JPS6242329Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は表面測定装置に関する。

公知の光沢計においては、第１図〜Ａ配置図に
示すように、光源SoのスリツトSlを通つた光を
被検面Sfにあて、一定距離で測定した反射光の強
さで被検面Sfの状態を評価するもので、この場合
同図Ｂ特性図に示すように、ある程度鏡面状態に
近い被検面Sf′では測定に散乱光が混入するため
感度が低くなる。

また、公知の対比光度計においては、第２図Ａ
配置図に示すように、受光部の検出器Deを矢印
方向に移動して反射光の強度分布を測定し、ピー
ク値と散乱光の比から表面状態を評価するもの
で、この方式は装置が大がかりとなり、操作が複
雑で現場に使用するには不適当である。

さらに、表面が鏡面状態の金属平面板をゆるや
かな曲げると、材料の伸び率に応じて表面の鏡面
度が低下するので、この表面状態を反射像の鮮明
度の目視により評価・判定することも行なわれて
いるが、個人差、評価基準の不一致等のために普
遍性ある結果を得ることが難かしく、定量評価が
困難である。

本考案はこのような事情に鑑みて提案されたも
ので、高感度かつ定量評価のできる表面測定装置
を提供することを目的とし、被検面に光を照射す
る光源と、上記被検面からの反射光の光量を測定
する光検出器とを具え被検面の粗度を測定するよ
うにした表面測定装置において、上記光源と被検
面との間に複数のスリツトを有するスリツト板を
配設するとゝもに、被検面と光検出器との間に上
記スリツト板のスリツトを通過し被検面で反射し
た光の結像位置に遮蔽部を有し他の部分にスリツ
トを有するマスク板を配設したことを特徴とす
る。

本考案の一実施例を図面について説明すると、
第３図はその配置図、第４図および第５図はそれ
ぞれ第３図の−および−矢視拡大図であ
る。

上図において、１は光源部、２は光源部１に挿
入されたスリツト板、３は被検面Sfで反射したス
リツト像の結像位置に置かれた受光用のスリツト
マスク、４はスリツトマスク３の後方に置かれ被
検面で散乱しスリツトマスク３を通過した散乱光
を測定する光検出器である。

このような装置において、光源部１に複数のス
リツトを有するスリツト板２が置かれるので、測
定の基本量である光量は増加し、また、スリツト
マスク３で被検面Sfからの正反射光はマスクされ
る。

その結果、測定光量が増えることゝなり、測定
系の感度が上り、装置が簡素化され、また、散乱
光だけを測定するので、表面状態の差異による測
定量の変化率を上げるとゝもに、反射像の鮮明度
を判定する場合の目の感覚に近い結果が得られ
る。

要するに、本考案によれば、被検面に光を照射
する光源と、上記被検面からの反射光の光量を測
定する光検出器とを具え被検面の粗度を測定する
ようにした表面測定装置において、上記光源と被
検面との間に複数のスリツトを有するスリツト板
を配設するとゝもに、被検面と光検出器との間に
上記スリツト板のスリツトを通過し被検面で反射
した光の結像位置に遮蔽部を有し他の部分にスリ
ツトを有するマスク板を配設したことにより、高
性能の表面測定装置を得るから、本考案は産業上
極めて有益なものである。

【図面の簡単な説明】

第１図Ａは公知の光沢計を示す配置図、同図Ｂ
は同図Ａの特性図、第２図Ａは公知の対比光度計
を示す配置図、同図Ｂは同図Ａの特性図、第３図
は本考案の一実施例を示す配置図、第４図および
第５図はそれぞれ第３図の−および−矢
視拡大図である。 １……光源部、２……スリツト板、３……スリ
ツトマスク、４……光検出器、５……表示器、Sf
……被検面。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 被検面に光を照射する光源と、上記被検面から
   の反射光の光量を測定する光検出器とを具え被検
   面の粗度を測定するようにした表面測定装置にお
   いて、上記光源と被検面との間に複数のスリツト
   を有するスリツト板を配設するとゝもに、被検面
   と光検出器との間に上記スリツト板のスリツトを
   通過し被検面で反射した光の結像位置に遮蔽部を
   有し他の部分にスリツトを有するマスク板を配設
   したことを特徴とする表面測定装置。