JPS6247524A - 光スペクトル列のスキヤン方法 - Google Patents

光スペクトル列のスキヤン方法

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JPS6247524A
JPS6247524A JP18787185A JP18787185A JPS6247524A JP S6247524 A JPS6247524 A JP S6247524A JP 18787185 A JP18787185 A JP 18787185A JP 18787185 A JP18787185 A JP 18787185A JP S6247524 A JPS6247524 A JP S6247524A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
spectrum
optical spectrum
grating
slit
Prior art date
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Pending
Application number
JP18787185A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinichi Wakana
伸一 若菜
Masataka Shirasaki
白崎 正孝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS6247524A publication Critical patent/JPS6247524A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 光スペクトル列のスキャン方法として、高速で回転振動
する光変向手段により、光スペクI・ル列の時系列化を
行うことにより、高速で、安価で簡便な方法を提起する
〔産業上の利用分野) 本発明は簡易で、高速スキャンが得られる光スペクトル
列のスキャン方法に関する。
レーザ発振光の単−性等の特性調査のため、レーザ発振
光の縦モード、すなわち共振器長によって決まる発振ス
ペクトルをリアルタイムに、もしくは高速で分光し、観
測したいという要望は大きい。
また、プラズマ分光によるガスの分光スペクトルの観測
等に高速スキャンが必要となる。
以上の例の発振スペクトルは時間的変化が速いために、
従来のスキャン方法では十分に追随できなかった。
〔従来の技術〕
従来の光スペクトル列のスキャン方法としてはつぎの2
方法があった。
(1)高速で分光手段を駆動する。
この方法は分光器のグレーティング等の分光手段を回転
するため、スキャン速度が遅く高速に変化するスペクト
ルに対しては追随できない。
(2)受光手段を多数配置する。
この方法は受光器をアレイ化して用いるが、分解能の低
下という難点があった。
以上の方法の他に、分光手段を駆動する代わりに、質量
の少ない光変向手段として分光器の出射口に設けられた
ミラーを回転してスキャンする方法が、 昭和60年度電子通信学会総合全国大会1047(予稿
 4−171 ’) に提案されているが、この場合は光が受光器に入射する
ことが出来ない期間が存在するという欠点を有する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の光スペクトル列のスキャン方法では、高速化が難
しく、装置の大型化、分解能の低下と云う欠点があった
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点の解決は、分光器(1)の出射口(2)に形
成される空間系列の光スペクトル列を回転振動する光変
向手段(3)により受光器(4)に送り込み、該受光器
(4)の出力に前記空間系列の光スペクトル列に相当す
る時系列の光スペクトル列を得られるようにした 本発明による光スペクトル列のスキャン方法により達成
される。
〔j乍用〕
本発明は、分光器の出射側にレンズ、スリット、ミラー
等によって構成されたスキャン手段により高速スキャン
を行う。
そのため、ミラー等の光変向手段を回転振動させて、空
間系列の光スペクトル列を時系列化して高速化をはかる
第2図(1)、(2)は光変向手段を回転振動させて、
空間系列の光スペクトル列の時系列化を説明する図であ
る。
第2図(1)において、3は光変向手段としてのミラー
、6は集光レンズ、7はスリットである。
分光器の出射口より取り出された空間系列(波長λに対
する系列)の光スペクトル列の端をA、Bとすると、A
、Bはミラー3によって反射されてスリット7が存在す
る面上には空間的に配列された像A’、B’を得る。
第2図(2)において、像A’、B’がスリット7上に
くるように、ミラー3に回転振動をあたえると、スリッ
ト7上に像A′からB′まで時間的に変化する時系列の
スペクトルが得られる。
この場合、ミラー3の質量を小さくし、回転振動の振幅
は小さくてよいからピエゾ素子(PZT)等を用いて振
動周波数を上げることにより、高速スキャンを可能とす
る。
〔実施例〕
第1図は本発明による光スペクトル列のスキャン方法を
説明する装置の構成図である。
図において、1は分光器(内部構造の一例として対称ツ
エルニターナ型のものを示す)、11はグレーティング
、12.13.14.15はミラー、2は分光器の出射
口(本来の分光器ではここにスリットが取り付けられて
いるが、ここでは外しておく)、3は回転振動可能なミ
ラー、4は受光器、5はフィールドレンズ、6は集光レ
ンズ、7はスリットである。
分光器のグレーティング11によって分光されたスペク
トルをフィールドレンズ5により取り出し、集光レンズ
6を経て光の変向手段である回転振動ミラー3を介して
、スリット7上に集光し、反射角の条件の合致するスペ
クトルのみをスリット7を通して、受光器4に入射させ
る。
このとき、回転振動ミラー3の振動角度に応じて受光器
4に入射するスペクトルは変化する。
以上の方法は、グレーティング11を回転させてスペク
トルを測定する方法よりも、より高速なスペクトルスキ
ャンが可能となる。
実施例では、光変向手段としてミラーを用いたが、その
他の光変向手段、例えば多面体プリズム等を用いてもよ
い。
また、実施例では、光変向手段を分光器の外部に設けた
が、余裕があれば内部に設けても勿論同様の結果が得ら
れる。
〔発明の効果〕
以上詳細に説明したように本発明による光スペクトル列
のスキャン方法は簡易で高速化が可能であるため、安価
で高速、高分解能の分光装置の構成ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による光スペクトル列のスキャン方法を
説明する装置の構成図、 第2図(11、(2)は光変向手段を回転振動させて、
空間系列の光スペクトル列の時系列(Isを説明する図
である。 図において、 1は分光器、 11はグレーティング、 12〜15はミラー、 2は分光器の出射口、 3は回転振動可能なミラー、 4は受光器、 5はフィールドレンズ、 6は集光レンズ、 7はスリット 第 1 図 スペクトルの時系列に3弓を甲り才る2草 2 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 分光器(1)の出射口(2)に形成される空間系列の光
    スペクトル列を回転振動する光変向手段(3)により受
    光器(4)に送り込み、 該受光器(4)の出力に前記空間系列の光スペクトル列
    に相当する時系列の光スペクトル列を得られるようにし
    た ことを特徴とする光スペクトル列のスキャン方法。
JP18787185A 1985-08-27 1985-08-27 光スペクトル列のスキヤン方法 Pending JPS6247524A (ja)

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JPS6247524A true JPS6247524A (ja) 1987-03-02

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01197617A (ja) * 1987-12-18 1989-08-09 Hewlett Packard Co <Hp> 分光器
US4997281A (en) * 1989-08-24 1991-03-05 Stark Edward W Grating spectrometer
US5497231A (en) * 1993-05-28 1996-03-05 Schmidt; Werner Monochromator having an oscilliating mirror beam-diffracting element for spectrometers
JP2007010589A (ja) * 2005-07-01 2007-01-18 Nidek Co Ltd 物体測定装置
JP2010217113A (ja) * 2009-03-18 2010-09-30 Disco Abrasive Syst Ltd 断面形状測定装置

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