tf14+CJz+GeHn、Hzガス
を放出する。放出量はマスフローコントローラ(1B)
 (19) (20) (22)により制御され5iH
t、CJz+GeH4,Hzの混合ガスは主管(23)
を介して反応管(27)へと流し込まれる。そして、反
応管(27)の内部が0.1乃至2.0Torr程度の
真空状態、基板温度が200乃至400℃、容量型放電
用電極(26)の高周波電力が50騙乃至3H1または
周波数が1乃至50MHzに設定されていることに相俟
ってグロー放電が起こり、ガスが分解してGeを含有し
たa−3iC膜が基板上に高速で形成される。
In the glow discharge decomposition device configured as above,
For example, an a-3iC film (containing Ge) is deposited on a substrate (27
), when forming on the 1st. Second. Third. Open the 5th degree regulating valves (13), (14), (15), and (17) to release 5tf14+CJz+GeHn and Hz gases from each. Release amount is determined by mass flow controller (1B)
(19) (20) Controlled by (22) 5iH
t, CJz + GeH4, Hz mixed gas is in the main pipe (23)
and into the reaction tube (27). Then, the inside of the reaction tube (27) is in a vacuum state of about 0.1 to 2.0 Torr, the substrate temperature is 200 to 400°C, and the high frequency power of the capacitive discharge electrode (26) is 50 to 3H1 or the frequency is 1. Coupled with the fact that the frequency is set between 50 MHz and 50 MHz, glow discharge occurs, gas is decomposed, and an a-3iC film containing Ge is formed on the substrate at high speed.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明の詳細な説明する。 Next, the present invention will be explained in detail.

(例1) 本例においては、光導電性a−3iC層をアルミニウム
製成膜用基板に生成し、分光感度特性並びに表面電位、
光感度及び残留電位を測定した。
(Example 1) In this example, a photoconductive a-3iC layer is produced on an aluminum film-forming substrate, and the spectral sensitivity characteristics, surface potential,
Photosensitivity and residual potential were measured.

即ち、第21図に示した容量結合型グロー放電分解装置
を用いて第1タンク(8)よりSiH4ガスを159s
ecmの流量で、第2タンク(9)よりCtHzガスを
10105eの流量で、第3タンク(10)よりGeH
aガスを30sccmの流量で、第4タンク(11)よ
りPH2ガスを40sec+aの流量で、第5タンク(
12)より■2ガスを200scc111の流量で放出
し、グロー放電分解法に基づいて約30μmの厚みのa
−3iC層を製作し、電子写真特性を測定したところ、
分光感度は第22図に示す通りとなり、他の特性は下記
に示す通りになった。尚、分光感度についてはa−3i
C膜の厚みを5μmにして製作し、測定用試料とした。
That is, using the capacitively coupled glow discharge decomposition device shown in FIG.
CtHz gas from the second tank (9) at a flow rate of ecm, GeH from the third tank (10) at a flow rate of 10105e.
a gas at a flow rate of 30 sccm, and PH2 gas from the fourth tank (11) at a flow rate of 40 sec+a from the fifth tank (11).
12) From ■2 gas is released at a flow rate of 200scc111, and a thickness of about 30 μm is formed based on the glow discharge decomposition method.
-3iC layer was fabricated and its electrophotographic properties were measured.
The spectral sensitivity was as shown in FIG. 22, and the other characteristics were as shown below. Regarding the spectral sensitivity, a-3i
A C film was manufactured with a thickness of 5 μm and used as a measurement sample.

第22図によれば、分光感度特性は各波長において等エ
ネルギー光を照射した時の光導電率を示し、Xは本例の
分光感度特性曲線であり、yは比較例である。
According to FIG. 22, the spectral sensitivity characteristic shows the photoconductivity when irradiated with equal energy light at each wavelength, X is the spectral sensitivity characteristic curve of this example, and y is the comparative example.

第22図に示す分光感度特性曲線から明らかな通リ、約
700〜800nn+付近の波長領域において光感度が
顕著に向上する。然るに本例において第3!P1節弁(
3)を閉じ、他の製作条件を同じに設定し、同様に分光
感度特性(曲線y)を測定したところ、近赤外領域で光
感度特性が劣っている。
As is clear from the spectral sensitivity characteristic curve shown in FIG. 22, the photosensitivity is significantly improved in the wavelength region of about 700 to 800 nn+. However, in this example, the third! P1 section valve (
3) was closed, other manufacturing conditions were set to the same, and the spectral sensitivity characteristics (curve y) were measured in the same manner. As a result, the photosensitivity characteristics were inferior in the near-infrared region.

又、表面電位は−5,6KVのコロナチャージャで負帯
電にし、次いで分光された単色光(770nm)を感光
体表面に照射し、これによって下記の通りの電子写真特
性が得られた。尚、残留電位は露光開始5秒後の値であ
る。
Further, the surface potential was negatively charged with a corona charger of -5.6 KV, and the surface of the photoreceptor was then irradiated with spectroscopic monochromatic light (770 nm), whereby the following electrophotographic characteristics were obtained. Note that the residual potential is the value 5 seconds after the start of exposure.

表面電位・・・・・−520v 光感度・・・・・・0.20cIII2er「1残留型
位・・・・・ 30 V 更に本例にて製作した感光体を半導体レーザービームプ
リンタ(波長?70nm、印字速度20枚7分)に実装
して印字したところ、画像に縞模様が発生せず、高コン
トラストで解像度が高い、高品質画像が得られた。
Surface potential: -520V Photosensitivity: 0.20cIII2er 1 residual type: 30V Furthermore, the photoreceptor produced in this example was printed on a semiconductor laser beam printer (wavelength: 70nm). When printed at a printing speed of 20 sheets, 7 minutes), a high-quality image with high contrast and high resolution was obtained without any striped patterns.

(例2) 本例においては、第1の態様の感光体を第1表に示す条
件で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られ
た。尚、特性評価テストは(例1)と同じであり1、本
実施例のすべてに共通する。
(Example 2) In this example, a photoreceptor of the first embodiment was manufactured under the conditions shown in Table 1, and the following electrophotographic characteristics were obtained. Note that the characteristic evaluation test is the same as in (Example 1)1, and is common to all of the present examples.

表面電位・・・−580v 光感度・・・0.23cn+”erg−’残留電位・・
・35 V また、本例の感光体を半導体レーザービームプリンタ(
波長770nm、印字速度20枚/分)に実装して印字
したところ、画像に縞模様が全く発生せず、高コントラ
ストで解像度が高い、高品質画像が得られた。
Surface potential...-580v Photosensitivity...0.23cn+"erg-'Residual potential...
・35 V Also, the photoreceptor of this example can be used in a semiconductor laser beam printer (
When printed at a wavelength of 770 nm and a printing speed of 20 sheets/min, a high-quality image with high contrast and high resolution was obtained with no striped pattern at all.

更に、本例において第1の層領域(6a)を形成するに
当たって5iFnガスを50secmの流量で反応管へ
放出したところ、表面電位が更に高くなった。
Furthermore, in this example, when 5iFn gas was discharged into the reaction tube at a flow rate of 50 seconds when forming the first layer region (6a), the surface potential became even higher.

(以下余白) (例3) 本例においては、第2の態様の感光体を第2表に示す条
件で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られ
た。
(Left below) (Example 3) In this example, a photoreceptor of the second embodiment was manufactured under the conditions shown in Table 2, and the following electrophotographic properties were obtained.

表面電位・・・−650■ 光感度・・・0.21cm”erg−’残留電位・・・
 35V/’C また、本例の感光体を(例2)と同様にプリンタに実装
して印字したところ、画像に縞模様が発生せず、高コン
トラストで解像度が高い、高品質画像が得られた。
Surface potential...-650■ Photosensitivity...0.21cm"erg-'Residual potential...
35V/'C Also, when the photoreceptor of this example was installed in a printer in the same manner as in (Example 2) and printed, a high-quality image with high contrast and high resolution was obtained without any striped patterns. Ta.

更に、本例において第2の0M域(7b)を形成するに
当たってSiF4ガスを50secmの流量で反応管へ
放出したところ、耐湿性及び耐久性が一段と向上した。
Furthermore, in this example, when forming the second 0M region (7b), SiF4 gas was discharged into the reaction tube at a flow rate of 50 seconds, and the moisture resistance and durability were further improved.

(以下余白) 〔発明の効果〕 以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、全層に
亘って光導電装を有するa−5iCが高い暗抵抗率とな
り、且つ光感度特性、もに優れていることによって実質
上表面層及びキャリア注入阻止層を不要とすることがで
き、その結果、光導電性a−3iC層だけから成る電子
写真感光体が提供できた。
(The following is a blank space) [Effects of the Invention] As described above, according to the electrophotographic photoreceptor of the present invention, a-5iC having a photoconductive device throughout the entire layer has a high dark resistivity, and also has excellent photosensitivity characteristics. Due to this superiority, it is possible to substantially eliminate the need for a surface layer and a carrier injection blocking layer, and as a result, an electrophotographic photoreceptor consisting only of a photoconductive a-3iC layer can be provided.

また本発明によれば、Geを含有させたことによって長
波長側の光感度特性を大きくすることができ、これによ
って半導体レーザービームプリンタ用に適し、更に画像
に干渉縞が生じなくなり、その結果、半導レーザービー
ムプリンタ用感光体として高性能且つ高信頼性の電子写
真感光体で提供できる。
Further, according to the present invention, by including Ge, the photosensitivity characteristic on the long wavelength side can be increased, which makes it suitable for use in semiconductor laser beam printers, and furthermore, interference fringes do not occur in the image, and as a result, A high-performance and highly reliable electrophotographic photoreceptor can be provided as a photoreceptor for semiconductor laser beam printers.

また本発明の電子写真感光体によれば、Fを膜中に所定
量含有させることによって耐熱性及び耐久性を高めて初
期の優れた光感度を維持することができ、これによって
高性能且つ長期信鯨性の電子写真特性が提供できる。そ
して、Fの含有量を層厚方向に亘って変えることによっ
てVa族元素のドーピング効率を高めてキャリア注入阻
止能を向上させたり、或いは耐湿性又は耐環境特性を向
上させることもできる。
Further, according to the electrophotographic photoreceptor of the present invention, by incorporating a predetermined amount of F into the film, it is possible to improve heat resistance and durability and maintain excellent initial photosensitivity. It can provide reliable electrophotographic characteristics. By changing the F content in the layer thickness direction, it is possible to increase the doping efficiency of the Va group element and improve carrier injection blocking ability, or to improve moisture resistance or environmental resistance.

更に本発明の電子写真感光体によれば、層厚方向に亘っ
て炭素及びVa元素の含有量を変えることによって表面
電位を向上させると共に光感度特性を高め、且つ残留電
位を顕著に小さくすることができる。特に、炭素の含有
量を層厚方向に亘って変えると、抵抗率が制御されて所
要の属領域が得られ、その結果格段に高性能な電子写真
感光体が提供できる。
Further, according to the electrophotographic photoreceptor of the present invention, by changing the contents of carbon and Va elements in the layer thickness direction, the surface potential can be improved, the photosensitivity characteristics can be increased, and the residual potential can be significantly reduced. Can be done. In particular, when the carbon content is varied in the layer thickness direction, the resistivity can be controlled and a desired metal region can be obtained, and as a result, an electrophotographic photoreceptor with significantly higher performance can be provided.

また、本発明によれば、負極性に有利に帯電することが
できる負極性用電子写真感光体が提供される。
Further, according to the present invention, there is provided an electrophotographic photoreceptor for negative polarity that can be advantageously charged to negative polarity.

本発明の電子写真感光体によれば、それ自体で帯電能及
び耐環境性に優れていることから、特に保護層を設ける
必要がなく、例えばコロナ放電による被曝或いは現像剤
の樹脂成分の感光体表面へのフィルミング等によって表
面が劣化した場合、その劣化した表面を研摩剤等で研摩
再生を繰り返し行ってもその研摩量において制限を受け
ずに感光体の初期特性を維持することができ、それによ
って初期における良好な画像を長期に亘り安定して供給
することが可能となる。
According to the electrophotographic photoreceptor of the present invention, since the electrophotographic photoreceptor itself has excellent charging ability and environmental resistance, there is no need to particularly provide a protective layer. When the surface has deteriorated due to filming, etc., the initial characteristics of the photoconductor can be maintained without being limited in the amount of polishing even if the deteriorated surface is repeatedly polished and regenerated with an abrasive. This makes it possible to stably supply a good initial image over a long period of time.

更に、従来のa−3i悪感光を長期間に亘って使用した
場合にはコロナ放電に伴って感光体表面の局所的な放電
破壊が発生し易(なり、これに起因して画像に斑点が生
じるという問題があったが、本発明によれば、a−3i
の誘電率がε=12であるのに対してa−5iCはε=
7と約半分程度であるために帯電能に優れており、これ
により、表面電位を高くしても何ら上記の放電破壊が発
生しなくなり、その結果、高品質且つ高信頼性の電子写
真感光体が提供される。
Furthermore, when the conventional a-3i photoreceptor is used for a long period of time, local discharge damage on the photoreceptor surface is likely to occur due to corona discharge (this causes spots on the image). However, according to the present invention, a-3i
The dielectric constant of a-5iC is ε=12, while the dielectric constant of a-5iC is ε=12.
7, it has excellent charging ability, and as a result, the above-mentioned discharge breakdown does not occur even if the surface potential is increased, and as a result, a high quality and highly reliable electrophotographic photoreceptor can be produced. is provided.

更に本発明の電子写真感光体を従来のa−3t悪感光と
比較した場合、このa−Si感光体の問題点として耐湿
性に劣っているので画像流れが生じ昌く、また、帯電能
に劣っているのでゴースト現象が発生するが、これを解
決するためにa−5i5光体の使用時にヒータを用いて
その感光体を加熱し、その発生を防止している。これに
対して本発明の電子写真感光体は耐湿性且つ帯電能に優
れているために上記のようにヒータを用いて使用する必
要はないという利点がある。
Furthermore, when the electrophotographic photoreceptor of the present invention is compared with the conventional A-3T photoreceptor, problems with this a-Si photoreceptor include poor moisture resistance, which often causes image deletion, and poor charging performance. Due to the poor performance, a ghost phenomenon occurs, but in order to solve this problem, a heater is used to heat the photoreceptor when using the a-5i5 photoreceptor, thereby preventing the occurrence of this phenomenon. On the other hand, the electrophotographic photoreceptor of the present invention has an advantage in that it is not necessary to use a heater as described above because it has excellent moisture resistance and charging ability.

また、本発明の電子写真感光体はa−Si感光体と比べ
て炭素の含有量を変えるだけで幅広い分光感度特性(ピ
ーク600〜700nm )が得られると共に光感度自
体を増大させることができ、更に必要に応じて不純物元
素をドーピングすれば長波長側の増感も可能になるとい
う利点がある。
Further, compared to the a-Si photoreceptor, the electrophotographic photoreceptor of the present invention can obtain a wide range of spectral sensitivity characteristics (peak 600 to 700 nm) and increase the photosensitivity itself by simply changing the carbon content. Furthermore, there is an advantage that sensitization on the long wavelength side is also possible by doping with an impurity element as necessary.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の電子写真感光体の層構成を示す説明図
、第2図は従来の電子写真感光体の層構造を示す説明図
、第3図は本発明に係る第1の態様の感光体の層領域を
示す説明図、第4図は本発明に係る第2の態様の感光体
の層領域を示す説明図、第5図及び第6図は第1の態様
の感光体のゲルマニウム含有量を示す説明図、第7図、
第8図、第9図、第1O図、第11図及び第12図は第
1の態様の感光体の炭素含有量を示す説明図、第13図
及び第14図は第2の態様の感光体のゲルマニウム含有
量を示す説明図、第15図、第16図、第17図、第1
8図、第19図及び第20図は第2の態様の感光体の炭
素含有量を示す説明図、第21図は本発明の実施例に用
いられる容量結合型グロー放電分解装置の説明図、第2
2図は本発明の感光体の分光感度特性を示す説明図であ
る。 1・・・基板 5、5a、 5b  ・・・・光導電性アモルファスシ
リコンカーバイド層 6a、6b  ・・・第1の層領域 7a、7b  ・・・第2の層領域 特許出願人 (663)京セラ株式会社同    河村
孝夫
FIG. 1 is an explanatory diagram showing the layer structure of the electrophotographic photoreceptor of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram showing the layer structure of a conventional electrophotographic photoreceptor, and FIG. FIG. 4 is an explanatory diagram showing the layer regions of the photoconductor of the second embodiment of the present invention, and FIGS. 5 and 6 are germanium diagrams of the photoconductor of the first embodiment. Explanatory diagram showing the content, Fig. 7,
8, 9, 1O, 11 and 12 are explanatory diagrams showing the carbon content of the photoreceptor of the first embodiment, and FIGS. 13 and 14 are explanatory diagrams showing the carbon content of the photoreceptor of the second embodiment. Explanatory diagrams showing germanium content in the body, Figures 15, 16, 17, 1
8, 19, and 20 are explanatory diagrams showing the carbon content of the photoreceptor of the second embodiment, and FIG. 21 is an explanatory diagram of the capacitively coupled glow discharge decomposition device used in the embodiment of the present invention. Second
FIG. 2 is an explanatory diagram showing the spectral sensitivity characteristics of the photoreceptor of the present invention. 1...Substrates 5, 5a, 5b...Photoconductive amorphous silicon carbide layers 6a, 6b...First layer regions 7a, 7b...Second layer regions Patent Applicant (663) Kyocera Takao Kawamura, Dodo Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 基板上にゲルマニウム及び0乃至10,000ppmの
周期律表第Va族元素を含有した光導電性アモルファス
シリコンカーバイド層を形成したことを特徴とする負極
性に帯電可能な電子写真感光体。
An electrophotographic photoreceptor capable of being charged to a negative polarity, characterized in that a photoconductive amorphous silicon carbide layer containing germanium and 0 to 10,000 ppm of Group Va elements of the periodic table is formed on a substrate.
JP25426486A 1986-10-25 1986-10-25 Electrophotographic sensitive body Pending JPS63108349A (en)

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