JPS6237329B2 - - Google Patents

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JPS6237329B2
JPS6237329B2 JP14352981A JP14352981A JPS6237329B2 JP S6237329 B2 JPS6237329 B2 JP S6237329B2 JP 14352981 A JP14352981 A JP 14352981A JP 14352981 A JP14352981 A JP 14352981A JP S6237329 B2 JPS6237329 B2 JP S6237329B2
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JP
Japan
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light
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element array
optical mask
light receiving
Prior art date
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JP14352981A
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English (en)
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JPS5845521A (ja
Inventor
Chiaki Mihashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP14352981A priority Critical patent/JPS5845521A/ja
Publication of JPS5845521A publication Critical patent/JPS5845521A/ja
Publication of JPS6237329B2 publication Critical patent/JPS6237329B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
    • G01H9/00Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by using radiation-sensitive means, e.g. optical means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は1次元に配列された受光素子アレイあ
るいは受光素子単体を利用した2次元デイジタル
振動計に関するものである。
従来の受光素子および光源を利用した2次元デ
イジタル振動計の概略構成を第1図に示す。第1
図において1は円形断面のバネ、2は振動系の質
量を兼ねた点的光源、3は平面的に配列された受
光素子アレイであり、この受光素子アレイ3は点
的光源2の静止位置を基準点としこれから放射方
向に一定の間隔をおきかつ同心円状に配列された
多数の受光素子よりなる。いま振動入力がある
と、点的光源2が受光素子アレイ3に対し相対的
変位を生じ、光の入射した受光素子から電気的信
号を取り出すことができるので、これにより振動
の大小、方向を検出することができる。
この様な従来の点的光源による振動計では、2
次元の信号を検出するためには、受光素子を前述
した如く平面的に配列した特殊な受光素子アレイ
を必要とする欠点があつた。
本発明は比較のものに見られた上記の如き欠点
に鑑み、汎用の受光素子を用いて2次元の振動検
出を行なえる2次元デイジタル振動計を提供しよ
うとするもので、その要旨とするところは、1次
元に配列された受光素子アレイと、前記受光素子
アレイに光を照射する光源と、前記受光素子アレ
イと光源との間に配設され光源からの光の透過部
と遮断部とをすくなくとも互いに2箇所の境界線
を有して設け該各境界線が前記受光素子アレイの
配列線と交叉し且つ互いに非平行をなし2次元の
変位入力に応じて変位する光学マスクとを有する
ことを特徴とする2次元デイジタル振動計にあ
る。
第2図乃至第5図は本発明の第1の実施例を示
すもので、図中従来例と同一構成部分は同一符号
をもつて表わす。第2図は本発明に係る振動計の
概略構成図で、11はケース、12は円形断面の
バネ1を介してケース11の頂板内面から垂下さ
れた箱状の振動系質量、13は振動系質量12の
底部に取付けられた光学マスクであり、この光学
マスク13には、第3図に示す如く振動系質量1
2内に設けられた光源2の光を透過する部分13
aと光源2の光を遮断する部分13bとが後述す
るパターンをもつて形成されている。14は1次
元に配列された後記受光素子アレイ14aと該受
光素子アレイ14aからビデオ信号を取出すため
の後記付属回路を内蔵した受光アレイ回路で、ケ
ース11の底板内面上に光学マスク13を介して
光源2と対峙する如く取付けられている。
上記の如き構成において、ケース11に振動が
加わると振動系質量12がケース11に対し相対
的運動を生じ、従つて光学マスク13を透過して
受光アレイ回路14の受光素子アレイ14aに到
達する光源2の光のパターンが変化する。いま、
光遮断部13bとして第3図に示す如く受光素子
アレイ14aの1次元の配列方向Xに対し45゜の
角度を持つた境界線rと、線rより90゜の角度を
持つた境界線sで形成されるパターン(扇形)を
考える。いま、受光素子アレイ14aの配列線X
と線r,sとの交差点の振子運動に対する変化量
を△A,△Bとすれば、X方向の相対変化量を△
X,X方向に直角なY方向の相対変化量を△Yと
して、(1)式が成立する。(1)式は第4図a,b,c
に示す如く、2次元の任意の方向への光学マスク
13の移動に対して常に成り立つ。
△X+△Y=△A,△X−△Y=△B ……(1) 従つて(1)式より直ちに、 (△A+△B)/2=△X, (△A−△B)/2=△Y …(2) を計算してX,Y両方向の振動入力を知ることが
できる。
次に、前述した装置によりデイジタル信号を取
り出すための回路ブロツク構成例を第5図に示
す。第5図において14は第2図で示したのと同
様、1次元に配列された受光素子アレイ14a、
受光素子アレイ14aの各素子を順次走査して素
子に照射した光量に応じたビデオ信号を直列的に
取出すための走査回路14b、走査回路を駆動す
るためのクロツク回路14cよりなる受光アレイ
回路、21はクロツク発振回路、22は回路系の
シーケンスを制御する制御回路、23はビデオ信
号に対し所定のしきい値を設定し、デイジタル的
な“0”,“1”の論理レベルで送出するレベル設
定回路、24はレベル設定回路23から直列的に
送出されるビデオ信号レベル“1”の信号をカウ
ントし2進並列信号として出力する2進カウン
タ、25は光学マスクの初期位置(振動入力0の
位置)に相当する2進データをマニユアルで設定
する初期値設定回路、26は2進カウンタ24の
出力データと初期値設定回路25の設定値に演算
を施こし△Xあるいは△Yを出力する演算回路で
ある。
次に動作を説明する。クロツク発振回路21の
クロツク出力φを受けて制御回路22は、受光
素子アレイ14aの送査開始信号Sおよび走査用
クロツク出力φを出力する。この信号により受
光素子アレイ14aは先端から順次走査され光学
マスク13の位置に応じたビデオ信号をレベル設
定回路23に送出する。レベル設定回路23は光
学マスク13の光の透過部13aにある受光素子
に対しては“1”の、光の遮断部にあるそれに対
しては“0”の論理レベルになるようにしきい値
に設定する。2進カウンタ24は受光素子アレイ
14aの1走査中の前半と後半に分けて“1”の
レベルをカウントする。走査との同期は制御回路
22よりの制御信号により行なわれる。初期値設
定回路25には、走査の前半部および後半部にそ
れぞれ相当する初期値が設定される。演算回路2
6は、カウンタ24のカウント終了後、そのデー
タとそのデータが走査の前半か後半かにより初期
値設定回路25から選択して取込まれる初期値と
に演算を施こし、△X,△Yを交互に出力する。
演算回路26は、△X,△Y演算途中の△A,△
Bを一時保持する機能等を有し、制御回路22に
よりアレイ走査等とのタイミングを制御されなが
ら演算を実施する。
なお、振子系の固有振動数等の機械的な性能
は、振動計として要求される性能と受光素子アレ
イ14aを構成する各素子の配列間隔より定めら
れる。
また、振子に受光素子アレイを取付けケースに
光源および光学マスクを取付ける構成でも機能は
変わらない。
以上説明したように第1の実施例では、光学マ
スクを使用するため、1次元に配列された受光素
子アレイからX,Y2次元の振動出力を取出せる
利点がある。
また、この装置では、従来の点的光源による座
標面の“点”の認識に対し、“領域”の識認であ
るため、受光素子アレイを構成する素子と素子の
中間点に光学マスクの光の透過部と遮断部の境界
が位置しても信号を検出できる。
さらに、位置の変化量にのみ着目した信号処理
が可能であることは説明した通りであり、従つて
装置としてのダイナミツクレンジが許容される限
度において、光学マスクと受光素子アレイのX,
Y方向の相対位置は初期的にずれを生じていても
かまわない。つまり実際の装置の組立作業は光学
マスクと受光素子の相対角度に注意するだけで良
く、きわめて容易である。
第1の実施例では、光の透過部と遮断部が直交
する2直線により形成された光学マスクで説明し
たが、第6図に示す如く受光素子アレイ14aの
素子配列方向に対しそれぞれ45゜,67.5゜,90゜
の角度で交差する直線r,t,s′により区分され
る光の透過部13′a、遮断部13′b、半透過部
13′cを設けた光学マスク13′を使用すれば直
交するX,Y方向の中間的な角度に対しても振動
を検出することができる。この場合第5図に示さ
れたビデオ信号に対するしきい値のレベル設定回
路23は光学マスク13′の各領域に応じて3段
階に判別できるように構成される。またその後の
信号処理回路もインプツトされる信号に適応して
構成される。第6図に示される光学マスク13′
を使用した場合、第7図に示す如く直線Xとr,
t,s′との交差点の変化量△A,△C,△B′(第
7図中、符号a,b,cで示す)は△Vなる光学
マスクの変位に対し次式で示される。
△A=△X+△Y,△C=△P+(△X−△
Y), △B′=△X ……(3) 従つて、(3)式より、 △A−△X=△Y,△C−△X+△Y=△P
……(4) を得る。
ここで△Xおよび△Yは△VをX軸上およびY
軸上の成分に分解した場合の相対変化量であり、
また△Pは△VをX,Y両軸に対して45゜傾斜し
た角度方向のP軸上での成分とX軸上での成分に
分解した場合のP軸上での光学マスク13′と受
光素子アレイ14aとの相対変化量である。
以上説明した如く、光学マスクの光の透過レベ
ルや、その境界線を種々変化させて構成すること
により測定目的に応じた信号を検出することがで
きる。境界線は曲線であつても良く、この場合非
直線的な特性となる。
さらに、第8図に示すごとく、同心円状の光学
マスク13″を使用することにより、2次元全方
位に対して同等の振動検出感度を有する、いわゆ
る全方位振動計を製作することができる。この場
合受光素子は唯1個でかまわないが、光学マスク
13″と受光素子14′の初期相対位置は、光学マ
スクを形成する同心円の中心に受光素子が位置す
るようにしなければならない。
なお、13″a,…13″eは徐々に光の透過度
が変化する同心円状の領域を表わし、各領域での
受光素子ビデオ出力に対し、レベル設定回路23
では、各々しきい値を設け、論理レベル“0”,
“1”で出力するレベル設定回路23′a,23′
b……23′eが対応する如くなす。
振動レベルを判定するには各レベル設定回路の
論理出力を検出すれば良い。光学マスクの光の透
過レベルは受光素子の大きさおよびその分解能に
応じて細分化できる。
以上説明したように、本発明に係る2次元デイ
ジタル振動計によれば光学マスクを使用するた
め、1次元に配列された汎用の受光素子アレイか
らX,Y2次元の振動出力を取出せる。また、こ
の装置では、従来の点的光源による座標面の
“点”の認識に対し、“領域”の認識であるため、
受光素子アレイを構成する素子と素子の中間点上
に、光学マスクの光の透過部と遮断部の境界が位
置しても信号を検出できる。さらに、位置の変化
量にのみ着目した信号処理が可能であり、従つて
装置としてのダイナミツクレンジが許容される限
度において、光学マスクと受光素子アレイのX,
Y方向の相対位置は初期的にずれを生じていても
かまわない。つまり実際の装置の組立作業は光学
マスクと受光素子の相対角度に注意するだけで良
く、きわめて容易である。さらにまた、光学マス
クの光の透過レベルや、その境界線を種々変化さ
せて構成することにより、測定目的に応じた信号
を検出することができる。
なお、本発明は本質的に2次元の変位ベクト
ル、あるいはその絶対値の検出であるため、2次
元の変位検出機能を要する各種機能器に利用する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の説明に供するもので、第1図は
従来の2次元デイジタル振動計の概略構成図、第
2図乃至第5図は本発明の第1の実施例を示すも
ので、第2図は本発明に係る振動計の概略を示す
一部縦断正面図、第3図は光学マスクと受光素子
アレイとの対応関係説明図、第4図a,b,cは
動作説明図、第5図はデイジタル信号取出回路の
ブロツク構成図、第6図は光学マスクの他の実施
例を示す第3図と同様の図、第7図は第6図の光
学マスクによる動作説明図、第8図は光学マスク
の更に他の実施例を示す説明図である。 2……光源、12……振動系質量、13……光
学マスク、13a……光の透過部、13b……光
の遮断部、14……受光アレイ回路、14a……
受光素子アレイ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 1次元に配列された受光素子アレイと、 前記受光素子アレイに光を照射する光源と、 前記受光素子アレイと光源との間に配設され光
    源からの光の透過部と遮断部とをすくなくとも互
    いに2箇所の境界線を有して設け該各境界線が前
    記受光素子アレイの配列線と交叉し且つ互いに非
    平行をなし2次元の変位入力に応じて変位する光
    学マスクとを有することを特徴とする 2次元デイジタル振動計。
JP14352981A 1981-09-11 1981-09-11 2次元デイジタル振動計 Granted JPS5845521A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14352981A JPS5845521A (ja) 1981-09-11 1981-09-11 2次元デイジタル振動計

Applications Claiming Priority (1)

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JP14352981A JPS5845521A (ja) 1981-09-11 1981-09-11 2次元デイジタル振動計

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Publication Number Publication Date
JPS5845521A JPS5845521A (ja) 1983-03-16
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ID=15340856

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JP14352981A Granted JPS5845521A (ja) 1981-09-11 1981-09-11 2次元デイジタル振動計

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006201096A (ja) * 2005-01-24 2006-08-03 Otis Elevator Co 振動検出装置

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