JPS6252817B2 - - Google Patents

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JPS6252817B2
JPS6252817B2 JP55044361A JP4436180A JPS6252817B2 JP S6252817 B2 JPS6252817 B2 JP S6252817B2 JP 55044361 A JP55044361 A JP 55044361A JP 4436180 A JP4436180 A JP 4436180A JP S6252817 B2 JPS6252817 B2 JP S6252817B2
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JP
Japan
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bottle
mode
scanning line
scanning
camera
Prior art date
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Application number
JP55044361A
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Japanese (ja)
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JPS56140243A (en
Inventor
Michihito Kurahashi
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Suntory Ltd
Original Assignee
Suntory Ltd
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Publication date
Application filed by Suntory Ltd filed Critical Suntory Ltd
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Publication of JPS56140243A publication Critical patent/JPS56140243A/en
Publication of JPS6252817B2 publication Critical patent/JPS6252817B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9036Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents using arrays of emitters or receivers

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は瓶口特に瓶天面の検査方法に関する。[Detailed description of the invention] TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for inspecting bottle mouths, particularly bottle tops.

一般に瓶類を新規にあるいは再使用する場合、
たとえばビール瓶を工場で再使用するのにコンベ
ア上を流して瓶口等に割欠損がないか検査してい
る。しかし従来の瓶口の割欠損の有無検査は作業
員が1本1本目視でチエツクして行なうものであ
り、その作業に多くの作業員を要するし作業自体
単調な割には神経を使うものであり、長時間その
作業を続けることは作業員にかなりの疲労を与え
るおそれがあるという問題点があつた。そこで上
記の問題点を解決するため本件出願人は別に一次
元走査カメラを用い得られる撮像信号に現れる矩
形波の個数、その巾の差及び所定数の矩形波が現
れる回数を基準値と比較して自動的に検査をなす
検査装置を出願した。これらの検査装置を使用す
れば通常生じる程度の割欠損は十分にチエツクす
ることができ一応の成果を得た。しかし特殊な割
欠損が生じる場合はなおチエツクしきれないおそ
れがあつた。それゆえに本発明の目的は上記した
単一の走査線を使用した検査装置ではチエツクし
得ないような特殊な割欠損等もチエツクし得る、
より高精度な瓶天面(以下単に瓶口という)の検
査方法を提供することである。
Generally, when new or reusing bottles,
For example, when beer bottles are reused in a factory, they are run on a conveyor to check whether there are any cracks or defects on the mouth of the bottle. However, conventional inspections for the presence of cracks in the openings of bottles are carried out by workers visually checking each bottle one by one, which requires a large number of workers and is labor intensive even though the work itself is monotonous. However, there was a problem in that continuing the work for a long time could cause considerable fatigue to the workers. Therefore, in order to solve the above problem, the applicant separately compared the number of rectangular waves that appear in the imaging signal obtained using a one-dimensional scanning camera, the difference in width, and the number of times a predetermined number of rectangular waves appear with reference values. We have filed an application for an inspection device that automatically performs inspections. Using these inspection devices, we were able to sufficiently check for cracks that normally occur, and some results were obtained. However, if a special cracking defect occurs, there is a risk that the check may not be completed. Therefore, an object of the present invention is to be able to check special crack defects that cannot be checked with the above-mentioned inspection device using a single scanning line.
An object of the present invention is to provide a method for inspecting the top surface of a bottle (hereinafter simply referred to as the bottle mouth) with higher precision.

本発明の瓶口の検査方法は、検査すべき瓶口を
走査するカメラの走査線が瓶口とクロスする関係
において2個任意の角度で交わるように配し、こ
れら2つの走査線より得られる2種の撮像信号を
同一機能信号処理回路に加えて検査をすることを
特徴とするものである。
In the bottle opening inspection method of the present invention, two scanning lines of a camera that scan the bottle opening to be inspected are arranged so as to intersect at an arbitrary angle in a relationship that crosses the bottle opening, and the scanning line obtained from these two scanning lines is This method is characterized in that two types of imaging signals are added to a signal processing circuit with the same function for inspection.

以下図面に示す実施例を参照して本発明を詳細
に説明する。
The present invention will be described in detail below with reference to embodiments shown in the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示す概略図であ
る。
FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of the present invention.

第1図において1は被検査瓶2を載せ矢印の方
向に被検査瓶2を移送させるコンベアである。3
は光源でありこれにより照射された光は被検査瓶
2の瓶口で反射されてイメージセンサカメラ4に
向かう。5は光源であり同様に照射された光はや
はり被検査瓶2の瓶口で反射されてイメージセン
サカメラ6に向かう。イメージセンサカメラ4お
よび6(以下単にカメラという)はたとえば
CCD素子(電荷結合素子)が多数個配列され、
これらCCD素子に光があたるとその光信号を電
気信号に変換して撮像信号を取出す一次元走査の
可能なカメラであり、これ自体は周知のカメラで
ある。光源3とカメラ4、光源5とカメラ6は瓶
口とクロスするそれぞれの走査線が互に直交する
ように配されている。瓶2の瓶口とそれにクロス
する走査線との関係を示すと第2図のようにな
る。第2図においてAはカメラ4の走査線、Bは
カメラ6の走査線である。7はカメラ4及び6よ
り撮像信号をそれぞれ受けて同様の信号処理を行
なう回路である。カメラ4および6による瓶口の
走査は瓶口の割欠損検出に十分な回数(1秒間に
3333回程度)サンプリングして定周期で行なう。
信号処理回路7はそれぞれカメラ4及びカメラ6
よりの各走査毎に生じる撮像信号の数、すなわち
モード態様により割欠損検出を行なう。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a conveyor on which bottles 2 to be inspected are placed and the bottles 2 to be inspected are transported in the direction of the arrow. 3
is a light source, and the light irradiated by this is reflected at the mouth of the bottle 2 to be inspected and directed toward the image sensor camera 4. Reference numeral 5 denotes a light source, and the irradiated light is also reflected from the mouth of the bottle 2 to be inspected and directed toward the image sensor camera 6. Image sensor cameras 4 and 6 (hereinafter simply referred to as cameras) are, for example,
A large number of CCD elements (charge coupled devices) are arranged,
This camera is capable of one-dimensional scanning, and when light hits these CCD elements, converts the optical signal into an electrical signal to obtain an imaging signal, and is itself a well-known camera. The light source 3 and the camera 4, and the light source 5 and the camera 6 are arranged so that their respective scanning lines crossing the bottle mouth are orthogonal to each other. The relationship between the mouth of bottle 2 and the scanning lines that cross it is shown in Figure 2. In FIG. 2, A is the scanning line of the camera 4, and B is the scanning line of the camera 6. 7 is a circuit that receives image signals from the cameras 4 and 6 and performs similar signal processing. The bottle neck is scanned by cameras 4 and 6 a sufficient number of times (per second) to detect cracks in the bottle neck.
Approximately 3333 times) sampling is performed at regular intervals.
The signal processing circuit 7 has a camera 4 and a camera 6, respectively.
The split defect detection is performed based on the number of imaging signals generated for each scan, that is, the mode aspect.

ここでモードとは1走査毎に得られる矩形波の
ことをいい、モード1とは矩形波が1個の場合、
モード2とは矩形波2個の場合をいう。たとえば
第1図において光源3、カメラ4のみで瓶口を走
査したとし、第3図に示すように割欠損のない場
合を想定すると位置イが瓶2の移動により走査線
Aに達するまでは、光源3よりの光は瓶2で反射
されない。したがつてカメラ4のCCD素子より
何の撮像信号導出もしない。この場合当然矩形波
は0なのでモード0ということになる。瓶2の移
動が進み位置イが走査線Aを越えるとカメラ4の
端部に近いCCD素子は瓶2よりの反射光をキヤ
ツチし、第4図Aに示すようにCCD素子毎に個
別のパルス状信号を導出する。カメラ4よりのこ
の信号は信号処理回路7に含まれる波形整形回路
に加えられ、この出力は波形整形されて第4図B
のようになる。このような波形状態すなわち矩形
波が1個の状態はパルス巾が変化するが、走査線
Aが位置イから位置ロ間に存する間続く。この間
の波形はすべてモード1ということになる。さら
に続いて瓶2が移動し位置ロが走査線Aを越える
と、瓶2の口にクロスする走査線は2つの部分に
わけられる。この部分では走査線Aが瓶口とクロ
スする部分だけカメラ4のCCD素子より出力が
導出され、第4図Cのような信号となりさらにこ
れが波形整形回路で整形されて第4図Dのような
信号を得る。これがモード2の場合である。走査
線Aが位置ロと位置ハに存する間得られる波形は
モード2ということになる。さらに瓶2が移動し
位置ハが走査線Aを越え、位置ニが走査線Aに至
るまでの間は前記位置イから位置ロまでの間と同
様モード1が続き、さらに瓶2が移動し位置ニが
走査線Aを越えると何の撮像信号も得られずモー
ドは0となる。瓶に割欠損部があるとモードの状
態が良品のものに比べて変化することに着目して
瓶の良否を検査しようとするのが信号処理回路7
の役目である。
Here, mode refers to the rectangular wave obtained for each scan, and mode 1 means when there is one rectangular wave,
Mode 2 refers to the case of two rectangular waves. For example, in FIG. 1, if the bottle mouth is scanned using only the light source 3 and camera 4, and assuming that there is no breakage as shown in FIG. 3, until position A reaches scanning line A due to the movement of bottle 2, The light from the light source 3 is not reflected by the bottle 2. Therefore, no imaging signal is derived from the CCD element of the camera 4. In this case, the rectangular wave is naturally 0, so the mode is 0. As the movement of the bottle 2 progresses and the position A crosses the scanning line A, the CCD element near the end of the camera 4 catches the reflected light from the bottle 2, and as shown in FIG. 4A, each CCD element generates an individual pulse. derive the signal. This signal from the camera 4 is applied to a waveform shaping circuit included in the signal processing circuit 7, and this output is waveform shaped and is shown in FIG.
become that way. This waveform state, ie, the state with one rectangular wave, continues while the scanning line A exists between position A and position B, although the pulse width changes. All waveforms during this period are mode 1. When the bottle 2 continues to move and the position B crosses the scanning line A, the scanning line that crosses the mouth of the bottle 2 is divided into two parts. In this part, the output is derived from the CCD element of the camera 4 only at the part where the scanning line A crosses the bottle mouth, resulting in a signal as shown in Figure 4C, which is further shaped by the waveform shaping circuit and as shown in Figure 4D. Get a signal. This is the case in mode 2. The waveform obtained while the scanning line A exists at positions B and C is mode 2. Bottle 2 further moves, position C crosses scanning line A, and until position D reaches scanning line A, mode 1 continues as in the period from position A to position B, and bottle 2 moves further and positions When D exceeds scanning line A, no imaging signal is obtained and the mode becomes 0. The signal processing circuit 7 attempts to inspect the quality of the bottle by focusing on the fact that when there is a crack in the bottle, the mode status changes compared to a good bottle.
This is the role of

信号処理回路7は瓶口の割欠損を検出できるも
のであれば何でもよいが、その1例として1走査
毎に得られる撮像信号のモードを計数しその計数
値が2であるか否か判別し、2であることの判別
回数を計数し、2であることの計数値が所定値で
あるか否かにより瓶の可否検査処理をなす回路に
ついて説明する。
The signal processing circuit 7 may be of any type as long as it can detect cracks on the bottle mouth, but one example is to count the mode of the imaging signal obtained for each scan and determine whether the counted value is 2 or not. , 2, and performs bottle acceptability inspection processing based on whether the counted value of 2 is a predetermined value.

第5図に上記した信号処理回路を示す。 FIG. 5 shows the signal processing circuit described above.

第5図において10,11はアンドゲートであ
つて、アンドゲート10は入力の一端にタイミン
グ信号taを、他端にはカメラ4よりの撮像信号を
受けるように接続されており、アンドゲート11
は入力の一端にタイミング信号tbを、入力の他端
にはカメラ6よりの撮像信号が加えられるように
接続されている。タイミング信号ta,tbはカメラ
4とカメラ6よりの撮像信号を走査線毎に交互に
得るためのタイミング信号である。またアンドゲ
ート10,11の出力端は波形整形回路12に接
続されている。13は波形整形回路12よりの波
形整形された撮像信号の矩形波を計数するモード
計数器、14は設定信号Ba=「2」を出力する設
定器、15はモード計数器13の出力を入力に受
け他方の入力に前記設定器14よりの「2」信号
を受け、これら入力される両信号を比較する比較
器である。比較器15はモード計数器13の内容
が「2」のとき出力端に“1”を出す。16はタイ
ミング信号taを入力に受けて比較器15の出力を
導出し、モード2計数器17に加えるアンドゲー
トである。モード2計数器17はカメラ4よりの
撮像信号に関し一瓶の検査におけるモード2であ
る走査線の回数を計数するために設けられてい
る。18はタイミング信号tbを入力に受けて比較
器15の出力を導出しモード2計数器19に加え
るアンドゲートである。モード2計数器19はカ
メラ6より撮像信号に関し一瓶の検査におけるモ
ード2である走査線の回数を計数するために設け
られている。モード2計数器17の出力はデコー
ダ20を経て表示器21で表示されるように、モ
ード2計数器19の出力はデコーダ22を経て表
示器23で表示されるようにそれぞれ接続されて
いる。24,25はアンドゲートであつてモード
2計数器17の出力とタイミング信号Taがそれ
ぞれアンドゲート24の入力の一端と他端に接続
されている。又モード2計数器19の出力とタイ
ミング信号Tbがそれぞれアンドゲート25の入
力の一端と他端に接続されている。タイミング信
号Ta,Tbは瓶1個の検査終了で交互に発生され
るタイミング信号である。26は良品として要求
されるモード2の個数基準値を設定する設定器で
ある。27はアンドゲート24およびアンドゲー
ト25の出力を入力の他端に受け、設定器26よ
りの信号を入力の他端に受ける比較器である。比
較器27はモード2計数器17もしくはモード2
計数器19の出力が設定器26よりの基準値Bb
よりも大きいか小さいとき出力を出す。比較器2
7の出力はアンドゲート28とアンドゲート29
の入力の一端に接続されている。又アンドゲート
28の入力の他端にはタイミング信号Taが、ア
ンドゲート29の入力の他端にはタイミング信号
Tbがそれぞれ加えられるように接続されてい
る。さらにアンドゲート28の出力はラツチ回路
30の入力端に、アンドゲート29の出力はラ
ツチ回路30の入力端に接続されている。ラツ
チ回路30の出力端は発光ダイオード31抵抗
を介して接地されている。同様にラツチ回路30
の出力端は発光ダイオード32抵抗を介して接
地されている。発光ダイオード31は走査線Aに
関するモード2の数が所定値を外れた場合、発光
ダイオード32は走査線Bに関するモード2の数
が所定値を外れた場合にそれぞれ点灯される。
In FIG. 5, 10 and 11 are AND gates, and the AND gate 10 is connected to receive the timing signal ta at one end of its input, and the imaging signal from the camera 4 at the other end.
is connected so that a timing signal tb is applied to one input end, and an imaging signal from the camera 6 is applied to the other input end. Timing signals ta and tb are timing signals for obtaining imaging signals from cameras 4 and 6 alternately for each scanning line. Further, the output terminals of the AND gates 10 and 11 are connected to a waveform shaping circuit 12. 13 is a mode counter that counts the rectangular wave of the waveform-shaped imaging signal from the waveform shaping circuit 12; 14 is a setting device that outputs a setting signal Ba="2"; 15 is a mode counter that receives the output of the mode counter 13 as an input. This is a comparator which receives the "2" signal from the setting device 14 at its other input and compares both of these input signals. The comparator 15 outputs "1" at its output terminal when the content of the mode counter 13 is "2". 16 is an AND gate which receives the timing signal ta as an input, derives the output of the comparator 15, and adds it to the mode 2 counter 17. The mode 2 counter 17 is provided to count the number of mode 2 scanning lines in the inspection of one bottle with respect to the image signal from the camera 4. 18 is an AND gate which receives the timing signal tb as an input, derives the output of the comparator 15, and adds it to the mode 2 counter 19. The mode 2 counter 19 is provided to count the number of mode 2 scanning lines in the inspection of one bottle with respect to the imaging signal from the camera 6. The output of the mode 2 counter 17 is connected to a decoder 20 so that it is displayed on a display 21, and the output of the mode 2 counter 19 is connected to a decoder 22 so that it is displayed on a display 23. 24 and 25 are AND gates, and the output of the mode 2 counter 17 and the timing signal Ta are connected to one end and the other end of the input of the AND gate 24, respectively. Further, the output of the mode 2 counter 19 and the timing signal Tb are connected to one end and the other end of the input of the AND gate 25, respectively. Timing signals Ta and Tb are timing signals that are generated alternately when one bottle is inspected. Reference numeral 26 denotes a setting device for setting a standard value for the number of pieces in mode 2 required as a non-defective product. A comparator 27 receives the outputs of the AND gates 24 and 25 at its other input end, and receives the signal from the setter 26 at its other input end. Comparator 27 is mode 2 counter 17 or mode 2
The output of the counter 19 is the reference value Bb from the setting device 26.
Outputs when the value is greater or less than . Comparator 2
The output of 7 is AND gate 28 and AND gate 29
connected to one end of the input. The other input end of the AND gate 28 receives the timing signal Ta, and the other input end of the AND gate 29 receives the timing signal Ta.
are connected so that Tb can be added to each. Further, the output of AND gate 28 is connected to the input terminal of latch circuit 30, and the output of AND gate 29 is connected to the input terminal of latch circuit 30. The output end of the latch circuit 30 is grounded through a light emitting diode 31 resistor. Similarly, latch circuit 30
The output end of the light emitting diode 32 is grounded through a resistor. The light emitting diodes 31 are turned on when the number of modes 2 for scanning line A is out of a predetermined value, and the light emitting diodes 32 are turned on when the number of modes 2 for scanning line B is out of a predetermined value.

第5図の回路について今、第6図に示すような
特殊な割欠損のある瓶を検査する場合の動作につ
いて考える。先ずカメラ4の走査線Aによる撮像
信号の導出は瓶2の移動にしたがい走査線Aが位
置イから位置ホの間に存する期間が行なわれる。
Regarding the circuit shown in FIG. 5, we will now consider the operation when inspecting a bottle with a special crack defect as shown in FIG. First, the imaging signal is derived by the scanning line A of the camera 4 during the period during which the scanning line A exists between position A and position E in accordance with the movement of the bottle 2.

瓶2の進行にしたがい位置イが走査線Aに達す
ると、カメラ4よりクロツク状の撮像信号が得ら
れアンドゲート10を経て波形整形回路12に加
えられる。波形整形回路12ではこの撮像信号を
矩形波に整形しモード計数器13に加える。モー
ド計数器13は矩形波の数すなわちモードを計数
する。位置イから位置ロまでは割欠損があるので
モード計数器13の計数値は2となる。比較器1
5では設定器14からの数値が2、モード計数器
13よりの数値が2なので両入力等しく、出力
“1”を出す。この出力はアンドゲート16を経
てモード2計数器17に加えられる。このような
動作は走査線Aが位置イと位置ロ間にいる間続く
ので、モード2計数器17にはイ,ロ間の走査線
数に等しい値を計数する。次に瓶2の移動で走査
線Aがロ,ハ間に入るとこの間は割欠損がなくや
はりモード2の状態が続き、その間の走査線数に
応じた数がモード2計数器17に計数されてい
く。さらに続いて瓶2の移動で走査線Aが位置
ハ,ニ間に入ると、割欠損のためモード計数器1
3の走査線毎の計数内容は1となる。比較器15
に入力される数値は設定器14よりの数値の方が
大となるので、比較器15の出力は“0”とな
る。そのためハ,ニの間においてモード2計数器
17の計数値は上昇しない。走査線Aが位置ニと
位置ホの間に存する期間は割欠損がないので通常
の動作がなされる。以上の走査線Aによる1瓶の
検査では割欠損のために通常はモード1であるべ
きところがモード2となつた期間イ,ロと、割欠
損のために通常はモード2であるべきところがモ
ード1となつた期間ハ,ニとが等しいと、結果的
にモード2走査線数が差引増減0となる。全走査
終了のタイミングTaでモード2計数器17の計
数値はアンドゲート24を経て比較器27に加え
られる。比較器27は設定器26よりの基準値
Bbと、モード2計数器17の計数値を比較する
が両者は等しいので出力“1”は導出されない。
したがつてアンドゲート28、ラツチ回路30を
経て発光ダイオード31に信号が加えられないの
で発光ダイオード31は点灯されない。それゆえ
第6図のような特殊な割欠損の場合、走査線Aに
よる検査ではこれを検出することができない。
As the bottle 2 advances, when the position A reaches the scanning line A, a clock-like image signal is obtained from the camera 4 and is applied to the waveform shaping circuit 12 via the AND gate 10. The waveform shaping circuit 12 shapes this imaging signal into a rectangular wave and applies it to the mode counter 13. A mode counter 13 counts the number of rectangular waves, that is, the mode. Since there is a division deficit from position A to position B, the count value of the mode counter 13 is 2. Comparator 1
5, the value from the setter 14 is 2 and the value from the mode counter 13 is 2, so both inputs are equal and output "1". This output is applied to mode 2 counter 17 via AND gate 16. Since this operation continues while scanning line A is between positions A and B, the mode 2 counter 17 counts a value equal to the number of scanning lines between A and B. Next, when the scanning line A enters between A and C due to the movement of the bottle 2, there is no split loss during this period, and the state of mode 2 continues, and a number corresponding to the number of scanning lines during that period is counted by the mode 2 counter 17. To go. Furthermore, when scanning line A enters between positions C and D due to the movement of bottle 2, mode counter 1
The count content for each scanning line of 3 is 1. Comparator 15
Since the numerical value inputted to the setter 14 is larger, the output of the comparator 15 becomes "0". Therefore, the count value of the mode 2 counter 17 does not increase between C and D. During the period in which the scanning line A exists between the positions D and E, there is no splitting loss, so normal operation is performed. In the inspection of one bottle using the above scanning line A, there are periods (a) and (b) during which mode 2 is set instead of mode 1 due to splitting defects, and mode 2 is set to mode 2 when it should normally be mode 2 due to splitting defects. If the periods C and D are equal, as a result, the number of mode 2 scanning lines becomes zero. At timing Ta when all scanning ends, the count value of the mode 2 counter 17 is added to the comparator 27 via the AND gate 24. The comparator 27 uses the reference value from the setting device 26.
Bb is compared with the count value of the mode 2 counter 17, but since both are equal, the output "1" is not derived.
Therefore, since no signal is applied to the light emitting diode 31 via the AND gate 28 and the latch circuit 30, the light emitting diode 31 is not lit. Therefore, in the case of a special split defect as shown in FIG. 6, it cannot be detected by inspection using scanning line A.

一方カメラ4の走査とは90゜ずらしてカメラ6
による走査も並行して行なわれている。カメラ6
の走査線Bと上記の特殊な割欠損のある瓶口との
位置関係は第7図に示す通りとなる。
On the other hand, the scanning of camera 4 is shifted by 90° and camera 6
Scanning is also performed in parallel. camera 6
The positional relationship between the scanning line B and the mouth of the bottle with the above-mentioned special split defect is as shown in FIG.

カメラ6の走査線Bによる撮像信号の導出は瓶
2の移動にしたがい走査線Bが位置ヘから位置ワ
の間に存する期間行なわれる。この期間ヘ,ワの
走査は期間イ,ホに対し走査線Aと走査線Bの走
査時間のずれ程度にわずかにずれているが、ほと
んど同時に進行している。
The imaging signal is derived by the scanning line B of the camera 6 according to the movement of the bottle 2 during the period when the scanning line B exists between position H and position W. Although the scans in periods H and W are slightly shifted from those in periods A and H by the same amount as the scan time difference between scan lines A and B, they proceed almost simultaneously.

第5図においてカメラ6より得られた撮像信号
は、タイミングtbの時にアンドゲート11を経て
波形整形回路12に加えられる。走査線Bが期間
ヘ,トの間はモード1で割欠損がない場合と変り
はない。この期間は波形整形回路12で出力され
る矩形波が1個なのでモード計数器13に1が計
数される。しかし比較器15は設定器14よりの
信号2よりもモード計数器13よりの出力の方が
小さいので出力“1”を導出しない。続いて瓶2
の移動にしたがい走査線Bが期間ト,チに入ると
瓶の割欠損のためモード2となる。この期間は波
形整形回路12で出力される矩形波が2個なので
モード2計数器13に2を計数する。そのため比
較器15は出力“1”を出し、この出力がアンド
ゲート18を経てモード2計数器19に加えられ
モード2計数器19はモード2の走査線数を計数
する。さらに瓶2が移動して走査線Bがチ,リに
入ると割欠損のためモード3となりモード計数器
13は3を計数するが、比較器15は設定器14
よりの信号よりもモード計数器13よりの出力値
の方が大なのでやはり出力“1”を出す。この出
力はアンドゲート18を経てモード2計数器19
に加えられる。又位置リと位置ヌの間においては
割欠損があるが、モード2であり割欠損がない場
合と変らない。さらに位置ヌと位置ルの間も割欠
損なくモード2と通常の場合と変らない。さらに
瓶2の移動により走査線Bが続いて位置ルと位置
オの間に入ると割欠損があるためモード1とな
る。このためこの期間はモード2計数器19には
何ら入力が加えられない。さらに走査線Bが位置
オと位置ワの間に存する期間は割欠損が全然ない
のでモードは通常の場合と変らない。この結果モ
ード2計数器19に計数される値は通常の割欠損
のない場合に比して、期間ト,チの走査線数は増
加し期間ル,オの走査線数が減少しトータルする
と大幅に少ない数値となる。瓶1個の計数が終了
するとモード2計数器19の内容はタイミング
Tbにアンドゲート25を経て比較器27に加え
られる。比較器27はアンドゲート25よりの数
値と設定器26よりの基準値Bbと比較し、基準
値Bbの方が大なので出力“1”を導出する。こ
の出力はアンドゲート29を経てラツチ回路30
の入力に加えられ保持される。この保持された
出力は検査瓶に割欠損があることを意味し、この
保持信号が発光ダイオード32に加えられ点灯さ
れ不良瓶であることを示す。
In FIG. 5, the image signal obtained from the camera 6 is applied to the waveform shaping circuit 12 via the AND gate 11 at timing tb. During periods H and G of scanning line B, there is no difference from mode 1 with no split loss. During this period, the waveform shaping circuit 12 outputs one rectangular wave, so the mode counter 13 counts 1. However, the comparator 15 does not derive the output "1" because the output from the mode counter 13 is smaller than the signal 2 from the setter 14. Next, bottle 2
When the scanning line B enters periods 1 and 2 according to the movement of , mode 2 is entered because the bottle is broken. During this period, the waveform shaping circuit 12 outputs two rectangular waves, so the mode 2 counter 13 counts 2. Therefore, the comparator 15 outputs an output "1", and this output is applied to the mode 2 counter 19 via the AND gate 18, and the mode 2 counter 19 counts the number of mode 2 scanning lines. When the bottle 2 further moves and the scanning line B enters the gap, mode 3 becomes mode 3 due to a split loss, and the mode counter 13 counts 3, but the comparator 15 counts 3.
Since the output value from the mode counter 13 is larger than the signal of This output passes through an AND gate 18 to a mode 2 counter 19
added to. Also, although there is a split loss between position RI and position N, it is mode 2 and is no different from the case where there is no split loss. Furthermore, there is no difference between position N and position L, and there is no difference between mode 2 and the normal case. Further, when the scanning line B continues to move between positions L and O due to the movement of the bottle 2, mode 1 is set because there is a split defect. Therefore, no input is applied to the mode 2 counter 19 during this period. Furthermore, during the period in which scanning line B exists between position O and position W, there is no split loss at all, so the mode remains unchanged from the normal case. As a result, the value counted by the mode 2 counter 19 is compared to the normal case where there is no split loss, the number of scanning lines in periods G and C increases, and the number of scanning lines in periods L and O decreases, and the total number is significant. will be a small number. When the counting of one bottle is completed, the contents of the mode 2 counter 19 are changed to the timing
Tb is applied to the comparator 27 via the AND gate 25. The comparator 27 compares the numerical value from the AND gate 25 with the reference value Bb from the setter 26, and since the reference value Bb is larger, it derives an output of "1". This output passes through an AND gate 29 to a latch circuit 30.
is added to the input and held. This held output means that there is a crack in the test bottle, and this held signal is applied to the light emitting diode 32, which lights up to indicate that it is a defective bottle.

したがつて第6図に示すような特殊な割欠損の
瓶については、走査線Aのみでは検出できない場
合があるが角度を変えた別の走査線により検査す
ることにより、確実に割欠損を検出することがで
きる。
Therefore, for a bottle with a special cracking defect as shown in Figure 6, it may not be possible to detect it with scanning line A alone, but by inspecting it with another scanning line at a different angle, the cracking defect can be reliably detected. can do.

なお上記回路例において波形整形回路、モード
計数器、比較器等は走査線Aの撮像信号の処理と
走査線Bの撮像信号処理につき兼用しているが、
カメラ4の走査線Aによる撮像信号の処理と、カ
メラ6の走査線Bによる撮像信号の処理は同一の
回路を2個別々に設けてもよい。
Note that in the above circuit example, the waveform shaping circuit, mode counter, comparator, etc. are used for processing the imaging signal of the scanning line A and the imaging signal of the scanning line B.
The same circuit may be separately provided for processing the image signal by the scanning line A of the camera 4 and the image signal by the scanning line B of the camera 6.

又上記実施例において処理回路はモード2の走
査線数を基準値と比較するものを例にあげたが、
モード2における2個の矩形波の信号幅の差を求
めてその差が一定値以上かチエツクする回路、モ
ード数が3以上であるか否かチエツクする回路、
同一モードの連続するモード群のモードパターン
によりチエツクする回路等、又はその組合せを用
いてもよい。
Furthermore, in the above embodiment, the processing circuit compares the number of scanning lines in mode 2 with a reference value, but
A circuit that determines the difference in signal width of two rectangular waves in mode 2 and checks whether the difference is greater than a certain value; A circuit that checks whether the number of modes is 3 or more;
It is also possible to use a circuit that checks based on the mode pattern of a continuous mode group of the same mode, or a combination thereof.

さらに又上記実施例において、2個のカメラの
走査線が直交するようにカメラを配しているが、
第1のカメラと第2のカメラの位置をコンベアの
進行方向に対してずらして配し、第1のカメラに
よる走査後、瓶口に対する第1のカメラによる走
査軌跡と走査線がクロスするように第2のカメラ
による走査を行なつてもよい。
Furthermore, in the above embodiment, the cameras are arranged so that the scanning lines of the two cameras are perpendicular to each other.
The positions of the first camera and the second camera are shifted from each other with respect to the traveling direction of the conveyor, so that after scanning by the first camera, the scanning locus of the first camera with respect to the bottle opening crosses the scanning line. Scanning by a second camera may also be performed.

又走査線Aと走査線Bは互いに直交させる必要
はなく任意の角度で交叉するものであつてもよ
い。
Further, the scanning line A and the scanning line B do not need to be orthogonal to each other, but may intersect at any angle.

さらに又第1のカメラと第2のカメラはコンベ
アの進行方向に対してずらして配し、第1のカメ
ラと第2のカメラの走査線の方向を同一とし、第
1のカメラによる走査後、瓶体を任意角度(たと
えば90゜)回転させてから第2のカメラで走査し
てもよい。
Furthermore, the first camera and the second camera are arranged offset with respect to the traveling direction of the conveyor, and the direction of the scanning line of the first camera and the second camera is the same, and after scanning by the first camera, The bottle body may be rotated by an arbitrary angle (for example, 90 degrees) and then scanned by the second camera.

さらに又上記実施例においてカメラを2個用い
ているが、カメラは1個とし瓶口全体の走査後瓶
を任意角度(たとえば90゜)回転させるととも
に、カメラもコンベアの進行方向に移動させ瓶口
に異なる方向でクロスする2回の走査を行なつて
もよい。
Furthermore, although two cameras are used in the above embodiment, only one camera is used, and after scanning the entire bottle opening, the bottle is rotated by an arbitrary angle (for example, 90 degrees), and the camera is also moved in the direction of movement of the conveyor to rotate the bottle opening. Two cross scans may be performed in different directions.

以上のように本発明の検査方法によれば、2本
の走査線を任意の角度に配し、これら2つの走査
線より得られる2種の撮像信号を同一機能の信号
処理回路に加えて検査するものであるから特殊な
破損、汚損、傷等をも検出でき精度の高い検査を
行なうことができる。
As described above, according to the inspection method of the present invention, two scanning lines are arranged at arbitrary angles, and two types of imaging signals obtained from these two scanning lines are added to a signal processing circuit with the same function for inspection. Therefore, it is possible to detect special damage, stains, scratches, etc., and to perform highly accurate inspections.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す概略図、第2
図は第1図実施例の瓶口と走査線の位置関係を示
す図、第3図は瓶に割欠損なき場合の動作を説明
するための瓶口と走査線Aの位置関係を示す図、
第4図は走査線Aのみによる動作を説明するため
の波形図、第5図は第1図実施例の信号処理回路
の具体例を示す回路ブロツク図、第6図、第7図
は第5図回路ブロツク図の動作を説明するための
瓶口と走査線の位置関係を示す図である。2……
被検査瓶、4,6……カメラ、A,B……走査
線、7……信号処理回路。
FIG. 1 is a schematic diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG.
The figure is a diagram showing the positional relationship between the bottle opening and the scanning line A in the embodiment shown in FIG. 1, and FIG.
4 is a waveform diagram for explaining the operation using only the scanning line A, FIG. 5 is a circuit block diagram showing a specific example of the signal processing circuit of the embodiment in FIG. 1, and FIGS. FIG. 2 is a diagram showing the positional relationship between the bottle mouth and scanning lines for explaining the operation of the circuit block diagram. 2...
Bottle to be inspected, 4, 6...Camera, A, B...Scanning line, 7...Signal processing circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 コンベアにより単列的に移送される瓶に対
し、上方より光を瓶天面に照射し、その反射光を
瓶の移動する方向と直角に、瓶天面全体を一次元
走査カメラで走査して得られる各走査毎の撮像信
号に現れる矩形波の個数、その巾の差、所定数の
矩形波が現れる回数又はそのパターンを基準値と
比較して行う瓶天面の検査方法であつて、前記瓶
天面を走査する第1の走査線と、前記第1の走査
線が走査する走査部分とは走査する部分が任意の
角度で交叉する関係にある第2の走査線とを配
し、これら2つの走査線により得られる2種の撮
像信号を同一機能信号処理回路に加えて検査する
ことを特徴とする瓶天面の検査方法。 2 前記走査線は2個のカメラを配置することに
より得る特許請求の範囲第1項記載の瓶天面の検
査方法。
[Claims] 1. For bottles being transported in a single row by a conveyor, light is irradiated from above onto the top of the bottle, and the reflected light is directed at right angles to the direction of movement of the bottles to illuminate the entire top of the bottle. The number of rectangular waves that appear in the imaging signal for each scan obtained by scanning with the original scanning camera, the difference in their width, the number of times a predetermined number of rectangular waves appear, or the pattern of these waves are compared with a reference value to determine the top surface of the bottle. In the inspection method, the first scanning line that scans the top surface of the bottle and the scanning part that the first scanning line scans are in a relationship such that the scanning part intersects at an arbitrary angle. 1. A method for inspecting a top surface of a bottle, characterized in that two types of imaging signals obtained by these two scanning lines are added to a signal processing circuit with the same function for inspection. 2. The method for inspecting the top surface of a bottle according to claim 1, wherein the scanning line is obtained by arranging two cameras.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50160092A (en) * 1974-06-06 1975-12-25
JPS5229788A (en) * 1975-09-02 1977-03-05 Owens Illinois Inc Bubble detector for glass container

Patent Citations (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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