JPS6310483Y2 - - Google Patents
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- JPS6310483Y2 JPS6310483Y2 JP1987031997U JP3199787U JPS6310483Y2 JP S6310483 Y2 JPS6310483 Y2 JP S6310483Y2 JP 1987031997 U JP1987031997 U JP 1987031997U JP 3199787 U JP3199787 U JP 3199787U JP S6310483 Y2 JPS6310483 Y2 JP S6310483Y2
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- Japan
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- scanning
- signal
- measuring
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Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 abstract 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は格子目盛りに沿つて配置固着されてい
る参照記号のうちの1つ又は若干個の参照記号を
スイツチング装置により選択可能ならしめるた
め、参照記号によつて発生する電気インパルスと
スイツチング装置によつて発生する電気信号とが
同時に発生した場合にのみ必要とされる参照記号
が作用する増分測長・測角装置に関する。
る参照記号のうちの1つ又は若干個の参照記号を
スイツチング装置により選択可能ならしめるた
め、参照記号によつて発生する電気インパルスと
スイツチング装置によつて発生する電気信号とが
同時に発生した場合にのみ必要とされる参照記号
が作用する増分測長・測角装置に関する。
上記した種類の測定装置では、一つの参照記号
の処で発生した電気インパルスが種々異なる態様
で利用され、例えば計算器内に零位置を再生する
ため、一定の位置で測定を開始するため及び妨害
インパルスを管理するために利用される。
の処で発生した電気インパルスが種々異なる態様
で利用され、例えば計算器内に零位置を再生する
ため、一定の位置で測定を開始するため及び妨害
インパルスを管理するために利用される。
従つて公知の増分測定装置では、尺度を造る際
に取り付けられる参照記号の数やその位置は使用
者の要望に従つて定められる。従つて後で、参照
記号により導き出されるインパルスの数や位置の
変更を測定装置に加えることは不可能である。上
記欠点を取り除くため、ドイツ連邦共和国特許第
2540412号公報において、目盛りを造る際、尺度
上に一定の間隔を隔てて若干の参照記号を設けそ
して少なくとも1つのスイツチング装置を尺度自
体またはそれの近傍に配置することが提案されて
いる。この様にして1個または若干個の参照記号
が選択されそしてその都度スイツチング装置と作
動関係に置かれる。その際、測定過程において作
動関係に到達する参照記号の処にそれぞれ磁石が
付設され、該磁石は走査装置が傍らを通過する
際、該走査装置に取り付けられている電気スイツ
チを操作し、該スイツチの電気的出力は走査装置
の電気的出力と共に電子的構成単位に導かれ、該
構成単位は、走査装置の出力端とスイツチの出力
端とに同時に電気信号が発生した時にのみ操作イ
ンパルスを発生する。経験によれば電気スイツチ
は開閉過程において跳ね返る傾向があり、そのこ
とはインパルスを変形させ従つて測定結果に誤差
を発生する可能性がある。参照記号を選択するた
めに設けられた磁石は都合の悪い条件のもとで鉄
屑を吸い付けていることがあり、そのことは前同
様に測定過程を妨害する。
に取り付けられる参照記号の数やその位置は使用
者の要望に従つて定められる。従つて後で、参照
記号により導き出されるインパルスの数や位置の
変更を測定装置に加えることは不可能である。上
記欠点を取り除くため、ドイツ連邦共和国特許第
2540412号公報において、目盛りを造る際、尺度
上に一定の間隔を隔てて若干の参照記号を設けそ
して少なくとも1つのスイツチング装置を尺度自
体またはそれの近傍に配置することが提案されて
いる。この様にして1個または若干個の参照記号
が選択されそしてその都度スイツチング装置と作
動関係に置かれる。その際、測定過程において作
動関係に到達する参照記号の処にそれぞれ磁石が
付設され、該磁石は走査装置が傍らを通過する
際、該走査装置に取り付けられている電気スイツ
チを操作し、該スイツチの電気的出力は走査装置
の電気的出力と共に電子的構成単位に導かれ、該
構成単位は、走査装置の出力端とスイツチの出力
端とに同時に電気信号が発生した時にのみ操作イ
ンパルスを発生する。経験によれば電気スイツチ
は開閉過程において跳ね返る傾向があり、そのこ
とはインパルスを変形させ従つて測定結果に誤差
を発生する可能性がある。参照記号を選択するた
めに設けられた磁石は都合の悪い条件のもとで鉄
屑を吸い付けていることがあり、そのことは前同
様に測定過程を妨害する。
本考案の目的は冒頭に述べた種類の増分測長・
測角装置において測定の妨害が発生しない様な構
成を提供することである。
測角装置において測定の妨害が発生しない様な構
成を提供することである。
上記の目的は本考案により、登録請求の範囲に
記載した特徴を有する構成により達成される。
記載した特徴を有する構成により達成される。
本考案の効果は、光電的スイツチング装置は開
閉作動の際跳ね返る傾向がなく、従つてこの理由
から参照記号から導かれたインパルスの信号処理
が簡単になるということにある。
閉作動の際跳ね返る傾向がなく、従つてこの理由
から参照記号から導かれたインパルスの信号処理
が簡単になるということにある。
本考案は添付図により次に詳細に説明される。
第1図には本考案による光電的増分測長装置の
原理が略図により示され、該装置は尺度として硝
子製の尺度1、走査装置2および電子計算器7か
ら成り立つている。尺度1には目盛りとして線格
子3(第2図)が取り付けられており、該格子は
透過光線により接触することなく走査される。尺
度1には目盛り3に沿つて若干個の参照記号4が
取り付けられ、該記号はそれぞれ一定の線の分布
を持つた線群から成り立つている。線格子3を走
査することにより発生する周期的な走査信号は走
査装置2の内部で増幅されそして矩形波信号T1
およびT2に変形され、導線5および6を介して
電子計算器7を操作する。走査信号T1,T2が一
定の位相のずれを持つことによつて、計算器7は
走査装置2の運動方向を認識することができそし
て尺度1に関する走査装置2の位置を数字的に示
すことができる。参照記号4の処で発生した信号
は走査装置2の内部で増幅されそして矩形波信号
SBに変形される。この様な零インパルス信号は例
えばそれが発生した時、電子計算器7の計算値を
零に設定するのに役立つ。上記した種類の測定装
置は公知であり例えば「フイルメンドリユツクシ
ユリフテン デル ドクトル ヨハネス ハイデ
ンハイン ゲーエムベーハー,トラウンロイト:
フアーテイグングスプログラム 1973,20〜25
頁」又は「ヌーメリツシエ ポジシオンスアンツ
アイゲ ゼプテンバー1977,2頁」
(Firmendruckschriften der Dr.Johannes
Heidenhein GmbH.Traunreut:
“Fertigungsprogramm 1973.Seiten 20〜25”
bzw.“Numerische Positionsanzeige.
September1977.Seite 2”)に記載されている。
原理が略図により示され、該装置は尺度として硝
子製の尺度1、走査装置2および電子計算器7か
ら成り立つている。尺度1には目盛りとして線格
子3(第2図)が取り付けられており、該格子は
透過光線により接触することなく走査される。尺
度1には目盛り3に沿つて若干個の参照記号4が
取り付けられ、該記号はそれぞれ一定の線の分布
を持つた線群から成り立つている。線格子3を走
査することにより発生する周期的な走査信号は走
査装置2の内部で増幅されそして矩形波信号T1
およびT2に変形され、導線5および6を介して
電子計算器7を操作する。走査信号T1,T2が一
定の位相のずれを持つことによつて、計算器7は
走査装置2の運動方向を認識することができそし
て尺度1に関する走査装置2の位置を数字的に示
すことができる。参照記号4の処で発生した信号
は走査装置2の内部で増幅されそして矩形波信号
SBに変形される。この様な零インパルス信号は例
えばそれが発生した時、電子計算器7の計算値を
零に設定するのに役立つ。上記した種類の測定装
置は公知であり例えば「フイルメンドリユツクシ
ユリフテン デル ドクトル ヨハネス ハイデ
ンハイン ゲーエムベーハー,トラウンロイト:
フアーテイグングスプログラム 1973,20〜25
頁」又は「ヌーメリツシエ ポジシオンスアンツ
アイゲ ゼプテンバー1977,2頁」
(Firmendruckschriften der Dr.Johannes
Heidenhein GmbH.Traunreut:
“Fertigungsprogramm 1973.Seiten 20〜25”
bzw.“Numerische Positionsanzeige.
September1977.Seite 2”)に記載されている。
1つの参照記号4から発生した信号SBは操作導
線12を介して電子構成単位8に導かれる。走査
装置2は光電素子10′を包含しており、該素子
の出力端は導線11′を介して電子構成単位8に
結合されている。測定尺度3に沿つて推移可能な
反射要素9a(反射鏡)はそれぞれ望み通りの参
照記号4に付設されることが可能である。
線12を介して電子構成単位8に導かれる。走査
装置2は光電素子10′を包含しており、該素子
の出力端は導線11′を介して電子構成単位8に
結合されている。測定尺度3に沿つて推移可能な
反射要素9a(反射鏡)はそれぞれ望み通りの参
照記号4に付設されることが可能である。
走査装置2が測定目盛り3に沿つて推進させら
れる時、そしてその際光電素子10′一つの反射
要素9aの光線路の中に到達する時、電気信号SR
が発生しそして電気構成単位8に送られる。これ
と同時に参照記号4から送られた信号SBが送られ
てきた時、構成単位8から1つのインパルスS′B
が、操作導線13を介して電子計算器7の入力端
に送られ、該計算器はそのことにより、例えば計
算値零に設定される。同じインパルス信号で別の
過程が操作されることも明らかである。
れる時、そしてその際光電素子10′一つの反射
要素9aの光線路の中に到達する時、電気信号SR
が発生しそして電気構成単位8に送られる。これ
と同時に参照記号4から送られた信号SBが送られ
てきた時、構成単位8から1つのインパルスS′B
が、操作導線13を介して電子計算器7の入力端
に送られ、該計算器はそのことにより、例えば計
算値零に設定される。同じインパルス信号で別の
過程が操作されることも明らかである。
第2図には尺度1および走査装置2および尺度
担持体14を示す平面図の一部が示されている。
走査装置2内部には格子目盛り3を走査する走査
要素21,22,23,24が配置されているのが判
る。計算器7に接続する電線は図を複雑にしない
ため示されていない。第5番目の走査要素2Bは、
参照記号4が配置されているトラツク4Sを走査
するのに役立つている。目盛りが配置されている
方向に尺度1と走査装置2との相対運動が発生す
ると、公知の態様で走査信号が発生する。参照記
号のトラツク4Sはその際走査要素2Bによつて走
査される。反射要素9aは、尺度担持体14に設
けられた溝15の中で、目盛り1に平行に、参照
記号トラツク4に沿つて推移可能に配置されてい
る。この様にして反射要素9aはそれぞれの参照
記号4に合致する様に移動させられることが可能
になつつている。ランプ9′と光電素子10′とは
双方とも走査装置2の内部に配置されそして、照
明光路がランプ9′から照明光学系19を通過し
て反射要素9aに衝き当たり反射しそしてそこか
ら光電素子10′に入射する様に調整されている。
光電素子の出力端は前述した様に第1図に示した
電子構成単位8に接続されている。
担持体14を示す平面図の一部が示されている。
走査装置2内部には格子目盛り3を走査する走査
要素21,22,23,24が配置されているのが判
る。計算器7に接続する電線は図を複雑にしない
ため示されていない。第5番目の走査要素2Bは、
参照記号4が配置されているトラツク4Sを走査
するのに役立つている。目盛りが配置されている
方向に尺度1と走査装置2との相対運動が発生す
ると、公知の態様で走査信号が発生する。参照記
号のトラツク4Sはその際走査要素2Bによつて走
査される。反射要素9aは、尺度担持体14に設
けられた溝15の中で、目盛り1に平行に、参照
記号トラツク4に沿つて推移可能に配置されてい
る。この様にして反射要素9aはそれぞれの参照
記号4に合致する様に移動させられることが可能
になつつている。ランプ9′と光電素子10′とは
双方とも走査装置2の内部に配置されそして、照
明光路がランプ9′から照明光学系19を通過し
て反射要素9aに衝き当たり反射しそしてそこか
ら光電素子10′に入射する様に調整されている。
光電素子の出力端は前述した様に第1図に示した
電子構成単位8に接続されている。
反射要素9aを推移させるのは、走査装置2に
移動可能な連行装置20を取り付けることによつ
て遠隔操作で実施される。この連行装置20は例
えば電磁的又は空気操作で作動可能になつてお
り、かくして連行装置が引き出されている状態で
は反射要素9aは目盛り3に沿つて任意の数の参
照記号を通過して走査装置2によつて連行され
る。連行装置が引つ込められている時には、反射
要素9aは走査装置により連行されることはない
が、手動によつて推移させられることは可能であ
る。
移動可能な連行装置20を取り付けることによつ
て遠隔操作で実施される。この連行装置20は例
えば電磁的又は空気操作で作動可能になつてお
り、かくして連行装置が引き出されている状態で
は反射要素9aは目盛り3に沿つて任意の数の参
照記号を通過して走査装置2によつて連行され
る。連行装置が引つ込められている時には、反射
要素9aは走査装置により連行されることはない
が、手動によつて推移させられることは可能であ
る。
第3図は第2図に示した測定装置の−線に
沿つた断面図である。既に上述した要素の他に尺
度1を走査するための照明装置が示されている。
小型ランプ16がコンデンサー17を透過して尺
度1を照明している。尺度1とコンデンサー17
との間には走査板18が配置されており、該走査
板には公知の態様で対向格子18および18が取
り付けられている「ドクトル ヨハネス ハイデ
ンハイン ゲーエムベーハー商会,トラウンロイ
トのフアーテイグングスプログラム 1973,22,
23頁を参照されたい」(Fertigungsprogramm
1973,Seiten 22,23der Dr.Johannes
Heidenhein GmbH.Traunreut)。
沿つた断面図である。既に上述した要素の他に尺
度1を走査するための照明装置が示されている。
小型ランプ16がコンデンサー17を透過して尺
度1を照明している。尺度1とコンデンサー17
との間には走査板18が配置されており、該走査
板には公知の態様で対向格子18および18が取
り付けられている「ドクトル ヨハネス ハイデ
ンハイン ゲーエムベーハー商会,トラウンロイ
トのフアーテイグングスプログラム 1973,22,
23頁を参照されたい」(Fertigungsprogramm
1973,Seiten 22,23der Dr.Johannes
Heidenhein GmbH.Traunreut)。
反射要素9aは溝15の中にあつて目盛り3に
沿つて推移可能に配置されている。
沿つて推移可能に配置されている。
第4図は第2図の−線に沿つた断面図であ
る。この場合には走査要素21,22,23,24が
図中に現れてくる。
る。この場合には走査要素21,22,23,24が
図中に現れてくる。
上記した装置の変形として、第1図に示した如
くスイツチング装置が走査装置2に設けられた1
つの光電素子10′と、尺度1に沿つて推移可能
に配置されている部材上に設けられた上記光電素
子を照明可能な1つのランプ9′から成り立つこ
とによつても同じ目的を達成することが可能であ
る。
くスイツチング装置が走査装置2に設けられた1
つの光電素子10′と、尺度1に沿つて推移可能
に配置されている部材上に設けられた上記光電素
子を照明可能な1つのランプ9′から成り立つこ
とによつても同じ目的を達成することが可能であ
る。
第1図は増分測定装置の原理を示す略図、第2
図は尺度と走査装置の一部を示す平面図、第3図
は第2図の−線による断面図、第4図は第2
図の−線による断面図である。 図において、2……走査装置、4……参照記
号、9′……ランプ、9a……反射要素、10′…
…光電素子、20……連行装置である。
図は尺度と走査装置の一部を示す平面図、第3図
は第2図の−線による断面図、第4図は第2
図の−線による断面図である。 図において、2……走査装置、4……参照記
号、9′……ランプ、9a……反射要素、10′…
…光電素子、20……連行装置である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 格子目盛りに沿つて配置固定されている参照
記号のうちの1つ又は若干個の参照記号をスイ
ツチング装置により選択可能ならしめるため、
参照記号によつて発生する電気インパルスとス
イツチング装置によつて発生する電気信号とが
同時に発生した場合にのみ必要とされる参照記
号が作用する増分測長・測角装置において、ス
イツチング装置は、走査装置2に設けられた1
つのランプ9′と1つの光電素子10′を包含す
る光学装置から成り立ちそして尺度1に沿つて
推移可能に配置されている構成部材はそれぞれ
上記光学装置の光路を完成するのに必要な反射
要素9aから形成されていること、反射要素9
aを推移させるための手段が、遠隔操作によつ
て作動させられる連行体として、走査装置2に
取り付けられていることを特徴とする増分測
長・測角装置。 2 スイツチング装置は、走査装置2に設けられ
た1つの光電素子10′と、尺度1に沿つて推
移可能に配置されている構成部材上にそれぞれ
設けられた上記光電素子を照明可能なランプ
9′から成りたつていることを特徴とする実用
新案登録請求の範囲第1項記載の増分測長・測
角装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3037810A DE3037810C2 (de) | 1980-10-07 | 1980-10-07 | Inkrementale Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62168409U JPS62168409U (ja) | 1987-10-26 |
JPS6310483Y2 true JPS6310483Y2 (ja) | 1988-03-29 |
Family
ID=6113793
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56158902A Pending JPS57127802A (en) | 1980-10-07 | 1981-10-07 | Increment length/angle measuring apparatus |
JP1987031997U Expired JPS6310483Y2 (ja) | 1980-10-07 | 1987-03-06 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56158902A Pending JPS57127802A (en) | 1980-10-07 | 1981-10-07 | Increment length/angle measuring apparatus |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4479716A (ja) |
EP (1) | EP0049764B1 (ja) |
JP (2) | JPS57127802A (ja) |
AT (1) | ATE21549T1 (ja) |
DE (1) | DE3037810C2 (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3151798C2 (de) * | 1981-12-29 | 1985-12-12 | MTC, Meßtechnik und Optoelektronik AG, Neuenburg/Neuchâtel | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Länge einer Strecke oder eines Bogens |
JPS59501639A (ja) * | 1982-09-25 | 1984-09-13 | レニシヨウ パブリツク リミテツド カンパニ− | 変位測定装置 |
DE3245357C2 (de) * | 1982-12-08 | 1985-02-14 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementale Meßeinrichtung |
DE3245914C1 (de) * | 1982-12-11 | 1984-03-29 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Messeinrichtung |
DE3325803C2 (de) * | 1983-07-16 | 1986-11-20 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementale, lichtelektrische Meßeinrichtung |
US4943716A (en) * | 1988-01-22 | 1990-07-24 | Mitutoyo Corporation | Diffraction-type optical encoder with improved detection signal insensitivity to optical grating gap variations |
DE3834676A1 (de) * | 1988-10-12 | 1990-04-19 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Photoelektrische positionsmesseinrichtung |
DE3837134A1 (de) * | 1988-11-02 | 1990-05-03 | Oelsch Kg | Beruehrungsloser, digitaler lineargeber |
DE3914739A1 (de) * | 1989-05-05 | 1990-11-08 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Inkrementale positionsmesseinrichtung mit referenzmarken |
US4993165A (en) * | 1989-07-31 | 1991-02-19 | Outboard Marine Corporation | Method and apparatus for determining necessary shim thickness for a marine propulsion device pinion and bearing carrier assembly |
AT394446B (de) * | 1990-10-11 | 1992-03-25 | Rsf Elektronik Gmbh | Inkrementales laengenmesssystem |
US5148600A (en) * | 1991-09-17 | 1992-09-22 | Advanced Robotics (A.R.L.) Ltd. | Precision measuring apparatus |
DE4244178C2 (de) * | 1992-12-24 | 1997-01-23 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
DE4403218C2 (de) * | 1993-09-06 | 1998-08-20 | Hengstler Gmbh | Drehgeber |
DE4434928C2 (de) * | 1993-12-10 | 2000-02-24 | Hewlett Packard Co | Positionssensorsystem und Verfahren zur Kalibrierung eines ortsfesten Positionssensors |
DE19821558B4 (de) * | 1997-08-08 | 2007-09-13 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Maßstab und Verfahren zur Herstellung eines Maßstabes sowie Positionsmeßeinrichtung |
DE19802036B4 (de) * | 1998-01-21 | 2006-11-30 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur mechanischen Justage von Teilungsträgern |
JP3506613B2 (ja) | 1998-09-21 | 2004-03-15 | 株式会社ミツトヨ | 原点検出方式 |
EP1085291B1 (de) | 1999-09-16 | 2009-11-11 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Vorrichtung zur Positionsbestimmung und Ermittlung von Führungsfehlern |
DE19962278A1 (de) | 1999-12-23 | 2001-08-02 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Positionsmeßeinrichtung |
US6922907B2 (en) * | 2001-04-05 | 2005-08-02 | Anton Rodi | Measuring system for recording absolute angular or position values |
DE10312045B4 (de) * | 2003-03-18 | 2014-07-31 | Anton Rodi | Messsystem zur Absolutwerterfassung von Winkeln und Wegen |
DE10329374A1 (de) * | 2003-06-30 | 2005-01-20 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Abtastbaueinheit einer Positionsmesseinrichtung |
US7248350B2 (en) | 2004-04-27 | 2007-07-24 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Non-destructive method of determining the refractive index of clear coats |
GB0523273D0 (en) * | 2005-11-16 | 2005-12-21 | Renishaw Plc | Scale and readhead apparatus and method |
US10859363B2 (en) * | 2017-09-27 | 2020-12-08 | Stanley Black & Decker, Inc. | Tape rule assembly with linear optical encoder for sensing human-readable graduations of length |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3867036A (en) * | 1974-04-30 | 1975-02-18 | Us Army | Limit display circuit for radiation source analysis |
DE2540412B2 (de) * | 1975-09-11 | 1979-08-02 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementales Meßsystem |
US4097734A (en) * | 1977-02-09 | 1978-06-27 | Keuffel & Esser Company | Zero index for electro-optical measuring device |
DE2948854A1 (de) * | 1979-12-05 | 1981-06-11 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementales messsystem |
-
1980
- 1980-10-07 DE DE3037810A patent/DE3037810C2/de not_active Expired
-
1981
- 1981-09-10 EP EP81107126A patent/EP0049764B1/de not_active Expired
- 1981-09-10 AT AT81107126T patent/ATE21549T1/de not_active IP Right Cessation
- 1981-10-05 US US06/308,792 patent/US4479716A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-10-07 JP JP56158902A patent/JPS57127802A/ja active Pending
-
1987
- 1987-03-06 JP JP1987031997U patent/JPS6310483Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPS62168409U (ja) | 1987-10-26 |
EP0049764A3 (en) | 1983-11-16 |
US4479716A (en) | 1984-10-30 |
DE3037810A1 (de) | 1982-04-22 |
ATE21549T1 (de) | 1986-09-15 |
JPS57127802A (en) | 1982-08-09 |
DE3037810C2 (de) | 1982-11-04 |
EP0049764B1 (de) | 1986-08-20 |
EP0049764A2 (de) | 1982-04-21 |
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