JPS63165857A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents

Electrophotographic sensitive body

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JPS63165857A
JPS63165857A JP31119486A JP31119486A JPS63165857A JP S63165857 A JPS63165857 A JP S63165857A JP 31119486 A JP31119486 A JP 31119486A JP 31119486 A JP31119486 A JP 31119486A JP S63165857 A JPS63165857 A JP S63165857A
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JP
Japan
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layer
photoreceptor
gas
photoconductive
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP31119486A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takao Kawamura
河村 孝夫
Naooki Miyamoto
宮本 直興
Hiroshi Ito
浩 伊藤
Hitoshi Takemura
仁志 竹村
Kazumasa Okawa
大川 和昌
Kokichi Ishiki
石櫃 鴻吉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Filing date
Publication date
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Priority to JP31119486A priority Critical patent/JPS63165857A/en
Publication of JPS63165857A publication Critical patent/JPS63165857A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08235Silicon-based comprising three or four silicon-based layers

Abstract

PURPOSE:To obtain a high-contrast image by incorporating group IIIa elements within a specified range in a photoconductive layer made of a-SiGeC installed in an electrophotographic sensitive body. CONSTITUTION:The photosensitive body is obtained by successively laminating on the conductive substrate 1 a first layer 5, the photoconductive a-SiGeC layer 6, and a second layer 7, and this layer 6 has a Ge/Si atomic ratio of 1:2-1:100, and a C/Si atomic ratio of 1:1-1:100, and the layer 6 contains group IIIs elements in an amount of 1-1,000ppm, thus permitting photosensitivity to be enhanced and residual potential to be lowered, and interference fringes to be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光導電性アモルファスシリコンゲルマニウムカ
ーバイド層を具備した電子写真感光体に関して、詳細に
は暗導電率と明導電率の比率を太き(して光導電性を高
めた電子写真感光体に関するものである。
Detailed Description of the Invention [Industrial Application Field] The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor having a photoconductive amorphous silicon germanium carbide layer, and specifically relates to an electrophotographic photoreceptor having a photoconductive amorphous silicon germanium carbide layer. The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor with improved photoconductivity.

〔従来技術及びその問題点〕[Prior art and its problems]

近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、超高速複写
機やレーザービームプリンターなどの開発が活発に進め
られており、これらの機器に用いられる感光体は長期間
高速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求
される。この要求に対して水素化アモルファスシリコン
が耐熱性、耐摩耗性、無公害性並びに光感度特性が優れ
ているという理由から注目されている。
In recent years, progress in electrophotographic photoreceptors has been remarkable, and the development of ultra-high-speed copying machines and laser beam printers is actively underway.The photoreceptors used in these devices are used at high speeds for long periods of time, so their operation is slow. Stability and durability are required. In response to this demand, hydrogenated amorphous silicon is attracting attention because it has excellent heat resistance, wear resistance, non-pollution properties, and photosensitivity characteristics.

かかるアモルファスシリコン(以下、a−Siと略す)
から成る電子写真感光体には第2図に示す通りの積層型
感光体が提案されている。
Such amorphous silicon (hereinafter abbreviated as a-Si)
As an electrophotographic photoreceptor, a laminated type photoreceptor as shown in FIG. 2 has been proposed.

即ち、第2図によれば、アルミニウム等の導電性基板(
1)上にa−3tキャリア注入阻止層(2) 、a−S
tキャリア発生層(3)及び表面保護層(4)を順次積
層しており、このキャリア注入阻止層(2)は基板(1
)からのキャリアの注入を阻止して表面電位を高めるた
めに形成されており、また、表面保護層(4)には高硬
度な材料を用いて感光体の耐久性を高めている。
That is, according to FIG. 2, a conductive substrate such as aluminum (
1) A-3T carrier injection blocking layer (2) on top, a-S
A carrier generation layer (3) and a surface protection layer (4) are sequentially laminated, and this carrier injection blocking layer (2) is formed on the substrate (1).
) is formed to increase the surface potential by blocking the injection of carriers from the surface (4), and a highly hard material is used for the surface protective layer (4) to increase the durability of the photoreceptor.

一方、そのキャリア発生層(3)にゲルマニウム元素(
Ge)を含有させ、600乃至850nmの波長領域の
光感度を高め、これによって半導体レーザービームプリ
ンター用に適した感光体も提案されている。
On the other hand, germanium element (
A photoreceptor has also been proposed that contains Ge) to increase the photosensitivity in the wavelength range of 600 to 850 nm, thereby making it suitable for semiconductor laser beam printers.

しかしながら、後者のi光体によれば、光感度ピークが
長波長側ヘシフトするが、その反面、キャリア発生層(
3)の暗導電率が急激に増大し、これにより表面電位が
低下し、その結果、濃度の高い画像を得るのが難しくな
るという問題がある。
However, with the latter i-photon, the photosensitivity peak shifts to the longer wavelength side, but on the other hand, the carrier generation layer (
The problem of 3) is that the dark conductivity increases rapidly, which lowers the surface potential, and as a result, it becomes difficult to obtain a high-density image.

この問題を解決するために上記アモルファスシリコンゲ
ルマニウム層にカーボンを含有させ且つ水素及びフッ素
も構成元素とした光導電層が特開昭56−121041
号公報に提案されており、かかる光導電層によれば、暗
抵抗率を10′2Ω・cm以上に設定することができる
と述べられている。
In order to solve this problem, a photoconductive layer was developed in which carbon was contained in the amorphous silicon germanium layer, and hydrogen and fluorine were also constituent elements.
It is proposed in the above publication, and it is stated that with such a photoconductive layer, the dark resistivity can be set to 10'2 Ω·cm or more.

しかしながら、このようなアモルファスシリコンゲルマ
ニウムカーバイド層(以下、アモルファスシリコンゲル
マニウムカーバイドをa−3iGeCと略す)を光導電
層として形成した場合、暗導電率が10−” (Ω・c
m) −’以下の低い値に設定することができるが、そ
の反面、明導電率も減少傾向となり、これによって明導
電率(以下、σphと略す)の暗導電率(以下、σdと
略す)に対する比率が小さくなり、その結果、光感度が
低下して画像に優れたコントラストが得られなくなり、
更に残留電位が大きくなって画像にカブリが生じ易くな
るという問題がある。
However, when such an amorphous silicon germanium carbide layer (hereinafter amorphous silicon germanium carbide is abbreviated as a-3iGeC) is formed as a photoconductive layer, the dark conductivity is 10-" (Ω・c
m) can be set to a low value below -', but on the other hand, the bright conductivity also tends to decrease, which causes the bright conductivity (hereinafter abbreviated as σph) to dark conductivity (hereinafter abbreviated as σd). As a result, the light sensitivity is reduced and the image does not have good contrast.
Furthermore, there is a problem in that the residual potential becomes large and fogging tends to occur on the image.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明者等は上記事情に鑑みて鋭意研究を重ねた結果、
a−SiGeC層に対して周期律表第ma族元素を所定
の範囲内で含有させるとσdを減少させると共にσph
を増大させることができることを見い出した。
In view of the above circumstances, the present inventors have conducted extensive research, and as a result,
When the a-SiGeC layer contains elements of Group Ma of the periodic table within a predetermined range, σd decreases and σph increases.
We found that it is possible to increase the

従って本発明は上記知見に基いて完成されたものであり
、その目的はσph/ σdを大きくし、これにより、
光感度を高め且つ残留電位を小さくし、それによってカ
ブリがなく高コントラストな画像が得られる電子写真感
光体を提供することにある。
Therefore, the present invention was completed based on the above findings, and its purpose is to increase σph/σd, thereby
It is an object of the present invention to provide an electrophotographic photoreceptor that has increased photosensitivity and reduced residual potential, thereby producing fog-free and high-contrast images.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は光導電性a−SiGeC層を具備した電子写真
感光体であって、この層のゲルマニウムとシリコンの原
子組成比が1:2乃至1:100の範囲内に且つカーボ
ンとシリコンの原子組成比が1=1乃至1:100の範
囲内にあり、該層が1乃至11000ppの周期律表第
IIIa族元素を含有していることを特徴とするもので
ある。
The present invention is an electrophotographic photoreceptor comprising a photoconductive a-SiGeC layer, in which the atomic composition ratio of germanium and silicon is within the range of 1:2 to 1:100, and the atomic composition of carbon and silicon is within the range of 1:2 to 1:100. The layer is characterized in that the ratio is in the range of 1=1 to 1:100, and the layer contains 1 to 11,000 pp of the Group IIIa element of the periodic table.

以下、本発明の詳細な説明する。The present invention will be explained in detail below.

本発明の電子写真感光体は光導電性a−5iGeC層に
周期律表第1[[a族元素(以下、Iota族元素と略
す)を所定の範囲内で含有させ、これによってσph/
 σdを大きくすることを特徴とする。
In the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the photoconductive a-5iGeC layer contains an element of group 1 of the periodic table (hereinafter abbreviated as Iota group element) within a predetermined range, whereby σph/
It is characterized by increasing σd.

即ち、本発明に係る光導電性a−3iGeC層によれば
、■乃至1000pp蹟、好適には5乃至500ppm
のma族元素を含有させるとよ< 、1 ppm未満で
あれば、σph/ σdが小さくなって光感度が低くな
り、そのために画像コントラストが低下し、一方、11
000ppを越えた場合にはσdが大きくなると共にσ
ph/ σdが小さくなり、これによって電子写真特性
が劣化する。
That is, according to the photoconductive a-3iGeC layer according to the present invention,
If the content of the Ma group element is less than 1 ppm, σph/σd becomes small and the photosensitivity decreases, resulting in a decrease in image contrast.
When it exceeds 000pp, σd increases and σ
ph/σd becomes small, which deteriorates the electrophotographic properties.

このma族元素としてはB、A1.Ga、In等がある
が、就中、Bが共有結合性に優れて半導体特性を敏感に
変え得る点で望ましい。
The ma group elements include B, A1. There are Ga, In, etc., but B is particularly desirable because it has excellent covalent bonding properties and can sensitively change semiconductor characteristics.

更にこのa−SiGeCJgによれば、StとGeとC
のそれぞれの元素の組成比を下記の通りの範囲内に設定
する必要がある。
Furthermore, according to this a-SiGeCJg, St, Ge, and C
It is necessary to set the composition ratio of each element within the following range.

GeとSiの原子組成比については1:2乃至1:10
0の範囲内に、好適には1:3乃至1:30の範囲内に
設定するとよく、この範囲内であれば長波長光に対する
吸収率が大きくなり、光感度を高めることができる。
The atomic composition ratio of Ge and Si is 1:2 to 1:10.
It is preferable to set the ratio within the range of 0, preferably within the range of 1:3 to 1:30, and within this range, the absorption rate for long wavelength light increases and the photosensitivity can be increased.

CとStの原子組成比についてはl;1乃至1:100
の範囲内に、好適には1:3乃至1 : 100の範囲
内に設定するとよく、この範囲内であればσdを十分に
小さくして帯電能を向上させることができる。
The atomic composition ratio of C and St is l;1 to 1:100.
It is preferable to set the ratio within the range of 1:3 to 1:100, and within this range, σd can be sufficiently reduced to improve the charging ability.

このa−3iGeC層が光導電性を有するように含有さ
せるダングリングボンド終端用元素には水素元素(H)
やハロゲン元素があり、これらの元素の含有量は5乃至
50原子%、好適には5乃至40原子%、最適には10
乃至30原子%がよく、通常、11元素が用いられる。
Hydrogen element (H) is included as an element for terminating dangling bonds so that this a-3iGeC layer has photoconductivity.
and halogen elements, and the content of these elements is 5 to 50 atom%, preferably 5 to 40 atom%, most preferably 10 atom%.
The content is preferably from 30 atomic %, and 11 elements are usually used.

このH元素は上記終端部に取り込まれ易いのでバンドギ
ャップ中の局在準位密度を低減化させ、これにより、優
れた半導体特性が得られる。
Since this H element is easily taken into the terminal portion, the localized level density in the band gap is reduced, thereby providing excellent semiconductor characteristics.

また、このHの一部をハロゲン元素に置換してもよく、
これによって局在準位密度を下げて光導電性及び耐熱性
(温度特性)を高めることができる。このハロゲン元素
にはF、CI、Br、I+At等があるが、就中、Fを
用いるとその大きな電気陰性度によって原子間の結合が
大きくなり、これによって熱的安定性に優れるという点
で望ましい。
Further, a part of this H may be replaced with a halogen element,
This makes it possible to lower the localized level density and improve photoconductivity and heat resistance (temperature characteristics). This halogen element includes F, CI, Br, I+At, etc., but F is particularly desirable because its large electronegativity increases the bonding between atoms, resulting in excellent thermal stability. .

か(して本発明によれば、σph/ σdの大きい光導
電性a−SiGeC層を備えた電子写真感光体が提供さ
れる。
According to the present invention, there is provided an electrophotographic photoreceptor including a photoconductive a-SiGeC layer with a large σph/σd.

そこで、このような電子写真感光体を製作するに際して
、種々の積層構造を第1図及び第3図により述べる。
Therefore, when manufacturing such an electrophotographic photoreceptor, various laminated structures will be described with reference to FIGS. 1 and 3.

第1図によれば、導電性基板(1)上に第1の層(5)
、光導電性a−3iGeC層(6)及び第2の層(7)
を順次積層した感光体であり、第1の層(5)はa−5
iGeC層(6)で発生したキャリアを輸送すると共に
電荷保持の働きがあり、そして、基板(1・)からa−
SiGeCII(6)へキャリアが注入されるのを阻止
する働きを備える。
According to FIG. 1, a first layer (5) is formed on a conductive substrate (1).
, photoconductive a-3iGeC layer (6) and second layer (7)
It is a photoreceptor in which layers are sequentially laminated, and the first layer (5) is a-5.
It has the function of transporting carriers generated in the iGeC layer (6) and retaining charges, and also carries a-
It has the function of preventing carriers from being injected into SiGeCII (6).

このような第1の層(5)には、例えばa−5i、 a
−SiC,a−SiO,a−5iN等の無機半導体があ
る。
Such a first layer (5) includes, for example, a-5i, a
There are inorganic semiconductors such as -SiC, a-SiO, and a-5iN.

この第1のN(5)を半導体材料により形成するに当た
って、感光体を正極性に帯電させる場合にはその伝導型
をP型に制御し、負極性に帯電させる場合にはN型に制
御するのがよく、これによってキャリアの注入阻止作用
が一段と向上する。例えば、このP型半導体材料にはB
等のma族元素を、N型半導体材料にはP等の周期律表
第Va族元素をそれぞれ50乃至10. OOOppm
の範囲内で含有させたa−3i又はa−5iCがある。
When forming this first N(5) from a semiconductor material, its conductivity type is controlled to P type when the photoreceptor is charged to positive polarity, and controlled to N type when charged to negative polarity. This further improves the carrier injection blocking effect. For example, this P-type semiconductor material has B
For the N-type semiconductor material, 50 to 10. OOOppm
There is a-3i or a-5iC contained within the range of .

一方、第2の層(7)は感光体に対する外部からの種々
の物理的又は化学的影響により電子写真特性が劣化する
のを防止するために形成されており、一般にはそれ自体
高絶縁性、高耐食性及び高硬度特性があって表面保護作
用を有するような材料でもって成膜する。このような材
料には、例えばポリイミド樹脂などの有機材料、SiO
□+ S s O+ A 120 :l 1SiC,S
i、N、+ a−3i、 a−5iCなどの無機材料が
ある。
On the other hand, the second layer (7) is formed to prevent the electrophotographic characteristics from deteriorating due to various external physical or chemical influences on the photoreceptor, and is generally highly insulating, The film is formed using a material that has high corrosion resistance, high hardness, and has a surface protection effect. Such materials include, for example, organic materials such as polyimide resin, SiO
□+ S s O+ A 120 :l 1SiC,S
There are inorganic materials such as i, N, + a-3i, and a-5iC.

積層型感光体については、第1図に示した感光体以外に
種々の積層型があり、例えば第3図に示したように第1
図に示した感光体より第2の層(7)を除外した積層型
であってもよい。
Regarding the laminated type photoreceptor, there are various types of laminated type photoreceptors other than the photoreceptor shown in Fig. 1. For example, as shown in Fig. 3,
A laminated type photoreceptor may be used in which the second layer (7) is excluded from the photoreceptor shown in the figure.

このような感光体であれば、a−SiGeC層(6)を
感光体の表面層としているためにそれ自体で帯電能及び
耐環境性に優れ且つ非光導電性a−SiCから成る表面
保護層に比べ硬度が小さくなり、これにより、その表面
を研磨剤などで研磨再生を繰り返し行ってもその研磨量
において制限を受けずに感光体の初期特性を維持するこ
とができる。例えば、コロナ放電による被曝或いは現像
剤の樹脂成分による感光体表面へのフィルミング等によ
って表面が劣化してもこの研磨再生によって良好な画像
を長期に亘り安定して供給することができる。
In such a photoreceptor, since the a-SiGeC layer (6) is the surface layer of the photoreceptor, it has excellent charging ability and environmental resistance by itself, and is a surface protective layer made of non-photoconductive a-SiC. As a result, even if the surface is repeatedly polished and regenerated with an abrasive or the like, the initial characteristics of the photoreceptor can be maintained without being limited in the amount of polishing. For example, even if the surface deteriorates due to exposure to corona discharge or filming on the surface of the photoreceptor due to the resin component of the developer, good images can be stably supplied over a long period of time by this polishing regeneration.

更に本発明に係る積層型感光体によれば、第1図又は第
3図に示した積層順序によってa−SiGeC層(6)
を形成した場合、この層(6)を感光体のなかの実質上
の光キヤリア発生層とすることができ、これにより、基
板(1)まで入射光が到達せず、その結果、画像の干渉
縞発生の問題が解消される。
Further, according to the laminated photoreceptor according to the present invention, the a-SiGeC layer (6) is formed in the lamination order shown in FIG. 1 or FIG.
When this layer (6) is formed, this layer (6) can be effectively used as a light carrier generation layer in the photoreceptor, and as a result, incident light does not reach the substrate (1), and as a result, image interference occurs. The problem of stripes is resolved.

即ち、半導体レーザービームプリンターに搭載された感
光体によれば、その光源がコヒーレント光であるために
画像に干渉縞模様が発生し易く、その発生原因は、コヒ
ーレント光が基板へ到達し、その基板での反射光と入射
光が干渉するためであり、この問題を解決するために基
板表面を処理して所要の表面粗さに設定し、これによっ
て基板へ到達した光を乱反射させることが提案されてい
る。
In other words, since the light source of the photoreceptor installed in a semiconductor laser beam printer is coherent light, interference fringes are likely to occur in the image.The cause of this is that the coherent light reaches the substrate and the substrate This is because reflected light and incident light interfere with each other. To solve this problem, it has been proposed to treat the surface of the substrate to a desired surface roughness, thereby causing the light that reaches the substrate to be diffusely reflected. ing.

これに対して、a−3iGeC層(6)が実質上の光キ
ヤリア発生層とした積層型感光体であれば、基板(1)
まで入射光が到達せず、そのために画像に干渉縞が発生
しなくなる。
On the other hand, if the a-3iGeC layer (6) is a layered photoreceptor in which the layer is substantially a photocarrier generating layer, the substrate (1)
The incident light does not reach this point, and therefore no interference fringes occur in the image.

このようなa−SiGeC層(6)であれば、その層の
厚みはこの層が実質上光キャリアの発生層と成り得るよ
うに適宜決められるが、本発明者等がその厚みを幾通り
にも変えて実験を行った結果、このa−SiGeC層(
6)の入射光に対する透過率が30%以下に、望ましく
は20%以下になるようにその厚みを設定すれば基板(
1)へ光が全く到達しなくなる働この層(6)はその厚
みを大きくするのに伴って透過率を小さくすることがで
きるが、その反面、この感光体の残留電位が増加傾向と
なる。従って、a−3iGeC層(6)の厚みはその層
の透過率及び残留電位によって決められることになり、
本発明者等が繰り返し行った実験によれば、1乃至10
0μ醜、好適にはl乃至30μm、最適にはl乃至5μ
−の範囲内に設定すればよいことを見い出した。
In the case of such an a-SiGeC layer (6), the thickness of the layer can be appropriately determined so that this layer can substantially serve as a photocarrier generation layer, but the inventors have determined the thickness in several ways. As a result of experimenting with different layers, we found that this a-SiGeC layer (
If the thickness of the substrate (6) is set so that the transmittance to the incident light is 30% or less, preferably 20% or less, the substrate (
The transmittance of this layer (6), which serves to prevent light from reaching 1) at all, can be reduced as its thickness is increased, but on the other hand, the residual potential of this photoreceptor tends to increase. Therefore, the thickness of the a-3iGeC layer (6) is determined by the transmittance and residual potential of that layer.
According to experiments repeatedly conducted by the inventors, 1 to 10
0μm, preferably l to 30μm, optimally l to 5μm
It was found that it is sufficient to set it within the range of -.

また本発明によれば、第1の層(5)とa−SiGeC
(6)の界面に両者の層を接合して電子写真特性を向上
させる接合ri!(この層の厚みは3μ輪以下が望まし
い)を介在させてもよい、この接合層には、。
Further, according to the present invention, the first layer (5) and the a-SiGeC
(6) Bonding ri! which improves electrophotographic properties by bonding both layers at the interface! (The thickness of this layer is preferably 3 μm or less) may be interposed in this bonding layer.

例えば第1の層(5)をa−5i層によって薄膜形成し
た後、カーボン(C)及び/又はゲルマニウム(Ge)
のそれぞれの含有量をその層厚方向に亘って漸次増大さ
せ、その接合層の形成終了時にそれぞれの含有量をa−
SiGe(層(6)の所要なC量とGe量と一致させる
ように設定した層がある。
For example, after forming the first layer (5) as a thin film with an a-5i layer, carbon (C) and/or germanium (Ge)
The content of each is gradually increased in the layer thickness direction, and when the formation of the bonding layer is completed, the content of each is increased to a-
There is a layer of SiGe (layer (6)) that is set to match the required amount of C and Ge.

更に本発明によれば、前記a−5iGeC層(6)のカ
ーボン(C)含有量及びゲルマニウム(Ge)含有量を
層厚方向に亘って変化させ、これによって種々の態様の
感光体が得られることを見い出した。
Further, according to the present invention, the carbon (C) content and germanium (Ge) content of the a-5iGeC layer (6) are varied in the layer thickness direction, thereby making it possible to obtain photoreceptors with various embodiments. I discovered that.

即ち、第4図乃至第11図によれば、横軸はa−SiG
eC層(6)のa−3i層との界面(a)からその反対
側の表面(b)までの層厚は表しており、縦軸はC含有
量及びGe量を表しており、いずれの含有量もそれぞれ
相対量である。尚、これらの図において実線及び破線は
それぞれC含有量及びGe含有量を示す。
That is, according to FIGS. 4 to 11, the horizontal axis represents a-SiG
The layer thickness from the interface (a) with the a-3i layer of the eC layer (6) to the opposite surface (b) is shown, and the vertical axis represents the C content and Ge content. The contents are also relative amounts. In addition, in these figures, a solid line and a broken line indicate C content and Ge content, respectively.

これらの図から明らかな通り、a−SiGeCN (6
)の内部の入射光側のb側に近いJi%1域においては
Ge含有量を比較的少なくするか或いはC含有量を比較
的多くしており、これにより、入射光側の層領域でバン
ドギャップが大きくなり、更に高い光導電性があり、そ
の結果、入射光が高効率に光電変換されて光感度を高め
ることができる。
As is clear from these figures, a-SiGeCN (6
), the Ge content is relatively low or the C content is relatively high in the Ji% 1 region near the b side on the incident light side, thereby increasing the band in the layer region on the incident light side. The gap becomes larger and there is higher photoconductivity, and as a result, incident light is photoelectrically converted with high efficiency and photosensitivity can be increased.

これに対して、a面に近い層領域においてはGe含有量
を比較的多くするか或いはC含有量を比較的少な(して
おり、これにより、この層領域での吸収係数が大きくな
り、入射光がこの層領域内で完全に吸収される。
On the other hand, in the layer region close to the a-plane, the Ge content is relatively high or the C content is relatively low. Light is completely absorbed within this layer area.

従って、上述したような両者の層領域を形成することに
よって高光感度特性を有し且つ干渉縞の発生を一段と抑
えた電子写真感光体と成り得る。
Therefore, by forming both of the layer regions as described above, it is possible to obtain an electrophotographic photoreceptor having high photosensitivity characteristics and further suppressing the generation of interference fringes.

次に本発明の電子写真感光体の製法を述べる。Next, a method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor of the present invention will be described.

a−3iGeC11(6) 、第1のM(5)及び第2
の層(7)はグロー放電分解法、イオンブレーティング
法、反応性スパッタリング法、真空蒸着法、熱CVD法
等の薄膜形成手段を用いることができ、また、これに用
いられる原料には固体、液体、気体のいずれでもよい。
a-3iGeC11(6), the first M(5) and the second
For the layer (7), a thin film forming method such as glow discharge decomposition method, ion blating method, reactive sputtering method, vacuum evaporation method, thermal CVD method, etc. can be used, and the raw materials used for this can include solids, It can be either liquid or gas.

また、a−5iGeC層(6)以外の層を形成するに当
たって、これらの層をa−St又はa−3iCにより形
成するのであれば、同様な薄膜形成手段を用いることが
できるという点で望ましく、更に同一の成膜装置を用い
た場合、共通した薄膜形成手段によって連続的に積層す
ることができるという利点がある。
In addition, when forming layers other than the a-5iGeC layer (6), it is preferable that these layers be formed of a-St or a-3iC because similar thin film forming means can be used. Furthermore, when the same film forming apparatus is used, there is an advantage that the thin film can be continuously laminated by a common thin film forming means.

例えばグロー放電分解装置を用いてa−5i層、a−S
iC層又はa−5iGeC層から成る感光体を製作する
場合、その気体原料としてSiH4,、Si!I(a+
5i31(sなどのSi系ガス、CHゎCxHg、Ct
Hi、CtHi、C+HsなどのC系ガス、GeH*+
GexHiなどのGe系ガスがあり、そして、Heガス
、■、ガスなどをキャリアガスとして用いればよい。
For example, using a glow discharge decomposition device, a-5i layer, a-S
When producing a photoreceptor consisting of an iC layer or an a-5iGeC layer, SiH4, Si! I(a+
5i31 (Si-based gas such as s, CHゎCxHg, Ct
C-based gases such as Hi, CtHi, C+Hs, GeH*+
There is a Ge-based gas such as GexHi, and He gas, 3, gas, etc. may be used as a carrier gas.

このグロー放電分解法によれば、Si系ガス及び/又は
Ge系ガスに対してアセチレン(cant)ガスを添加
した混合ガスよりa−SiC層又はa−5iGeC層な
どを形成した場合、著しく大きな高速成膜性が達成でき
るという点で望ましい。
According to this glow discharge decomposition method, when an a-SiC layer or an a-5iGeC layer is formed using a mixed gas in which acetylene (cant) gas is added to a Si-based gas and/or Ge-based gas, the speed is significantly higher. It is desirable in that it can achieve good film formability.

次に本発明の実施例に述べられる電子写真感光体をグロ
ー放電分解法を用いてB−5i、 a−SiC又はa−
3iGeCにより形成する場合、その製作法を第12図
の容量結合型グロー・放電分解装置により説明する。
Next, the electrophotographic photoreceptor described in the embodiments of the present invention was processed into B-5i, a-SiC, or a-
In the case of forming 3iGeC, the manufacturing method will be explained using a capacitively coupled glow/discharge decomposition device shown in FIG.

図中、タンク(8) (9) (10) (11) (
12) (13)にはそれぞれ5iHa、GeH*+C
tHt+BzHi(Htガス希釈で0.2χ含有)。
In the figure, tanks (8) (9) (10) (11) (
12) (13) has 5iHa and GeH*+C, respectively.
tHt+BzHi (contains 0.2χ with Ht gas dilution).

H!、NOガスが密封さ、れており、H2はキャリアガ
スとしても用いられる。これらのガスは対応する調整弁
(14) (15) (16) (17) (1B) 
(19)を開放することによって放出され、その流量が
マスフローコントローラ(20) (21) (22)
 (23) (24) (25)により制御され、タン
ク(8) (9) (10) (11) (12)から
のガスは主管(26)へ、タンク(13)からのNOガ
スは主管(27)へ送られる。尚、(28) (29)
は止め弁である。主管(26) (27)を通じて流れ
るガスは反応管(30)へと送り込まれるが、この反応
管(30)の内部には容量結合型放電用電極(31)が
設置されており、それに印加される高周波電力は50−
乃至3 )[wが、また周波数はIMHz乃至50MH
zが適当である。反応管(30)の内部にはアルミニウ
ムから成る筒状の成膜用基板(32)が試料保持台(3
3)の上に載置されており、この保持台(33)はモー
ター(34)により回転駆動されるようになっており、
そして、基板(32)は適当な加熱手段により約200
乃至400℃、好ましくは約200乃至350℃の温度
に均一に加熱される。更に反応管(30)の内部にはa
−SiC膜形成に高度の真空状B(放電時のガス圧0.
1乃至2.0Torr)を必要とすることにより回転ポ
ンプ(35)と拡散ポンプ(36)に連結されている。
H! , NO gas is sealed, and H2 is also used as a carrier gas. These gases are connected to the corresponding regulating valves (14) (15) (16) (17) (1B)
(19) is released by opening the mass flow controller (20) (21) (22).
(23) (24) (25), gas from tanks (8) (9) (10) (11) (12) goes to main pipe (26), and NO gas from tank (13) goes to main pipe (26). 27). Furthermore, (28) (29)
is a stop valve. The gas flowing through the main pipes (26) and (27) is sent into the reaction tube (30), and a capacitively coupled discharge electrode (31) is installed inside this reaction tube (30), and the gas is applied to it. The high frequency power is 50-
to 3) [w, and the frequency is IMHz to 50MH
z is appropriate. Inside the reaction tube (30), a cylindrical film-forming substrate (32) made of aluminum is mounted on a sample holding stand (30).
3), and this holding stand (33) is rotatably driven by a motor (34).
Then, the substrate (32) is heated to about 200 mL by suitable heating means.
It is heated uniformly to a temperature of from 400°C to 400°C, preferably from about 200 to 350°C. Furthermore, inside the reaction tube (30) there is a
- High vacuum state B for SiC film formation (gas pressure during discharge 0.
1 to 2.0 Torr) and is connected to a rotary pump (35) and a diffusion pump (36).

以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えばB元素を含有するa−SiGeC膜を基板(32
)に形成する場合には、調整弁(14) (15) (
16)(17) (1B)を開いてそれぞれSiH4,
GeHa、CzHz、BgHi+H8ガスを放出する。
In the glow discharge decomposition device configured as above,
For example, a substrate (32
), the regulating valves (14) (15) (
16) (17) Open (1B) and add SiH4,
GeHa, CzHz, BgHi+H8 gases are released.

放出量はマスフローコントローラ(20) (21) 
(22) (23) (24)により制御され、これら
の混合ガスは主管(26)を介して反応管(30)へと
流し込まれる。そして、反応管(30)の内部が0.1
乃至2.0Torr程度の真空状態、基板温度が200
乃至400℃、容量結合型放電用電極(31)の高周波
電力が50−乃至3 KW、周波数が1乃至50MH2
に設定されていることに相俟ってグロー放電がおこり、
ガスが分解してB元素含有のa−SiGeC膜が基板上
に高速で形成される。
The amount of release is determined by the mass flow controller (20) (21)
(22), (23), and (24), these mixed gases are flowed into the reaction tube (30) via the main pipe (26). Then, the inside of the reaction tube (30) is 0.1
A vacuum state of about 2.0 Torr and a substrate temperature of 200
to 400°C, the high frequency power of the capacitively coupled discharge electrode (31) is 50 to 3 KW, and the frequency is 1 to 50 MH2
Coupled with this setting, glow discharge occurs,
The gas is decomposed and an a-SiGeC film containing B element is formed on the substrate at high speed.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明の実施例を述べる。 Next, examples of the present invention will be described.

(例1) 本発明においては層厚方向に亘って単一組成のa−3i
GeC膜を形成し、それにホウ素(B)元素を含有した
場合又は含有していない場合についてそれぞれ分光感度
特性を測定した。
(Example 1) In the present invention, a-3i of a single composition is used throughout the layer thickness direction.
A GeC film was formed, and the spectral sensitivity characteristics were measured for cases in which the element boron (B) was contained or not contained.

即ち、3 X3cmの角形のアルミニウム製平板を用意
し、第12図に示したアルミニウム製筒状基板(32)
の周面を一部切り欠いてこの切り欠き部にこの平板を設
置し、タンク(8)よりSiH,ガス、タンク(9)よ
りGe1.ガスを、タンク(10)よりCtf!Itガ
スを、タンク(12)よりH,ガス、更に必要に応じて
タンク(11)よりBAH,ガスを第1表に示すガス流
量で放出し、グロー放電分解法により上記平板上に5μ
−の厚みのa−SiGeC膜を形成した試料A、Bを製
作した。尚、両者の試料を製作するに当たってガス圧力
を0.45↑orrに、高周波電力を150−に、基板
温度を300℃に設定した。
That is, a 3 x 3 cm square aluminum flat plate was prepared, and the aluminum cylindrical substrate (32) shown in Fig. 12 was prepared.
A part of the circumferential surface of the tank is cut out, and this flat plate is installed in the cutout, and SiH and gas are supplied from the tank (8), and Ge1. Ctf gas from tank (10)! It gas, H gas from the tank (12), and further BAH gas from the tank (11) as needed at the gas flow rate shown in Table 1, and 5 μm of it was deposited on the above flat plate by glow discharge decomposition method.
Samples A and B were manufactured in which an a-SiGeC film with a thickness of - was formed. In producing both samples, the gas pressure was set to 0.45↑orr, the high frequency power was set to 150 -, and the substrate temperature was set to 300°C.

第1表 かくして得られた試料A、、Bに対して元素の組成比率
をX線マイクロアナライザー及び二次イオン質量分析計
により測定したところ、第2表に示す通りの結果が得ら
れた。
Table 1 When the composition ratios of the elements of Samples A and B thus obtained were measured using an X-ray microanalyzer and a secondary ion mass spectrometer, the results shown in Table 2 were obtained.

第2表 また、試料A、Bの分光感度特性を櫛形電極法によって
測定したところ、第13図に示す通りの結果が得られた
0図中、横軸は光源の発光波長であり、縦軸は導電率で
あり、いずれの測定も露光量を50μ−/c−2に設定
しており、・印及び○印は試料ASBのプロットであり
、曲線a、bはそれぞれの特性曲線である。
Table 2 In addition, when the spectral sensitivity characteristics of samples A and B were measured using the comb electrode method, the results shown in Figure 13 were obtained. In Figure 0, the horizontal axis is the emission wavelength of the light source, and the vertical axis is the conductivity, and the exposure amount was set at 50 μ-/c-2 in both measurements. The * and ○ marks are the plots of the sample ASB, and the curves a and b are the respective characteristic curves.

この結果から明らかな通り、試料Bは試料Aに比べて導
電率が約1桁大きくなっていることが判る。
As is clear from this result, it can be seen that the conductivity of sample B is approximately one order of magnitude higher than that of sample A.

また、それぞれの暗導電率を測定したところ、試料Aが
2.I Xl0−”(Ω・cll)−藝であり、試料B
が1.7 Xl0−+3(Ω・cm)−’であり、試料
Bが試料Aに比べて暗導電率が約1桁小さくなった。
In addition, when measuring the dark conductivity of each sample, sample A was 2. I
was 1.7 Xl0-+3 (Ω·cm)-', and the dark conductivity of sample B was about one order of magnitude smaller than that of sample A.

(例2) 次に、(例1)の試料Bを製作するに際して、B、H,
のガス流量を変え、その他の製作条件を変えることによ
って種々の試料を製作し、それらのσphとσdを測定
したところ、第14図に示す通りの結果が得られた。
(Example 2) Next, when manufacturing sample B of (Example 1), B, H,
Various samples were fabricated by changing the gas flow rate and other fabrication conditions, and their σph and σd were measured, and the results shown in FIG. 14 were obtained.

図中、O印及び・印はそれぞれσph及びσdであり、
C,dはそれぞれの特性曲線である。
In the figure, O mark and ・ mark are σph and σd, respectively.
C and d are respective characteristic curves.

この図より明らかな通り、Bの含有量が1乃至1000
ppn+の範囲内であれば、σph/ σdの比が顕著
に大きくなっており、特に5乃至500ppmのB含有
量であれば、その比が著しく大きくなっていることが判
る。
As is clear from this figure, the B content ranges from 1 to 1000.
It can be seen that within the range of ppn+, the ratio of σph/σd becomes significantly large, and in particular, when the B content is between 5 and 500 ppm, the ratio becomes significantly large.

(例3) 本例においては、第12図に示したグロー放電分解装置
を用いて第3表に示した製作条件によって基板(32)
上に第1の層(5) 、a−5iGeC層(6)及び第
2の層(7)を順次形成し、電子写真感光体ドラムを製
作した。尚、第1の層(5)の形成にNOガスを導入し
て酸素と窒素をドープし、基板に対する密着性を高めて
いる。
(Example 3) In this example, the substrate (32) was prepared using the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG.
A first layer (5), an a-5iGeC layer (6), and a second layer (7) were sequentially formed thereon to produce an electrophotographic photosensitive drum. Note that during the formation of the first layer (5), NO gas is introduced to dope oxygen and nitrogen to improve adhesion to the substrate.

〔以下余白〕[Margin below]

かくして得られた感光体ドラムに対して、表面電位、光
感度及び残留電位を測定したところ、下記の通りの結果
が得られた。この結果は+5.6KVのコロナチャージ
中で帯電させ、次いで発光波長780n−のレーザー光
を投光して求められた。
When the surface potential, photosensitivity and residual potential of the photosensitive drum thus obtained were measured, the following results were obtained. This result was obtained by charging in a +5.6 KV corona charge and then projecting a laser beam with an emission wavelength of 780 n-.

表面電位・・・+850v 光感度(半減露光量)・・・1.40μJ/cm”残留
電位パ・・30V このドラムを半導体レーザービームプリンター(波長7
B0nm 、印字速度40枚/分)に実装して印字した
ところ、画像濃度が高く、高コントラストでゴースト現
象が全く生じなく、更に画像に干渉縞やカプリが全く生
じない良質な画像が得られた。
Surface potential...+850v Photosensitivity (half exposure)...1.40μJ/cm"Residual potential...30V This drum is connected to a semiconductor laser beam printer (wavelength 7
When installed and printed at a printing speed of 40 sheets/min (B0nm, printing speed: 40 sheets/min), high-quality images were obtained with high image density, high contrast, and no ghost phenomenon, and also no interference fringes or capri. .

(例4) 本例においては、(例3)の電子写真感光体を製作する
に際し、そのa−3iGeC層(6)の形成に当たって
マスフローコントローラ(20) (21) (22)
 (24)を調整し、これによって5iH1ガス、Ge
Hhガス、C!Htガス及びH8ガスの流量を幾通りに
も変え、これにより%S1とGeとCの原子組成比を変
えた8種類の感光体(感光体A乃至H)を製作し、それ
ぞれの感光体の画像評価を行った。
(Example 4) In this example, when manufacturing the electrophotographic photoreceptor of (Example 3), mass flow controllers (20) (21) (22) were used to form the a-3iGeC layer (6).
(24), thereby 5iH1 gas, Ge
Hh gas, C! By varying the flow rates of Ht gas and H8 gas, eight types of photoreceptors (photoreceptors A to H) with different atomic composition ratios of %S1, Ge, and C were manufactured. Image evaluation was performed.

この結果は第4表に示す通りであり、表中の画像評価に
よれば、各々の感光体ドラムを半導体レーザービームプ
リンター(波長780n1、印字速度40枚/分)に実
装して印字し、それによって得られた画像を◎印、○印
及びX印の三通りに区分した。
The results are shown in Table 4. According to the image evaluation in the table, each photoreceptor drum was mounted on a semiconductor laser beam printer (wavelength 780n1, printing speed 40 sheets/min) and printed. The images obtained were classified into three types: ◎, ○, and X.

即ち、◎印は画像濃度が高く、高コントラストでゴース
ト現象が全く生じなく、更に画像に干渉縞やカブリが全
く生じなかった場合であり、○印は画像に濃度が高くて
コントラストに優れ、また、画像干渉縞がほとんど見ら
れず、カブリが著しく小さく、実用上何等支障がない範
囲で良質な画像が得られた場合であり、x印は画像に干
渉縞が生じたり、或いは画像のコントラストが低下して
カブリが顕著となった場合である。
In other words, the mark ◎ indicates that the image density is high, the contrast is high, there is no ghost phenomenon, and the image has no interference fringes or fog, and the mark ○ is the case that the image has high density, excellent contrast, and , when there are almost no image interference fringes, the fog is extremely small, and a high-quality image is obtained without causing any practical problems. This is a case where the fog has become noticeable due to a decrease in the brightness.

〔以下余白〕[Margin below]

第4表より明らかな通り、感光体C乃至Fにおいては画
像濃度及びコントラストに優れ、そして、ゴースト現象
、干渉縞及びカブリが生じなく良好な画像が得られてお
り、特に感光体Eは画像評価上置も優れていた。
As is clear from Table 4, photoconductors C to F had excellent image density and contrast, and good images were obtained without ghost phenomena, interference fringes, or fog. Photoconductor E was particularly evaluated for image evaluation. The top was also excellent.

然るに感光体A、HはGe/St比が、感光体B。However, photoconductors A and H have the same Ge/St ratio as photoconductor B.

GはC/Si比がそれぞれ本発明の範囲から外れており
、画像に干渉縞が発生したり、カブリが生じた。
In G, the C/Si ratio was outside the range of the present invention, and interference fringes and fog occurred in the image.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、光導電
性a−5iGeC層にma族元素を所定の範囲内で含有
させ、これにより、σph/ σdを大きくすることが
でき、その結果、光感度を高めて残留電位を小さくする
ことができた。
As described above, according to the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the photoconductive a-5iGeC layer contains the Ma group element within a predetermined range, thereby increasing σph/σd. , it was possible to increase the photosensitivity and reduce the residual potential.

また本発明の電子写真感光体によれば、a−SiGeC
層を長波長光に対するキャリア発生層とすることができ
、これにより、半導体レーザービームプリンターに好適
な感光体となる。更にこの感光体によれば、入射光が基
板へ到達しないために画像に干渉縞模様が発生しなくな
り、しかも、基板表面を粗面化してその表面粗さを大き
くすることが不要となり、これによって低コストな電子
写真感光体が提供される。
Further, according to the electrophotographic photoreceptor of the present invention, a-SiGeC
The layer can be a carrier generation layer for long wavelength light, making the photoreceptor suitable for semiconductor laser beam printers. Furthermore, according to this photoreceptor, since the incident light does not reach the substrate, interference fringes do not occur in the image, and there is no need to roughen the surface of the substrate to increase its surface roughness. A low-cost electrophotographic photoreceptor is provided.

更に本発明の電子写真感光体によれば、表面層をa−S
iGeC層とした感光体としてもよく、このような感光
体を用いると黒地濃度が高(てカブリのない鮮明な画像
が得られ、更にこのa−SiGeC層の表面を研磨剤な
どで研磨再生し、それを繰り返してもその研磨量におい
て特性上劣化せず、これにより、感光体の初期特性を維
持することができる。
Furthermore, according to the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the surface layer is a-S.
It is also possible to use a photoconductor with an iGeC layer, and when such a photoconductor is used, a clear image without fog can be obtained with a high black background density. Even if this process is repeated, the characteristics do not deteriorate in terms of the amount of polishing, and thus the initial characteristics of the photoreceptor can be maintained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る電子写真感光体の積層構造を示す
断面図、第2図は従来の一般的なアモルファスシリコン
怒光体の層構成を示す断面図、第3図は本発明に係る電
子写真感光体の他の積層構造を示す断面図、第4図、第
5図、第6図、第7図、第8図、第9図、第10図及び
第11図は本発明に係る電子写真感光体のアモルファス
シリコンゲルマニウムカーバイド層の層厚方向に亘るカ
ーボン含有量とゲルマニウム含有量を表わす線図、第1
2図は本発明の実施例に用いられる容量結合型グロー放
電分解装置の概略図、第13図はアモルファスシリコン
ゲルマニウムカーバイド層の分光感度曲線を表わす線図
、第14図はアモルファスシリコンゲルマニウムカーバ
イド層の引導電率と暗導電率を表わす線図である。 l・・・導電性基板 5・・・第1の層 6・・・アモルファスシリコンゲルマニウムカーバイド
層 7・・・第2の層 特許出願人 (663)京セラ株式会社同      
汚材 孝夫
FIG. 1 is a cross-sectional view showing the laminated structure of an electrophotographic photoreceptor according to the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view showing the layer structure of a conventional general amorphous silicon photoreceptor, and FIG. 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, and 11 are cross-sectional views showing other laminated structures of electrophotographic photoreceptors according to the present invention. Diagram 1 showing the carbon content and germanium content in the layer thickness direction of the amorphous silicon germanium carbide layer of the electrophotographic photoreceptor.
Fig. 2 is a schematic diagram of a capacitively coupled glow discharge decomposition device used in an embodiment of the present invention, Fig. 13 is a diagram showing a spectral sensitivity curve of an amorphous silicon germanium carbide layer, and Fig. 14 is a diagram showing a spectral sensitivity curve of an amorphous silicon germanium carbide layer. FIG. 2 is a diagram showing drawing conductivity and dark conductivity. l... Conductive substrate 5... First layer 6... Amorphous silicon germanium carbide layer 7... Second layer Patent applicant (663) Kyocera Corporation
Takao dirt material

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 光導電性アモルファスシリコンゲルマニウムカーバイド
層を具備した電子写真感光体であって、この層のゲルマ
ニウムとシリコンの原子組成比が1:2乃至1:100
の範囲内に且つカーボンとシリコンの原子組成比が1:
1乃至1:100の範囲内にあり、該層が1乃至100
0ppmの周期律表第IIIa族元素を含有していること
を特徴とする電子写真感光体。
An electrophotographic photoreceptor comprising a photoconductive amorphous silicon germanium carbide layer, the layer having an atomic composition ratio of germanium and silicon of 1:2 to 1:100.
and the atomic composition ratio of carbon and silicon is 1:
1 to 1:100, and the layer is in the range of 1 to 100
An electrophotographic photoreceptor comprising 0 ppm of Group IIIa elements of the periodic table.
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