JPS6284875A - 溶落ち予知方法 - Google Patents
溶落ち予知方法Info
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- JPS6284875A JPS6284875A JP22481785A JP22481785A JPS6284875A JP S6284875 A JPS6284875 A JP S6284875A JP 22481785 A JP22481785 A JP 22481785A JP 22481785 A JP22481785 A JP 22481785A JP S6284875 A JPS6284875 A JP S6284875A
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- 238000003466 welding Methods 0.000 claims abstract description 45
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Landscapes
- Arc Welding In General (AREA)
- Arc Welding Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、消耗電極式アーク溶接時に生ずる溶落ち現象
の予知方法に関する。
の予知方法に関する。
消耗電極式アーク溶接時、特に、母材が薄板である場合
には、母材に穴があくいわゆる溶落ち現象が発生するこ
とがある。これは、溶接電流の増加、母材開先のギャッ
プの増加等が原因して発生するが、これが、一旦、発生
すると、以後は溶断状態となってしまい、正常な溶接に
復帰させることはできない。従来、この溶落ち現象の発
生を予知する技術、予知して溶落ち現象の発生を回避も
しくは防止する技術は無く、溶落ち現象が発生すると、
溶接を停止するようにしているので、作業能率が低下し
、また、溶接を再開するには、ワーク交換、ワーク手直
しを行わなければならず不経済であるという問題があっ
た。また、ロボット溶接の場合は、この溶落ち現象の発
生を恐れて、安全を充分に見越した溶接条件を設定する
のが通常であるので低能率になるという問題があった。
には、母材に穴があくいわゆる溶落ち現象が発生するこ
とがある。これは、溶接電流の増加、母材開先のギャッ
プの増加等が原因して発生するが、これが、一旦、発生
すると、以後は溶断状態となってしまい、正常な溶接に
復帰させることはできない。従来、この溶落ち現象の発
生を予知する技術、予知して溶落ち現象の発生を回避も
しくは防止する技術は無く、溶落ち現象が発生すると、
溶接を停止するようにしているので、作業能率が低下し
、また、溶接を再開するには、ワーク交換、ワーク手直
しを行わなければならず不経済であるという問題があっ
た。また、ロボット溶接の場合は、この溶落ち現象の発
生を恐れて、安全を充分に見越した溶接条件を設定する
のが通常であるので低能率になるという問題があった。
本発明は上記従来の問題を解消するためになされたもの
で、溶落ち前の溶接条件の変更を可能にして溶落ちの防
止もしくは回避を実現し得る溶落ち防止方法を得ること
を目的とする。
で、溶落ち前の溶接条件の変更を可能にして溶落ちの防
止もしくは回避を実現し得る溶落ち防止方法を得ること
を目的とする。
本発明は上記目的を達成するため、短絡周期を監視し、
該短絡周期が増大傾向を呈した場合に溶4〉 落ち発生前である判定するものであり、より具体的には
、短絡周期を監視し、短絡周期毎に、該短絡周期の多数
回平均値を演算するとともに少数回平均値を演算し、少
数回平均値/多数回平均値の比が所定のしきい値を越え
た場合に溶落ち発生前であると判定するものである。
該短絡周期が増大傾向を呈した場合に溶4〉 落ち発生前である判定するものであり、より具体的には
、短絡周期を監視し、短絡周期毎に、該短絡周期の多数
回平均値を演算するとともに少数回平均値を演算し、少
数回平均値/多数回平均値の比が所定のしきい値を越え
た場合に溶落ち発生前であると判定するものである。
第1図(a)〜(d)は、本発明者等が、溶落ち現象と
密接に相関する因子を求めて繰り返し行った測定のうち
の代表的な波形図を示したもので、この測定は、光セン
サを用い、薄板のアーク溶接時に、上記光センサで溶接
点を母材の裏面側からトレースしたものである。該アー
ク溶接におけるアーク電圧波形を第2図に示す。第1図
(a)の波形は上記光センサの出力波形であって、その
Y軸方向は上記アーク電圧における短絡周期Tの大きさ
を示し、波形のA部は溶落ち部分における出力波形を示
している。第1図(blは上記出力波形をローパスフィ
ルタ(LPF)(この場合は、カットオフ周波数f c
=5Hzのもの)に通して、短絡周期Tのバラツキを平
均化した波形であり、第1図(C1はfc=IHzのL
PFで平滑した波形である。
密接に相関する因子を求めて繰り返し行った測定のうち
の代表的な波形図を示したもので、この測定は、光セン
サを用い、薄板のアーク溶接時に、上記光センサで溶接
点を母材の裏面側からトレースしたものである。該アー
ク溶接におけるアーク電圧波形を第2図に示す。第1図
(a)の波形は上記光センサの出力波形であって、その
Y軸方向は上記アーク電圧における短絡周期Tの大きさ
を示し、波形のA部は溶落ち部分における出力波形を示
している。第1図(blは上記出力波形をローパスフィ
ルタ(LPF)(この場合は、カットオフ周波数f c
=5Hzのもの)に通して、短絡周期Tのバラツキを平
均化した波形であり、第1図(C1はfc=IHzのL
PFで平滑した波形である。
この第1図(b)及び(C1の波形から明らかなように
、溶落ち開始前に、短絡周期が増大しており、本発明は
、この短絡周期Tの溶落ち前の増大傾向に着目してなさ
れたもので、アーク電圧を監視してこの増大傾向を検知
し溶落ちを予知するものある。
、溶落ち開始前に、短絡周期が増大しており、本発明は
、この短絡周期Tの溶落ち前の増大傾向に着目してなさ
れたもので、アーク電圧を監視してこの増大傾向を検知
し溶落ちを予知するものある。
いわゆる溶落ちが起こった場合、その溶落ち発生時点で
溶接を停止すれば、溶融金属の表面張力によって、母材
にあいた穴は自然に塞がれ、補修溶接を行うことが可能
であるが、溶接ビード外観の乱れを嫌う場合や溶接を続
行させたい場合には溶落ちをその発生前に予知する必要
があり、溶落ちを予知できれば、該溶落ち前に、時間的
余裕をもって溶接条件を変更(電流の低減、溶接速度の
増大)することにより溶落ちの発生を防止することがで
きる。
溶接を停止すれば、溶融金属の表面張力によって、母材
にあいた穴は自然に塞がれ、補修溶接を行うことが可能
であるが、溶接ビード外観の乱れを嫌う場合や溶接を続
行させたい場合には溶落ちをその発生前に予知する必要
があり、溶落ちを予知できれば、該溶落ち前に、時間的
余裕をもって溶接条件を変更(電流の低減、溶接速度の
増大)することにより溶落ちの発生を防止することがで
きる。
上記短絡周期Tの増大傾向は、しきい値レベルVo(電
圧)を設定して上記L−PFの出力波形を比較器で該し
きい値レベルVoと比較することにより電気的に検出す
ることができ、上記測定によれば、上記増大傾向は、例
えば、溶落ち発生時点より200〜300ms e c
前から始まるので、上記比較器の出力信号(同図(d)
)を予知信号とし、該信号を用いて、溶落ちが発生する
前に溶接条件を変更することができる。溶落ちの予知が
早いほど、この溶接条件の変更は容易になり溶落ちの回
避もしくは防止には好適であるが、そのためにしきい値
レベルVoを低く設定し過ぎると、個々の短絡周期のバ
ラツキのため、誤検出する確率が大きくなる。これに対
処する方法として、しきい値レベルを高いしきい値レベ
ルVH(溶落ち検知レベル)と低いしきい値レベルVL
(溶落ち予知レベル)の2段に設定し、短絡周期T
が低いしきい値レベルVLを越えた場合には、溶接条件
を変更させ、高いしきい値レベルVHを越えた場合には
溶接を停止させる構成としてもよい。
圧)を設定して上記L−PFの出力波形を比較器で該し
きい値レベルVoと比較することにより電気的に検出す
ることができ、上記測定によれば、上記増大傾向は、例
えば、溶落ち発生時点より200〜300ms e c
前から始まるので、上記比較器の出力信号(同図(d)
)を予知信号とし、該信号を用いて、溶落ちが発生する
前に溶接条件を変更することができる。溶落ちの予知が
早いほど、この溶接条件の変更は容易になり溶落ちの回
避もしくは防止には好適であるが、そのためにしきい値
レベルVoを低く設定し過ぎると、個々の短絡周期のバ
ラツキのため、誤検出する確率が大きくなる。これに対
処する方法として、しきい値レベルを高いしきい値レベ
ルVH(溶落ち検知レベル)と低いしきい値レベルVL
(溶落ち予知レベル)の2段に設定し、短絡周期T
が低いしきい値レベルVLを越えた場合には、溶接条件
を変更させ、高いしきい値レベルVHを越えた場合には
溶接を停止させる構成としてもよい。
ところで、上記短絡周期Tは、溶接電源によって制御し
得るものではなく、電流・電圧・速度、ワイヤ突出長、
母材の板厚、表面状態等によって変動するので、予測す
ることは不可能であり、しきい値レベルとして絶対値を
用いる上記方法では汎用的な予知もしくは検知を行うこ
とが難+7い。
得るものではなく、電流・電圧・速度、ワイヤ突出長、
母材の板厚、表面状態等によって変動するので、予測す
ることは不可能であり、しきい値レベルとして絶対値を
用いる上記方法では汎用的な予知もしくは検知を行うこ
とが難+7い。
また、個々の短絡周期Tがバラツクので上記のようにL
PFを用いて短絡周期を平均化する必要があるが、アナ
ログLPFを使用する場合は、溶接条件毎に最適なカッ
トオフ周波数fcを選定しなくてはならず汎用性の面か
ら限界がある。
PFを用いて短絡周期を平均化する必要があるが、アナ
ログLPFを使用する場合は、溶接条件毎に最適なカッ
トオフ周波数fcを選定しなくてはならず汎用性の面か
ら限界がある。
これらを考慮して本発明者等は広い範囲の溶接条件に対
応し得る汎用性の高い溶落ち方法を発明したので、以下
に、これを説明する。
応し得る汎用性の高い溶落ち方法を発明したので、以下
に、これを説明する。
この方法では、測定される短絡周期の多数回Nの平均値
Tdと小数回nの平均値Tcとを求め、両者の比T c
/ T dをあるしきい値A(予知倍率)と比較して
前者が後者を越えたことにより、すなわち、下記式が成
立した場合に、予知信号aを発生せしめて溶落ちを予知
する。
Tdと小数回nの平均値Tcとを求め、両者の比T c
/ T dをあるしきい値A(予知倍率)と比較して
前者が後者を越えたことにより、すなわち、下記式が成
立した場合に、予知信号aを発生せしめて溶落ちを予知
する。
Tc/Td>A・・・・・・・・(1)ここで、
(1)平均値Tdは溶接を行いながら取込んだ正常溶接
時の短絡周期のデータから演算する値であり、第3図に
示す如く、短絡周期毎に新しいデータを取込み古いデー
タを捨てて演算更新される。
時の短絡周期のデータから演算する値であり、第3図に
示す如く、短絡周期毎に新しいデータを取込み古いデー
タを捨てて演算更新される。
(2)キ均値TCも、短絡周期毎に新しいデータを取込
み古いデータを捨てて更新されるが、少数回nの平均値
であるので、個々の短絡周期のバラツキを平滑しながら
、かつ、短絡周期の増大に敏感に追随する値とすること
ができる。
み古いデータを捨てて更新されるが、少数回nの平均値
であるので、個々の短絡周期のバラツキを平滑しながら
、かつ、短絡周期の増大に敏感に追随する値とすること
ができる。
(3)シきい値Aは、平均値比T c / T dに対
するものであるので、VO% VH、VLと異なり相対
値としての内容を有し、溶接条件に一々対応して変更す
る必要がなく、1個の値で広い溶接条件に対応させるこ
とができる。
するものであるので、VO% VH、VLと異なり相対
値としての内容を有し、溶接条件に一々対応して変更す
る必要がなく、1個の値で広い溶接条件に対応させるこ
とができる。
本発明者等の実験によれば、多数回N=20回以上、少
数回n=3〜10回、A = 1.5以上の場合に溶落
ち防止に効果のある検知を行うことができた。
数回n=3〜10回、A = 1.5以上の場合に溶落
ち防止に効果のある検知を行うことができた。
・Nく20の場合は、Tdが変動し良好な予知を行えず
、 ・n<3の場合は、Tcの変動が大きくなり、誤検知が
多くなり、 ・n〉10の場合は、Tcの変化が短絡周期の増加傾向
に追随せず、予知は困難であった。
、 ・n<3の場合は、Tcの変動が大きくなり、誤検知が
多くなり、 ・n〉10の場合は、Tcの変化が短絡周期の増加傾向
に追随せず、予知は困難であった。
・A<1.5の場合は、ノイズの影響が大きく、誤検知
が増え、また、 ・A > 2.5の場合には、溶落ちを看過する可能性
が高(なる傾向があった。
が増え、また、 ・A > 2.5の場合には、溶落ちを看過する可能性
が高(なる傾向があった。
なお、このAの値は、溶接電流の高低、開先形状により
変更することが好ましい。
変更することが好ましい。
また、この溶落ち予知方法の場合にも、しきい植入を高
低2段階設定し、低いレベルABL(溶落ち予知レベル
)を越えた場合には予知信号を発生させて溶接条件を溶
落ち回避レベル側へ変更せしめ、高いレベルAH(溶落
ち検知レベル)を越えた場合には溶接を停止させるよう
にしてもよい。
低2段階設定し、低いレベルABL(溶落ち予知レベル
)を越えた場合には予知信号を発生させて溶接条件を溶
落ち回避レベル側へ変更せしめ、高いレベルAH(溶落
ち検知レベル)を越えた場合には溶接を停止させるよう
にしてもよい。
ところで、短絡周期Tは、短絡回数の逆数であるので、
短絡回数を用いても溶落ち現象の予知が可能であるが、
この場合には下記に述べるような問題がある。すなわち
、 短絡回数の測定にはサンプリング時間が必要となる。つ
まり、サンプリング時間t(Sec)の間の短絡回数を
M回とすると、単位時間当たりの短絡回数はM/lとな
る。個々の短絡周期のバラツキの影響を低減するために
は、このサンプリング時間tを大きくとることが好まし
いが、サブリング時間tを大きくとると、溶落ちの予知
が遅れることになる。また、広い溶接条件に亘って同じ
S/N比を得ようとすれば、サンプリング時間を内に含
まれる短絡回数Mを同一にする必要があり、そのために
は溶接条件により時間tを変化させなくてはならない。
短絡回数を用いても溶落ち現象の予知が可能であるが、
この場合には下記に述べるような問題がある。すなわち
、 短絡回数の測定にはサンプリング時間が必要となる。つ
まり、サンプリング時間t(Sec)の間の短絡回数を
M回とすると、単位時間当たりの短絡回数はM/lとな
る。個々の短絡周期のバラツキの影響を低減するために
は、このサンプリング時間tを大きくとることが好まし
いが、サブリング時間tを大きくとると、溶落ちの予知
が遅れることになる。また、広い溶接条件に亘って同じ
S/N比を得ようとすれば、サンプリング時間を内に含
まれる短絡回数Mを同一にする必要があり、そのために
は溶接条件により時間tを変化させなくてはならない。
中厚板の裏波制御のような処理が遅くてもよい制御対象
と異なり、薄板溶接における溶落ちのような、せいぜい
400 m s e c以下で進行する現象に対しては
、この時間tの選択は相当に難しいものとなる。
と異なり、薄板溶接における溶落ちのような、せいぜい
400 m s e c以下で進行する現象に対しては
、この時間tの選択は相当に難しいものとなる。
これに対し、「短絡周期」は、短絡毎に得ることができ
、前記少数回平均値Tcを用いれば、ある微小な時間遅
れをもって、実際の短絡周期の増加に時々刻々追随させ
ることができる上、溶接条件を変更した時の短絡周期の
変化に伴いサンプリング時間tに相当するn×(短絡回
数)は自動的に増減され、広い溶接条件に亘りTcの値
にS/N比を見込むことができる。このため、「短絡周
期」を用いることは、単に、物理的な、〔短絡周期=1
/(短絡回数)〕という以上の意味を持っているという
ことができる。
、前記少数回平均値Tcを用いれば、ある微小な時間遅
れをもって、実際の短絡周期の増加に時々刻々追随させ
ることができる上、溶接条件を変更した時の短絡周期の
変化に伴いサンプリング時間tに相当するn×(短絡回
数)は自動的に増減され、広い溶接条件に亘りTcの値
にS/N比を見込むことができる。このため、「短絡周
期」を用いることは、単に、物理的な、〔短絡周期=1
/(短絡回数)〕という以上の意味を持っているという
ことができる。
第4図は、上記短絡周期の平均値比を用いる溶落ち予知
方法を実施した具体的装置をブロック図で示したもので
ある。同図において、■は短絡検知部、2はカウンタ、
3はラッチ部、4はCPU、5は発振部である。
方法を実施した具体的装置をブロック図で示したもので
ある。同図において、■は短絡検知部、2はカウンタ、
3はラッチ部、4はCPU、5は発振部である。
短絡検知部1は、アーク電圧を受けて短絡検知信号を発
生し、アーク発生期間中ゲート信号をカウンタ2に送出
すると共にラッチ部3に対してラッチ信号を、CPU4
に割込み信号を供給する。
生し、アーク発生期間中ゲート信号をカウンタ2に送出
すると共にラッチ部3に対してラッチ信号を、CPU4
に割込み信号を供給する。
該カウンタ2は上記ゲート信号によりゲートされて発振
動部5が出力するクロックを計数し、該計数値(短絡周
期T)はラッチ部3に記憶される。
動部5が出力するクロックを計数し、該計数値(短絡周
期T)はラッチ部3に記憶される。
CPU4は割込み信号を受けると、ラッチ部3に記憶さ
れている短絡周期を読取り、Td、Tc、T c /
T dを演算して、上記(1)式の比較演算を行い、該
(1)式が成立した場合に、溶落ち予知信号を送出する
。この予知信号により溶接電源の出力電流を溶落ち回避
レベル側へ低減制御すれば溶落ちを事前に回避すること
ができる。しきい値をABLとABllの高低2つ設定
した場合には、T c / T d>ABLの場合に溶
落ち予知信号を、T c / T d >ABI(の場
合に溶落ち検知信号を発生させ該溶落ち検知信号により
溶接を一時中断し、警報を発生させるようにすればよい
。
れている短絡周期を読取り、Td、Tc、T c /
T dを演算して、上記(1)式の比較演算を行い、該
(1)式が成立した場合に、溶落ち予知信号を送出する
。この予知信号により溶接電源の出力電流を溶落ち回避
レベル側へ低減制御すれば溶落ちを事前に回避すること
ができる。しきい値をABLとABllの高低2つ設定
した場合には、T c / T d>ABLの場合に溶
落ち予知信号を、T c / T d >ABI(の場
合に溶落ち検知信号を発生させ該溶落ち検知信号により
溶接を一時中断し、警報を発生させるようにすればよい
。
〔発明の効果〕
本発明は以上説明した通り、溶落ちを予知することがで
きるので、溶落ち前の溶接条件の変更を可能にして溶落
ちの防止もしくは回避を実現することが可能となり、薄
板のアーク溶接の能率を向上することができ、特に、溶
接ロボットによる場合、溶落ちを恐れて安全サイドの溶
接条件を設定する必要がなくなり、その効果は特に大で
ある。
きるので、溶落ち前の溶接条件の変更を可能にして溶落
ちの防止もしくは回避を実現することが可能となり、薄
板のアーク溶接の能率を向上することができ、特に、溶
接ロボットによる場合、溶落ちを恐れて安全サイドの溶
接条件を設定する必要がなくなり、その効果は特に大で
ある。
第1図(a)〜(d)は本発明の詳細な説明するための
波形図、第2図はアーク電圧波形図、第3図は本発明の
一実施例を説明するための図、第4図は本発明を実施し
た溶落ち予知装置のブロック図である。
波形図、第2図はアーク電圧波形図、第3図は本発明の
一実施例を説明するための図、第4図は本発明を実施し
た溶落ち予知装置のブロック図である。
Claims (2)
- (1)消耗電極式アーク溶接において、アーク電圧から
ワイヤと母材の短絡から短絡までの時間である短絡周期
を監視し、該短絡周期が増大傾向を呈した場合に溶落ち
発生前であると判定することを特徴とする溶落ち予知方
法。 - (2)消耗電極式アーク溶接において、アーク電圧から
ワイヤと母材の短絡から短絡までの時間である短絡周期
を監視し、短絡周期毎に、該短絡周期の多数回平均値を
演算するとともに少数回平均値を演算し、少数回平均値
/多数回平均値の比が所定のしきい値を越えた場合に溶
落ち発生前であると判定することを特徴とする溶落ち予
知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22481785A JPH0677834B2 (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | 溶落ち予知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22481785A JPH0677834B2 (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | 溶落ち予知方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6284875A true JPS6284875A (ja) | 1987-04-18 |
| JPH0677834B2 JPH0677834B2 (ja) | 1994-10-05 |
Family
ID=16819662
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22481785A Expired - Lifetime JPH0677834B2 (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | 溶落ち予知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0677834B2 (ja) |
-
1985
- 1985-10-11 JP JP22481785A patent/JPH0677834B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0677834B2 (ja) | 1994-10-05 |
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