JPS6310483Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6310483Y2 JPS6310483Y2 JP1987031997U JP3199787U JPS6310483Y2 JP S6310483 Y2 JPS6310483 Y2 JP S6310483Y2 JP 1987031997 U JP1987031997 U JP 1987031997U JP 3199787 U JP3199787 U JP 3199787U JP S6310483 Y2 JPS6310483 Y2 JP S6310483Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reference marks
- scale
- scanning
- signal
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は格子目盛りに沿つて配置固着されてい
る参照記号のうちの１つ又は若干個の参照記号を
スイツチング装置により選択可能ならしめるた
め、参照記号によつて発生する電気インパルスと
スイツチング装置によつて発生する電気信号とが
同時に発生した場合にのみ必要とされる参照記号
が作用する増分測長・測角装置に関する。
る参照記号のうちの１つ又は若干個の参照記号を
スイツチング装置により選択可能ならしめるた
め、参照記号によつて発生する電気インパルスと
スイツチング装置によつて発生する電気信号とが
同時に発生した場合にのみ必要とされる参照記号
が作用する増分測長・測角装置に関する。
上記した種類の測定装置では、一つの参照記号
の処で発生した電気インパルスが種々異なる態様
で利用され、例えば計算器内に零位置を再生する
ため、一定の位置で測定を開始するため及び妨害
インパルスを管理するために利用される。
の処で発生した電気インパルスが種々異なる態様
で利用され、例えば計算器内に零位置を再生する
ため、一定の位置で測定を開始するため及び妨害
インパルスを管理するために利用される。
従つて公知の増分測定装置では、尺度を造る際
に取り付けられる参照記号の数やその位置は使用
者の要望に従つて定められる。従つて後で、参照
記号により導き出されるインパルスの数や位置の
変更を測定装置に加えることは不可能である。上
記欠点を取り除くため、ドイツ連邦共和国特許第
2540412号公報において、目盛りを造る際、尺度
上に一定の間隔を隔てて若干の参照記号を設けそ
して少なくとも１つのスイツチング装置を尺度自
体またはそれの近傍に配置することが提案されて
いる。この様にして１個または若干個の参照記号
が選択されそしてその都度スイツチング装置と作
動関係に置かれる。その際、測定過程において作
動関係に到達する参照記号の処にそれぞれ磁石が
付設され、該磁石は走査装置が傍らを通過する
際、該走査装置に取り付けられている電気スイツ
チを操作し、該スイツチの電気的出力は走査装置
の電気的出力と共に電子的構成単位に導かれ、該
構成単位は、走査装置の出力端とスイツチの出力
端とに同時に電気信号が発生した時にのみ操作イ
ンパルスを発生する。経験によれば電気スイツチ
は開閉過程において跳ね返る傾向があり、そのこ
とはインパルスを変形させ従つて測定結果に誤差
を発生する可能性がある。参照記号を選択するた
めに設けられた磁石は都合の悪い条件のもとで鉄
屑を吸い付けていることがあり、そのことは前同
様に測定過程を妨害する。
に取り付けられる参照記号の数やその位置は使用
者の要望に従つて定められる。従つて後で、参照
記号により導き出されるインパルスの数や位置の
変更を測定装置に加えることは不可能である。上
記欠点を取り除くため、ドイツ連邦共和国特許第
2540412号公報において、目盛りを造る際、尺度
上に一定の間隔を隔てて若干の参照記号を設けそ
して少なくとも１つのスイツチング装置を尺度自
体またはそれの近傍に配置することが提案されて
いる。この様にして１個または若干個の参照記号
が選択されそしてその都度スイツチング装置と作
動関係に置かれる。その際、測定過程において作
動関係に到達する参照記号の処にそれぞれ磁石が
付設され、該磁石は走査装置が傍らを通過する
際、該走査装置に取り付けられている電気スイツ
チを操作し、該スイツチの電気的出力は走査装置
の電気的出力と共に電子的構成単位に導かれ、該
構成単位は、走査装置の出力端とスイツチの出力
端とに同時に電気信号が発生した時にのみ操作イ
ンパルスを発生する。経験によれば電気スイツチ
は開閉過程において跳ね返る傾向があり、そのこ
とはインパルスを変形させ従つて測定結果に誤差
を発生する可能性がある。参照記号を選択するた
めに設けられた磁石は都合の悪い条件のもとで鉄
屑を吸い付けていることがあり、そのことは前同
様に測定過程を妨害する。
本考案の目的は冒頭に述べた種類の増分測長・
測角装置において測定の妨害が発生しない様な構
成を提供することである。
測角装置において測定の妨害が発生しない様な構
成を提供することである。
上記の目的は本考案により、登録請求の範囲に
記載した特徴を有する構成により達成される。
記載した特徴を有する構成により達成される。
本考案の効果は、光電的スイツチング装置は開
閉作動の際跳ね返る傾向がなく、従つてこの理由
から参照記号から導かれたインパルスの信号処理
が簡単になるということにある。
閉作動の際跳ね返る傾向がなく、従つてこの理由
から参照記号から導かれたインパルスの信号処理
が簡単になるということにある。
本考案は添付図により次に詳細に説明される。
第１図には本考案による光電的増分測長装置の
原理が略図により示され、該装置は尺度として硝
子製の尺度１、走査装置２および電子計算器７か
ら成り立つている。尺度１には目盛りとして線格
子３（第２図）が取り付けられており、該格子は
透過光線により接触することなく走査される。尺
度１には目盛り３に沿つて若干個の参照記号４が
取り付けられ、該記号はそれぞれ一定の線の分布
を持つた線群から成り立つている。線格子３を走
査することにより発生する周期的な走査信号は走
査装置２の内部で増幅されそして矩形波信号T1
およびT2に変形され、導線５および６を介して
電子計算器７を操作する。走査信号T1，T2が一
定の位相のずれを持つことによつて、計算器７は
走査装置２の運動方向を認識することができそし
て尺度１に関する走査装置２の位置を数字的に示
すことができる。参照記号４の処で発生した信号
は走査装置２の内部で増幅されそして矩形波信号
SBに変形される。この様な零インパルス信号は例
えばそれが発生した時、電子計算器７の計算値を
零に設定するのに役立つ。上記した種類の測定装
置は公知であり例えば「フイルメンドリユツクシ
ユリフテン デル ドクトル ヨハネス ハイデ
ンハイン ゲーエムベーハー，トラウンロイト：
フアーテイグングスプログラム 1973，20〜25
頁」又は「ヌーメリツシエ ポジシオンスアンツ
アイゲ ゼプテンバー1977，２頁」
（Firmendruckschriften der Dr.Johannes
Heidenhein GmbH.Traunreut：
“Fertigungsprogramm 1973.Seiten 20〜25”
bzw.“Numerische Positionsanzeige.
September1977.Seite ２”）に記載されている。
原理が略図により示され、該装置は尺度として硝
子製の尺度１、走査装置２および電子計算器７か
ら成り立つている。尺度１には目盛りとして線格
子３（第２図）が取り付けられており、該格子は
透過光線により接触することなく走査される。尺
度１には目盛り３に沿つて若干個の参照記号４が
取り付けられ、該記号はそれぞれ一定の線の分布
を持つた線群から成り立つている。線格子３を走
査することにより発生する周期的な走査信号は走
査装置２の内部で増幅されそして矩形波信号T1
およびT2に変形され、導線５および６を介して
電子計算器７を操作する。走査信号T1，T2が一
定の位相のずれを持つことによつて、計算器７は
走査装置２の運動方向を認識することができそし
て尺度１に関する走査装置２の位置を数字的に示
すことができる。参照記号４の処で発生した信号
は走査装置２の内部で増幅されそして矩形波信号
SBに変形される。この様な零インパルス信号は例
えばそれが発生した時、電子計算器７の計算値を
零に設定するのに役立つ。上記した種類の測定装
置は公知であり例えば「フイルメンドリユツクシ
ユリフテン デル ドクトル ヨハネス ハイデ
ンハイン ゲーエムベーハー，トラウンロイト：
フアーテイグングスプログラム 1973，20〜25
頁」又は「ヌーメリツシエ ポジシオンスアンツ
アイゲ ゼプテンバー1977，２頁」
（Firmendruckschriften der Dr.Johannes
Heidenhein GmbH.Traunreut：
“Fertigungsprogramm 1973.Seiten 20〜25”
bzw.“Numerische Positionsanzeige.
September1977.Seite ２”）に記載されている。
１つの参照記号４から発生した信号SBは操作導
線１２を介して電子構成単位８に導かれる。走査
装置２は光電素子１０′を包含しており、該素子
の出力端は導線１１′を介して電子構成単位８に
結合されている。測定尺度３に沿つて推移可能な
反射要素９ａ（反射鏡）はそれぞれ望み通りの参
照記号４に付設されることが可能である。
線１２を介して電子構成単位８に導かれる。走査
装置２は光電素子１０′を包含しており、該素子
の出力端は導線１１′を介して電子構成単位８に
結合されている。測定尺度３に沿つて推移可能な
反射要素９ａ（反射鏡）はそれぞれ望み通りの参
照記号４に付設されることが可能である。
走査装置２が測定目盛り３に沿つて推進させら
れる時、そしてその際光電素子１０′一つの反射
要素９ａの光線路の中に到達する時、電気信号SR
が発生しそして電気構成単位８に送られる。これ
と同時に参照記号４から送られた信号SBが送られ
てきた時、構成単位８から１つのインパルスS′B
が、操作導線１３を介して電子計算器７の入力端
に送られ、該計算器はそのことにより、例えば計
算値零に設定される。同じインパルス信号で別の
過程が操作されることも明らかである。
れる時、そしてその際光電素子１０′一つの反射
要素９ａの光線路の中に到達する時、電気信号SR
が発生しそして電気構成単位８に送られる。これ
と同時に参照記号４から送られた信号SBが送られ
てきた時、構成単位８から１つのインパルスS′B
が、操作導線１３を介して電子計算器７の入力端
に送られ、該計算器はそのことにより、例えば計
算値零に設定される。同じインパルス信号で別の
過程が操作されることも明らかである。
第２図には尺度１および走査装置２および尺度
担持体１４を示す平面図の一部が示されている。
走査装置２内部には格子目盛り３を走査する走査
要素２1，２2，２3，２4が配置されているのが判
る。計算器７に接続する電線は図を複雑にしない
ため示されていない。第５番目の走査要素２Bは、
参照記号４が配置されているトラツク４Sを走査
するのに役立つている。目盛りが配置されている
方向に尺度１と走査装置２との相対運動が発生す
ると、公知の態様で走査信号が発生する。参照記
号のトラツク４Sはその際走査要素２Bによつて走
査される。反射要素９ａは、尺度担持体１４に設
けられた溝１５の中で、目盛り１に平行に、参照
記号トラツク４に沿つて推移可能に配置されてい
る。この様にして反射要素９ａはそれぞれの参照
記号４に合致する様に移動させられることが可能
になつつている。ランプ９′と光電素子１０′とは
双方とも走査装置２の内部に配置されそして、照
明光路がランプ９′から照明光学系１９を通過し
て反射要素９ａに衝き当たり反射しそしてそこか
ら光電素子１０′に入射する様に調整されている。
光電素子の出力端は前述した様に第１図に示した
電子構成単位８に接続されている。
担持体１４を示す平面図の一部が示されている。
走査装置２内部には格子目盛り３を走査する走査
要素２1，２2，２3，２4が配置されているのが判
る。計算器７に接続する電線は図を複雑にしない
ため示されていない。第５番目の走査要素２Bは、
参照記号４が配置されているトラツク４Sを走査
するのに役立つている。目盛りが配置されている
方向に尺度１と走査装置２との相対運動が発生す
ると、公知の態様で走査信号が発生する。参照記
号のトラツク４Sはその際走査要素２Bによつて走
査される。反射要素９ａは、尺度担持体１４に設
けられた溝１５の中で、目盛り１に平行に、参照
記号トラツク４に沿つて推移可能に配置されてい
る。この様にして反射要素９ａはそれぞれの参照
記号４に合致する様に移動させられることが可能
になつつている。ランプ９′と光電素子１０′とは
双方とも走査装置２の内部に配置されそして、照
明光路がランプ９′から照明光学系１９を通過し
て反射要素９ａに衝き当たり反射しそしてそこか
ら光電素子１０′に入射する様に調整されている。
光電素子の出力端は前述した様に第１図に示した
電子構成単位８に接続されている。
反射要素９ａを推移させるのは、走査装置２に
移動可能な連行装置２０を取り付けることによつ
て遠隔操作で実施される。この連行装置２０は例
えば電磁的又は空気操作で作動可能になつてお
り、かくして連行装置が引き出されている状態で
は反射要素９ａは目盛り３に沿つて任意の数の参
照記号を通過して走査装置２によつて連行され
る。連行装置が引つ込められている時には、反射
要素９ａは走査装置により連行されることはない
が、手動によつて推移させられることは可能であ
る。
移動可能な連行装置２０を取り付けることによつ
て遠隔操作で実施される。この連行装置２０は例
えば電磁的又は空気操作で作動可能になつてお
り、かくして連行装置が引き出されている状態で
は反射要素９ａは目盛り３に沿つて任意の数の参
照記号を通過して走査装置２によつて連行され
る。連行装置が引つ込められている時には、反射
要素９ａは走査装置により連行されることはない
が、手動によつて推移させられることは可能であ
る。
第３図は第２図に示した測定装置の−線に
沿つた断面図である。既に上述した要素の他に尺
度１を走査するための照明装置が示されている。
小型ランプ１６がコンデンサー１７を透過して尺
度１を照明している。尺度１とコンデンサー１７
との間には走査板１８が配置されており、該走査
板には公知の態様で対向格子１８および１８が取
り付けられている「ドクトル ヨハネス ハイデ
ンハイン ゲーエムベーハー商会，トラウンロイ
トのフアーテイグングスプログラム 1973，22，
23頁を参照されたい」（Fertigungsprogramm
1973，Seiten 22，23der Dr.Johannes
Heidenhein GmbH.Traunreut）。
沿つた断面図である。既に上述した要素の他に尺
度１を走査するための照明装置が示されている。
小型ランプ１６がコンデンサー１７を透過して尺
度１を照明している。尺度１とコンデンサー１７
との間には走査板１８が配置されており、該走査
板には公知の態様で対向格子１８および１８が取
り付けられている「ドクトル ヨハネス ハイデ
ンハイン ゲーエムベーハー商会，トラウンロイ
トのフアーテイグングスプログラム 1973，22，
23頁を参照されたい」（Fertigungsprogramm
1973，Seiten 22，23der Dr.Johannes
Heidenhein GmbH.Traunreut）。
反射要素９ａは溝１５の中にあつて目盛り３に
沿つて推移可能に配置されている。
沿つて推移可能に配置されている。
第４図は第２図の−線に沿つた断面図であ
る。この場合には走査要素２1，２2，２3，２4が
図中に現れてくる。
る。この場合には走査要素２1，２2，２3，２4が
図中に現れてくる。
上記した装置の変形として、第１図に示した如
くスイツチング装置が走査装置２に設けられた１
つの光電素子１０′と、尺度１に沿つて推移可能
に配置されている部材上に設けられた上記光電素
子を照明可能な１つのランプ９′から成り立つこ
とによつても同じ目的を達成することが可能であ
る。
くスイツチング装置が走査装置２に設けられた１
つの光電素子１０′と、尺度１に沿つて推移可能
に配置されている部材上に設けられた上記光電素
子を照明可能な１つのランプ９′から成り立つこ
とによつても同じ目的を達成することが可能であ
る。
第１図は増分測定装置の原理を示す略図、第２
図は尺度と走査装置の一部を示す平面図、第３図
は第２図の−線による断面図、第４図は第２
図の−線による断面図である。 図において、２……走査装置、４……参照記
号、９′……ランプ、９ａ……反射要素、１０′…
…光電素子、２０……連行装置である。
図は尺度と走査装置の一部を示す平面図、第３図
は第２図の−線による断面図、第４図は第２
図の−線による断面図である。 図において、２……走査装置、４……参照記
号、９′……ランプ、９ａ……反射要素、１０′…
…光電素子、２０……連行装置である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ 格子目盛りに沿つて配置固定されている参照
記号のうちの１つ又は若干個の参照記号をスイ
ツチング装置により選択可能ならしめるため、
参照記号によつて発生する電気インパルスとス
イツチング装置によつて発生する電気信号とが
同時に発生した場合にのみ必要とされる参照記
号が作用する増分測長・測角装置において、ス
イツチング装置は、走査装置２に設けられた１
つのランプ９′と１つの光電素子１０′を包含す
る光学装置から成り立ちそして尺度１に沿つて
推移可能に配置されている構成部材はそれぞれ
上記光学装置の光路を完成するのに必要な反射
要素９ａから形成されていること、反射要素９
ａを推移させるための手段が、遠隔操作によつ
て作動させられる連行体として、走査装置２に
取り付けられていることを特徴とする増分測
長・測角装置。 ２ スイツチング装置は、走査装置２に設けられ
た１つの光電素子１０′と、尺度１に沿つて推
移可能に配置されている構成部材上にそれぞれ
設けられた上記光電素子を照明可能なランプ
９′から成りたつていることを特徴とする実用
新案登録請求の範囲第１項記載の増分測長・測
角装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3037810A DE3037810C2 (de) | 1980-10-07 | 1980-10-07 | Inkrementale Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62168409U JPS62168409U (ja) | 1987-10-26 |
| JPS6310483Y2 true JPS6310483Y2 (ja) | 1988-03-29 |
Family
ID=6113793
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56158902A Pending JPS57127802A (en) | 1980-10-07 | 1981-10-07 | Increment length/angle measuring apparatus |
| JP1987031997U Expired JPS6310483Y2 (ja) | 1980-10-07 | 1987-03-06 |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56158902A Pending JPS57127802A (en) | 1980-10-07 | 1981-10-07 | Increment length/angle measuring apparatus |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4479716A (ja) |
| EP (1) | EP0049764B1 (ja) |
| JP (2) | JPS57127802A (ja) |
| AT (1) | ATE21549T1 (ja) |
| DE (1) | DE3037810C2 (ja) |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3151798C2 (de) * | 1981-12-29 | 1985-12-12 | MTC, Meßtechnik und Optoelektronik AG, Neuenburg/Neuchâtel | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Länge einer Strecke oder eines Bogens |
| US4689485A (en) * | 1982-09-25 | 1987-08-25 | Renishaw Plc | Optoelectronic displacement measuring apparatus using color-encoded light |
| DE3245357C2 (de) * | 1982-12-08 | 1985-02-14 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementale Meßeinrichtung |
| DE3245914C1 (de) * | 1982-12-11 | 1984-03-29 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Messeinrichtung |
| DE3325803C2 (de) * | 1983-07-16 | 1986-11-20 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementale, lichtelektrische Meßeinrichtung |
| US4943716A (en) * | 1988-01-22 | 1990-07-24 | Mitutoyo Corporation | Diffraction-type optical encoder with improved detection signal insensitivity to optical grating gap variations |
| DE3834676A1 (de) * | 1988-10-12 | 1990-04-19 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Photoelektrische positionsmesseinrichtung |
| DE3837134A1 (de) * | 1988-11-02 | 1990-05-03 | Oelsch Kg | Beruehrungsloser, digitaler lineargeber |
| DE3914739A1 (de) * | 1989-05-05 | 1990-11-08 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Inkrementale positionsmesseinrichtung mit referenzmarken |
| US4993165A (en) * | 1989-07-31 | 1991-02-19 | Outboard Marine Corporation | Method and apparatus for determining necessary shim thickness for a marine propulsion device pinion and bearing carrier assembly |
| AT394446B (de) * | 1990-10-11 | 1992-03-25 | Rsf Elektronik Gmbh | Inkrementales laengenmesssystem |
| US5148600A (en) * | 1991-09-17 | 1992-09-22 | Advanced Robotics (A.R.L.) Ltd. | Precision measuring apparatus |
| DE4244178C2 (de) * | 1992-12-24 | 1997-01-23 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
| DE4403218C2 (de) * | 1993-09-06 | 1998-08-20 | Hengstler Gmbh | Drehgeber |
| DE4434928C2 (de) * | 1993-12-10 | 2000-02-24 | Hewlett Packard Co | Positionssensorsystem und Verfahren zur Kalibrierung eines ortsfesten Positionssensors |
| DE19821558B4 (de) * | 1997-08-08 | 2007-09-13 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Maßstab und Verfahren zur Herstellung eines Maßstabes sowie Positionsmeßeinrichtung |
| DE19802036B4 (de) * | 1998-01-21 | 2006-11-30 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur mechanischen Justage von Teilungsträgern |
| JP3506613B2 (ja) | 1998-09-21 | 2004-03-15 | 株式会社ミツトヨ | 原点検出方式 |
| DE10043635A1 (de) | 1999-09-16 | 2001-03-22 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Vorrichtung zur Positionsbestimmung und Ermittlung von Führungsfehlern |
| DE19962278A1 (de) | 1999-12-23 | 2001-08-02 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Positionsmeßeinrichtung |
| US6922907B2 (en) * | 2001-04-05 | 2005-08-02 | Anton Rodi | Measuring system for recording absolute angular or position values |
| DE10312045B4 (de) * | 2003-03-18 | 2014-07-31 | Anton Rodi | Messsystem zur Absolutwerterfassung von Winkeln und Wegen |
| DE10329374A1 (de) * | 2003-06-30 | 2005-01-20 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Abtastbaueinheit einer Positionsmesseinrichtung |
| US7248350B2 (en) | 2004-04-27 | 2007-07-24 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Non-destructive method of determining the refractive index of clear coats |
| GB0523273D0 (en) * | 2005-11-16 | 2005-12-21 | Renishaw Plc | Scale and readhead apparatus and method |
| US10859363B2 (en) * | 2017-09-27 | 2020-12-08 | Stanley Black & Decker, Inc. | Tape rule assembly with linear optical encoder for sensing human-readable graduations of length |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3867036A (en) * | 1974-04-30 | 1975-02-18 | Us Army | Limit display circuit for radiation source analysis |
| DE2540412B2 (de) * | 1975-09-11 | 1979-08-02 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementales Meßsystem |
| US4097734A (en) * | 1977-02-09 | 1978-06-27 | Keuffel & Esser Company | Zero index for electro-optical measuring device |
| DE2948854A1 (de) * | 1979-12-05 | 1981-06-11 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementales messsystem |
-
1980
- 1980-10-07 DE DE3037810A patent/DE3037810C2/de not_active Expired
-
1981
- 1981-09-10 AT AT81107126T patent/ATE21549T1/de not_active IP Right Cessation
- 1981-09-10 EP EP81107126A patent/EP0049764B1/de not_active Expired
- 1981-10-05 US US06/308,792 patent/US4479716A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-10-07 JP JP56158902A patent/JPS57127802A/ja active Pending
-
1987
- 1987-03-06 JP JP1987031997U patent/JPS6310483Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62168409U (ja) | 1987-10-26 |
| US4479716A (en) | 1984-10-30 |
| DE3037810C2 (de) | 1982-11-04 |
| EP0049764A2 (de) | 1982-04-21 |
| DE3037810A1 (de) | 1982-04-22 |
| JPS57127802A (en) | 1982-08-09 |
| ATE21549T1 (de) | 1986-09-15 |
| EP0049764B1 (de) | 1986-08-20 |
| EP0049764A3 (en) | 1983-11-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6310483Y2 (ja) | ||
| US4363964A (en) | Incremental measuring system with selectively designated reference marks | |
| US3591841A (en) | Optical device for determining extent of movement | |
| EP0132665B1 (en) | Individual identification apparatus | |
| US4158509A (en) | Instrument for measuring lengths | |
| EP0503716A1 (en) | Measuring device for determining an absolute position of a movable element and scale graduation element suitable for use in such a measuring device | |
| JPH0318130B2 (ja) | ||
| JPS63153408A (ja) | 相対変位測定装置 | |
| US5062214A (en) | Absolute measurement scale system | |
| JPH0145849B2 (ja) | ||
| JPH07209025A (ja) | 測長システム | |
| JPS6367692A (ja) | 光学的情報読取装置 | |
| JPH0749970B2 (ja) | 測定装置 | |
| JP2675177B2 (ja) | 基準マークを備えた増分式位置測定装置 | |
| US3668407A (en) | Optical switching for keyboard encoder | |
| US5007177A (en) | Incremental measuring system | |
| US3671750A (en) | Method of synchronizing the change of digits in absolute-value measuring devices and apparatus therefor | |
| US4399358A (en) | Photoelectric digital measuring instrument having multiple light sources | |
| JPS60260812A (ja) | デイジタル制御装置 | |
| US3403392A (en) | Apparatus for measuring of lengths by impulse counting | |
| US4867568A (en) | Optoelectronic measuring system | |
| JPS5822914A (ja) | 光電型エンコ−ダの零点検出装置 | |
| GB2062856A (en) | Circuit for use in photoelectric measuring | |
| SU506892A1 (ru) | Фотоэлектрический преобразователь угловых перемещений в код | |
| US3604810A (en) | Apparatus for the objective localization of an object relative to a scale carrier |