JPS6244232A - Ｍｒｉスキヤン計画システム - Google Patents
Ｍｒｉスキヤン計画システムInfo
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- JPS6244232A JPS6244232A JP60181855A JP18185585A JPS6244232A JP S6244232 A JPS6244232 A JP S6244232A JP 60181855 A JP60181855 A JP 60181855A JP 18185585 A JP18185585 A JP 18185585A JP S6244232 A JPS6244232 A JP S6244232A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/58—Calibration of imaging systems, e.g. using test probes, Phantoms; Calibration objects or fiducial markers such as active or passive RF coils surrounding an MR active material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S378/00—X-ray or gamma ray systems or devices
- Y10S378/901—Computer tomography program or processor
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Radiology & Medical Imaging (AREA)
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- Signal Processing (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、主として医療診断に用いられるＭＲＩ（Ｍａ
ｇｎｅｔｉｃ Ｒｅ５ｏｎａｎｃｅ Ｉｍａ、ｇｉｎｇ
）技術に係り、コンピュータ断層法を応用してＭＲＩを
行なう際のスキャン計画とその後の位置関係表示を行な
えるＭＲＩスキャン計画システムに関するものである。
ｇｎｅｔｉｃ Ｒｅ５ｏｎａｎｃｅ Ｉｍａ、ｇｉｎｇ
）技術に係り、コンピュータ断層法を応用してＭＲＩを
行なう際のスキャン計画とその後の位置関係表示を行な
えるＭＲＩスキャン計画システムに関するものである。
近年、Ｘ線ＣＴ診断装置の急速な開発・進歩により診断
医学は新たな時代を迎えた。それは、旧来のＸ線撮影写
真が、Ｘ線照射方向に沿う１次元分が失われた情報であ
ったのに対し、それを回復した情報による画像をＸ線Ｃ
Ｔが提供したためである。さらに、上記Ｘ線ＣＴでは基
本的には横断面の像しか得られなかったのに対し、最近
では、ＭＲＩが登場して容易に種々の方向の断面が撮れ
るようになり一層の進歩が期待されている。
医学は新たな時代を迎えた。それは、旧来のＸ線撮影写
真が、Ｘ線照射方向に沿う１次元分が失われた情報であ
ったのに対し、それを回復した情報による画像をＸ線Ｃ
Ｔが提供したためである。さらに、上記Ｘ線ＣＴでは基
本的には横断面の像しか得られなかったのに対し、最近
では、ＭＲＩが登場して容易に種々の方向の断面が撮れ
るようになり一層の進歩が期待されている。
また、上記Ｘ線ＣＴには適確な位置の断面を撮像するた
めのスキャン計画システムが提供されている。このＸ線
ＣＴスキャン計画システムは、体軸に沿ってＸ線管、）
ｌ’ｉ検出器を移動させることによって得られるスキャ
ノ像を用い、このスキャノ像に対して撮像したい断面の
位置を指定し、その指定位置について撮影（データ収集
）を行なうものである。しかし、任意の断面が撮れると
いう複雑さのため、従来、ＭＲＩには適切なスキャン計
画システムは存在しなかった。
めのスキャン計画システムが提供されている。このＸ線
ＣＴスキャン計画システムは、体軸に沿ってＸ線管、）
ｌ’ｉ検出器を移動させることによって得られるスキャ
ノ像を用い、このスキャノ像に対して撮像したい断面の
位置を指定し、その指定位置について撮影（データ収集
）を行なうものである。しかし、任意の断面が撮れると
いう複雑さのため、従来、ＭＲＩには適切なスキャン計
画システムは存在しなかった。
ＭＲＩにおいて撮像を行なう場合、現状では像を得よう
とする部分近傍について何枚も（何画像も）条件を変え
て撮像しているが、このため結果的には不要な撮像や撮
り直し等が避けられず被検体すなわち患者等に本来不要
な精神的、肉体的な負担を課してしまう。また、従来の
Ｘ線ＣＴではスキャン計画システムが横断面指定である
ので、この場合に任意の断面を得ようとすれば、断面変
換を行ない所要方向の断面を補間により再構成して得る
ことになるが、その像は補間により不鮮明なものとなら
ざるをえない。
とする部分近傍について何枚も（何画像も）条件を変え
て撮像しているが、このため結果的には不要な撮像や撮
り直し等が避けられず被検体すなわち患者等に本来不要
な精神的、肉体的な負担を課してしまう。また、従来の
Ｘ線ＣＴではスキャン計画システムが横断面指定である
ので、この場合に任意の断面を得ようとすれば、断面変
換を行ない所要方向の断面を補間により再構成して得る
ことになるが、その像は補間により不鮮明なものとなら
ざるをえない。
ＭＲＩは任意の断面を撮像することが可能であるため、
種々の視点より被検体を眺めた像により最適断面を設定
しなければ、有効で適確な断面設定は行なえない。
種々の視点より被検体を眺めた像により最適断面を設定
しなければ、有効で適確な断面設定は行なえない。
本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、予め撮
影された任意断面に基づいて的確かつ容易に撮影断面を
設定することができ、しかも、前記任意断面と撮影断面
との位置関係を容易に把握できるＭＲＩスキャン計画シ
ステムを提供することを目的とするものである。
影された任意断面に基づいて的確かつ容易に撮影断面を
設定することができ、しかも、前記任意断面と撮影断面
との位置関係を容易に把握できるＭＲＩスキャン計画シ
ステムを提供することを目的とするものである。
上記目的を達成するための本発明の概要は、ＭＲＩ装置
で撮影された単一又は複数平行の任意断面を表示する表
示手段と、この表示手段に表示された前記任意断面上に
線又は点によって関心位置を入力することにより、前記
関心位置を含みかつ前記任意断面と交差する撮影断面を
指定する撮影断面位置指定手段と、前記任意断面と撮影
断面との立体位置関係を前記表示手段に表示制御する表
示制御手段とを設けたことを特徴とするものである。
で撮影された単一又は複数平行の任意断面を表示する表
示手段と、この表示手段に表示された前記任意断面上に
線又は点によって関心位置を入力することにより、前記
関心位置を含みかつ前記任意断面と交差する撮影断面を
指定する撮影断面位置指定手段と、前記任意断面と撮影
断面との立体位置関係を前記表示手段に表示制御する表
示制御手段とを設けたことを特徴とするものである。
以下、本発明を図示の一実施例に基づいて説明する。第
１図は本実施例装置のブロック図であり、ＭＲＩ装置１
とこのＭＲＩ装置１での撮像スキャン計画をたてるため
のＭＲＩスキャン計画システム１０とを具備している。
１図は本実施例装置のブロック図であり、ＭＲＩ装置１
とこのＭＲＩ装置１での撮像スキャン計画をたてるため
のＭＲＩスキャン計画システム１０とを具備している。
前記ＭＲＩ装置１は、磁気共鳴現象を利用して被検体断
面についてのＭＲデータを収集するＭＲデータ収集部２
と、このＭＲデータ収集部２を制御することにより、Ｍ
Ｒデータ収集部２の各種コイルへの電圧印加タイミング
、励起パルス等のタイミング、ＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇ
Ｄｅｇｉｔａｌ Ｃｏｎｖｅｒｓｉｏｎ）のタイミング
などを制御するようになっている。
面についてのＭＲデータを収集するＭＲデータ収集部２
と、このＭＲデータ収集部２を制御することにより、Ｍ
Ｒデータ収集部２の各種コイルへの電圧印加タイミング
、励起パルス等のタイミング、ＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇ
Ｄｅｇｉｔａｌ Ｃｏｎｖｅｒｓｉｏｎ）のタイミング
などを制御するようになっている。
次に、前記ＭＲＩスキャン計画システム１０の主要ブロ
ックについて説明する。
ックについて説明する。
第１図において、１１はこのシステムの制御を司さどる
ＣＰＵ （中央処理装置）であり、このＣＰＵＩＩに対
して、ＤＭＡ （ダイレクトメモリアクセス）パス１２
を介して磁気ディスク１４、フロッピディスク１６、磁
気テープ１７および光ディスク１８など、各種メモリが
接続されている。
ＣＰＵ （中央処理装置）であり、このＣＰＵＩＩに対
して、ＤＭＡ （ダイレクトメモリアクセス）パス１２
を介して磁気ディスク１４、フロッピディスク１６、磁
気テープ１７および光ディスク１８など、各種メモリが
接続されている。
さらに、同様にＤＭＡパス２を介してＣＰＵＩ １に画
像コントローラ１５が接続されており、この画像コント
ローラ１５にはイメージメモリ１９およびＣＲＴディス
プレイ２０が接続されていた。
像コントローラ１５が接続されており、この画像コント
ローラ１５にはイメージメモリ１９およびＣＲＴディス
プレイ２０が接続されていた。
また、ＣＰＵＩＩにはＩ１０バス１３を介して、キーボ
ード２１およびトラックボールまたはマウス等のごとき
座標入力装置２２が接続されている。
ード２１およびトラックボールまたはマウス等のごとき
座標入力装置２２が接続されている。
さらに、キーボード２１にはキャラクタコントローラ２
３が接続されており、このキャラクタコントローラ２３
はやはりＣＲＴディスプレイ２０に接続されている。
３が接続されており、このキャラクタコントローラ２３
はやはりＣＲＴディスプレイ２０に接続されている。
そして、本実施例装置では前記ＭＲＩ装置１で撮影され
た単一又は複数平行の任意断面を表示する表示手段を前
記ＣＲＴディスプレイ２０で構成し、この表示手段（Ｃ
ＲＴディスプレイ２０）に表示された前記任意断面上に
線又は点によって関心位置を入力して撮影断面位置を指
定する撮影断面位置指定手段を、前記座標入力装置２２
．ＣＰＵ１１、画像コントローラ１５及びイメージメモ
リ１９で構成している。また、前記任意断面と撮影断面
との立体位置を前記ＣＲＴディスプレイ２０に表示制御
する表示制御手段を、キーボード２１゜ＣＰＵＩ １．
画像コントローラ１５及びイメージメモリ１９で構成し
ている。
た単一又は複数平行の任意断面を表示する表示手段を前
記ＣＲＴディスプレイ２０で構成し、この表示手段（Ｃ
ＲＴディスプレイ２０）に表示された前記任意断面上に
線又は点によって関心位置を入力して撮影断面位置を指
定する撮影断面位置指定手段を、前記座標入力装置２２
．ＣＰＵ１１、画像コントローラ１５及びイメージメモ
リ１９で構成している。また、前記任意断面と撮影断面
との立体位置を前記ＣＲＴディスプレイ２０に表示制御
する表示制御手段を、キーボード２１゜ＣＰＵＩ １．
画像コントローラ１５及びイメージメモリ１９で構成し
ている。
次に、上記構成を有する本実施例装置の作用を第２図〜
第８図を参照し、第２図に示すフローチャートに従って
説明する。
第８図を参照し、第２図に示すフローチャートに従って
説明する。
先ず、撮影断面を指定する前提となる被検体の任意断面
を収集するための収集条件を、キーボード２１より入力
する（ステップ１）。例えば、第３図に示すように被検
体３０に対して３枚の任意Ｍ面３１，３２．３３のマル
チスライス収集を行う条件を設定する。この条件は、Ｃ
ＰＵＩＩを介してＭＲＩ装置１に入力され、システムコ
ントローラ３の制御に基づいてＭＲデータ収集部２にお
いてデータを収集し、そのデータをもとにＣＰＵ１１に
より上記各断面の撮影像が再構成される。
を収集するための収集条件を、キーボード２１より入力
する（ステップ１）。例えば、第３図に示すように被検
体３０に対して３枚の任意Ｍ面３１，３２．３３のマル
チスライス収集を行う条件を設定する。この条件は、Ｃ
ＰＵＩＩを介してＭＲＩ装置１に入力され、システムコ
ントローラ３の制御に基づいてＭＲデータ収集部２にお
いてデータを収集し、そのデータをもとにＣＰＵ１１に
より上記各断面の撮影像が再構成される。
このようにして、これら各断面３１，３２，３３゜の↑
最影像３１Ａ、３２Ａ、３３Ａ （第３図、第４図（ａ
） 、 （ｂ） 、 （ｃ）図示）が得られ、これら撮
影像は画像データベースとしての各種メモリ１４．１６
゜１７．１８に登録される（ステップ２）。
最影像３１Ａ、３２Ａ、３３Ａ （第３図、第４図（ａ
） 、 （ｂ） 、 （ｃ）図示）が得られ、これら撮
影像は画像データベースとしての各種メモリ１４．１６
゜１７．１８に登録される（ステップ２）。
次に、任意断面の収集条件を変更するか否かを、例えば
前記キーボード２１のキー操作によって選択する（ステ
ップ３）。この判断に供するために、前記各撮影像を一
担ＣＲＴディスプレイ２０に表示するようにしてもよい
。そして、収集条件の変更を要する場合には、収集条件
の設定変更をキーボード２１のキー操作によって行う
（ステップ４）。
前記キーボード２１のキー操作によって選択する（ステ
ップ３）。この判断に供するために、前記各撮影像を一
担ＣＲＴディスプレイ２０に表示するようにしてもよい
。そして、収集条件の変更を要する場合には、収集条件
の設定変更をキーボード２１のキー操作によって行う
（ステップ４）。
このような条件変更による画像登録の終了後又はステッ
プ３において条件変更を要しなかった場合には、ステッ
プ５に進んで上記３枚の画像のうちの単一枚数を用いる
か複数枚数を用いるかの選択を、前記キーボード２１の
キー操作によって行う。そして、１枚の画像によって撮
影断面の指定を行う場合にはステップ６−１．７−１．
８−１に移行し、２枚の画像によって撮影断面の指定を
行う場合にはステップ６−２．７−２．８−２に移行す
ることになる。
プ３において条件変更を要しなかった場合には、ステッ
プ５に進んで上記３枚の画像のうちの単一枚数を用いる
か複数枚数を用いるかの選択を、前記キーボード２１の
キー操作によって行う。そして、１枚の画像によって撮
影断面の指定を行う場合にはステップ６−１．７−１．
８−１に移行し、２枚の画像によって撮影断面の指定を
行う場合にはステップ６−２．７−２．８−２に移行す
ることになる。
ここで、１枚の画像に基づ（撮影断面の指定を第５図、
第６図（ａ）を参照し、ステップ６−１゜７−１．８−
１に従って説明する。先ず、上記３枚の画像の中から一
枚の任意断面像をキーボード２１のキー操作によって選
択する（ステップ６−１）。
第６図（ａ）を参照し、ステップ６−１゜７−１．８−
１に従って説明する。先ず、上記３枚の画像の中から一
枚の任意断面像をキーボード２１のキー操作によって選
択する（ステップ６−１）。
例えば、任意断面３２の撮影像３１Ａを選択した場合に
は、ＣＰＵＩ １は各種メモリ１４，１６゜１７．１８
の中からこの像を読み出し、画像コントローラ１５．イ
メージメモリ１９を介してＣＲＴディスプレイ２０に表
示する（第６図（ａｌ参照）。
は、ＣＰＵＩ １は各種メモリ１４，１６゜１７．１８
の中からこの像を読み出し、画像コントローラ１５．イ
メージメモリ１９を介してＣＲＴディスプレイ２０に表
示する（第６図（ａｌ参照）。
次に、ステップ７−１に移行することにな゛るが、この
ステップは２枚目以降の撮影断面指定のための判断ステ
ップであるため、最初の撮影断面指定の際にはステップ
８−１に移行する。このステップ８−１では、ＣＲＴデ
ィスプレイ２０に表示された任意断面３２上に、線又は
点によって関心位置を表示入力する。このために、例え
ば座標入力装置２２でＲＯＩ座標入力することにより、
第６図（ａ）に示すように任意断面３２Ａ上の関心位置
に線ＲＯＩ３２Ｂを設定する。即ち、ＲＯＩ座標入力を
行うと、この座標情報はＣＰＵＩ １を介して画像コン
トローラ１５に入力され、画像コントローラ１５はイメ
ージメモリ１９上に任意断面像３２Ａと共に線ＲＯＩ３
２Ｂを書き込み制御する。
ステップは２枚目以降の撮影断面指定のための判断ステ
ップであるため、最初の撮影断面指定の際にはステップ
８−１に移行する。このステップ８−１では、ＣＲＴデ
ィスプレイ２０に表示された任意断面３２上に、線又は
点によって関心位置を表示入力する。このために、例え
ば座標入力装置２２でＲＯＩ座標入力することにより、
第６図（ａ）に示すように任意断面３２Ａ上の関心位置
に線ＲＯＩ３２Ｂを設定する。即ち、ＲＯＩ座標入力を
行うと、この座標情報はＣＰＵＩ １を介して画像コン
トローラ１５に入力され、画像コントローラ１５はイメ
ージメモリ１９上に任意断面像３２Ａと共に線ＲＯＩ３
２Ｂを書き込み制御する。
この結果、ＣＲＴディスプレイ２０上には任意断面像３
２Ａの関心位置に線ＲＯＩ３２Ｂを重ねて表示すること
ができる。
２Ａの関心位置に線ＲＯＩ３２Ｂを重ねて表示すること
ができる。
このようなＲＯＩ座標入力によって指定される撮影断面
は、第５図に示すように前線ＲＯＩ３２Ｂを含み、かつ
、前記任意断面３２に直交する撮影断面４０となる。そ
して、この撮影断面４０上の撮影像４１がＭＲＩ装置１
で撮影されることになる。
は、第５図に示すように前線ＲＯＩ３２Ｂを含み、かつ
、前記任意断面３２に直交する撮影断面４０となる。そ
して、この撮影断面４０上の撮影像４１がＭＲＩ装置１
で撮影されることになる。
次に、２枚の画像に基づく撮影断面の指定を第７図、第
８図（ａ）を参照し、ステップ６−２゜７−２．８−２
に従って説明する。ステップ６−２では、前記３枚の画
像の中から２枚の任意断面像をキーボード２１のキー操
作によって選択し１０例えば任意断面３１．３３の撮影
像３１Ａ、３３ＡをＣＲＴディスプレイ２０上に、例え
ば第８図（ａ）に示すように分割表示する。次に、ステ
ップ７−２は前述した理由により省略してステップ８−
２に移行する。このステップ８−２では、ＣＲＴディス
プレイ２０に表示され任意断面３１．３３上に、第８図
（ａ）に示すような線ＲＯＩ３１Ｂ、３３Ｂを表示入力
する。尚、座標入力装置２２でのＲＯＩ座標入力から、
線ＲＯＩ３１Ｂ、３３ＢをＣＲＴディスプレイ２０上に
表示するまでに至る動作は前述したものと同様にして行
なわれる。
８図（ａ）を参照し、ステップ６−２゜７−２．８−２
に従って説明する。ステップ６−２では、前記３枚の画
像の中から２枚の任意断面像をキーボード２１のキー操
作によって選択し１０例えば任意断面３１．３３の撮影
像３１Ａ、３３ＡをＣＲＴディスプレイ２０上に、例え
ば第８図（ａ）に示すように分割表示する。次に、ステ
ップ７−２は前述した理由により省略してステップ８−
２に移行する。このステップ８−２では、ＣＲＴディス
プレイ２０に表示され任意断面３１．３３上に、第８図
（ａ）に示すような線ＲＯＩ３１Ｂ、３３Ｂを表示入力
する。尚、座標入力装置２２でのＲＯＩ座標入力から、
線ＲＯＩ３１Ｂ、３３ＢをＣＲＴディスプレイ２０上に
表示するまでに至る動作は前述したものと同様にして行
なわれる。
このようなＲＯＩ座標入力によって指定さ孔る撮影断面
は、第７図に示すように前記線ＲＯＩ３１Ｂ及び線ＲＯ
Ｉ３３Ｂを含み、かつ、両任意断面３１．３３を交差す
る撮影断面４２となる。
は、第７図に示すように前記線ＲＯＩ３１Ｂ及び線ＲＯ
Ｉ３３Ｂを含み、かつ、両任意断面３１．３３を交差す
る撮影断面４２となる。
そして、この撮影断面４２上の撮影像４３がＭＲ１装置
１で撮影されることになる。
１で撮影されることになる。
次に、上記のようにして撮影断面の指定が終了したら、
ＭＲＩ装置１でのデータ収集に必要な操作等をステップ
９以下で行う。ステップ９では、前記任意断面３１〜３
３を撮影した際の収集条件に対し、新たに撮影すべき撮
影断面４０又は４２の収集条件を変更するか否かをキー
ボード２１のキー操作によって選択する。これは、任意
断面のスキャンは少なくとも位置設定を行うのに充分な
分解能で最小時間で効率よく行う必要があるのに対し、
撮影断面のスキャンは診断に必要な高分解能が要求され
るためである。また、ＭＲＩ装置の場合には、Ｘ線ＣＴ
装置と異なりスキャン条件によって異なる情報を含んだ
診断情報としての画像が収集されるため、再度収集条件
を設定する必要性が高くなっている。収集条件の設定変
更の必要がある場合には、キーボード２１のキー操作に
よって行う （ステップ１０）。
ＭＲＩ装置１でのデータ収集に必要な操作等をステップ
９以下で行う。ステップ９では、前記任意断面３１〜３
３を撮影した際の収集条件に対し、新たに撮影すべき撮
影断面４０又は４２の収集条件を変更するか否かをキー
ボード２１のキー操作によって選択する。これは、任意
断面のスキャンは少なくとも位置設定を行うのに充分な
分解能で最小時間で効率よく行う必要があるのに対し、
撮影断面のスキャンは診断に必要な高分解能が要求され
るためである。また、ＭＲＩ装置の場合には、Ｘ線ＣＴ
装置と異なりスキャン条件によって異なる情報を含んだ
診断情報としての画像が収集されるため、再度収集条件
を設定する必要性が高くなっている。収集条件の設定変
更の必要がある場合には、キーボード２１のキー操作に
よって行う （ステップ１０）。
次に、ステップ１１で撮影断面を収集するための制御パ
ラメータを算出する。これは、ＣＰＵ１１が前記座標入
力装置２２からの前記関心位置座標と、任意断面３１〜
３３の断面位置情報とから、前述した撮影断面の位置条
件を満す位置データを求め、この位置データから前記制
御パラメータを算出する。このようにしてＣＰＵＩ １
で算出された制御用パラメータは、ＭＲＴ装置１のシス
テムコントローラ３に入力され、このシステムコントロ
ーラ３の制御に基づいてＭＲデータ収集部２で撮影断面
４０又は４２のデータ収集が行なわれることになる。
ラメータを算出する。これは、ＣＰＵ１１が前記座標入
力装置２２からの前記関心位置座標と、任意断面３１〜
３３の断面位置情報とから、前述した撮影断面の位置条
件を満す位置データを求め、この位置データから前記制
御パラメータを算出する。このようにしてＣＰＵＩ １
で算出された制御用パラメータは、ＭＲＴ装置１のシス
テムコントローラ３に入力され、このシステムコントロ
ーラ３の制御に基づいてＭＲデータ収集部２で撮影断面
４０又は４２のデータ収集が行なわれることになる。
一方、本実施例装置では位置設定に用いられた前記任意
断面と、この任意断面を基に位置設定された撮影断面と
の位置関係をＣＲＴディスプレイ２０に表示し、両断面
の位置関係を容易に目視できるようになっている。例え
ば、第５図、第７図又は第６図、第８図に示すような画
像を再現して表示することにより、撮影断面位置の把握
が極めて容易となる。この断面位置関係の表示の必要性
は、断面位置指定された撮影断面についてのデータ収集
後、この撮影断面像を表示して医師等が診断する場合に
特に必要であり、このような表示によって撮影断面像に
基づく診断を効率よく行うことができる。このために、
ステップ１２において撮影断面の設定位置情報をメモリ
１４，１６゜１７．１８のいずれかに登録しておき、ス
テップ１３．１４に従って位置関係を表示できるように
なっている。
断面と、この任意断面を基に位置設定された撮影断面と
の位置関係をＣＲＴディスプレイ２０に表示し、両断面
の位置関係を容易に目視できるようになっている。例え
ば、第５図、第７図又は第６図、第８図に示すような画
像を再現して表示することにより、撮影断面位置の把握
が極めて容易となる。この断面位置関係の表示の必要性
は、断面位置指定された撮影断面についてのデータ収集
後、この撮影断面像を表示して医師等が診断する場合に
特に必要であり、このような表示によって撮影断面像に
基づく診断を効率よく行うことができる。このために、
ステップ１２において撮影断面の設定位置情報をメモリ
１４，１６゜１７．１８のいずれかに登録しておき、ス
テップ１３．１４に従って位置関係を表示できるように
なっている。
ステップ１５〜１７は２枚目以降の撮影画像のスキャン
計画を行うための判断ステップである。
計画を行うための判断ステップである。
ステップ１５では繰り返し同一断面像に基づいて撮影断
面を指定する場合には、ステップ７−１又はステップ７
−２に戻り同様にスキャン計画を実行する。ステップ１
６では先に使用した断面像と異なる断面像を使用する場
合には、ステップ５に戻って使用断面の選択からスキャ
ン計画を繰り返す。ステップ１７では、先にスキャンに
よって収集した画像以外の断面像を用いて撮影断面を指
定する場合には、スーテップ１に戻って収集画像の条件
設定から始めることになる。
面を指定する場合には、ステップ７−１又はステップ７
−２に戻り同様にスキャン計画を実行する。ステップ１
６では先に使用した断面像と異なる断面像を使用する場
合には、ステップ５に戻って使用断面の選択からスキャ
ン計画を繰り返す。ステップ１７では、先にスキャンに
よって収集した画像以外の断面像を用いて撮影断面を指
定する場合には、スーテップ１に戻って収集画像の条件
設定から始めることになる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能であり、表
示手段、撮影断面位置指定手段及び表示制御手段は同一
機能を有する他の部材に置き換え得る。例えば、撮影断
面位置の指定は線ＲＯＩによるものに限らず、点によっ
て指定することも可能であり、２枚の任意断面を用いて
撮影断面位置を指定する場合には、一方の断面上の２点
と他方の断面上の１点とで定まる面を盪影断面として指
定することもできる。
発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能であり、表
示手段、撮影断面位置指定手段及び表示制御手段は同一
機能を有する他の部材に置き換え得る。例えば、撮影断
面位置の指定は線ＲＯＩによるものに限らず、点によっ
て指定することも可能であり、２枚の任意断面を用いて
撮影断面位置を指定する場合には、一方の断面上の２点
と他方の断面上の１点とで定まる面を盪影断面として指
定することもできる。
また、前記実施例では指定された撮影断面において、任
意断面と交差方向の長さは予め定められたものとして撮
影領域が決められたが、前記長さ方向の領域をも線ＲＯ
Ｉ等によって指定してもよい。
意断面と交差方向の長さは予め定められたものとして撮
影領域が決められたが、前記長さ方向の領域をも線ＲＯ
Ｉ等によって指定してもよい。
さらに、任意断面と撮影断面との位置関係表示にあって
は、同一の任意断面を使用して異なる撮影断面を指定し
た場合には、一種の任意断面の上に何本もの線ＲＯＩ等
を表示し、それぞれがいずれの撮影断面に対応するかを
表示することもできる。
は、同一の任意断面を使用して異なる撮影断面を指定し
た場合には、一種の任意断面の上に何本もの線ＲＯＩ等
を表示し、それぞれがいずれの撮影断面に対応するかを
表示することもできる。
以上説明したように、本発明によれば単一又は複数の任
意断面に対して関心位置を表示入力することにより、こ
の関心位置を含みかつ任意断面と交差する撮影断面を指
定することができ、また、この撮影断面と任意断面との
位置関係を表示するようにしているため、盪影像の位置
の把握が容易であり、診断に適用される場合にあっては
的確な診断に寄与することができる。
意断面に対して関心位置を表示入力することにより、こ
の関心位置を含みかつ任意断面と交差する撮影断面を指
定することができ、また、この撮影断面と任意断面との
位置関係を表示するようにしているため、盪影像の位置
の把握が容易であり、診断に適用される場合にあっては
的確な診断に寄与することができる。
第１図は本発明に係るＭＲＩスキャン計画システムのブ
ロック図、第２図はスキャン計画の実行手順を示すフロ
ーチャート、第３図は被検体とマルチスキャン断面との
位置関係を示す概略斜視図、第４図（ａ）、 （ｂ）
、 （ｃ）はそれぞれマルチスキャンによって得られ
た断面像を示す概略説明図、第５図は一枚の任意断面と
撮影断面との位置関係を示す概略説明図、第６図（ａ）
、（ｂ）はそれぞれ１枚の任意断面への線ＲＯＩ指定の
表示例、撮影断面の断面像を示す概略説明図、第７図は
２枚の任意断面と撮影断面との位置関係を示す概略斜視
図、第８図（ａ）、 （ｂ）はそれぞれ２枚の任意断
面への線ＲＯＩ指定の表示例、撮影断面の断面像を示す
概略説明図である。 １・・・ＭＲＩ装置、 １０・・・ＭＲＩスキャン計画システム、１１．１５，
１９．２１・・・表示制御手段、１１．１５．１９．２
２・・・撮影断面位置指定手段、２０・・・表示手段、
３０・・・被検体、３１〜３３・・・任意断面、 ３１Ｂ〜３３Ｂ・・・関心位置、 ４０．４２・・・撮影断面。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 大胡典夫 ・弔３図 （０） （ｂ） （Ｃ）第５
図 第６図 （ｂ） 第８図
ロック図、第２図はスキャン計画の実行手順を示すフロ
ーチャート、第３図は被検体とマルチスキャン断面との
位置関係を示す概略斜視図、第４図（ａ）、 （ｂ）
、 （ｃ）はそれぞれマルチスキャンによって得られ
た断面像を示す概略説明図、第５図は一枚の任意断面と
撮影断面との位置関係を示す概略説明図、第６図（ａ）
、（ｂ）はそれぞれ１枚の任意断面への線ＲＯＩ指定の
表示例、撮影断面の断面像を示す概略説明図、第７図は
２枚の任意断面と撮影断面との位置関係を示す概略斜視
図、第８図（ａ）、 （ｂ）はそれぞれ２枚の任意断
面への線ＲＯＩ指定の表示例、撮影断面の断面像を示す
概略説明図である。 １・・・ＭＲＩ装置、 １０・・・ＭＲＩスキャン計画システム、１１．１５，
１９．２１・・・表示制御手段、１１．１５．１９．２
２・・・撮影断面位置指定手段、２０・・・表示手段、
３０・・・被検体、３１〜３３・・・任意断面、 ３１Ｂ〜３３Ｂ・・・関心位置、 ４０．４２・・・撮影断面。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 大胡典夫 ・弔３図 （０） （ｂ） （Ｃ）第５
図 第６図 （ｂ） 第８図
Claims (1)
- （１）被検体断面をスキャンしてＭＲデータを収集する
ことによりＭＲ像を得るＭＲＩ装置に接続され、このＭ
ＲＩ装置で撮影すべき撮影断面位置を指定するＭＲＩス
キャン計画システムにおいて、前記ＭＲＩ装置で撮影さ
れた単一又は複数平行の任意断面を表示する表示手段と
、この表示手段に表示された前記任意断面上に線又は点
によって関心位置を入力することにより、前記関心位置
を含みかつ前記任意断面と交差する撮影断面を指定する
撮影断面位置指定手段と、前記任意断面と撮影断面との
立体位置関係を前記表示手段に表示制御する表示制御手
段とを設けたことを特徴とするＭＲＩスキャン計画シス
テム。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60181855A JPS6244232A (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | Ｍｒｉスキヤン計画システム |
| US06/897,305 US4860221A (en) | 1985-08-21 | 1986-08-18 | Magnetic resonance imaging system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60181855A JPS6244232A (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | Ｍｒｉスキヤン計画システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6244232A true JPS6244232A (ja) | 1987-02-26 |
Family
ID=16108008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60181855A Pending JPS6244232A (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | Ｍｒｉスキヤン計画システム |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4860221A (ja) |
| JP (1) | JPS6244232A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63229040A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-22 | 株式会社東芝 | Ｍｒｉ装置のスキヤン位置決め方法 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2616936B1 (fr) * | 1987-06-19 | 1989-10-13 | Thomson Cgr | Procede de prise en compte, dans une image, des mouvements d'un objet |
| JPH02121060A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-08 | Toshiba Corp | 画像検索装置 |
| US7162302B2 (en) | 2002-03-04 | 2007-01-09 | Nanoset Llc | Magnetically shielded assembly |
| US20040225213A1 (en) | 2002-01-22 | 2004-11-11 | Xingwu Wang | Magnetic resonance imaging coated assembly |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5541952A (en) * | 1978-09-18 | 1980-03-25 | Kobe Steel Ltd | High speed steel powder of high wear resistance |
| JPS562143A (en) * | 1979-06-15 | 1981-01-10 | Bayer Ag | Apparatus for producing endless plastic form web* especially hard plastic form web |
| JPS5931851A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-02-21 | Nippon Piston Ring Co Ltd | 回転式圧縮機のベ−ン |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5841340A (ja) * | 1981-09-04 | 1983-03-10 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
| JPS5848839A (ja) * | 1981-09-18 | 1983-03-22 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
| JPS6085357A (ja) * | 1983-10-17 | 1985-05-14 | Toshiba Corp | 核磁気共鳴映像装置 |
| US4618978A (en) * | 1983-10-21 | 1986-10-21 | Cosman Eric R | Means for localizing target coordinates in a body relative to a guidance system reference frame in any arbitrary plane as viewed by a tomographic image through the body |
| JPS60117376A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-24 | Yokogawa Medical Syst Ltd | コンピュ−タ断層撮像装置用画像表示装置 |
| JPS60152942A (ja) * | 1984-01-23 | 1985-08-12 | Toshiba Corp | Ｎｍｒ―ｃｔスキャン計画装置 |
| US4609872A (en) * | 1984-08-10 | 1986-09-02 | General Electric Company | NMR multiple-echo phase-contrast blood flow imaging |
| US4737921A (en) * | 1985-06-03 | 1988-04-12 | Dynamic Digital Displays, Inc. | Three dimensional medical image display system |
-
1985
- 1985-08-21 JP JP60181855A patent/JPS6244232A/ja active Pending
-
1986
- 1986-08-18 US US06/897,305 patent/US4860221A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5541952A (en) * | 1978-09-18 | 1980-03-25 | Kobe Steel Ltd | High speed steel powder of high wear resistance |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63229040A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-22 | 株式会社東芝 | Ｍｒｉ装置のスキヤン位置決め方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4860221A (en) | 1989-08-22 |
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