JPS6275508A - 自動光軸合せ装置の極値探索方式 - Google Patents
自動光軸合せ装置の極値探索方式Info
- Publication number
- JPS6275508A JPS6275508A JP21501485A JP21501485A JPS6275508A JP S6275508 A JPS6275508 A JP S6275508A JP 21501485 A JP21501485 A JP 21501485A JP 21501485 A JP21501485 A JP 21501485A JP S6275508 A JPS6275508 A JP S6275508A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frame
- fiber
- column
- optical axis
- frames
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract description 15
- 239000000835 fiber Substances 0.000 abstract description 13
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 210000003127 knee Anatomy 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/36—Mechanical coupling means
- G02B6/38—Mechanical coupling means having fibre to fibre mating means
- G02B6/3801—Permanent connections, i.e. wherein fibres are kept aligned by mechanical means
- G02B6/3803—Adjustment or alignment devices for alignment prior to splicing
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q1/00—Members which are comprised in the general build-up of a form of machine, particularly relatively large fixed members
- B23Q1/25—Movable or adjustable work or tool supports
- B23Q1/26—Movable or adjustable work or tool supports characterised by constructional features relating to the co-operation of relatively movable members; Means for preventing relative movement of such members
- B23Q1/34—Relative movement obtained by use of deformable elements, e.g. piezoelectric, magnetostrictive, elastic or thermally-dilatable elements
- B23Q1/36—Springs
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q15/00—Automatic control or regulation of feed movement, cutting velocity or position of tool or work
- B23Q15/20—Automatic control or regulation of feed movement, cutting velocity or position of tool or work before or after the tool acts upon the workpiece
- B23Q15/22—Control or regulation of position of tool or workpiece
- B23Q15/24—Control or regulation of position of tool or workpiece of linear position
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4201—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
- G02B6/4219—Mechanical fixtures for holding or positioning the elements relative to each other in the couplings; Alignment methods for the elements, e.g. measuring or observing methods especially used therefor
- G02B6/422—Active alignment, i.e. moving the elements in response to the detected degree of coupling or position of the elements
- G02B6/4226—Positioning means for moving the elements into alignment, e.g. alignment screws, deformation of the mount
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4201—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
- G02B6/4219—Mechanical fixtures for holding or positioning the elements relative to each other in the couplings; Alignment methods for the elements, e.g. measuring or observing methods especially used therefor
- G02B6/422—Active alignment, i.e. moving the elements in response to the detected degree of coupling or position of the elements
- G02B6/4227—Active alignment methods, e.g. procedures and algorithms
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は調整作業自動化のための多自由度機構の制御に
関わり、被調整物の出力から決定される評価関数が極大
値を取るように駆動するのに好適な探索てり御方式ンζ
関する。特にファイバ付レーザダイオードの光軸合せ装
置に適するものである。
関わり、被調整物の出力から決定される評価関数が極大
値を取るように駆動するのに好適な探索てり御方式ンζ
関する。特にファイバ付レーザダイオードの光軸合せ装
置に適するものである。
従来の装置は、例えば、特開昭57−84412、同じ
(56−50584に見られるように、ファイバを一軸
方向(−自由度)K変化させ、その時の出力が最大とな
る点で固定していた。しかし、これでは、部品精度等に
よりファイバの一自由度の運動で真の出力最大点に到達
することはなく、正確な光軸合せはできなかった。
(56−50584に見られるように、ファイバを一軸
方向(−自由度)K変化させ、その時の出力が最大とな
る点で固定していた。しかし、これでは、部品精度等に
よりファイバの一自由度の運動で真の出力最大点に到達
することはなく、正確な光軸合せはできなかった。
本発明は、ファイバ付レーザダイオードの光軸合わせに
関し、ファイバが集光した光出力値を最大とするようフ
ァイバの位置合わせをするファイバ付レーザダイオード
の自動光軸合わせ装置の探索制御方式を提供するもので
ある。
関し、ファイバが集光した光出力値を最大とするようフ
ァイバの位置合わせをするファイバ付レーザダイオード
の自動光軸合わせ装置の探索制御方式を提供するもので
ある。
本発明は、ファイバが集光した光出力値(−次元)をフ
ィードバックし、ファイバの位置合わせを行う多自由度
機構の駆動量を決定し、これを繰シ返して、光出力が最
大となるファイバの位置を探索する。
ィードバックし、ファイバの位置合わせを行う多自由度
機構の駆動量を決定し、これを繰シ返して、光出力が最
大となるファイバの位置を探索する。
また本発明は多次元岡の変数を変化させる際、第1回目
の変化ではまず、1番目の変数を予め定められた微小変
化させ、次に2番目の変数を予め定められた微小変化を
させ、以後同様に行ない、N番目の変数を予め定められ
た微小変化させる一連の制御をし、第M(≧2)回目の
変化の際は、1番目の変数を微小変化させ、次に2番目
の変数を微小変化させ、以後同様に行ない、N番目の変
数を微小変化させる一連の変化は同様であるが、各変数
の微小変化量を各M−1回目の変化の際のフィードバッ
ク信号の変化率及びM−1回目の変化後のフィードバッ
ク信号の値を参照にして定めることを特徴とする極値探
索方式である。
の変化ではまず、1番目の変数を予め定められた微小変
化させ、次に2番目の変数を予め定められた微小変化を
させ、以後同様に行ない、N番目の変数を予め定められ
た微小変化させる一連の制御をし、第M(≧2)回目の
変化の際は、1番目の変数を微小変化させ、次に2番目
の変数を微小変化させ、以後同様に行ない、N番目の変
数を微小変化させる一連の変化は同様であるが、各変数
の微小変化量を各M−1回目の変化の際のフィードバッ
ク信号の変化率及びM−1回目の変化後のフィードバッ
ク信号の値を参照にして定めることを特徴とする極値探
索方式である。
第1図はレーザダイオードの構造の1例を示す。1はレ
ーザダイオードチップでありサブマウント2に固定され
、それが枠部3に固定されている。−刃元ファイバ4は
一方を枠部5に固定させられた支柱5の中央部にあけら
れた穴を貫通するように固定され、出力端は枠部3に設
けられた穴を通)、外部に出ている。レーザダイオード
チップ1の発光部はチップの加工精度、サブマウントへ
の位置決め精度が充分でないため、枠部5に対して一定
の位置にはなく、ばらついている。また元ファイバ4も
同様にその先端の位置はばらついている。レーザダイオ
ードから所定の出力を得るためにはレーザダイオードチ
ップ1と光ファイバ4との光軸を0.1μm〜1μ隅程
度の精度で正確に位置合せをする必要がある。そこで支
柱5の先端をつかみ支柱5を第2図に示すようにX、Y
あるいはX、Y、θ方向に移動させることにより光ファ
イバ4の先端の位置を移動させ、支柱を塑性変形させ、
光ファイバからの出力を観察しながら、その値が所定の
値より大きくなる位置を探索し、光ファイバ4とレーザ
ダイオードチップ1との位置合せを行っていた。
ーザダイオードチップでありサブマウント2に固定され
、それが枠部3に固定されている。−刃元ファイバ4は
一方を枠部5に固定させられた支柱5の中央部にあけら
れた穴を貫通するように固定され、出力端は枠部3に設
けられた穴を通)、外部に出ている。レーザダイオード
チップ1の発光部はチップの加工精度、サブマウントへ
の位置決め精度が充分でないため、枠部5に対して一定
の位置にはなく、ばらついている。また元ファイバ4も
同様にその先端の位置はばらついている。レーザダイオ
ードから所定の出力を得るためにはレーザダイオードチ
ップ1と光ファイバ4との光軸を0.1μm〜1μ隅程
度の精度で正確に位置合せをする必要がある。そこで支
柱5の先端をつかみ支柱5を第2図に示すようにX、Y
あるいはX、Y、θ方向に移動させることにより光ファ
イバ4の先端の位置を移動させ、支柱を塑性変形させ、
光ファイバからの出力を観察しながら、その値が所定の
値より大きくなる位置を探索し、光ファイバ4とレーザ
ダイオードチップ1との位置合せを行っていた。
このような作業の自動化を行うためには多自由度機構6
でもって支柱5の先端をつかみ、レーザダイオードの出
力をもとに多自由度機構を制御して支柱を変形させる必
要がある。多自由度機構の例として第6図に5自由度微
動機構を示す。微動機構は外枠7.中枠8.中枠9.先
端枠10よシ構成されている。外枠7と中枠8および中
枠8と中枠9は平行板ばね機構で結合されておりそれぞ
れピエゾアクチュエータ1】および12によりX、Y方
向にピエゾアクチュエータに印加された電圧に比例して
変位する。中枠9と先端枠10は中心点で交るように構
成されたばね機構で結合され、ピエゾアクチュエータ1
3により駆動され、ピエゾアクチュエータに印加された
電圧に比例して中心黒目りに微小回転運動(θ方向)を
行う。先端枠には支柱グリッパ−が固定されており支柱
5をつかみ、これを移動させて支柱5をX、Y、θの3
方向に変形させることができる。外枠7は静止部材に固
定されている。
でもって支柱5の先端をつかみ、レーザダイオードの出
力をもとに多自由度機構を制御して支柱を変形させる必
要がある。多自由度機構の例として第6図に5自由度微
動機構を示す。微動機構は外枠7.中枠8.中枠9.先
端枠10よシ構成されている。外枠7と中枠8および中
枠8と中枠9は平行板ばね機構で結合されておりそれぞ
れピエゾアクチュエータ1】および12によりX、Y方
向にピエゾアクチュエータに印加された電圧に比例して
変位する。中枠9と先端枠10は中心点で交るように構
成されたばね機構で結合され、ピエゾアクチュエータ1
3により駆動され、ピエゾアクチュエータに印加された
電圧に比例して中心黒目りに微小回転運動(θ方向)を
行う。先端枠には支柱グリッパ−が固定されており支柱
5をつかみ、これを移動させて支柱5をX、Y、θの3
方向に変形させることができる。外枠7は静止部材に固
定されている。
本発明の全体構成を第4図に示す。レーザダイオードの
出力はディテクタ14により検出され、制御装置15に
送られる。制御装置は以下に示す方法により5個のピエ
ゾアクチュエータの駆動量を計算し、それに対応した電
圧をピエゾアクチュエータに印加する。
出力はディテクタ14により検出され、制御装置15に
送られる。制御装置は以下に示す方法により5個のピエ
ゾアクチュエータの駆動量を計算し、それに対応した電
圧をピエゾアクチュエータに印加する。
次に制御シーケンスを示す。
x、y及びθが初期値’6m”io及びθ。を持つとき
、最初の移動量Δ’1 yΔy、及びΔθ、は、それぞ
れ予め定められている。(ここでは、ΔX、Δy及びΔ
θは、それぞれ、x、y及びθ方向の移動量を示し、サ
フィックスルは第3回目の移動を示す。) またファイバーを経て、デテクタ14で検出される光出
力fはx、y及びθで一表的に定まるものとする。
、最初の移動量Δ’1 yΔy、及びΔθ、は、それぞ
れ予め定められている。(ここでは、ΔX、Δy及びΔ
θは、それぞれ、x、y及びθ方向の移動量を示し、サ
フィックスルは第3回目の移動を示す。) またファイバーを経て、デテクタ14で検出される光出
力fはx、y及びθで一表的に定まるものとする。
まず、Δf、移動し、この前後の光出力差よりここに於
ける光出力面のX軸方向の勾配は、(1)式で定める。
ける光出力面のX軸方向の勾配は、(1)式で定める。
ここでforfzlはそれぞれムXIの移動前及び後の
光出力値で、デテクタ14の測定値を用いる。
光出力値で、デテクタ14の測定値を用いる。
次にΔy、移動する。
同様にf、、、f は、Δy1移動前後の光出力値で
l 測定により求まる。次にΔθ、移動し 力面の勾配S及び高さhは次の様に求まる。
l 測定により求まる。次にΔθ、移動し 力面の勾配S及び高さhは次の様に求まる。
A1′:fθI(5)
(1)〜(51式を用いて次回(2回目)のx 、 y
、θ方向の移動I? ””! 1Δy1.Δθ、は、
と定まる。
、θ方向の移動I? ””! 1Δy1.Δθ、は、
と定まる。
ここに
G=Ar7/Aτ (9)A、
E及びm、nは定数であり、実験によシ最適値を求める
ものとする。
E及びm、nは定数であり、実験によシ最適値を求める
ものとする。
Aが正ならばSが大きくなる方向に進み、Aが負ならば
3が小さくなる方向に進む。またルが大きくなる程、移
動量が少くなる。
3が小さくなる方向に進む。またルが大きくなる程、移
動量が少くなる。
以下同様にN回目のr、y、θ方向の移動量Δ!、、Δ
ys 、Δθ、は と定まる。
ys 、Δθ、は と定まる。
ここに
G = A v二□/Aニー□ 四ただし
ん1l−1=fθ0.−1
(2)以下、この方式で移動を続け、 Nがある回数を越えるか、Xがある値を下まわるか、ま
たは人がある値を越える場合に、移動を終了させる。
(2)以下、この方式で移動を続け、 Nがある回数を越えるか、Xがある値を下まわるか、ま
たは人がある値を越える場合に、移動を終了させる。
尚(9)式の代シに勾配9と高さんを変数とする糧々の
G (= f(z、h乃の定め方が存在する。
G (= f(z、h乃の定め方が存在する。
本発明では、探索のための各ステップの移動ば、目標と
する最大値へ近づくことを第1の目的としているが、同
時にその点付近での勾配の測定をする目的も合わせ持つ
。このため探索即ち勾配測定となり、効率良い探索が実
行される。
する最大値へ近づくことを第1の目的としているが、同
時にその点付近での勾配の測定をする目的も合わせ持つ
。このため探索即ち勾配測定となり、効率良い探索が実
行される。
これは例えばX軸方向にΔX移動した後−ΔX移動しく
この特発に戻る)、次にy軸方向にΔy移動した後、−
Δy移動しくこの時再び元に戻る)その後、最も急な方
向(r、y平面上の)に移動する厳密な方法と比べて、
本発明は、[11移動の回数が少ない、また(2)移動
方向の急激な変化が少い(ΔX移動後−ΔX移動すると
は方向が180°変化することである)点が優れる。
この特発に戻る)、次にy軸方向にΔy移動した後、−
Δy移動しくこの時再び元に戻る)その後、最も急な方
向(r、y平面上の)に移動する厳密な方法と比べて、
本発明は、[11移動の回数が少ない、また(2)移動
方向の急激な変化が少い(ΔX移動後−ΔX移動すると
は方向が180°変化することである)点が優れる。
第1図はレーザダイオードの構造、第2図は支柱の構造
、第3図は微動機構、第4図は全体構成を示す。 1・・・レーザダイオードチップ 2・・・サブマウント 3・・・枠部4・・・光フ
ァイバ 5・・・支柱6・・・多自由度(微動)
機構 7・・・外枠 8.9・・・中枠10・・・
先均枠 +1.12.13・・・ピエゾアクチュエータ14・・
・ディテクタ 15・・・制御装置、、 \。 代理人弁理士 小 川 勝゛男−″ 塞 1 回 「 12図 L 図 士
、第3図は微動機構、第4図は全体構成を示す。 1・・・レーザダイオードチップ 2・・・サブマウント 3・・・枠部4・・・光フ
ァイバ 5・・・支柱6・・・多自由度(微動)
機構 7・・・外枠 8.9・・・中枠10・・・
先均枠 +1.12.13・・・ピエゾアクチュエータ14・・
・ディテクタ 15・・・制御装置、、 \。 代理人弁理士 小 川 勝゛男−″ 塞 1 回 「 12図 L 図 士
Claims (1)
- (1)1次元の変数をフィードバック信号として、多次
元の変数を変化させ、前記1次元の変数が極値を取るよ
う多次元の変数を変化させることを特徴とする自動光軸
合せ装置の極値探索制御方式。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21501485A JPS6275508A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 自動光軸合せ装置の極値探索方式 |
EP86108198A EP0207352B1 (en) | 1985-06-17 | 1986-06-16 | Probing control method and apparatus for mechanism with multiple degree of freedom |
DE8686108198T DE3682834D1 (de) | 1985-06-17 | 1986-06-16 | Sondenkontrollverfahren und -geraet fuer einen apparat mit mehreren freiheitsgraden. |
US06/875,189 US4884015A (en) | 1985-06-17 | 1986-06-17 | Probing control method and apparatus for mechanism with multiple degrees of freedom |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21501485A JPS6275508A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 自動光軸合せ装置の極値探索方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6275508A true JPS6275508A (ja) | 1987-04-07 |
Family
ID=16665291
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21501485A Pending JPS6275508A (ja) | 1985-06-17 | 1985-09-30 | 自動光軸合せ装置の極値探索方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6275508A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02183429A (ja) * | 1989-01-06 | 1990-07-18 | Hitachi Ltd | 情報記録再生用光ピックアップ |
US6102584A (en) * | 1998-07-01 | 2000-08-15 | Seagate Technology, Inc. | Fiber orientation mechanism |
US6741340B2 (en) | 2000-10-18 | 2004-05-25 | Agency Of Industrial Science & Technology Ministry Of International Trade & Industry | Optical axis adjustment method, and storage medium recorded with a program that executes said adjustment method |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP21501485A patent/JPS6275508A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02183429A (ja) * | 1989-01-06 | 1990-07-18 | Hitachi Ltd | 情報記録再生用光ピックアップ |
US6102584A (en) * | 1998-07-01 | 2000-08-15 | Seagate Technology, Inc. | Fiber orientation mechanism |
US6741340B2 (en) | 2000-10-18 | 2004-05-25 | Agency Of Industrial Science & Technology Ministry Of International Trade & Industry | Optical axis adjustment method, and storage medium recorded with a program that executes said adjustment method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4575942A (en) | Ultra-precision two-dimensional moving apparatus | |
US4792228A (en) | Position error sensing and feedback apparatus and method | |
JP2003523567A (ja) | アッベ誤差補正装置及び方法 | |
US5511931A (en) | Micromotion stage | |
KR20090132518A (ko) | 슬릿 폭 조정장치 및 현미경 레이저 가공장치 | |
US4884015A (en) | Probing control method and apparatus for mechanism with multiple degrees of freedom | |
US6459473B1 (en) | Drive of a wafer stepper | |
US7068891B1 (en) | System and method for positioning optical fibers | |
JPS6275508A (ja) | 自動光軸合せ装置の極値探索方式 | |
JP2006118867A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法 | |
CN1317667C (zh) | 用于存储器连接处理的飞击射束路径误差校正 | |
US5550483A (en) | High speed test probe positioning system | |
JPS5830129A (ja) | 精密平面移動装置 | |
KR20030005372A (ko) | 칩 실장 장치 및 그 장치에 있어서의 얼라인먼트 방법 | |
US10663040B2 (en) | Method and precision nanopositioning apparatus with compact vertical and horizontal linear nanopositioning flexure stages for implementing enhanced nanopositioning performance | |
JPH0386434A (ja) | 精密ステージ装置 | |
JP2004282819A (ja) | ウォーキング動作駆動ユニットおよびそれを用いたアライメント装置 | |
JPH02163677A (ja) | プローブカード装置 | |
WO2005014240A1 (en) | Micro-assembly and test station applied for the chip and bar tester application | |
JPS60146650A (ja) | 精密位置決め制御システム | |
JPH0652488B2 (ja) | 光ファイバの光軸探索方法 | |
JP2017001155A (ja) | ワーク保持機構、加工装置、及びワークの加工方法 | |
CN114730719A (zh) | 用于对准基板的方法和装置 | |
Kimura et al. | System Concept and Innovative Component Design for Ultra-Precision Assembly Processes | |
CN220526185U (zh) | 一种晶圆直写机加工装置 |