JPS6244364Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6244364Y2
JPS6244364Y2 JP1980155821U JP15582180U JPS6244364Y2 JP S6244364 Y2 JPS6244364 Y2 JP S6244364Y2 JP 1980155821 U JP1980155821 U JP 1980155821U JP 15582180 U JP15582180 U JP 15582180U JP S6244364 Y2 JPS6244364 Y2 JP S6244364Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switch
terminal
connection
fittings
holding member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1980155821U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5779772U (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1980155821U priority Critical patent/JPS6244364Y2/ja
Publication of JPS5779772U publication Critical patent/JPS5779772U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS6244364Y2 publication Critical patent/JPS6244364Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、測定器と被測定物とを接続するため
の入出力用プローブに関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an input/output probe for connecting a measuring instrument and an object to be measured.

〔従来技術の問題点〕[Problems with conventional technology]

テスタやマルチメータなどの計測器によつて極
性を有する電気回路部分の測定を行う場合におい
て、測定器と被測定物との極性が不一致となるこ
とがある。例えば、ダイオードやトランジスタな
ど、極性を有した電子部品を実装した回路部分や
部品の簡易検査を行う場合、上記のような測定の
頻度が多くなつている。
2. Description of the Related Art When measuring a polarized electrical circuit part using a measuring instrument such as a tester or a multimeter, the polarity of the measuring instrument and the object to be measured may not match. For example, when carrying out simple inspections of circuit parts and components mounted with polarized electronic components such as diodes and transistors, the frequency of the above-mentioned measurements is increasing.

このような場合通常のプローブでは、正・負極
を一致させるために、プローブを一旦持ち替えて
先端金具を当て直し、測定器の指示を見直すとい
う煩雑な作業が必要であるという問題点があつ
た。
In such cases, a problem with conventional probes is that in order to match the positive and negative electrodes, it is necessary to change the probe, reapply the tip metal fitting, and review the instructions on the measuring instrument.

〔考案が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention attempts to solve]

本考案は、上記した従来技術の欠点を除くため
になされたものであつて、その目的とするところ
は、取扱が容易で、迅速な測定が可能な入出力用
プローブを提供することである。即ち、測定器か
らの電線と接続金具との接続を切り換えるスイツ
チをプローブに設けることによつて、測定を行い
ながらプローブの手元で極性を替えられるように
し、しかもスイツチを接続金具の保持部材に対す
る相対的な位置変化に対応して接続状態が変わる
ようにすることによつて、接続金具を被測定物等
に押し付ける操作で極性が切り替わるようにし、
プローブを持ち替える必要なしに、或いは片手で
プローブを持つたまま測定を行うことができるよ
うにすることを目的としている。
The present invention has been made to eliminate the drawbacks of the prior art described above, and its purpose is to provide an input/output probe that is easy to handle and capable of rapid measurement. That is, by providing the probe with a switch that changes the connection between the electric wire from the measuring instrument and the connecting fitting, it is possible to change the polarity at the probe's hand while making measurements. By making the connection status change in response to changes in position, the polarity can be switched by pressing the connection fitting against the object to be measured, etc.
The purpose is to enable measurements to be made without the need to change hands or while holding the probe with one hand.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

要するに本考案は、被測定物14に接触させる
ための少なくとも2つの接続金具8,9と、該接
続金具の少なくとも1つを先端部から突出するよ
うに保持する少なくとも1つの保持部材10A,
10Bと、前記接続金具に対する少なくとも2本
の電線4,5の接続の極性を切り換えるため前記
保持部材内に設けられたスイツチ6,7とを備え
た入出力用プローブにおいて、 前記接続金具8,9の少なくとも1つは、該接
続金具の先端部分の前記保持部材10A,10B
に対する相対的な位置が変化しうるように前記保
持部材内に保持されており、 前記スイツチは、前記接続金具の前記保持部材
に対する位置に対応して少なくとも2つの異なつ
た接続状態を取るようになつているものであるこ
とを特徴とするものである。
In short, the present invention includes at least two connecting fittings 8 and 9 for contacting the object to be measured 14, at least one holding member 10A that holds at least one of the connecting fittings so as to protrude from the tip,
10B, and switches 6, 7 provided in the holding member for switching the polarity of connection of at least two electric wires 4, 5 to the connection fittings, the input/output probe comprising: At least one of the holding members 10A, 10B at the tip of the connecting fitting
the switch is held within the retaining member such that its relative position relative to the retaining member can be changed, and the switch assumes at least two different connected states depending on the position of the connecting fitting relative to the retaining member. It is characterized by the fact that it is

〔実施例〕〔Example〕

以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて説
明する。第1図に示すように、本考案の第1実施
例に係る入出力用プローブ20は、被測定物に接
触させるための接続金具8,9と、該接続金具
8,9を保持する保持部材10A,10Bと、ス
イツチ6,7とを備えている。スイツチ6,7
は、プラグ13A,13Bを介して測定器1に接
続される電線4,5と、接続金具8,9との間の
接続の極性を切り換えるためのものである。
Hereinafter, the present invention will be explained based on embodiments shown in the drawings. As shown in FIG. 1, the input/output probe 20 according to the first embodiment of the present invention includes connection fittings 8 and 9 for contacting an object to be measured, and a holding member that holds the connection fittings 8 and 9. 10A, 10B, and switches 6, 7. switch 6,7
is for switching the polarity of the connection between the electric wires 4, 5 connected to the measuring instrument 1 via the plugs 13A, 13B and the connecting fittings 8, 9.

第4図の拡大側面図に示すように、スイツチ6
は接点aを備える金属片15Aと、接点bを有す
る金属片15Bと、これらが固定される絶縁性保
持部17とを備えている。接続金具8は、スイツ
チ6のスイツチ切片を構成しており、絶縁性保持
部17に保持され、通常の初期位置P0では弾性
的に金属片15A側に付勢され、接点aに接触し
ている。スイツチ7は、スイツチ6と全く同様に
対称的に構成されており、スイツチ6と同符号ま
たはアルフアベツトBを付記した同符号を付して
説明は省略する。
As shown in the enlarged side view of FIG.
includes a metal piece 15A having a contact a, a metal piece 15B having a contact b, and an insulating holding part 17 to which these are fixed. The connecting fitting 8 constitutes a switch section of the switch 6, is held by an insulating holding part 17, and is elastically biased toward the metal piece 15A at the normal initial position P0, and is in contact with the contact point a. . The switch 7 is constructed symmetrically in exactly the same way as the switch 6, and will be given the same reference numeral as the switch 6 or the same reference numeral with the addition of the alphanumeric character B, and a description thereof will be omitted.

電線4は金属片15Aに接続され、電線5は金
属片15Bに接続されている。スイツチ6の金属
片15Aとスイツチ7の金属片16Bとは導体の
一例たる電線4′で接続され、スイツチ6の金属
片15Bとスイツチ7の金属片16Aとは導体の
一例たる電線5′で接続されている。
The electric wire 4 is connected to the metal piece 15A, and the electric wire 5 is connected to the metal piece 15B. The metal piece 15A of the switch 6 and the metal piece 16B of the switch 7 are connected by an electric wire 4' which is an example of a conductor, and the metal piece 15B of the switch 6 and the metal piece 16A of the switch 7 are connected by an electric wire 5' which is an example of a conductor. has been done.

第2図は、第1図の入出力用プローブ20に対
応する電気回路図を示したものであつて、1は測
定器、2,3はそれぞれ測定器1の入出力端子で
ある。抵抗器14は被測定物の一例である。な
お、この電気回路は入出力用プローブ20の電気
的な接続を等価的に表現したものであつて、必ず
しも具体的に対応するものではない。
FIG. 2 shows an electric circuit diagram corresponding to the input/output probe 20 shown in FIG. The resistor 14 is an example of an object to be measured. Note that this electric circuit is an equivalent representation of the electrical connection of the input/output probe 20, and does not necessarily correspond specifically.

本考案の第1実施例に係る入出力用プローブ2
0は上記のように構成されており、以下プリント
配線板に装着した状態の電子部品を、簡易に検査
する場合を例示しながら、その作用について説明
する。
Input/output probe 2 according to the first embodiment of the present invention
0 is configured as described above, and its operation will be described below by illustrating a case where an electronic component mounted on a printed wiring board is simply inspected.

第2図に示すように、抵抗値を測定するための
測定器1の正極端子2に電線4が、負極端子3に
電線5がそれぞれ接続されており、被測定物の一
例たる抵抗器14には図示の如くダイオード19
が並列に接続されているものとする。
As shown in FIG. 2, an electric wire 4 is connected to the positive terminal 2 of a measuring device 1 for measuring resistance value, and an electric wire 5 is connected to the negative terminal 3 of the measuring device 1. is the diode 19 as shown in the figure.
are connected in parallel.

ここで第1図に示すように、接続金具8及び9
を、被測定物の一例たる抵抗器14の引出線40
A,40Bに軽く押しあてた場合、接続金具8,
9は金属片15A,15Bの接点aに接触したま
まなので、正極端子2と接続金具8、負極端子3
と接続金具9とが各々接続される。
Here, as shown in FIG.
is the lead wire 40 of the resistor 14, which is an example of the object to be measured.
If you press it lightly against A, 40B, the connection fitting 8,
9 remains in contact with the contacts a of the metal pieces 15A and 15B, so the positive terminal 2, the connecting fitting 8, and the negative terminal 3
and the connecting fitting 9 are connected to each other.

このとき、測定に係る電流11が矢印に示す方
向に流れると、ダイオードには順方向電流が流れ
てしまうので、抵抗器14の抵抗値を測定するこ
とができない(極性の不一致)。
At this time, if the current 11 related to measurement flows in the direction shown by the arrow, a forward current flows through the diode, making it impossible to measure the resistance value of the resistor 14 (polarity mismatch).

このような場合、第3図に示すように、接続金
具8.9を更に強く抵抗器14に押し付け、矢印
のように保持部材10A,10Bの幅を狭くする
と、スイツチ6,7は、第4図に点線で表した部
分や、第5図に示すように接続状態が切り替わ
り、接続金具8,9が極性切換位置P1において
それぞれ接点bに接触する。これによつて、流れ
る電流I2は第5図に示す方向となりダイオード
19に対しては逆バイアスとなるので、ほぼ正確
に抵抗値の測定を行うことができる。
In such a case, as shown in FIG. 3, if the connecting fittings 8.9 are pressed more strongly against the resistor 14 and the widths of the holding members 10A, 10B are narrowed as shown by the arrows, the switches 6, 7 As shown in the dotted line in the figure and in FIG. 5, the connection state is switched, and the connecting fittings 8 and 9 each contact the contact point b at the polarity switching position P1. As a result, the flowing current I2 flows in the direction shown in FIG. 5, and the diode 19 is reverse biased, so that the resistance value can be measured almost accurately.

なお、上記においてダイオードが接続された抵
抗器の検査について説明したが、より一般的には
電圧・電流等を測定する場合の極性の切り換えに
使用できることは言うまでもない。
Although the above explanation has been given regarding the inspection of a resistor to which a diode is connected, it goes without saying that it can be used more generally to switch polarity when measuring voltage, current, etc.

また、上記実施例においてスイツチ6,7は、
第4図に示すような金属片16A,15A等によ
つて構成されたものとして説明したが、市販の箱
型に成形されたスイツチ、例えばマイクロスイツ
チ等によつて構成することができる。さらに、ス
イツチ6,7は、スイツチ切片が独立して動作す
るものとして説明したが、連動式のスイツチを片
方の保持部材に設け、一方の接続金具の位置の変
化によつて接続極性を切り換える構成をとること
もできる。
Further, in the above embodiment, the switches 6 and 7 are
Although the switch has been described as being made up of metal pieces 16A, 15A, etc. as shown in FIG. 4, it can be made up of a commercially available box-shaped switch, such as a micro switch. Furthermore, although the switches 6 and 7 have been described as having switch segments that operate independently, they are configured such that an interlocking switch is provided on one of the holding members, and the connection polarity is switched by changing the position of one of the connection fittings. You can also take

また上記実施例においてスイツチ6,7は、保
持部材10A,10Bの間隔を調節する方向に操
作する場合に切り替わる例として説明したが、勿
論これに限定されるものではなく、接続金具の上
下左右、或いは保持部材に対する出入方向、捻方
向の位置変位に対応して接続状態を切り換えるこ
とができるのは言うまでもない。これは例えば、
市販の小型スイツチを保持部材内に設けることに
よつて達成することができる。また上記実施例の
第1図に示したスイツチ6,7を保持部材10
A,10Bの中心軸に対してそれぞれ90゜回転さ
せた方向に配置すれば、第6図及び第7図に示す
ように、接続金具8′,9′をそれぞれ下方に押し
付けることによつて接続状態を切り換えることが
できる。
Further, in the above embodiment, the switches 6 and 7 were explained as an example in which they are switched when operated in a direction to adjust the interval between the holding members 10A and 10B, but of course the switch is not limited to this, and the switches 6 and 7 are switched to the top, bottom, left and right of the connecting fittings, Alternatively, it goes without saying that the connection state can be switched in response to positional displacement in the in/out direction and in the twisting direction with respect to the holding member. For example,
This can be achieved by installing a commercially available small switch within the holding member. In addition, the switches 6 and 7 shown in FIG.
If they are arranged in a direction rotated by 90 degrees with respect to the center axis of A and 10B, the connection can be made by pressing the connecting fittings 8' and 9' downward, respectively, as shown in Figs. 6 and 7. You can switch states.

また、上記実施例においては、保持部材10
A,10Bに保持された棒状の接続金具8,9
(テストリード)を2本並列させた例を図示して
説明したが、これに限定されるものではなく、テ
ストリードを一本とし、他の接続金具を例えばワ
ニ口クリツプ等によることもできる。また、例え
ばシールド線を伴つた電線に対するプローブを構
成する場合には接続金具を2個以上の複数個とす
ることもできる。また、棒状の接続金具をそれぞ
れ別の保持部材によつて保持するのではなく、一
体として形成された保持部材によつて2本の接続
金具を保持する構成を取ることも可能である。
Further, in the above embodiment, the holding member 10
Rod-shaped connection fittings 8 and 9 held by A and 10B
Although an example in which two (test leads) are arranged in parallel has been illustrated and described, the present invention is not limited to this, and it is also possible to use only one test lead and use other connecting fittings such as alligator clips. Further, for example, when configuring a probe for an electric wire with a shielded wire, the number of connecting fittings can be two or more. Furthermore, instead of holding the rod-shaped connecting fittings by separate holding members, it is also possible to adopt a configuration in which the two connecting fittings are held by an integrally formed holding member.

さらに、極性を切り換えるスイツチは、第2図
に示すような電気回路に限定さるものではなく、
例えば第8図に示すような電気回路も考えられ
る。
Furthermore, the switch for changing the polarity is not limited to the electric circuit shown in FIG.
For example, an electric circuit as shown in FIG. 8 is also conceivable.

〔効 果〕〔effect〕

本考案は、上記のように構成され、作用するも
のであるから、保持部材の先端部から突出して保
持された接続金具の動きに対応して接続を切り換
えるスイツチを設けることによつて、測定中にプ
ローブを持ち換える必要なしに、接続金具を被測
定物等に押し付ける動作によつて極性を切り換え
ることができるという効果が得られる。したがつ
て、本考案を測定に用いた場合には、測定作業の
効率化を図ることができる。
Since the present invention is constructed and operates as described above, by providing a switch that switches the connection in response to the movement of the connecting fitting that is held and protrudes from the tip of the holding member, it is possible to The advantage is that the polarity can be switched by pressing the connecting fitting against the object to be measured, etc., without having to change the probe. Therefore, when the present invention is used for measurement, it is possible to improve the efficiency of measurement work.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図面は本考案の実施例に係り、第1図は第1実
施例に係る入出力用プローブの斜視図、第2図は
第1図に示した入出力用プローブの電気回路図、
第3図は第1図に示した入出力用プローブの使用
状態を示す斜視図、第4図は第1実施例に係る入
出力用プローブのスイツチを拡大して示した側面
図、第5図は第2図に示した入出力用プローブの
使用状態における電気回路図、第6図は実施例に
係る入出力用プローブの斜視図、第7図は第6図
に示した入出力用プローブの使用状態を示す斜視
図、第8図は別実施例に係る入出力用プローブの
電気回路図である。 4,5:電線、6,7:スイツチ、8,9:接
続金具、10A,10B:保持部材である。
The drawings relate to embodiments of the present invention; FIG. 1 is a perspective view of an input/output probe according to the first embodiment, FIG. 2 is an electrical circuit diagram of the input/output probe shown in FIG. 1,
3 is a perspective view showing how the input/output probe shown in FIG. 1 is used, FIG. 4 is a side view showing an enlarged switch of the input/output probe according to the first embodiment, and FIG. 5 is an electrical circuit diagram of the input/output probe shown in FIG. 2 in use, FIG. 6 is a perspective view of the input/output probe according to the embodiment, and FIG. 7 is an electrical circuit diagram of the input/output probe shown in FIG. 6. FIG. 8, which is a perspective view showing a state of use, is an electric circuit diagram of an input/output probe according to another embodiment. 4, 5: electric wire, 6, 7: switch, 8, 9: connection fitting, 10A, 10B: holding member.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 1 被測定物14に接触させるための少なくとも
2つの接続金具8,9と、該接続金具の少なく
とも1つを突出するように保持する少なくとも
1つの保持部材10A,10Bと、前記接続金
具に対する少なくとも2本の電線4,5の接続
の極性を切り換えるため前記保持部材内に設け
られたスイツチ6,7とを備えた入出力用プロ
ーブにおいて、 前記接続金具8,9の少なくとも1つは、該
接続金具の前記保持部材10A,10Bに対す
る相対的な位置が変化しうるように前記保持部
材内に保持されており、 前記スイツチは、前記接続金具の前記保持部
材に対する位置に対応して少なくとも2つの異
なつた接続状態を取るようになつているもので
あることを特徴とする入出力用プローブ。 2 前記スイツチは、少なくとも2つの三端子ス
イツチ6,7を備え、該三端子スイツチ6,7
は、前記接続金具8,9が初期位置P0にある
ときスイツチ切片が接触する切換接点端子a
と、前記接続金具8,9が極性切換位置P1に
あるときスイツチ切片が接触する切換接点端子
bとを備え、前記三端子スイツチのうちの1つ
の三端子スイツチ6の切換接点端子aと他の1
つの三端子スイツチ7の切換接点端子bとは導
体4′で接続されており、前記1つの三端子ス
イツチ6の切換接点端子bと前記他の1つの三
端子スイツチ7の切換接点端子aとは導体5′
で接続されており、前記1本の電線4と前記接
続金具の1つ8とは、前記1つの三端子スイツ
チ6の切換接点端子a及びスイツチ切片端子c
を介して接続されており、前記他の1本の電線
5と前記接続金具の他の1つ9とは、前記他の
1つの三端子スイツチ7の切換接点端子a及び
スイツチ切片端子cを介して接続されているこ
とを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項
に記載の入出力用プローブ。 3 前記保持部材8,9は、弾性部材12によつ
て互いに接続されているものであることを特徴
とする実用新案登録請求の範囲第1項又は第2
項に記載の入出力用プローブ。
[Utility Model Claims] 1. An input/output probe comprising at least two connection fittings 8, 9 for contacting an object to be measured 14, at least one holding member 10A, 10B for holding at least one of the connection fittings so that it protrudes, and a switch 6, 7 provided within the holding member for switching the polarity of the connection of at least two electric wires 4, 5 to the connection fittings, wherein at least one of the connection fittings 8, 9 is held within the holding member so that the relative position of the connection fitting to the holding member 10A, 10B can be changed, and the switch is adapted to take at least two different connection states corresponding to the position of the connection fitting to the holding member. 2. The switch comprises at least two three-terminal switches 6, 7, and the three-terminal switches 6, 7
is a changeover contact terminal a with which the switch segment comes into contact when the connecting metal fittings 8, 9 are in the initial position P0.
and a switching contact terminal b with which the switch segment comes into contact when the connecting metal fittings 8, 9 are in the polarity switching position P1.
The changeover contact terminal b of one three-terminal switch 7 is connected by a conductor 4', and the changeover contact terminal b of one three-terminal switch 6 and the changeover contact terminal a of the other three-terminal switch 7 are connected by a conductor 5'.
The one electric wire 4 and one of the connecting fittings 8 are connected to the changeover contact terminal a and the switch intercept terminal c of the one three-terminal switch 6.
and the other electric wire 5 and the other one of the connecting fittings 9 are connected via a changeover contact terminal a and a switch intercept terminal c of the other one of the three-terminal switches 7. 3. The input/output probe according to claim 1 or 2, characterized in that the holding members 8, 9 are connected to each other by an elastic member 12.
Item 5. An input/output probe according to item 1.
JP1980155821U 1980-10-31 1980-10-31 Expired JPS6244364Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1980155821U JPS6244364Y2 (en) 1980-10-31 1980-10-31

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1980155821U JPS6244364Y2 (en) 1980-10-31 1980-10-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5779772U JPS5779772U (en) 1982-05-17
JPS6244364Y2 true JPS6244364Y2 (en) 1987-11-21

Family

ID=29514997

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1980155821U Expired JPS6244364Y2 (en) 1980-10-31 1980-10-31

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6244364Y2 (en)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52126871U (en) * 1976-03-23 1977-09-27

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5779772U (en) 1982-05-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4423373A (en) Test probe
CN108627698A (en) Handcart loop resistance test plug and loop resistance tester
JPH10214667A (en) Ic socket
JPS6244364Y2 (en)
JP2009229345A (en) Inspection tool
US1970232A (en) Testing device
US3512084A (en) Electrical test probe device with shorting and reversing switch means
JP2004294316A (en) Electric characteristics evaluation system
JPH08313555A (en) Tester probe
JPH04315062A (en) Method for measuring resistance value of resistor
JPH02124469A (en) Probe card
JPH0524061Y2 (en)
KR100900452B1 (en) Electric circuit open-short tester
JPH0714908Y2 (en) Oscilloscope probe
JPH06289075A (en) Resistance value measuring method for chip type electronic component
JP2552198Y2 (en) Probe for resistance measurement
JPS6217728Y2 (en)
KR960008219Y1 (en) Compact fuse
KR860002467Y1 (en) Select switch for testing a circuit
JPH0320782Y2 (en)
JPH031822Y2 (en)
JP3276376B2 (en) How to measure the resistance of a resistor
JP3008612U (en) Measuring probe
KR20000043003A (en) Probe unit of measuring equipment
KR100373723B1 (en) Connection pin of battery